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ICP 분광계 분광계

모두 500항목의 ICP 분광계 분광계와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 ICP 분광계 분광계와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 비철금속, 광섬유 통신, 통신특수측정장비, 지질학, 기상학, 수문학, 어휘, 금속 광석, 계측 및 측정 합성, 방사선 측정, 비파괴 검사, 의료 장비, 금속 재료 테스트, 화학 제품, 광전자공학, 레이저 장비, 길이 및 각도 측정, 실험실 의학, 수질, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 품질, 고무, 가죽 기술, 종합 전자 부품, 검은 금속, 원자력공학, 페인트 성분, 유기화학, 광학 장비, 천문학, 측지학, 지리학, 발전소 종합, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 연료, 방사선방호, 입자 크기 분석, 스크리닝, 물리학, 화학, 공기질, 표면 처리 및 도금, 보석류, 석유제품 종합, 세라믹, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 전등 및 관련 기기, 음료수, 우유 및 유제품, 플라스틱, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 농업 및 임업, 전기공학종합, 도로 차량 장치, 내화물, 쓰레기, 밥을 먹이다, 식용유지, 유지종자.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ICP 분광계 분광계

  • GB/T 21191-2007 원자형광분광계
  • GB/T 42027-2022 기상 분자 흡수 분광계
  • GB/T 32266-2015 원자형광분광기 성능 측정 방법
  • GB/T 25481-2010 온라인 UV/가시광선 분광계
  • GB/T 21186-2007 푸리에 변환 적외선 분광계
  • GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
  • GB/T 41945-2022 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광계(ICP-OES)를 사용하여 원료 고무 및 가황 고무의 금속 함량 측정
  • GB/T 36244-2018 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광계
  • GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • GB/T 31364-2015 에너지 분산형 X선 형광 분광기의 주요 성능 시험 방법
  • GB/T 33252-2016 나노기술 레이저 공초점 라만 현미경 성능 테스트
  • GB/Z 42358-2023 철광석에 대한 파장분산형 X선 형광분광기의 정확도 결정
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • GB/T 32179-2015 내화물의 화학 분석을 위한 습식 분석법, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)에 대한 일반 요구 사항
  • GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

Professional Standard - Machinery, ICP 분광계 분광계

U.S. Air Force, ICP 분광계 분광계

Group Standards of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), ICP 분광계 분광계

  • JIS H 1632-3:2014 티타늄 ICP 플라즈마 방출 분광계 3부: 붕소 측정
  • JIS C 6192:2008 스펙트럼 분석기 교정
  • JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
  • JIS H 1632-1:2014 티타늄 ICP 플라즈마 방출 분광계 1부: 일반 요구 사항 및 시료 분해
  • JIS C 6183-1:2019 스펙트럼 분석기 1부: 테스트 방법
  • JIS C 6183:1992 광섬유 스펙트럼 분석기의 테스트 방법
  • JIS H 1632-2:2014 티타늄 ICP 플라즈마 방출 분광계 2부: 팔라듐, 망간, 철, 마그네슘, 실리콘, 알루미늄, 바나듐, 니켈, 크롬, 주석, 구리, 몰리브덴, 지르코늄, 니오븀, 탄탈륨, 코발트 및 이트륨 측정
  • JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • JIS H 1289:2015 니켈 및 니켈 합금 ICP 원자 방출 분광법 니오븀, 탄탈륨 및 지르코늄 측정
  • JIS C 6122-1-1:2011 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 1-1: 이득 매개변수 및 전력 광 스펙트럼 분석기 방법
  • JIS C 6122-3-1:2011 광 증폭기 테스트 방법 파트 3-1: 잡음 지수 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • JIS C 6122-10-1:2007 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용하는 펄스 방법
  • JIS C 6122-5-1:2001 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 테스트 방법
  • JIS G 1258-0 AMD 2:2017 강철 ICP 원자 방출 분광법 파트 0: 일반 규칙(수정 사항 2)
  • JIS K 0161:2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • JIS C 6122-10-2:2010 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법

