대형 투과형 전자현미경

모두 137항목의 대형 투과형 전자현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 대형 투과형 전자현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 광전자공학, 레이저 장비, 광학 장비, 계측 및 측정 합성, 기르다, 분석 화학, 금속 재료 테스트, 표면 처리 및 도금, 기술 도면, 섬유제품, 복합강화재료, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 통신특수측정장비, TV 방송 및 라디오 방송, 어휘, 수력공학, 농업 및 임업, 물리학, 화학, 공기질, 영화, 통합 서비스 디지털 네트워크(ISDN), 통신 종합, 전자기 호환성(EMC), 도로 차량 장치, 플라스틱, 집적 회로, 마이크로 전자공학.

Professional Standard - Machinery, 대형 투과형 전자현미경

JB/T 5584-1991 투과전자현미경 배율 시험방법
JB/T 9352-1999 투과전자현미경 시험 방법
JB/T 5383-1991 투과전자현미경 기술 조건
JB/T 5585-1991 투과전자현미경 분해능 시험방법
JB/T 5586-1991 투과전자현미경 분류 및 기본 매개변수

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 대형 투과형 전자현미경

DB31/T 315-2004 투과전자현미경 배율 교정 방법

RO-ASRO, 대형 투과형 전자현미경

STAS 3881-1981 돋보기 렌즈. 유형 및 주요 매개변수

Group Standards of the People's Republic of China, 대형 투과형 전자현미경

T/CSTM 00162-2020 투과전자현미경 교정방법
T/CNTAC 21-2018 섬유 내 그래핀 물질의 식별 방법 투과전자현미경
T/CSTM 00166.3-2020 그래핀 재료 특성화 3부 투과전자현미경
T/CEEIA 238-2016 대형 수소화장치 경면단조품의 기술조건

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 대형 투과형 전자현미경

JJG(地质) 1016-1990 투과전자현미경 교정 절차
JJG(教委) 12-1992 투과전자현미경 교정 절차

Professional Standard - Education, 대형 투과형 전자현미경

JY/T 011-1996 투과전자현미경 방법의 일반 원리
JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 대형 투과형 전자현미경

GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
GB/T 21637-2008 코로나바이러스 투과전자현미경 형태학적 동정방법
GB/T 28044-2011(英文版) 투과전자현미경을 통한 나노물질의 생물학적 효과 검출 방법에 대한 일반 지침
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB 6996.9-1986 투과형 TV 일치 테스트 차트 유형 B
GB 6996.12-1986 투과형 TV 그레이스케일 테스트 차트 유형 A
GB 6996.2-1986 투과형 TV 선형성 테스트 차트 유형 A
GB 6996.8-1986 투과형 TV 일치 테스트 차트 유형 A
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 28044-2011 나노물질의 생물학적 효과에 대한 투과전자현미경 검출 방법에 대한 일반 규칙
GB/T 42208-2022 나노기술의 다상 시스템에서 나노입자 크기를 측정하기 위한 투과전자현미경 이미지 방법
GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 대형 투과형 전자현미경

JJF 1482-2014 변속기 연기 측정기 유형 평가 개요

Defense Logistics Agency, 대형 투과형 전자현미경

DLA MIL-L-3661/26 A VALID NOTICE 4-2008 램프 홀더, 표시등, 표시등 하우징 및 표시등 렌즈, (전자기 간섭 유형) 방진 렌즈, 유형 LC26
DLA MIL-L-3661/27 A VALID NOTICE 4-2008 램프 홀더, 표시등, 표시등 하우징 및 표시등 렌즈, (전자기 간섭 유형) 방진 렌즈, 유형 LC27
DLA MIL-L-3661/28 B VALID NOTICE 3-2008 램프 홀더, 표시 램프, 표시 램프 하우징 및 표시 렌즈, (전자기 간섭 유형) 방진 램프 렌즈, 유형 LC28
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 2-2001 램프 홀더, 표시등, 표시등 하우징 및 표시등 렌즈(플랫)(전자기 간섭 유형) 방진 렌즈, 유형 LC25
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 4-2008 램프 홀더, 표시등, 표시등 하우징 및 표시등 렌즈(플랫)(전자기 간섭 유형) 방진 렌즈, 유형 LC25
DLA MIL-DTL-3661/42 B VALID NOTICE 1-2013 램프 홀더, 표시 램프, 표시 하우징 및 표시 렌즈 표시 램프(분리 불가능), 유형 LHC84(전자기 간섭 및 비자기 유형)
DLA MIL-DTL-3661/41 C VALID NOTICE 1-2013 램프 홀더, 표시 램프, 표시 하우징 및 표시 렌즈 표시 램프(분리 불가능), 유형 LHC83(전자기 간섭 및 비자기 유형)
DLA MIL-DTL-3661/40 B-2008 램프 홀더, 파일럿 램프, 파일럿 램프 하우징 및 파일럿 램프 렌즈 파일럿 램프(분리 불가능), 유형 LHC82(전자기 간섭 및 비자기 유형)
DLA MIL-DTL-3661/41 C-2008 램프 홀더, 파일럿 램프, 파일럿 램프 하우징 및 파일럿 램프 렌즈 파일럿 램프(분리 불가능), 유형 LHC83(전자기 간섭 및 비자기 유형)
DLA MIL-DTL-3661/42 B-2008 램프 홀더, 파일럿 램프, 파일럿 램프 하우징 및 파일럿 램프 렌즈 파일럿 램프(분리 불가능), 유형 LHC84(전자기 간섭 및 비자기 유형)
DLA SMD-5962-98539-2000 미세회로, 선형, 방사선 경화, 단일 고속, 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-98639 REV D-2007 초소형 회로, 선형, 방사선 경화, 초저 오프셋 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-98636 REV C-2003 미세 회로, 선형, 방사선 경화, J형 전계 효과 입력 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
DLA SMD-5962-95670 REV C-2003 방사선 경화 저전력 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로

