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DE재료 표면 분석
모두 476항목의 재료 표면 분석와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 재료 표면 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 절단 도구, 어휘, 표면 처리 및 도금, 페인트 도포 과정, 고무 및 플라스틱 제품, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 건물 구성요소, 건축 자재, 기타 가정용 및 상업용 장비, 입자 크기 분석, 스크리닝, 음향 및 음향 측정, 비직물 바닥재, 복합강화재료, 정보 기술 응용, 화학 장비, 도로 공사, 단열재, 감전 보호, 가구, 길이 및 각도 측정, 설탕, 설탕제품, 전분, 화학 제품, 내화물, 광학 장비, 자성 재료, 철강 제품, 비철금속, 분말 야금, 소방, 항공우주 제조용 재료, 폼 소재, 의료 장비, 태양광 공학, 페인트 및 바니시, 목재, 통나무 및 톱질한 목재, 파라핀, 역청물질 및 기타 석유제품, 도체 재료, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 금속 재료 테스트, 기술 도면, 산업용로, 도로 차량 장치, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 교량 건설, 신발류, 열처리, 부피, 질량, 밀도 및 점도 측정, 포장재 및 부자재, 스포츠 장비 및 시설, 건물 보호, 환경 보호, 세라믹, 광학 및 광학 측정.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 재료 표면 분석
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 재료 표면 분석
International Organization for Standardization (ISO), 재료 표면 분석
- ISO/TR 14187:2020 표면 화학 분석 - 나노구조 재료의 특성화
- ISO/TR 14187:2011 표면 화학 분석, 나노 구조 물질의 특성 분석
- ISO/CD 20289:2017 표면 화학 분석
- ISO/CD 20579-2:2023 표면 화학 분석
- ISO/CD 24237:2023 표면 화학 분석
- ISO 18118:2022 표면 화학 분석
- ISO/DIS 20579-2:2024 표면 화학 분석
- ISO 20579-3:2021 표면 화학 분석, 시료 처리, 준비 및 설정 3부: 생체 재료
- ISO 19712-3:2007 플라스틱 고체 표면 처리용 장식 재료 3부: 성능 결정 고체 재료의 표면 형태
- ISO 18115:2001 표면 화학 분석 용어집
- ISO 18117:2009 표면 화학 분석, 시료 처리 전 분석
- ISO 19712-3:2022 플라스틱 장식용 고체 표면 재료 파트 3: 성능 결정 고체 표면 형태
- ISO 14606:2022 표면 화학 분석, 스퍼터 깊이 프로파일링, 참조 자료로 계층화된 시스템을 사용한 최적화
- ISO/CD 13473-4 표면 프로파일을 이용한 포장 구조 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
- ISO 14975:2000 표면 화학 분석 정보 형식
- ISO/TR 16268:2009 표면 화학 분석 이온 주입으로 생성된 작업 기준 물질의 잔류 표면 선량을 검증하기 위한 권장 절차
- ISO 19712-2:2007 플라스틱 장식용 고체 표면 재료 2부: 특성 결정 얇은 시트
- ISO 19712-1:2008 플라스틱 단단한 표면 장식 재료 1부: 분류 및 사양
- ISO/TS 13473-4:2008 표면 외관 포장 구조의 특성 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
- ISO 25178-70:2014 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 표면 파트 70: 재료 측정
- ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 - 깊이 분석 - 스퍼터링 깊이 측정
- ISO/CD 20263:2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
- ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
- ISO 18115-3:2022 표면 화학 분석 용어집 3부: 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어.
- ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
- ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
- ISO/DIS 13473-4 표면 프로파일을 이용한 포장 구조 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 1/3 옥타브 스펙트럼 분석
- ISO 18115:2001/Amd 1:2006 표면 화학 분석 어휘 수정 1
- ISO 18115:2001/Amd 2:2007 표면화학분석 어휘 수정 2
- ISO 14976:1998 표면화학 분석 데이터 전송 형식
- ISO 22415:2019 표면 화학 분석, 2차 이온 질량 분석법, 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일을 통한 수율량 결정 방법.