European Committee for Standardization (CEN), ICP 분광계 분광계

Association Francaise de Normalisation, ICP 분광계 분광계

  • NF C93-845:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • NF EN 15111:2007 식품 내 미량 원소 측정 고주파 유도 플라즈마 방출 분광법 및 질량 분석법(ICP-MS)을 통한 요오드 측정
  • NF S11-687:1997 광학 및 광학 기기, 콘택트 렌즈, 분광학 및 광선 투과율 측정
  • NF M60-827:2014 수질 우라늄 동위원소 알파분광계를 이용한 시험방법
  • NF EN 62129-1:2016 파장 측정 장치/광 주파수 측정 장치의 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • NF EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-805-2-1:1998 광섬유 강화기 기본 사양 파트 2-1: 광전자 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
  • NF C93-805-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-805-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 스펙트럼 분석기 교정 테스트 및 측정 절차 2부: 수동 광 네트워크(ATM-PON) 트랜시버
  • NF C93-805-5-1:2001 광섬유 강화기 기본 사양 파트 5-1: 반사 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
  • NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 광섬유 강화기의 기본 사양 2-2부: 광전자 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 테스트 방법
  • NF EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • NF T51-182*NF ISO 10640:2011 플라스틱 FTIR 및 UV/가시광선 분광학을 사용하여 폴리머의 광노화 정도를 평가하는 방법입니다.
  • NF C93-805-1-1:1998 광섬유 부스터 기본 사양 파트 1-1: 이득 매개변수 테스트 방법 광 스펙트럼 분석기
  • NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 스트로브 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 광섬유 증폭기에 대한 테스트 방법 파트 10-4: 다중 채널 매개변수 스펙트럼 분석기에 대한 보간 소스 감소 방법
  • NF EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수에 대한 보간 소스 차감 방법
  • NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반응 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사율 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-805-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 광 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • NF X30-495*NF EN 16424:2014 폐기물의 특성분석 휴대용 X선형광분광기를 이용한 원소성분 스크리닝 방법
  • NF EN 16857:2017 식품 - 헤드스페이스 가스 크로마토그래피 및 분광법과 결합된 가스 크로마토그래피를 사용하여 식물성 청량 음료, 기타 음료 및 이유식에 포함된 벤젠을 측정합니다.
  • NF EN 61290-3-2:2009 광 증폭기 테스트 방법 3-2부: 잡음 지수 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • XP A06-422*XP ENV 14029:2001 납 및 납 합금은 납 매트릭스 분리 후 FAAS(화염 원자 흡수 분광법) 또는 ICP-ES(유도 결합 플라즈마 방출 분광법)로 분석됩니다.

British Standards Institution (BSI), ICP 분광계 분광계

  • BS EN 62129-1:2016 파장 교정/광 주파수 측정 장비, 스펙트럼 분석기
  • BS EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • BS EN 61290-5-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산형 X선 형광 분광계 정확도 결정
  • PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
  • BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • BS EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS EN 61280-1-1:1998 광섬유 증폭기 기본 스펙트럼 분석기 단일 모드 광 케이블용 송신기의 광 출력 전력 측정
  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS EN 61290-10-2:2009 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개 변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • BS EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • BS ISO 13166:2014 수질 우라늄 동위원소 알파분광계를 이용한 시험방법
  • 18/30382086 DC BS EN 61452 핵 계측 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • BS EN 61290-10-2:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS EN ISO 20884:2011 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광계
  • BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • 20/30412413 DC BS EN IEC 61452 핵 계측 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • BS ISO 19618:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) FTIR 분광계 기준 흑체를 이용한 일반 분광휘도 측정 방법
  • BS EN 61290-10-1:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • BS EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 사용한 보간 소스 감소 방법
  • BS EN 61290-3-1:2003 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈의 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-3-1:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-1-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-1-1:2015 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 광학 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 12631:1999 과일 및 야채 주스 D 및 L 젖산염 에스테르의 효소 측정 NADG 분광계 방법
  • DD ENV 14029-2001 납 및 납 합금 납 매트릭스 분리 후 화염 원자 흡수 분광법(FAAS) 또는 유도 결합 플라즈마 방출 분광법(ICP-ES)
  • BS IEC 61452:2021 원자력 기기 감마선 방사성 핵종의 방사능 또는 방사율 측정 게르마늄 기반 분광계의 교정 및 사용
  • BS EN 1786:1997 식품 조사된 뼈 함유 식품의 검사 전자스핀공명분광법
  • 18/30352698 DC BS IEC 63085 방사선 방호 장비용 투명 및 반투명 용기에 담긴 액체의 스펙트럼 식별 시스템
  • 19/30398879 DC BS EN 61290-1-1 광 증폭기 테스트 방법 1-1부 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DD ENV 13800-2000 납 및 납 합금 무연 매트릭스 분리 불꽃 원자 흡수 분광법 또는 유도 결합 플라즈마 방사선 분광법(ICP-ES) 분석.
  • BS DD ENV 14029:2001 납 및 납 합금 납 매트릭스 분리 후 FAAS(화염 원자 흡수 분광법) 또는 ICP-ES(유도 결합 플라즈마 방출 분광법) 분석
  • BS EN 61290-5-2:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 경로 매개변수 광 스위치 및 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • BS EN IEC 62484:2021 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하고 식별하기 위한 방사선 방호 계측 스펙트럼 방사선 포털 모니터(SRPM)
  • BS EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전자 스펙트럼 분석기에 의한 반사 허용 오차 결정
  • BS EN 16424:2014 폐기물의 특성분석 휴대용 X선형광분광기를 이용한 원소성분 스크리닝 방법
  • 18/30387381 DC BS EN 61290-1-1 Ed.4.0 광 증폭기 테스트 방법 1-1부 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS DD ENV 13800:2000 납 및 납 합금 무연 매트릭스 분리를 위한 FAAS(화염 원자 흡수 분광법) 또는 ICP-ES(유도 결합 플라즈마 방출 분광법)
  • BS DD ENV 14138:2001 납 및 납 합금 공침법으로 분리한 후 화염원자흡광분석법(FAAS)이나 유도결합플라즈마방출분석법(ICP-ES)을 이용하여 분석한다.
  • DD ENV 14029:2001 납 및 납 합금은 납 매트릭스에서 분리되어 불꽃 원자 흡수 분광법(FAAS) 또는 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법(ICP-ES)으로 분석됩니다.
  • DD ENV 14138:2001 납과 납 합금을 공침 및 분리한 후 FAAS(화염원자흡광분광법)나 ICP-ES(유도결합플라즈마광방출분광법)로 분석합니다.
  • BS ISO 10540-3:2002 유도 결합 플라즈마(ICP) 광학 방출 분광법을 통한 동식물 지방 및 오일의 인 함량 측정

