ZH
EN
JP
ES
RU
DE

전자 현미경

모두 304항목의 전자 현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 광학 장비, 분석 화학, 계측 및 측정 합성, 기르다, 어휘, 광전자공학, 레이저 장비, 공기질, 금속 재료 테스트, 범죄 예방, 열역학 및 온도 측정, 길이 및 각도 측정, 기술 도면, 표면 처리 및 도금, 전자 디스플레이 장치, 복합강화재료, 건축 자재, 고무 및 플라스틱 원료, 물리학, 화학, 철강 제품, 세라믹, 페인트 및 바니시, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 종이와 판지, 페인트 성분, 섬유 섬유.

Professional Standard - Machinery, 전자 현미경

• JB/T 5480-1991 전자현미경용 격막
• JB/T 5481-1991 전자현미경용 필라멘트
• JB/T 9352-1999 투과전자현미경 시험 방법
• JB/T 6842-1993 주사전자현미경 시험방법
• JB/T 5383-1991 투과전자현미경 기술 조건
• JB/T 5384-1991 주사전자현미경.기술적 조건
• JB/T 5584-1991 투과전자현미경 배율 시험방법
• JB/T 5585-1991 투과전자현미경 분해능 시험방법
• JB/T 5586-1991 투과전자현미경 분류 및 기본 매개변수

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자 현미경

• JIS K 0132:1997 주사전자현미경의 일반 원리
• JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
• JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
• JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
• JIS R 1633:1998 주사전자현미경 관찰을 위한 파인 세라믹 및 세라믹 분말의 시료 준비 방법
• JIS K 3850-3:2000 공기 중 섬유 입자 측정 방법 3부: 간접 전달 투과 전자 현미경
• JIS K 3850-2:2000 공기 중 섬유상 입자 측정 방법 2부: 직접 전달 투과 전자 현미경

International Organization for Standardization (ISO), 전자 현미경

• ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
• ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
• ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
• ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
• ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
• ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
• ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
• ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
• ISO 9220:1988 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경
• ISO 13794:1999 간접전이전자현미경을 통한 주변 공기 석면 섬유 측정
• ISO 10312:1995 직접 전달 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
• ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
• ISO 21363:2020 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
• ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
• ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
• ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
• ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
• ISO 13794:2019 주변 공기 - 석면 섬유 측정 - 간접 전달 투과 전자 현미경
• ISO 10312:2019 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 전달 투과 전자 현미경.
• ISO 19749:2021 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
• ISO 14966:2019 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
• ISO/TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
• ISO/TS 22292:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 3차원 이미지 재구성
• ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
• ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법
• ISO/CD 20263:2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
• ISO 14966:2002/cor 1:2007 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법 기술 정오표 1
• ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
• ISO 29301:2017 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 이미지 배율을 교정하는 방법
• ISO 24639:2022 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광법을 통한 원소 분석을 위한 에너지 스케일링 절차
• ISO/FDIS 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
• ISO 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
• ISO 16000-27:2014 실내 공기 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 섬유 먼지 측정(직접 방법)
• ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법

British Standards Institution (BSI), 전자 현미경

• BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
• 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
• BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
• BS EN ISO 9220:1989 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
• BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
• BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
• BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
• BS ISO 13794:1999 주변 공기 석면 섬유 측정 간접 전달 전자 현미경
• PD ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
• 21/30394409 DC BS ENISO 9220 금속 코팅의 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
• BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
• BS ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 사용하여 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• 15/30292710 DC 투과전자현미경에 의한 선형 결정 성장 방향 결정을 위한 BS ISO 19214 가이드
• BS ISO 13794:2019 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
• BS ISO 10312:2019 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
• 18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
• BS EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• BS EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• BS ISO 21363:2020 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대 모양 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
• BS ISO 14966:2019 주사전자현미경을 통한 대기 중 무기섬유 입자의 농도 수치 측정
• BS PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대로 지지된 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
• 18/30351714 DC BS ISO 21363 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
• 18/30351679 DC BS ISO 19749 나노기술 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
• BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
• BS ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
• 18/30375050 DC BS ISO 14966 대기 중 무기 섬유 입자의 수치 농도 측정 주사 전자 현미경
• BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
• BS ISO 20263:2017 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
• 20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
• 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
• BS EN ISO 17751-2:2023 주사전자현미경을 이용한 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량분석
• DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
• BS EN ISO 17751-2:2016 섬유 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량 분석 주사전자현미경
• BS ISO 29301:2017 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
• BS ISO 29301:2023 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
• 12/30228339 DC BS ISO 16000-27 실내 공기 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 침전된 섬유성 먼지 측정(직접 방법)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 전자 현미경