International Organization for Standardization (ISO), 대형 투과형 전자현미경

ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
ISO 21363:2020 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
ISO 13794:2019 주변 공기 - 석면 섬유 측정 - 간접 전달 투과 전자 현미경
ISO 10312:2019 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 전달 투과 전자 현미경.
ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법
ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO/TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
ISO/TS 22292:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 3차원 이미지 재구성
ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법

British Standards Institution (BSI), 대형 투과형 전자현미경

BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
PD ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
15/30292710 DC 투과전자현미경에 의한 선형 결정 성장 방향 결정을 위한 BS ISO 19214 가이드
BS ISO 13794:2019 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
BS ISO 10312:2019 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
BS EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 21363:2020 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대 모양 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
BS ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석적 투과전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 교정하는 방법.
BS PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대로 지지된 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
18/30351714 DC BS ISO 21363 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 대형 투과형 전자현미경

KS D 2716-2008(2018) 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
KS D 8544-2016 금속 코팅 코팅 두께 측정 코팅 투과 전자 현미경 방법
KS D 2716-2008 나노입자 직경 측정 기술 투과전자현미경
KS D 8544-2006 금속 코팅 코팅 두께 측정 투과 전자 현미경
KS D 8544-2016(2021) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 투과 전자 현미경
KS I ISO 10312-2008(2018) 직접투과전자현미경을 통한 주변 공기 석면 섬유 측정
KS I ISO 13794-2008(2018) 간접투과전자현미경을 통한 대기 중의 석면 섬유 함량 측정

KR-KS, 대형 투과형 전자현미경

KS D 2716-2023 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
KS C ISO 21363-2023 나노기술 - 투과전자현미경을 사용하여 입자 크기 및 모양 분포 측정

工业和信息化部, 대형 투과형 전자현미경

YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 대형 투과형 전자현미경

GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

American Society for Testing and Materials (ASTM), 대형 투과형 전자현미경

ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행
ASTM D6281-15 투과전자현미경(TEM)을 통해 주변 및 실내 대기의 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D8526-23 투과전자현미경을 이용한 대기중 탄소나노튜브 및 탄소나노튜브 함유 입자의 농도 측정을 위한 분석절차의 표준시험방법
ASTM D6056-96(2011) 작업 조건에서 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 투과 전자 현미경으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 대형 투과형 전자현미경

GB/T 34331-2017 오이녹색반점모자이크바이러스의 투과전자현미경 검출방법
GB/T 34168-2017 금, 은 나노입자 소재의 생물학적 효과를 투과전자현미경으로 검출하는 방법
GB/T 33839-2017 탄소기반 나노물질의 생물학적 효과를 이용한 생체시료의 투과전자현미경 검출방법

Association Francaise de Normalisation, 대형 투과형 전자현미경

NF X43-067*NF ISO 10312:2020 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
NF X43-054*NF ISO 13794:2020 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
FD T16-209:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
NF T16-404:2020 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 형상 분포 측정
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
NF ISO 13794:2020 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 중 석면 섬유 측정
NF ISO 10312:2020 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
NF X43-050:2021 투과전자현미경 간접법을 이용한 석면섬유 농도의 공기질 측정
NF EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
NF EN 300127:2000 통신 - 전자파 적합성 및 무선 스펙트럼(ERM) - 대형 통신 시스템에서 방출되는 방사선과 관련된 테스트