International Electrotechnical Commission (IEC), ICP 분광계 분광계

  • IEC PAS 62129:2004 스펙트럼 분석기 교정
  • IEC 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정 방법
  • IEC 61976:2000 핵 장비 분광법 HPGe 핵 감마선 분광법의 스펙트럼 배경 특성
  • IEC 62129-1:2016 측정 장비의 파장/교정 파트 1: 스펙트럼 분석기
  • IEC 61239:1993 원자력 장비 조사를 위한 휴대용 감마 복사계 및 분광계의 정의, 요구 사항 및 교정
  • IEC TR3 61276:1994 핵 계측 계측이 지원하는 핵 방사선 분광학 시스템 선택 가이드
  • IEC 61290-3-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 3-1: 노이즈 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-1-1:2020 RLV 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 - 테스트 방법 - 파트 1-1: 전력 및 이득 매개변수 - 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-2-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-1부: 광 전력 매개변수 측정 방법 광 스펙트럼 분석기
  • IEC 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-1-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • IEC 61290-10-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • IEC 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • IEC 61428:1998 핵 장비용 오류 탐지 장치를 갖춘 감마선 분광법용 시료 용기
  • IEC 62321-5:2013 전기 제품의 특정 물질 측정 5부: 원자 흡수 분광 광도법(AAS), 원자 형광 분광법(AFS), 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-OES) 및 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 사용하여 측정 고분자 및 전자 제품의 카드뮴, 납 및 크롬, 금속의 카드뮴 및 납
  • IEC 61290-1-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 1-1부: 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기의 측정 방법
  • IEC 61290-5-1:2000 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-1부: 반사 매개변수의 측정 방법 광 스펙트럼 분석기
  • IEC 61290-1-2:2005 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-2-2:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-2부: 광 전력 매개변수 전기 스펙트럼 분석기의 측정 방법
  • IEC 61290-5-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-10-2:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • IEC 61452:2021 핵 장비 감마선 방출 방사성 핵종의 활성 또는 방사율 측정 게르마늄 기반 분광계의 교정 및 사용

Danish Standards Foundation, ICP 분광계 분광계

  • DS/EN 62129/Corr. 1:2007 스펙트럼 분석기 교정
  • DS/EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • DS/EN ISO 5398-4:2007 가죽 내 산화크롬 함량의 화학적 측정 4부: 유도 결합 플라즈마 정량 광학 방출 분광계(ICP-OES)
  • DS/EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 15483:2009 FTIR 분광계를 사용한 지구 근처 대기 측정
  • DS/EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 61290-1-1:2007 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DS/EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DS/EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기의 보간된 소스 차감을 사용한 다중 채널 매개변수
  • DS/ENV 14029:2001 납 및 납 합금은 납 매트릭스 분리 후 FAAS(화염 원자 흡수 분광법) 또는 ICP-ES(유도 결합 플라즈마 방출 분광법)로 분석됩니다.

中国气象局, ICP 분광계 분광계

IN-BIS, ICP 분광계 분광계

  • IS 6471-1971 분광계 사양(학생형)
  • IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법
  • IS 12737-1988 반도체 X선 에너지 분광계의 표준 테스트 절차