• JJF 1916-2021 주사전자현미경 교정 사양

Group Standards of the People's Republic of China, 전자 현미경

• T/CSTM 00162-2020 투과전자현미경 교정방법
• T/QGCML 1940-2023 주사형 전자현미경 현장 고온 기계 시험 장치
• T/CSTM 00166.3-2020 그래핀 재료 특성화 3부 투과전자현미경
• T/SPSTS 030-2023 주사전자현미경을 이용한 그래핀 소재 시트 크기 측정

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 전자 현미경

• JJG(地质) 1016-1990 투과전자현미경 교정 절차
• JJG(教委) 11-1992 주사전자현미경 교정 절차
• JJG(教委) 12-1992 투과전자현미경 교정 절차
• JJG 550-1988 주사전자현미경 파일럿 교정 절차

Professional Standard - Education, 전자 현미경

• JY/T 011-1996 투과전자현미경 방법의 일반 원리
• JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙
• JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
• JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 현미경

• GB 7667-1996 전자현미경 X선 누출량
• GB 7667-2003 전자현미경 X선 누출량
• GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
• GB/T 21637-2008 코로나바이러스 투과전자현미경 형태학적 동정방법
• GB/T 18295-2001 석유 및 가스 저장소의 사암 시료에 대한 주사전자현미경 분석 방법
• GB/T 28044-2011 나노물질의 생물학적 효과에 대한 투과전자현미경 검출 방법에 대한 일반 규칙
• GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
• GB/T 19267.6-2003 범죄 수법의 흔적 증거에 대한 물리화학적 조사 제6부, 주사전자현미경
• GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
• GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
• GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법
• GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
• GB/T 28873-2012 나노입자 생물형태 효과에 대한 환경주사전자현미경 검출 방법의 일반 원리
• GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
• GB/T 17361-2013 마이크로빔 분석을 이용한 퇴적암 내 진위성 점토광물의 동정을 위한 주사형 전자현미경 및 에너지 분광계 방법
• GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
• GB/T 2679.11-2008 종이 및 판지용 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 분광학
• GB/T 2679.11-1993 종이 및 판지의 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 에너지 분광학

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 현미경

• KS I 0051-1999(2019) 주사전자현미경의 일반 규칙
• KS M 0044-1999 주사전자현미경의 일반 규칙
• KS D ISO 22493-2012(2017) 마이크로빔 분석 주사전자현미경 용어집
• KS D ISO 22493:2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
• KS I 0051-1999 주사전자현미경 시험 방법의 일반 원칙
• KS D ISO 22493:2012 마이크로빔 분석주사 전자 현미경 용어
• KS D 2716-2008(2018) 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
• KS D ISO 16700:2013 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
• KS D 2716-2008 나노입자 직경 측정 기술 투과전자현미경
• KS D 8544-2006 금속 코팅 코팅 두께 측정 투과 전자 현미경
• KS D 8544-2016(2021) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 투과 전자 현미경
• KS D ISO 9220:2009 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
• KS D ISO 9220-2009(2022) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
• KS D ISO 9220-2009(2017) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
• KS D ISO 16700-2013(2018) 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 확대 교정 가이드
• KS I ISO 10312:2008 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 투과 전자 현미경
• KS I ISO 13794:2008 주변 공기 석면 섬유 측정 간접 전달 전자 현미경
• KS I ISO 10312-2008(2018) 직접투과전자현미경을 통한 주변 공기 석면 섬유 측정
• KS I ISO 13794-2008(2018) 간접투과전자현미경을 통한 대기 중의 석면 섬유 함량 측정

KR-KS, 전자 현미경

• KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
• KS D 2716-2023 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
• KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드
• KS C ISO 19749-2023 나노기술 - 주사전자현미경을 이용한 입자 크기 및 형태 분포 측정
• KS C ISO 21363-2023 나노기술 - 투과전자현미경을 사용하여 입자 크기 및 모양 분포 측정

Association Francaise de Normalisation, 전자 현미경

• NF ISO 15932:2014 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 어휘
• NF X21-005:2006 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
• NF A91-108:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
• NF EN ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경을 이용한 이미지 선명도 평가 방법
• XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 - 주사 전자 현미경 - 이미지 선명도 평가 방법
• FD T16-209:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
• NF T16-404:2020 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 형상 분포 측정
• NF T16-403*NF ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• NF T25-111-4:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 4부: 주사 전자 현미경 파쇄법
• NF ISO 13794:2020 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 중 석면 섬유 측정
• NF ISO 10312:2020 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
• NF X43-050:2021 투과전자현미경 간접법을 이용한 석면섬유 농도의 공기질 측정
• NF EN ISO 19749:2023 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
• NF EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
• NF X43-050:1996 공기질 전자현미경 투과법에 의한 석면 섬유 밀도 측정 간접법
• NF ISO 16000-27:2014 실내 공기 - 27부: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 퇴적된 섬유성 먼지 측정(직접 방법)
• FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
• NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 실내 공기 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 섬유 낙진 측정(직접 방법)
• NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 직물 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량 분석 2부: 주사전자현미경

