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주사전자현미경 특성 엑스레이

모두 85항목의 주사전자현미경 특성 엑스레이와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 주사전자현미경 특성 엑스레이와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 물리학, 화학, 범죄 예방, 전자 디스플레이 장치, 광학 장비, 계측 및 측정 합성, 광학 및 광학 측정, 페인트 및 바니시, 비파괴 검사, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 의료 장비, 정보 기술 응용.


International Organization for Standardization (ISO), 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.

Professional Standard - Judicatory, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
  • ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E3309-21 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS)을 통한 법의학 프라이밍 총상 잔류물(pGSR) 분석 보고를 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM E3284-23 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS)을 사용한 프라이머 잔류물 법의학적 검사(pGSR) 교육을 위한 표준 관행

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
  • GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
  • GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
  • GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
  • GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
  • GB/T 25758.1-2010 비파괴 검사를 위한 산업용 X-Ray 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • GB/T 32869-2016 나노기술 단일벽 탄소 나노튜브의 주사전자현미경 및 에너지 분산형 X선 분광학 특성 분석 방법

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명
  • DB44/T 1215-2013 주사전자현미경과 X선 에너지 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명

Professional Standard - Public Safety Standards, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
  • GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

GOSTR, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브
  • PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

British Standards Institution (BSI), 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.
  • BS EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 스캐닝 방법
  • BS EN 12543-1:1999(2008) 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 스캐닝 방법
  • BS EN 60601-2-44:2009+A2:2016 의료 전기 장비용 컴퓨터 단층 촬영 및 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항
  • 18/30372517 DC BS EN 60336 의료 전기 장비 의료 진단용 X선관 어셈블리의 초점 특성
  • BS EN 60601-2-44:2009 의료전기기기 - 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구사항
  • BS EN 60601-2-44:2009+A11:2011 의료전기기기 - 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구사항
  • BS EN 60601-2-44:2009+A1:2012 의료전기기기 - 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구사항

Danish Standards Foundation, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • DS/EN 12543-1:2002 비파괴 검사를 위한 산업용 X-Ray 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • DS/EN 60601-2-44/A11:2011 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • DS/EN 60601-2-44:2009 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • DS/EN 60601-2-44/A1:2012 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Association Francaise de Normalisation, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • NF EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선관 방출 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 의료용 전기 장비 전기광학 X선 영상 증폭 장치의 특성 1부: 입사 스캐닝 필드 크기 결정
  • NF A09-231-1*NF EN 12543-1:1999 비파괴 검사 산업용 X선 시스템의 비파괴 검사 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • NF EN 60601-2-44/A2:2016 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-44/A1:2012 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-44/A11:2012 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-44:2009 의료 전기 장비 - 파트 2-44: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF C74-123*NF EN 60601-2-44:2009 의료용 전기기기 제2-44부: 컴퓨터 단층촬영용 X선 조사기기의 기본 안전 및 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF C74-215:2005 방사성 핵종 영상 장비 특성 및 시험 조건 제1부: 양전자 방출 단층 촬영

Professional Standard - Commodity Inspection, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경

Lithuanian Standards Office , 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • LST EN 12543-1-2001 비파괴 검사를 위한 산업용 X-Ray 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • LST EN 60336-2005 의료 전기 장비 - 의료 진단용 X선관 어셈블리의 초점 특성(IEC 60336:2005)

RU-GOST R, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • GOST R 56109-2014 의료 전기 장비 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비와 결합된 양전자 방출 단층 촬영 장비 정부 조달을 위한 기술 요구 사항
  • GOST R IEC 60601-2-44-2013 의료 전기 장비 2-44부 컴퓨터 단층촬영용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • GOST 31222-2003 의료 전기 장비 전기광학 X선 영상 증폭 장치의 특성 4부 영상 왜곡 측정
  • GOST 31222.2-2012 의료 전기 장비 전기 광학 X선 영상 증폭 장치의 특성 2부 변환 계수 결정

German Institute for Standardization, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • DIN EN 12543-1:1999-12 비파괴 검사 비파괴 검사 산업용 X선 시스템 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • DIN EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 핵심 특성 1부: 스캐닝 방법

European Committee for Standardization (CEN), 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • EN 12543-1:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 1부: 스캐닝 방법

BE-NBN, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • NBN 400-3-1969 방사선 장비: 의료용 X선 발생기 및 액세서리. 전기 및 기계의 일반적인 특성

AENOR, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • UNE-EN 12543-1:2000 비파괴 검사 산업용 X선 시스템의 비파괴 검사 초점 특성 1부: 스캐닝 방법
  • UNE-EN 60601-2-44:2010/A11:2012 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

KR-KS, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • KS C IEC 60336-2017 의료 전기 장비 - 의료 진단용 X선관 어셈블리 - 주요 기능
  • KS C IEC 60601-2-44-2017(2022) 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

IEC - International Electrotechnical Commission, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • IEC 60601-2-44/AMD1:2001 수정안 1 의료 전기 장비 파트 2-44: 컴퓨터 단층 촬영 X선 장비의 안전을 위한 특별 요구 사항(버전 2.0)
  • IEC 60601-2-44/AMD1:2001/COR1:2006 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층 촬영 X선 장비의 안전을 위한 특별 요구 사항 수정안 1 정칙 1(Edition 2.1)

Standard Association of Australia (SAA), 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • AS/NZS IEC 60601.2.44:2022 의료 전기 장비 2.44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

ES-UNE, 주사전자현미경 특성 엑스레이

  • UNE-EN 60601-2-44:2009/A1:2012 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • UNE-EN 60601-2-44:2009/A2:2016 의료 전기 장비 2-44부: 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

International Electrotechnical Commission (IEC), 주사전자현미경 특성 엑스레이





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