RU-GOST R, ICP 분광계 분광계

  • GOST 27176-1986 광학 분광 장비 용어 및 정의
  • GOST 22091.8-1984 X선 장비 스펙트럼 성분 및 스펙트럼 상대 오염 수준을 측정하는 방법
  • GOST 14828-1969 물리적 및 화학적 양을 측정하기 위한 장비 방사선 분광계 용어
  • GOST 4.450-1986 제품 품질 표시 시스템 스펙트럼 분석용 기기 카탈로그 용어
  • GOST 8.197-2013 측정의 일관성을 보장하는 국가 시스템 스펙트럼 범위 0.001 um ~ 1.600 um의 분광 복사, 분광 복사 전력, 분광 복사, 분광 복사 강도, 전력 및 복사 강도 측정 장비에 대한 조건 검증 프로그램
  • GOST 17173-1981 분광계 간격 및 액세서리 기본 매개변수 및 치수 기술 요구 사항
  • GOST 26874-1986 전리방사선 에너지 분광계 기본변수 결정방법
  • GOST R EN ISO 14596-2008 석유 제품 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 황 함량 측정 방법
  • GOST 30131-1996 근적외선 분광계법을 이용한 콩박 및 대두박의 수분, 지방, 단백질 측정

RO-ASRO, ICP 분광계 분광계

  • STAS 12814-1990 알루미늄 및 알루미늄 합금. 광학 방출 분광계
  • STAS 11564-1982 분광광도계를 이용한 신속한 공구강 배출 분석
  • STAS 11607-1981 저합금 탄소강 및 중합금 탄소강의 분광 광도계 분석

Professional Standard - Ocean, ICP 분광계 분광계

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

  • JJF 1544-2015 라만 분광계 교정 사양
  • JJF 1329-2011 과도 분광계 교정 사양
  • JJF 1601-2016 확산 반사율 측정 분광계의 교정 사양
  • JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양
  • JJF 1603-2016 (0.1~2.5)THz 테라헤르츠 분광계 교정 사양
  • JJF 1818-2020 라만 분광계 교정 장치의 교정 사양
  • JJF 1319-2011 푸리에 변환 적외선 분광계 교정 사양
  • JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양
  • JJF 1929-2021 회전 디스크 전극 방출 분광계의 교정 사양
  • JJF 1953-2021 황 화학발광 검출기를 갖춘 가스 크로마토그래프의 교정 사양
  • JJF(石化)057-2021 가스 내 미량 황 크로마토그래피 분석기(화염 광도 검출기)에 대한 교정 사양

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, ICP 분광계 분광계

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), ICP 분광계 분광계

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, ICP 분광계 분광계

  • GB/T 40219-2021 라만 분광계의 일반 사양
  • GB/T 41211-2021 달 및 행성 현장 분광 검출 장비의 일반 사양
  • GB/T 38130-2019 백금 합금 주얼리 이트륨 내부 표준 ICP 분광법의 백금 함량 측정
  • GB/T 38161-2019 팔라듐 합금 주얼리의 팔라듐 함량 측정 이트륨 내부 표준 ICP 분광법