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 현미경

• ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
• ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
• ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
• ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
• ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
• ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
• ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
• ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
• ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
• ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
• ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
• ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
• ASTM D3849-13 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 표준시험방법
• ASTM D3849-14 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 표준시험방법
• ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
• ASTM D3849-95a(2000) 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
• ASTM D3849-07 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
• ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
• ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
• ASTM D3849-22 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정을 위한 표준시험방법
• ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행
• ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
• ASTM D3849-02 카본블랙의 표준시험방법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 분석
• ASTM D3849-04 카본블랙의 표준시험방법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태적 특성 분석
• ASTM B748-90(1997) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
• ASTM B748-90(2006) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
• ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
• ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
• ASTM D3849-14a 카본블랙의 표준시험법 전자현미경을 이용한 카본블랙의 형태학적 특성 측정
• ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
• ASTM B748-90(2010) 주사전자현미경 단면 측정을 통한 금속 코팅 두께 측정을 위한 표준 시험 방법
• ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
• ASTM B748-90(2021) 주사전자현미경을 이용한 단면적 측정을 통한 금속코팅 두께 측정의 표준시험방법
• ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM E2142-01 주사전자현미경을 이용한 철강의 불순물 등급 및 분류를 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM B748-90(2016) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 시험방법
• ASTM B748-90(2001) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 표준시험방법
• ASTM F1372-93(1999) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
• ASTM F1372-93(2020) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D6056-96(2011) 작업 조건에서 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 투과 전자 현미경으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D7201-06(2020) 위상차 현미경(투과 전자 현미경 옵션 포함)을 사용하여 작업장에서 석면 섬유를 포함한 부유 섬유를 샘플링하고 계산하는 표준 관행
• ASTM D605-82(1996)e1 주사전자현미경을 사용하여 작업 환경 내 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D6059-96(2011) 주사전자현미경을 사용하여 작업 환경 내 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
• ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
• ASTM F1372-93(2012) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM) 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM F1372-93(2005) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM) 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
• ASTM D5756-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D5756-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D5755-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D5755-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D5756-02(2008) 투과전자현미경을 통한 미세 진공 샘플링 및 먼지 내 석면 블록의 표면 부하에 대한 간접 분석을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D5755-03 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D5755-09 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
• ASTM D5755-09(2014)e1 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법

RU-GOST R, 전자 현미경

• GOST 21006-1975 전자 현미경 용어, 정의 및 알파벳 기호
• GOST R 8.594-2009 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 주사전자현미경
• GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법
• GOST 8.594-2009 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사전자현미경 식별방법
• GOST ISO 16000-27-2017 실내 공기 파트 27 SEM(주사전자현미경)을 이용한 표면에 침전된 섬유먼지 측정(직접법)
• GOST R 8.697-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 결정의 평면 간격 투과 전자 현미경을 사용한 측정 방법

Professional Standard - Petroleum, 전자 현미경

• SY/T 5162-2014 암석시료의 주사전자현미경 분석방법
• SY/T 5162-1997 암석시료의 주사전자현미경 분석방법
• SY 5162-2014 암석시료의 주사전자현미경 분석방법

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 현미경

• DB31/T 297-2003 주사전자현미경 배율 교정 방법
• DB31/T 315-2004 투과전자현미경 배율 교정 방법

国家能源局, 전자 현미경

• SY/T 5162-2021 암석시료의 주사전자현미경 분석방법

工业和信息化部, 전자 현미경

• YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

Professional Standard - Judicatory, 전자 현미경

• SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

SE-SIS, 전자 현미경

• SIS SS-ISO 9220:1989 금속 코팅. 코팅 두께 측정. 주사전자현미경 방법
• SIS SS CECC 00013-1985 기본 사양. 반도체 칩의 주사전자현미경 관찰

European Committee for Standardization (CEN), 전자 현미경

• EN ISO 9220:2022 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
• EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
• EN ISO 9220:1994 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220-1988)
• EN ISO 19749:2023 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
• prEN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
• prEN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

Danish Standards Foundation, 전자 현미경

• DS/EN ISO 9220:1995 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
• DS/ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
• DS/ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• DS/ISO/TS 22292:2021 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 나노기술 3D 이미지 재구성
• DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

German Institute for Standardization, 전자 현미경

• DIN EN ISO 9220:2022-05 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경
• DIN EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
• DIN EN ISO 19749:2023-07 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정(ISO 19749:2021)
• DIN EN ISO 21363:2022-03 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 21363:2020)
• DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
• DIN ISO 16000-27:2014-11 실내공기 파트 27: SEM(Scanning Electron Microscopy)을 이용한 표면에 부착된 섬유성 먼지 측정(직접법)