- ISO 17331:2004 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 기준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법을 통한 결정
- ISO 18116:2005 표면 화학 분석 - 분석용 시편 준비 및 조립 지침
- ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
- ISO 4498-2:1981 초경합금을 제외한 소결금속 재료의 겉보기 경도 측정 - 2부: 침탄 또는 탄소 및 질화 처리를 통해 표면 경화된 철 금속 재료
- ISO 20341:2003 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 다중 델타층 표준 물질의 깊은 용해 매개변수를 추정하는 방법.
- ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
- ISO 25178-73:2019 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 구조: 면적 파트 73: 재료 측정 시 표면 결함에 대한 용어 및 정의
- ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
- ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 균질 물질의 원소 검출 한계 추정 및 보고
- ISO 23812:2009 표면 화학 분석 2차 이온 질량분석기 다중 델타층 참조 물질을 사용한 실리콘 깊이 교정 방법
- ISO/TR 14936:1998 금속 재료 응력 분석 보고서
- ISO 410:1982 금속 재료 경도 시험 평면 표면 시험을 위한 브리넬 수치표
- ISO 10564:1993 납땜 및 브레이징 재료 - 납땜 분석 및 샘플링 방법
- ISO 24465:2023 표면 화학 분석 - 표면 플라즈몬 공명 장치의 최소 검출 가능성 결정
- ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
- ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
British Standards Institution (BSI), 재료 표면 분석
- PD ISO/TR 14187:2020 나노구조 물질의 특성화를 위한 표면 화학 분석
- BS ISO 14606:2022 표면 화학 분석 스퍼터 깊이 프로파일링 다층 시스템을 기준 재료로 사용하여 최적화
- BS EN 14700:2014 용접재료, 표면 경화 용접재료
- BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
- 21/30440164 DC BS ISO 14606 표면 화학 분석 다층 시스템을 참조 자료로 사용하여 최적화된 스퍼터 깊이 프로파일링
- BS EN ISO 19712-3:2013 플라스틱, 고체 재료의 표면 처리용 장식 재료, 특성 결정, 고체 재료의 표면 형상
- BS ISO 22415:2019 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 분석 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일링의 수율 결정 방법
- BS ISO 19712-1:2009 플라스틱 장식 고체 표면 재료 분류 및 사양
- BS EN ISO 19712-1:2013 플라스틱, 단단한 표면 장식 재료, 분류 및 사양
- BS ISO 18117:2009 표면 화학 분석 - 분석 전 샘플 준비
- 18/30337640 DC BS ISO 20579-3 표면 화학 분석을 위한 시료 취급, 준비 및 설치 3부. 생물학적 재료
- BS ISO 14606:2015 표면 화학 분석 스퍼터 깊이 프로파일 결정 참조 재료를 사용한 레이어링 시스템 최적화
- BS ISO 14606:2000 표면 화학 분석 스퍼터 깊이 프로파일 결정 참조 재료를 사용한 레이어링 시스템 최적화
- BS ISO 14606:2001 표면 화학 분석 스퍼터 깊이 프로파일 결정 참조 재료를 사용한 레이어링 시스템 최적화
- BS ISO 18115-3:2022 표면 화학 분석 용어집 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어
- BS ISO 14975:2000 표면 화학 분석 정보 형식
- BS ISO 14975:2001 표면 화학 분석 정보 형식
- DD ENV 61111-2002 전기 절연재의 매트 표면
- BS 8870:2022+A1:2023 도로 재료의 고마찰 표면 사양
- BS 6829-1.3:1988 계면활성제(원료) 분석을 위한 일반적인 방법 알칼리도 측정 방법
- BS ISO 20263:2017 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
- BS EN ISO 19712-2:2013 플라스틱 장식용 고체 표면 재료 특성 결정 얇은 시트
- BS EN 10342:2005 자성재료 전기강판, 스트립, 적층판의 표면절연 분류
- BS 4S 14:1964 항공기 재료 규격, 표면 경화 탄소강
- BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
- PD ISO/TS 15338:2020 표면화학분석 글로우방전 질량분석법 분석 운용과정
- BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
- BS EN ISO 25178-70:2014 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 표면 재료 측정
- BS ISO 14976:1998 표면 화학 분석 - 데이터 전송 형식
- BS EN 61725:1997 일일 태양 프로필에 대한 분석 표현
- DD ISO/TS 13473-4:2008 포장 질감 질감 프로필을 특성화하기 위해 표면 프로필을 사용한 스펙트럼 분석
- BS ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 추정 및 균질 재료의 원소 검출 한계 보고
- 20/30396725 DC 도로 재료의 고마찰 표면에 대한 BS 8870 사양
- BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
- BS ISO 18116:2005 표면 화학 분석 - 분석용 시편 준비 및 조립 지침
- PD ISO/TR 15969:2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
- BS ISO 20341:2003 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석기 다중 델타층 표준 물질의 깊은 용해 매개변수를 추정하는 방법.