American Society for Testing and Materials (ASTM), ICP 분광계 분광계

  • ASTM E388-04(2023) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1507-98 광학 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 가이드
  • ASTM E388-04(2015) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM E3029-15(2023) 형광 분광계 방출 신호의 상대 스펙트럼 보정 계수 결정을 위한 표준 실습
  • ASTM E356-78(1996) 분광계 설명 및 지정 연습
  • ASTM E1217-11 X선 광전자 분광계 및 오거 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 작업 절차
  • ASTM E3029-15 형광 분광계 방출 신호에 대한 상대 스펙트럼 보정 계수 결정을 위한 표준 실습
  • ASTM E1217-00 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1217-05 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1866-97 분광계 성능 테스트를 위한 표준 지침 수립
  • ASTM E1683-02(2014)e1 스캐닝 라만 분광계 성능에 대한 표준 사례
  • ASTM E1866-97(2002) 분광계 성능 테스트를 위한 표준 지침 수립
  • ASTM E1866-97(2007) 분광계 성능 테스트를 위한 표준 지침 수립
  • ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E958-13 UV-가시광선 분광 광도계의 스펙트럼 대역폭을 평가하기 위한 표준 사례
  • ASTM E2529-06(2022) 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM E2529-06e1 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM E1770-95 전열 원자 흡수 분광계 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM E1770-95(2006) 전열 원자 흡수 분광계 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM E2911-23 라만 분광기의 상대 강도 교정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2911-13 라만 분광기의 상대 강도 교정을 위한 표준 가이드
  • ASTM D5381-93(2014) 안료 및 필러의 X선 형광(XR) 분광법에 대한 표준 가이드
  • ASTM E2529-06(2014) 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM E1840-96(2022) 분광계 교정을 위한 라만 시프트 표준에 대한 표준 가이드
  • ASTM E2529-06 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM UOP407-09 건식회화법을 이용한 유기물 내 미량 금속 측정 유도 결합 플라즈마 광방출 분광계(ICP-OES)
  • ASTM E902-05 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
  • ASTM D8340-20a 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM D8340-20 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM E1683-02(2022) 라만 분광기 스캐닝 성능 테스트에 대한 표준 관행
  • ASTM D8340-22 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM E1016-07(2020) 정전기 전자 분광계의 특성을 설명하기 위한 문헌 표준 가이드
  • ASTM E932-89(2002) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E932-89(1997) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1840-96(2002) 분광계 교정을 위한 라만 시프트 표준에 대한 표준 가이드
  • ASTM E932-89(2021) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E932-89(2013) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1770-14 전열 원자 흡수 분광법의 기기 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM D8340-21 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 기반 인증을 위한 표준 사례
  • ASTM E1812-96 화염 원자 흡수 분광 장비의 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM D7751-12 방사선 형광 분광 분석을 통한 윤활유 첨가제 표준 시험 방법
  • ASTM G138-96 표준 방사선원을 사용하여 분광복사계를 교정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1217-11(2019) Auger 전자 분광계 및 일부 X선 광전자 분광계에서 감지된 신호의 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1009-95(2000) 탄소강 및 저합금강 분석을 위한 광학 방출 진공 분광계 평가를 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-21 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-20a 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-20 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-22 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM E827-07 Auger 전자 분광계의 피크를 사용하여 원소를 식별하는 표준 관행
  • ASTM E932-89(2007) 산란 적외선 분광계의 성능 설명 및 측정에 대한 표준 사례
  • ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1172-22 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1770-19 흑연로 원자 흡수 분광법 장비 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM E1172-16 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1613-04 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES), 화염 원자 흡수 분광법(FAAS) 또는 흑연로 원자 흡수 분광법(GFAAS) 기술을 사용하여 납을 검출하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1832-08 DC 플라즈마 원자 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1832-08(2017) DC 플라즈마 원자 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례
  • ASTM E1613-12 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES), 화염 원자 흡수 분광법(FAAS) 또는 흑연로 원자 흡수 분광법(GFAAS)에 의한 납 함량에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2056-04(2010) 대리 혼합물을 사용하여 보정된 다변량 분석에서 적격 분광계 및 분광 광도계에 대한 표준 관행
  • ASTM E2056-04(2016) 대리 혼합물을 사용하여 보정된 다변량 분석에서 적격 분광계 및 분광 광도계에 대한 표준 관행
  • ASTM E2120-10 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가를 위한 표준 작업 절차
  • ASTM D7417-17 특수 4부분 통합 시험기(원자 방출 분광법, 적외선 분광법, 점도 및 레이저 입자 계수기)를 사용하여 사용 중인 윤활유를 분석하는 표준 시험 방법
  • ASTM B982-20 광학 방출 분광법 또는 ICP 분석을 위한 납 및 납 합금의 샘플링 및 샘플 준비에 대한 표준 사양
  • ASTM E1479-16 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM D7417-10 특수 4부분 통합 시험기(원자 방출 분광법, 적외선 분광법, 점도 및 레이저 입자 계수기)를 사용하여 사용 중인 윤활유를 분석하는 표준 시험 방법
  • ASTM E2120-00 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가에 대한 표준 사례
  • ASTM D4808-01(2006) 저해상도 핵자기공명분광법을 이용한 석유제품 내 수소함량 표준시험법
  • ASTM D4808-01 저해상도 핵자기공명분광법을 이용한 석유제품 내 수소함량 표준시험법
  • ASTM D4808-98 저해상도 핵자기공명분광법을 이용한 석유제품 내 수소함량 표준시험법
  • ASTM D4808-01(2012) 저해상도 핵자기공명분광법을 이용한 석유제품 내 수소함량 표준시험법
  • ASTM F1708-96 계측 구역 정화기 분광법을 사용한 입상 다결정 실리콘 평가를 위한 표준 관행
  • ASTM D4951-14 광결합 플라즈마(ICP) 원자 방출 분광법을 이용한 윤활유의 첨가 원소 측정 방법
  • ASTM D6357-11 유도결합플라즈마원자방출분광법(ICP-AES), 유도결합플라즈마 질량분석기(ICP-MASS) 및 흑연로 원자흡수분광법을 이용한 종합 석탄 처리 후 석탄, 코크스 및 연소 잔재물의 미량 원소 측정을 위한 테스트 방법
  • ASTM E2143-01(2021) 현장 휴대용 광섬유 동기화 형광 분광계를 사용하여 현장 샘플에서 방향족 및 다환 방향족 탄화수소를 정량화하기 위한 표준 테스트 방법입니다.