AENOR, 대형 투과형 전자현미경

UNE 77253:2003 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
UNE 77236:1999 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

国家能源局, 대형 투과형 전자현미경

NB/T 10831-2021 대형 수소화장치 경면단조품의 기술조건

PH-BPS, 대형 투과형 전자현미경

PNS ISO 21363:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정

Professional Standard - Aquaculture, 대형 투과형 전자현미경

SC/T 7209.3-2007 굴 미세포자충증의 진단 절차 제3부: 투과전자현미경 진단 방법
SC/T 7207.3-2007 굴의 말타시아 진단 절차 제3부: 투과전자현미경 진단 방법
SC/T 7205.3-2007 굴주머니나노입자병의 진단방법 제3부: 투과전자현미경 진단방법

Danish Standards Foundation, 대형 투과형 전자현미경

DS/ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
DS/EN 300127 V1.2.1:2000 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 방사성 방출 테스트
DS/ISO/TS 22292:2021 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 나노기술 3D 이미지 재구성
DS/ETS 300127:1994 장비 엔지니어링(EE). 부피가 큰 통신 시스템의 방사 방출 테스트

European Committee for Standardization (CEN), 대형 투과형 전자현미경

EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
prEN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

ES-UNE, 대형 투과형 전자현미경

UNE-EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
UNE-EN 300127 V1.2.1:2003 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 물리학 방사 방출 테스트

International Electrotechnical Commission (IEC), 대형 투과형 전자현미경

ISO TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
ISO TS 22292:2021 나노기술 – 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 3D 이미지 재구성

RU-GOST R, 대형 투과형 전자현미경

GOST 9507-1982 영사기용 스텝형 렌즈 유형, 기본 매개변수 및 치수 테스트 방법

CZ-CSN, 대형 투과형 전자현미경

CSN ETS 300 127-1994 장비 엔지니어링(EE): 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트

AT-ON, 대형 투과형 전자현미경

OENORM EN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

Lithuanian Standards Office , 대형 투과형 전자현미경

LST ETS 300 127 Leid.1-2005 장비 엔지니어링(EE), 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트
LST EN 300 127 V1.2.1-2000 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM) 대규모 통신 시스템의 방사 방출 테스트

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 대형 투과형 전자현미경

PRETS 300 127-1993 장비 엔지니어링(EE), 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트
PRETS 300 127-1991 장비 엔지니어링(EE), 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트
ETS 300 127-1994 장비 엔지니어링(EE), 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트
ETSI EN 300 127:1999 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 물리학 방사 방출 테스트(V1.2.1)
ETSI EN 300 127:1998 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 물리학 방사 방출 테스트(V1.2.1)

未注明发布机构, 대형 투과형 전자현미경

DIN EN ISO 21363:2022 나노기술 – 투과전자현미경을 이용한 입자 크기 및 입자 형태 분포 측정

German Institute for Standardization, 대형 투과형 전자현미경

DIN EN ISO 21363:2022-03 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 21363:2020)
DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법

IX-IX-IEC, 대형 투과형 전자현미경

IEC TS 62607-6-17:2023 나노제조의 주요 제어 특성 6-17부: 그래핀 기반 재료 주문 매개변수: X선 회절 및 투과 전자 현미경

GOSTR, 대형 투과형 전자현미경

PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 대형 투과형 전자현미경

JIS K 3850-3:2000 공기 중 섬유 입자 측정 방법 3부: 간접 전달 투과 전자 현미경
JIS K 3850-2:2000 공기 중 섬유상 입자 측정 방법 2부: 직접 전달 투과 전자 현미경

American National Standards Institute （ANSI), 대형 투과형 전자현미경

ASTM D6281-23 투과 전자 현미경 직접 전송(TEM)을 통해 주변 및 실내 대기의 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법(표준 + 레드라인 PDF 패키지)

YU-JUS, 대형 투과형 전자현미경

JUS N.R1.172-1988 텔레비전 컬러 음극선관, 유형 30M. 전기적 특성. 최대값

International Telecommunication Union (ITU), 대형 투과형 전자현미경

ITU-R REPORT SA.2166-2009 우주 연구 및 전파 천문학에 사용되는 대형 안테나의 방사 패턴 예

Society of Automotive Engineers (SAE), 대형 투과형 전자현미경

SAE J1647-1995 자동차용 고강도 방전 헤드램프 장치의 렌즈 및 반사경과 같은 광학 부품용 플라스틱 재료 및 코팅, 권장 사례 1995년 3월