- BS ISO 18114:2021 표면 화학 분석을 위한 상대 감도 인자 결정 2차 이온 질량 분석법 이온 주입 참조 자료
- DD ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 깊이 측정
- BS DD ISO/TR 15969:2001 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터 깊이 측정
- BS PD ISO/TR 15969:2021 스퍼터 깊이의 표면 화학 분석 깊이 프로파일 측정
- BS ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- BS ISO 13473-3:2002 표면 프로파일링 포장 재료의 표면 구조 특성화 프로파일로미터의 사양 및 분류
- BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
- BS 6829-4.6:1988 에틸렌옥사이드 부가물의 수산기가 측정을 위한 계면활성제(원료) 분석 및 방법
- BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
- BS DD ISO/TS 13473-4:2008 표면 프로파일을 이용한 포장 구조의 특성화 구조 프로파일의 스펙트럼 분석
- 21/30385921 DC BS ISO 18115-3 표면 화학 분석 용어집 3부. 광학 인터페이스 분석에 사용되는 용어
- BS EN ISO 25178-73:2019 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 면적 재료 측정의 표면 결함에 대한 용어 및 정의
- BS ISO 24465:2023 표면 화학 분석을 위한 표면 플라즈몬 공명 장치의 최소 검출 능력 결정
- PD ISO/TR 16268:2009 이온 주입으로 생성된 작업 기준 물질의 잔류 비소량을 확인하기 위해 표면 화학 분석을 위한 제안된 절차
- BS 6829-1.6:1991 계면활성제(원료) 분석을 위한 일반적인 방법 물에 대한 용해도 측정
- BS 5S 15:1964 항공기 재료 규격 3% 니켈을 함유한 표면 경화강
- 22/30462336 DC BS 8870:2022+A1 도로 자재의 고마찰 표면 규격
- BS ISO 18115-1:2010 표면 화학 분석, 용어집, 일반 용어 및 분광학 용어
- BS ISO 18115-1:2013 표면 화학 분석, 용어집, 일반 용어 및 분광학 용어
- BS DD ISO/TS 25138:2011 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
- BS ISO 11039:2012 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 드리프트 속도 결정
- BS EN ISO 19712-3:2022 플라스틱 장식 고체 표면 고체 표면 모양의 특성 결정
- 20/30409889 DC BS ISO 18114 표면 화학 분석을 위한 2차 이온 질량 분석법 이온 주입 기준 물질에 대한 상대 감도 인자 결정
- BS 6829-4.5:1989 계면활성제(원료) 분석 - 에틸렌옥사이드 부가물 황산회 함량 측정
- 22/30454328 DC BS EN 15330-5 스포츠 경기장 표면 인조 잔디 및 직물 스포츠 표면 파트 5: 충전재 사양
American Society for Testing and Materials (ASTM), 재료 표면 분석
CZ-CSN, 재료 표면 분석
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 재료 표면 분석
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 재료 표면 분석
IX-SA, 재료 표면 분석
未注明发布机构, 재료 표면 분석
Association Francaise de Normalisation, 재료 표면 분석
- NF T54-370-3:2013 플라스틱 고체 표면 처리용 장식 재료 3부: 성능 결정 고체 재료의 표면 형태
- NF ISO 14237:2010 표면 화학 분석 균일하게 도핑된 물질을 사용한 실리콘 내 붕소 원자량의 2차 이온 질량 분석
- NF EN ISO 19712-1:2013 플라스틱 대면적 장식 표면 피복재 제1부: 분류 및 사양
- NF ISO 18117:2009 표면 화학 분석 분석 전 샘플 준비
- NF T54-370-3*NF EN ISO 19712-3:2022 플라스틱 장식용 고체 표면 재료 파트 3: 특성 결정 고체 표면 형상
- NF EN ISO 105-X07:1997 섬유 섬유 재료의 고체 연구 파트 X07: 재료의 고체 재료: 표면
- NF X30-408:2020 가정용 및 유사 폐기물 특성화 방법 원료 분석
- BP X10-043:2009 재료의 감각적 특성화 음향 분석에 대한 실질적인 조언
- NF X21-065*NF ISO 18117:2009 표면 화학 분석은 시료 처리를 우선시합니다.