ZA-SANS, ICP 분광계 분광계

GM Daewoo, ICP 분광계 분광계

Professional Standard - Meteorology, ICP 분광계 분광계

  • QX/T 159-2012 지상 기반 푸리에 변환 초분광계에 의한 대기 스펙트럼 관측 사양
  • QX/T 172-2012 Brewer 분광기를 이용한 오존 컬럼의 총량을 관찰하는 방법
  • QX/T 206-2013 위성 저분광 분해능 적외선 장비의 성능 지표 계산 방법

Lithuanian Standards Office , ICP 분광계 분광계

  • LST EN 62129-2006 광학 스펙트럼 분석기 교정(IEC 62129:2006)
  • LST EN 62129-2006/AC-2007 광학 스펙트럼 분석기 교정(IEC 62129:2006)
  • LST EN ISO 5398-4:2007 가죽 내 산화크롬 함량의 화학적 측정 4부: 유도 결합 플라즈마 정량 광학 방출 분광계(ICP-OES)(ISO 5398-4:2007)
  • LST EN 15483-2009 FTIR 분광계를 사용한 지구 근처 대기 측정
  • LST EN 61290-5-1-2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-1:2006)
  • LST IEC 61239:2008 핵 장비 탐사용 휴대용 감마 복사계 및 분광계의 정의, 요구 사항 및 교정(IEC 61239:1993, 동일)
  • LST EN 61290-3-1-2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-3-1:2003)
  • LST EN 61290-1-1-2007 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2006)
  • LST EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2020)
  • LST EN 61290-10-1-2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법(IEC 61290-10-1:2009)

Professional Standard - Military and Civilian Products, ICP 분광계 분광계

  • WJ 2300-1995 평면 격자 분광기의 교정 절차
  • WJ 2299-1995 유도 결합 플라즈마 순차 주사 분광계의 교정 절차

German Institute for Standardization, ICP 분광계 분광계

  • DIN EN 62129:2007 광학 스펙트럼 분석기 교정(IEC 62129-2006)
  • DIN 51820:2013-12 적외선 분광계를 사용한 그리스의 적외선 분광학의 윤활제 테스트 기록 및 해석
  • DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 광학 스펙트럼 분석기 교정 기술 정오표 DIN EN 62129-2007-01
  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN EN 61290-5-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기
  • DIN EN ISO 5398-4:2017 가죽 내 산화크롬 함량의 화학적 측정 4부: 유도 결합 플라즈마 정량 광학 방출 분광계(ICP-OES)(ISO/DIS 5398-4:2017)
  • DIN EN 62129-1:2016 파장/광 주파수 측정 장비 교정 파트 1: 스펙트럼 분석기(IEC 62129-1-2016), 독일어 버전 EN 62129-1-2016
  • DIN IEC 62484:2014 방사선 방호 장비 분광학 방사성 물질의 불법 운송을 위한 스펙트럼 기반 입구 모니터(IEC 62484-2010)
  • DIN 51627-6:2011 자동차 연료 테스트 방법 6부: 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광계(ICP-OES)를 사용한 식물성 기름의 미량 원소 측정
  • DIN EN 61290-5-1:2007-03 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN 51008-2:2001-12 직접 판독 분광계(OES) 2부: 화염 및 플라즈마 시스템 용어
  • DIN EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN EN 61290-3-1:2004-05 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN EN 61290-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN EN 15483:2009-02 FTIR 분광계를 사용한 지표면 근처 대기질 측정
  • DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
  • DIN EN 61290-10-1:2010-01 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DIN EN 12938:2000 주석 기반 합금의 분석 방법 원자 분광계 방법에 의한 합금 불순물 함량 측정
  • DIN 10478:2003 적외선 분광법을 이용한 가공되지 않은 우유의 영양 함량 측정 장비 기능 테스트
  • DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
  • DIN EN 61290-10-4:2008 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-4: 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 위한 보간 소스 감소 방법
  • DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
  • DIN EN 61290-10-4:2008-02 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수에 대한 보간 소스 차감 방법
  • DIN EN IEC 61290-1-1:2019 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 86C/1563/CD:2018)
  • DIN EN 61290-10-2:2008-07 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 광 증폭기 - 테스트 방법 - 파트 1-1: 전력 및 이득 매개변수 - 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2020)
  • DIN EN 61290-10-2:2008 광섬유 증폭기 테스트 방법 10-2부 게이트 광 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개 변수 펄스 방법
  • DIN EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN IEC 61452:2023-02 핵 장비 감마선 방출 방사성 핵종의 활동 또는 방사율 측정 교정 및 게르마늄 기반 분광계의 사용
  • DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
  • DIN V ENV 13800:2000 납 및 납 합금 무연 매트릭스 분리에 대한 FAAS(화염 원자 흡수 분광법) 분석 또는 ICP-ES(유도 결합 플라즈마 방출 분광법) 분석
  • DIN V ENV 14029:2001 납 및 납 합금 납 매트릭스 분리 후 FAAS(화염 원자 흡수 분광법) 또는 ICP-ES(유도 결합 플라즈마 방출 분광법)

Professional Standard - Agriculture, ICP 분광계 분광계

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), ICP 분광계 분광계

  • EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • EN 62129:2006 광학 스펙트럼 분석기 교정, 2006년 12월 정오표 포함
  • EN 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법 IEC 61290-5-1