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 현미경

• DB32/T 3459-2018 그래핀 필름의 미세 영역 커버리지를 테스트하기 위한 주사 전자 현미경 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 현미경

• GB/T 34331-2017 오이녹색반점모자이크바이러스의 투과전자현미경 검출방법
• GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법
• GB/T 34168-2017 금, 은 나노입자 소재의 생물학적 효과를 투과전자현미경으로 검출하는 방법
• GB/T 34831-2017 나노기술 귀금속 나노입자 전자현미경 이미징 고각 환형 암시야 방법
• GB/T 33839-2017 탄소기반 나노물질의 생물학적 효과를 이용한 생체시료의 투과전자현미경 검출방법

ES-UNE, 전자 현미경

• UNE-EN ISO 9220:2022 금속코팅의 코팅두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법
• UNE-EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
• UNE-EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.

PH-BPS, 전자 현미경

• PNS ISO 21363:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정

Professional Standard - Public Safety Standards, 전자 현미경

• GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
• GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
• GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
• GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
• GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
• GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
• GA/T 909-2010 흔적 증거물 추출 및 포장 방법 총격 잔재물 검출을 위한 주사전자현미경/에너지분광법
• GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
• GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

AENOR, 전자 현미경

• UNE-EN ISO 9220:1996 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정(ISO 9220:1988)
• UNE 77236:1999 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

Lithuanian Standards Office , 전자 현미경

• LST EN ISO 9220:2001 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988)

AT-ON, 전자 현미경

• OENORM EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
• OENORM EN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자 현미경

• ISO TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
• ISO TS 22292:2021 나노기술 – 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 3D 이미지 재구성

Association of German Mechanical Engineers, 전자 현미경

• VDI 3861 Blatt 2-2008 주사전자현미경을 이용한 고정 소스에서 방출되는 배기가스 내 무기 섬유 입자 측정
• VDI 3492-2004 실내 공기 측정 - 주변 공기 측정 - 무기 섬유 입자 측정 - 주사 전자 현미경
• VDI 3492-2013 실내 공기 측정 - 주변 공기 측정 - 무기 섬유 입자 측정 - 주사 전자 현미경

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 현미경

• GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

未注明发布机构, 전자 현미경

• DIN EN ISO 21363:2022 나노기술 – 투과전자현미경을 이용한 입자 크기 및 입자 형태 분포 측정
• BS CECC 13:1985(1999) 전자 부품 품질 평가를 위한 통합 시스템: 기본 사양: 반도체 칩의 주사 전자 현미경 검사

American National Standards Institute （ANSI), 전자 현미경

• ANSI/ASTM D6059:2001 주사전자현미경을 이용하여 작업환경 공기 중 단결정 세라믹 위스커의 농도를 측정하는 방법
• ANSI/ASTM D6056:2001 투과전자현미경을 이용하여 작업 환경 공기 중 단결정 세라믹 위스커의 농도를 측정하는 방법

IT-UNI, 전자 현미경

• UNI 7604-1976 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 현미경 사진 검사용 복제본 준비
• UNI 7329-1974 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 미세 구조 검사를 위한 복제본 준비

Professional Standard - Commodity Inspection, 전자 현미경

• SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 전자 현미경

• GJB 5384.23-2005 불꽃 성능 테스트 방법 - 파트 23: 전자 현미경 방법을 통한 고체 연기 입자의 입자 크기 결정
• GJB 5384.22-2005 불꽃 특성 테스트 방법 - 파트 21: 전자 현미경을 통한 연기 고체 입자 수 농도 측정

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 전자 현미경

• GJB 8684.23-2015 불꽃 특성에 대한 테스트 방법 - 파트 23: 전자 현미경을 통한 연기 고체 입자의 입자 크기 분포 결정
• GJB 8684.22-2015 불꽃 특성 테스트 방법 - 파트 22: 전자 현미경을 통한 연기 고체 입자 수 농도 측정

GOSTR, 전자 현미경

• PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브
• PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

기타:   전자 현미경, +++++전자현미경, -주사형 전자현미경, 전자현미경, 전자현미경, 전자현미경으로, 진공 전자 현미경, 투과전자현미경 및 전자현미경, 전자 현미경:, , 전자 현미경, 주사전자현미경 SEM 전자현미경, 전자 현미경?, 주사전자현미경 및 주사전자현미경, 전자현미경 및 주사전자현미경, 전자현미경 및 전자현미경, 전자현미경 및 주사전자현미경, 전자현미경 및 투과전자현미경, 전자현미경 투과전자현미경, 투과전자현미경 및 전자현미경, 전자현미경 및 투과전자현미경.