- NF ISO 14606:2008 표면 화학 분석 충격에 의한 두께 분석 단층 또는 다층 시스템을 기준 물질로 사용하여 최적화
- NF C28-905*NF EN 10342:2005 전기강판, 스트립, 적층시트의 자성재료 표면절연 분류
- NF T54-370-2*NF EN ISO 19712-2:2013 플라스틱 장식용 고체 표면 재료 2부: 얇은 시트의 특성 결정
- BP X10-041:2004 재료의 감각적 특성화 원자재부터 완제품까지 촉각 분석에 대한 실무적 조언
- BP X10-042:2006 재료의 감각적 특성 분석 원자재부터 완제품까지 시각적 분석에 대한 실질적인 조언
- NF E05-031-70*NF EN ISO 25178-70:2014 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 표면 파트 70: 재료 측정
- NF P90-131*NF EN 12230:2003 합성 재료의 운동장 표면 신장 특성 결정
- NF A95-321-2:1988 분말 야금 초경합금 이외의 소결 금속 재료 표면 경도 측정 2부: 표면에 탄소나 탄소 및 질소가 풍부한 케이스 경화 강철 재료.
- NF EN ISO 19712-2:2013 플라스틱 - 견고한 장식 표면 피복 재료 - 2부: 성능 결정 - 시트 제품
- NF T54-370-1*NF EN ISO 19712-1:2013 고체플라스틱 표면처리용 장식재 제1부: 분류 및 규격
- NF ISO 18116:2006 표면 화학 분석 분석 샘플 준비 및 설정 가이드
- NF X21-052/A2:2008 표면화학분석 어휘 수정 2
- NF X21-052/A1:2008 표면 화학 분석 어휘 수정 1
- NF E05-031-73*NF EN ISO 25178-73:2019 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 평면 부분 73: 재료 측정의 표면 결함에 대한 용어 및 정의
- NF EN ISO 25178-70:2014 기하학적 제품 사양(GPS) - 표면 마감: 면적 - 부품 70: 재료 측정
- NF X21-056*NF ISO 18116:2006 표면 화학 분석을 위한 분석 시료 준비 및 조립 지침
- NF ISO 23812:2009 다중 삼각층 기준 물질을 이용한 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석을 위한 실리콘 깊이 교정 방법
- NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
- BP X10-040:2003 재료의 관능 특성화를 위한 일반적인 방법 원료부터 완제품까지 관능 분석을 위한 방법론적 권장 사항
- NF T58-112:1971 플라스틱 재료 금속 표면 코팅 플라스틱 코팅 접착력 테스트
- NF P14-204-6*NF EN 13892-6:2003 스크리드 재료의 시험 방법 6부: 표면 경도 측정
- NF EN 10342:2005 자성재료, 자성강판, 강대의 분류 및 강대의 표면절연
- NF EN 17409:2020 스포츠 표면 - 인조잔디 표면에 사용되는 충전재 샘플링에 대한 실천 규정
- NF T35-502-6:1999 코팅 및 관련 제품을 적용하기 전 강철 기판 준비 표면 청결도 평가 테스트 6부: Bresle 방법 분석을 위한 용해성 불순물 침전
- NF B49-416:1969 내화물의 화학적 분석 실리콘 재료, 실리카 재료 및 점토 재료의 인 함량 측정
- NF B49-413:1968 내화물의 화학적 분석 실리콘 재료, 실리카 재료 및 점토 재료의 철 함량 측정
- NF B49-412:1968 내화물의 화학적 분석 실리콘 재료, 실리카 재료 및 점토 재료의 알루미늄 함량 측정
- NF B49-411:1968 내화물의 화학적 분석 실리콘 재료, 실리카 재료 및 점토 재료의 실리콘 함량 측정
- NF B49-414:1968 내화물의 화학적 분석 실리콘 재료, 실리카 재료 및 점토 재료의 티타늄 함량 측정
- NF B49-415:1968 내화물의 화학적 분석 실리카 재료, 실리카 재료 및 점토 재료의 망간 측정