ES-UNE, ICP 분광계 분광계

  • UNE-EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • UNE-EN 61290-3-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • UNE-EN 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • UNE-EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-1:2006)
  • UNE-EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • UNE-EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • UNE-EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법

工业和信息化部/国家能源局, ICP 분광계 분광계

IEC - International Electrotechnical Commission, ICP 분광계 분광계

International Organization for Standardization (ISO), ICP 분광계 분광계

  • ISO 8599:1994 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈의 스펙트럼 및 빛 투과율 측정
  • ISO 6286:1982 분자 흡수 분광법 어휘 일반 기기
  • ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
  • ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • ISO 5398-4:2007 | IULTCS/IUC 8-4 가죽 내 산화크롬 함량의 화학적 측정 4부: 유도 결합 플라즈마-광 방출 분광계(ICP-OES)를 사용한 정량화
  • ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
  • ISO 13166:2014 수질 우라늄 동위원소 알파분광계를 이용한 시험방법
  • ISO 21501-1:2009 입자 크기 분포 결정 단일 입자 광학 간섭 방법 1부: 광산란 에어로졸 분광계
  • ISO/TS 10867:2010 나노기술 단일벽탄소나노튜브를 이용한 근적외선 여기 분광법의 특성
  • ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
  • ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 19618:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) FTIR 분광계 기준 흑체를 이용한 일반 분광휘도 측정 방법
  • ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
  • ISO 11885:2007 수질 유도 결합 플라즈마 광방출 분광법(ICP-OES)을 통한 선택된 원소 측정
  • ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
  • ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO/TS 19620:2018 수질 비소(III) 및 비소(V) 종 측정 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS) 또는 수소화물 생성 원자 형광 분석법(HG-AFS)을 사용하여 검출하는 고성능 액체 크로마토그래피(HPLC) 방법

Standard Association of Australia (SAA), ICP 분광계 분광계

  • AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정
  • AS 2563:2019 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
  • AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

未注明发布机构, ICP 분광계 분광계

  • BS EN ISO 8599:1997 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈의 스펙트럼 및 빛 투과율 측정
  • BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성
  • BS IEC 61428:1998(1999) 핵 계측 - Ge 검출기가 포함된 감마선 분광법 샘플 컨테이너
  • BS EN 61290-3-1:2003(2004) 광 증폭기 - 테스트 방법 파트 3-1: 잡음 지수 매개변수 - 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN EN IEC 61290-1-1:2022 광섬유 증폭기 테스트 방법 1부 1: 광학 성능 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

国家药监局, ICP 분광계 분광계

  • YY/T 1740.2-2021 의료용 질량 분석법 2부: 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 비행 시간 질량 분석법

CZ-CSN, ICP 분광계 분광계

  • CSN 35 6535-1983 전자 측정 장비. 연속 공정 스펙트럼 분석기. 매개변수 이름 지정
  • CSN 75 7554-1998 수질. 선택된 다환방향족탄화수소(PAH) 측정. 고성능 액체 크로마토그래피(형광 검출 방법) 및 가스 크로마토그래피(질량 분석법) 방법

Professional Standard - Medicine, ICP 분광계 분광계

  • YY 91060-1999 생화학 기기 용어집 자외선 및 가시광선 흡수 분광법

Indonesia Standards, ICP 분광계 분광계

  • SNI 06-6596-2001 수처리 금속 분석, 원자 흡수 분광계
  • SNI 12-7181-2006 가죽의 총 크롬 함량 시험 방법 원자흡광분석기(AAS법)
  • SNI 06-6989.54-2005 물 및 폐수 파트 54: 원자 흡수 분광계(AAS 방법)를 통한 비소 함량 측정
  • SNI 06-6989.39-2005 물 및 폐수 파트 39: 원자 흡수 분광계(AAS 방법)를 사용한 바륨(BA) 함량 측정.
  • SNI 06-6989.56-2005 급수 및 배수 파트 56: 원자흡광분광계를 이용한 칼슘 함량 측정 방법
  • SNI 06-6989.43-2005 물 및 폐수 43부: 원자흡광분광계(AAS 방법)에 의한 추출에 의한 아연(Zn) 함량 측정
  • SNI 06-6989.41-2005 물 및 폐수 파트 41: 원자 흡수 분광계(AAS 방법)를 이용한 추출을 통한 망간(Mn) 함량 측정
  • SNI 06-6989.55-2005 급수 및 배수 파트 55: 원자흡광분광계를 이용한 마그네슘 함량 측정 방법

KR-KS, ICP 분광계 분광계

SE-SIS, ICP 분광계 분광계

Professional Standard - Electron, ICP 분광계 분광계

  • SJ/Z 3206.3-1989 방출 스펙트럼 분석용 기기 및 성능 요구 사항
  • SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법

Shanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

  • DB14/T 1435-2017 지상 레이저 빗방울 분광계 감지 데이터 전처리
  • DB1404/T 18-2021 검사 및 테스트 실험실의 기기 분석 방법에 대한 검증 요구 사항

