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분자량 분석

모두 54항목의 분자량 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 분자량 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 어휘, 분석 화학, 수학.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 분자량 분석

KS D ISO 23833:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석(Epma) - 용어집
KS D ISO 14595:2012 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
KS D ISO 17560-2003(2018) 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 실리콘 내 붕소 깊이 분포 측정 방법
KS D ISO 14595:2018 마이크로빔 분석 - 전자 프로브 미세분석 - CRM(인증 기준 자료) 사양 가이드
KS D ISO 14594:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
KS D ISO 16592-2011(2021) 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 강철의 탄소 함량 측정을 위한 검량선 방법 안내
KS D ISO 14237-2003(2018) 지하 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 실리콘에 균일하게 첨가된 붕소 원자 농도 측정 방법
KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

KR-KS, 분자량 분석

KS D ISO 23833-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석(Epma) - 용어집
KS D ISO 14595-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 표준 물질 사양 가이드
KS D ISO 14595-2018 마이크로빔 분석 - 전자 프로브 미세분석 - CRM(인증 기준 자료) 사양 가이드
KS D ISO 14594-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
KS D ISO 14594-2018(2023) 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 통한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드입니다.
KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

International Organization for Standardization (ISO), 분자량 분석

ISO 23833:2013 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
ISO 23833:2006 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
ISO 14595:2003 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
ISO/PRF 14595 마이크로빔 분석 "전자 탐침 미세 분석" 인증 참조 자료(CRM) 사양 가이드
ISO 14595:2014 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
ISO 14595:2023 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석을 위한 인증표준물질(CRM) 사양 가이드
ISO/DIS 14594 마이크로빔 분석 "전자 프로브 미세분석" 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
ISO 11938:2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
ISO 14595:2003/Cor 1:2005 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드 기술 정오표 1
ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법

Association Francaise de Normalisation, 분자량 분석

NF X21-009:2008 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
NF X21-001:2006 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
NF X21-002:2007 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내입니다.
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 파장 분산 분광법을 이용한 원소 매핑 분석 방법
NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석

British Standards Institution (BSI), 분자량 분석

BS ISO 23833:2013 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
BS ISO 14595:2023 마이크로빔 분석 전자 프로브 마이크로분석 인증 참조 자료(CRM) 사양 가이드
BS ISO 19463:2018 마이크로빔 분석을 위한 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)의 품질 보증 절차 수행에 대한 지침
BS ISO 23692:2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 이용한 연속주강 제품의 Mn 수지상 편석 정량분석
BS ISO 14595:2003 마이크로빔 분석 전자 검출 미세 분석 적격 표준 물질에 대한 사양 가이드
BS ISO 14595:2014 마이크로빔 분석 전자 검출 미세 분석 적격 표준 물질에 대한 사양 가이드
20/30393735 DC BS ISO 23692 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 연속 주조강 제품의 Mn 수지석 분리 정량 분석
22/30430960 DC 마이크로빔 분석을 위한 인증 표준 물질(CRM)에 대한 BS ISO 14595 사양 가이드 전자 탐침 미세 분석
BS ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 파장분산분광법을 이용한 원소맵 분석 방법
23/30425940 DC BS ISO 14594 마이크로빔 분석, 전자 프로브 마이크로 분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드
BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 분자량 분석

GB/T 29858-2013 분자 분광학의 다변량 교정 및 정량 분석의 일반 원리

German Institute for Standardization, 분자량 분석

DIN 4895-2:1977-11 직교 좌표계, 벡터 분석을 위한 미분 연산자
DIN 4895-2:1977 직교 좌표계 벡터 분석을 위한 미분 연산자

CZ-CSN, 분자량 분석

CSN ISO 5997:1993 크롬 광석과 고운 모래. 실리콘 함량 측정. 분자 흡수 분광 광도법 및 중량 분석