- NF G62-005:1983 신발 신발 소재의 표면 염색 또는 코팅 견뢰도 시험
- UTE C26-141U*UTE C26-141:1976 고체 단열재 및 도장된 직물과 관련된 기사 목록
- NF EN ISO 19712-3:2022 플라스틱 견고한 장식 표면 피복 재료 3부: 성능 결정 성형 제품
- NF ISO 17560:2006 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 두께 분석을 통한 실리콘 내 붕소 함량 결정
- NF ISO 893:1990 계면활성제 - 산업용 알칸술폰산염 - 분석 방법.
- NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
Lithuanian Standards Office , 재료 표면 분석
RO-ASRO, 재료 표면 분석
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 재료 표면 분석
AT-ON, 재료 표면 분석
RU-GOST R, 재료 표면 분석
European Committee for Standardization (CEN), 재료 표면 분석
Defense Logistics Agency, 재료 표면 분석
Standard Association of Australia （SAA）, 재료 표면 분석
YU-JUS, 재료 표면 분석
ES-UNE, 재료 표면 분석
Underwriters Laboratories (UL), 재료 표면 분석
BHMA - Builders Hardware Manufacturers Association Inc., 재료 표면 분석
BE-NBN, 재료 표면 분석
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 재료 표면 분석
Danish Standards Foundation, 재료 표면 분석
American Society of Civil Engineers (ASCE), 재료 표면 분석
IN-BIS, 재료 표면 분석
German Institute for Standardization, 재료 표면 분석
- DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 표면 프로파일을 이용한 포장 질감 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
- DIN EN ISO 19712-2:2013-04 플라스틱 장식용 고체 표면 재료 파트 2: 성능 결정 시트
- DIN ISO/TS 13473-4:2009 표면 프로파일을 사용한 포장 구조의 특성 분석 4부: 표면 프로파일의 스펙트럼 분석
- DIN EN ISO 19712-3:2022-07 플라스틱 - 장식용 고체 표면 재료 - 3부: 특성 결정 - 고체 표면 형상(ISO 19712-3:2022)
- DIN EN 10342:2005-09 자성재료 - 전기강판, 스트립, 적층의 표면절연 분류
- DIN 66142-2:1981 분산물질 분리의 대표성과 특성, 분석적 분리방법의 적용
- DIN EN ISO 25178-70:2014-06 제품 기하학적 사양(GPS) 표면 질감: 영역 파트 70: 재료 측정
- DIN EN 15330-5:2022-08 스포츠 경기장 표면 - 인조 잔디 및 직물 스포츠 표면 - 파트 5: 충전재 사양
- DIN EN ISO 19712-3:2013 플라스틱 고체 표면 처리용 장식 재료 3부: 성능 결정 고체 재료의 표면 형태(ISO 19712-3-2007) 독일어 버전 EN ISO 19712-3-2013
- DIN 2311-1:1998 첨가재료를 이용한 레이저빔 표면처리 규격 및 승인 제1부 : 소모성 재료를 이용한 레이저빔 표면처리 규격
- DIN EN 13892-6:2003 재료 레벨링 테스트 방법 6부: 표면 경도 측정
- DIN EN 10342:2005 자성재료 전기강판, 스트립, 적층판의 표면절연 분류
- DIN 20372:1988-05 암석 드릴링, 수도관, 연결 치수, 재료, 표면 처리
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