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

GB-REG, ICP 분광계 분광계

American National Standards Institute (ANSI), ICP 분광계 분광계

  • ANSI/ASTM D6645:2001 원적외선 분광기를 이용한 폴리에틸렌의 메틸기 측정 방법
  • ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 5-1: 반사 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기
  • ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209-IEC 61290-2-1-광섬유 증폭기 기본 사양 제2-1부: 광전력 매개변수 테스트 방법 광스펙트럼 분석기
  • ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209.IEC 61290-2-1 광섬유 증폭기 기본 사양 2-1부: 광 전력 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기
  • ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206-IEC 61290-1-2 - 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 1-1: 이득 매개변수 테스트 방법 광 스펙트럼 분석기
  • ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206.IEC 61290-1-1 광섬유 증폭기 기본 사양 1-1부: 이득 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기

AENOR, ICP 분광계 분광계

  • UNE-EN ISO 5398-4:2008 가죽 내 산화크롬 함량의 화학적 측정 4부: 유도 결합 플라즈마 정량 광학 방출 분광계(ICP-OES)(ISO 5398-4:2007)
  • UNE-EN 15483:2009 FTIR 분광계를 사용한 지구 근처 대기 측정

Professional Standard - Electricity, ICP 분광계 분광계

  • DL/T 386-2010 2차 시차 화염 분광법 추적 나트륨 분석기 검사 절차

International Commission on Illumination (CIE), ICP 분광계 분광계

  • CIE 214-2014 계측기 대역 통과 기능 및 측정 간격이 스펙트럼 양에 미치는 영향

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, ICP 분광계 분광계

  • EN 61290-2-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-1부: 광 전력 매개변수 스펙트럼 분석기의 테스트 방법
  • EN 61290-5-1:2000 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • EN 61290-1-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 1-1부: 이득 매개변수 스펙트럼 분석기의 테스트 방법
  • EN 61290-10-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • EN 61290-2-2:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-2부: 광 전력 매개변수 및 전기 스펙트럼 분석기의 테스트 방법
  • EN 61290-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법

BE-NBN, ICP 분광계 분광계

  • NBN EN 1138-1995 과일주스와 야채주스. L 젖산 내 효소 측정(NADH 분광계 방법)
  • NBN EN 1137-1995 과일 및 야채 주스. 구연산 함량의 효소적 측정(NADH 분광계 방법)

Professional Standard - Energy, ICP 분광계 분광계

  • NB/SH/T 0940-2016 특정 4-in-1 테스터(원자 방출 분광법, 적외선 분광법, 점도 및 레이저 입자 계수기)를 사용하여 사용 중인 윤활유를 분석하는 테스트 방법

国家能源局, ICP 분광계 분광계

  • SH/T 0940-2016 특정 4-in-1 테스터(원자 방출 분광법, 적외선 분광법, 점도 및 레이저 입자 계수기)를 사용하여 사용 중인 윤활유를 분석하는 테스트 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, ICP 분광계 분광계

  • GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
  • GB/T 34333-2017 내화물의 유도결합플라즈마원자방출분광법(ICP-AES) 분석방법

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

  • DB44/T 1496.1-2014 LED 테스트 기기 교정 방법 1부: 통합 구형 스펙트럼 테스트 시스템

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., ICP 분광계 분광계

  • IEEE 1131-1987 게르마늄 반도체 감마선 분광계용 표준 저온 유지 장치 엔드 캡 치수
  • IEEE N42.14-1991 게르마늄 분광기를 이용한 방사성 핵종의 감마선 방사율 교정 및 측정

(U.S.) Telecommunications Industries Association , ICP 분광계 분광계

  • TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 IEC 61290-2-1 광섬유 증폭기의 기본 사양 파트 2-1: 광 전력 매개변수 스펙트럼 분석기의 테스트 방법

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, ICP 분광계 분광계

  • DB37/T 2888-2016 MODIS(중해상도 이미징 분광복사계) 원격 감지 이미지를 사용한 밀 성장 모니터링에 대한 기술 규정
  • DB37/T 2060-2012 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 비료 내 크롬 측정

PL-PKN, ICP 분광계 분광계

  • PN-EN IEC 61290-1-1-2021-06 E 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2020)

Association of German Mechanical Engineers, ICP 분광계 분광계

  • VDI 3489 Blatt 8-1996 테스트 에어로졸 비행 시간 분광계 특성화 및 모니터링을 위한 입자상 물질 측정 방법

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), ICP 분광계 분광계

  • ANSI/IEEE Std 1131-1987 게르마늄 반도체 감마선 분광계용 IEEE 표준 저온 유지 장치 엔드 캡 치수

AT-ON, ICP 분광계 분광계

  • ONORM M 6279-1991 수질 분석. 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 33개 원소 측정




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