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전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

모두 108항목의 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 광학 장비, 분석 화학, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 어휘, 소방, 금속 재료 테스트, 세라믹.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

JJG 901-1995 전자 프로브 분석기의 교정 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

GB/T 15075-1994 전자 프로브 분석기의 검출 방법
GB/T 17366-1998 광물 암석의 전자 탐침 분석을 위한 시료 준비 방법
GB/T 17365-1998 금속 및 합금 전자탐침의 정량분석을 위한 시료의 제조방법
GB/T 4930-1993 표준 시료의 전자 프로브 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 4930-2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 분석 표준 샘플 기술 조건에 대한 지침
GB/T 28634-2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 벌크 샘플 분광법의 정량적 점 분석.
GB/T 21636-2008 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어
GB/T 15074-2008 전자탐침 정량분석법의 일반원리
GB/T 15074-1994 전자탐침 정량분석법의 일반원리
GB/T 15244-2002 유리의 전자탐침 정량분석방법
GB/T 32055-2015 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 분광법 원소 표면 분석
GB/T 20725-2006 분광학에 의한 정성적 점 분석의 전자 탐침 미세 분석 지침
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 15246-2022 황화물광물의 마이크로빔 분석을 위한 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 15617-2002 규산염 광물의 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 15245-2002 희토류 산화물의 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 15246-2002 황화물광물의 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 15616-1995 금속 및 합금의 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 15616-2008 금속 및 합금의 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 17360-1998 철강 중 저함량 Si 및 Mn의 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 17506-1998 선박의 철금속 부식층에 대한 전자탐침 분석방법
GB/T 17360-2008 철강 중 저함량 Si 및 Mn의 전자탐침 정량분석 방법
GB/T 17506-2008 선박의 철금속 부식층에 대한 전자탐침 분석방법
GB/T 30705-2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 분광법의 실험 매개변수 결정을 위한 지침
GB/T 17363.1-2009 금 제품의 금 함량 측정을 위한 비파괴 방법 1부: 전자 탐침 미세 분석
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 15247-2008 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 강철의 탄소 함량 측정을 위한 교정 곡선 방법.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

GB/T 4930-2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 위한 표준시료의 기술적 조건에 대한 지침
GB/T 21636-2021 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석(EPMA) 용어
GB/T 17360-2020 철강 내 저함량 실리콘 및 망간의 마이크로빔 분석을 위한 전자탐침 정량분석 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

KS D ISO 23833:2012 마이크로빔 분석전자 탐침 미세 분석어휘
KS D ISO 23833:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석(Epma) - 용어집
KS D ISO 23833:2022 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
KS D ISO 14595:2012 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 14595:2018 마이크로빔 분석 - 전자 프로브 미세분석 - CRM(인증 기준 자료) 사양 가이드
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 14594:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
KS D ISO 16592:2011 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
KS D ISO 16592-2011(2016) 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 강철의 탄소 함량 측정을 위한 검량선 방법 안내
KS D ISO 16592-2011(2021) 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 강철의 탄소 함량 측정을 위한 검량선 방법 안내
KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정

KR-KS, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

KS D ISO 23833-2022 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
KS D ISO 23833-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석(Epma) - 용어집
KS D ISO 14595-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 표준 물질 사양 가이드
KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
KS D ISO 14595-2018 마이크로빔 분석 - 전자 프로브 미세분석 - CRM(인증 기준 자료) 사양 가이드
KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 14594-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 14594-2018(2023) 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 통한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드입니다.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

JJF 1029-1991 전자탐침을 이용한 정량분석을 위한 표준물질 개발 규격

International Organization for Standardization (ISO), 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

ISO 23833:2013 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
ISO 23833:2006 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
ISO 19463:2018 마이크로빔 분석 EPMA(Electron Probe Microanalyzer) 품질 보증 절차 수행을 위한 지침
ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO/PRF 14595 마이크로빔 분석 "전자 탐침 미세 분석" 인증 참조 자료(CRM) 사양 가이드
ISO 14595:2023 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석을 위한 인증표준물질(CRM) 사양 가이드
ISO 23692:2021 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 연속 주조강 제품의 Mn 수지상 편석 정량 분석
ISO 14595:2003 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
ISO 14595:2014 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
ISO/DIS 14594 마이크로빔 분석 "전자 프로브 미세분석" 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
ISO 11938:2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
ISO 16592:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
ISO 14595:2003/Cor 1:2005 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드 기술 정오표 1
ISO 14594:2003/Cor 1:2009 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분산 분광학에 의한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드 기술 정오표 1
ISO/WD TR 23683:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 전기 스캐닝 프로브 현미경을 사용하여 반도체 장치의 캐리어 농도를 실험적으로 정량화하는 방법에 대한 가이드

Association Francaise de Normalisation, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

NF X21-009:2008 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자마이크로프로브 분석(캐스트 마이크로프로브) 파장분산분광법을 이용한 원소 매핑 분석법
NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
NF X21-001:2006 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
NF X21-002:2007 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내입니다.
NF X21-007:2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 파장 분산 분광법을 이용한 원소 매핑 분석 방법

British Standards Institution (BSI), 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

BS ISO 23833:2013 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
BS ISO 19463:2018 마이크로빔 분석을 위한 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)의 품질 보증 절차 수행에 대한 지침
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
BS ISO 14595:2023 마이크로빔 분석 전자 프로브 마이크로분석 인증 참조 자료(CRM) 사양 가이드
BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 23692:2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 이용한 연속주강 제품의 Mn 수지상 편석 정량분석
20/30393735 DC BS ISO 23692 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 연속 주조강 제품의 Mn 수지석 분리 정량 분석
22/30430960 DC 마이크로빔 분석을 위한 인증 표준 물질(CRM)에 대한 BS ISO 14595 사양 가이드 전자 탐침 미세 분석
BS ISO 11938:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
BS ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 파장분산분광법을 이용한 원소맵 분석 방법
BS ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
23/30425940 DC BS ISO 14594 마이크로빔 분석, 전자 프로브 마이크로 분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드
BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
BS EN 1071-4:2006 고급 산업용 세라믹 세라믹 코팅 테스트 방법 EPMA(전자 탐침 미세 분석)를 통한 화학 조성 결정

Professional Standard - Petroleum, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

SY/T 6027-2012 암석광물의 전자탐침 정량분석방법
SY/T 6027-1994 산소함유 광물의 전자탐침 정량분석 방법

国家能源局, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

SY/T 6027-2019 암석광물의 전자탐침 정량분석방법

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

DB53/T 443-2012 화재 기술 식별 방법 전자 탐침 분석 방법

Professional Standard - Aviation, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

HB 8422-2014 합금 내 미량원소의 전자탐침 정량분석 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
JIS K 0189:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산형 X선 분광법을 위한 실험 매개변수 결정.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

German Institute for Standardization, 전자 탐침 분석기를 위한 시료 준비

DIN ISO 16592:2015 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정 가이드(ISO 16592-2012)