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DEUV 검출 회로
모두 372항목의 UV 검출 회로와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 UV 검출 회로와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전송 및 배전망, 방사선 측정, 광학 및 광학 측정, 전등 및 관련 기기, 태양광 공학, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 고무, 건물 보호, 항공기 및 우주선 통합, 토양질, 토양과학, 양봉, 비금속 광물, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 생물학, 식물학, 동물학, 설탕, 설탕제품, 전분, 공기질, 목재 기반 패널, 도로 차량 장치, 비파괴 검사, 전기 및 전자 테스트, 도로 공사, 분석 화학, 수질, 유기화학, 단열재, 계측 및 측정 합성, 무기화학, 전기공학종합, 전기 장치, 연료, 통신 장비용 부품 및 액세서리, 세라믹, 제공하다, 화학 장비, 정보 기술 응용, 산업자동화 시스템, 금속 재료 테스트, 전선 및 케이블, 레일 및 라인 구성 요소, 반도체 개별 장치, 회전 모터, 전기 장비 부품, 광전자공학, 레이저 장비, 표면 처리 및 도금, 미생물학, 발전소 종합, 고무 및 플라스틱 원료, 과일, 야채 및 그 제품, 음료수, 미리 포장된 식품과 정제된 식품, 어휘, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 원자력공학, 열역학 및 온도 측정, 페인트 및 바니시, 수자원 보호 건설, 건물, 반도체 소재, 풍력 발전 시스템 및 기타 에너지원, 곡물, 콩류 및 그 제품, 지질학, 기상학, 수문학, 광섬유 통신, 특수한 작업 조건에서 사용되는 전기 장비, 길이 및 각도 측정, 건물 내 시설.
CN-QIYE, UV 검출 회로
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, UV 검출 회로
Indonesia Standards, UV 검출 회로
YU-JUS, UV 검출 회로
Group Standards of the People's Republic of China, UV 검출 회로
HU-MSZT, UV 검출 회로
Professional Standard - Light Industry, UV 검출 회로
Professional Standard - Electricity, UV 검출 회로
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, UV 검출 회로
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, UV 검출 회로
- GB/T 23209-2008 분유 내 루테인 측정 액체 크로마토그래피-UV 검출 방법
- GB/T 37141.1-2022 높은 고도에서 전기 장비의 UV 이미징 검사 지침 1부: 변전소
- GB/T 20768-2006 어류 및 새우 액체 크로마토그래피의 독성 생체 아민 측정 UV 검출 방법
- GB/T 23196-2008 프로폴리스의 페룰린산 함량 측정 방법 액체 크로마토그래피-UV 검출 방법
- GB/T 20754-2006 액체 크로마토그래피 및 자외선 검출법을 이용한 가축 및 가금류 고기의 페닐부타존 잔류물 측정
- GB/T 22996-2008 액체 크로마토그래피-자외선 검출법을 이용한 인삼 내 각종 진세노사이드 함량 측정
- GB/T 20750-2006 쇠고기 근육액 크로마토그래피-자외선 검출 방법의 플루니디늄 잔류물 측정
- GB/T 18932.18-2003 벌꿀 액체 크로마토그래피-자외선 검출법의 하이드록시메틸푸르푸랄 함량 측정 방법
- GB/T 22980-2008 우유 및 분유 액체 크로마토그래피의 UV 검출 방법 중 플루라마이드 잔류물 측정
- GB/T 22958-2008 액체 크로마토그래피-UV 검출법을 이용한 복어, 장어 및 구운 장어의 칸타잔틴 잔류물 측정
- GB/T 17574.9-2006 반도체 장치 집적 회로 2-9부: 디지털 집적 회로 자외선 지울 수 있고 전기적으로 프로그래밍 가능한 MOS 읽기 전용 메모리에 대한 빈 세부 사양입니다.
- GB/T 28706-2012 비파괴 검사 기계 및 전기 장비의 적외선 열화상 검사 방법
- GB/T 42972-2023 마이크로파 회로 검출기 테스트 방법
- GB/T 22961-2008 액체 크로마토그래피-UV 검출법을 이용한 복어 및 장어의 옥시테트라사이클린, 테트라사이클린, 클로르테트라사이클린 및 독시사이클린 잔류물 측정
- GB/T 22990-2008 액체 크로마토그래피-UV 검출 방법을 통한 우유 및 분유 내 옥시테트라사이클린, 테트라사이클린, 클로르테트라사이클린 및 독시사이클린 잔류물 측정
- GB/T 12967.4-2014 알루미늄 및 알루미늄 합금 양극산화 필름 테스트 방법 - 4부: 착색 양극산화 필름의 UV 저항성 측정
- GB/T 20764-2006 액체 크로마토그래피-UV 검출 방법을 통한 식용 동물 근육 내 옥시테트라사이클린, 테트라사이클린, 클로르테트라사이클린 및 독시사이클린 잔류물 측정
- GB/T 20747-2006 액체 크로마토그래피-자외선 검출 및 액체 크로마토그래피-탠덤 질량분석법을 사용하여 쇠고기와 돼지 근육의 대사산물 잔류물 측정
- GB/T 12843-1991 반도체 집적회로 마이크로프로세서 및 주변 인터페이스 회로에 대한 전기적 매개변수 테스트 방법의 기본 원리
- GB 12843-1991 반도체 집적회로 마이크로프로세서 및 주변 인터페이스 회로에 대한 전기적 매개변수 테스트 방법의 기본 원리
- GB/T 20753-2006 쇠고기 및 돼지 지방 액체 크로마토그래피 UV 검출 방법에서 멜렌게스트롤 아세테이트, 클로르마드롤 아세테이트 및 메게스트롤 아세테이트 잔류물 측정
- GB/T 20760-2006 액체 크로마토그래피-자외선 검출 및 액체 크로마토그래피-탠덤 질량 분석법을 사용하여 쇠고기 근육, 간 및 신장의 α-트렌볼론 및 β-트렌볼론 잔류물 측정
- GB/T 14862-1993 반도체 집적회로 패키지 접합-케이스 열저항 테스트 방법
- GB/T 19427-2003 액체 크로마토그래피-탠덤 질량 분석법 및 액체 크로마토그래피-자외선 검출을 사용하여 프로폴리스의 루틴, 미리세틴, 케르세틴, 캄페나놀, 아피게닌, 피노신, 코스티신 및 갈랑진을 측정하는 방법.
国家质量监督检验检疫总局, UV 검출 회로
SAE - SAE International, UV 검출 회로
Society of Automotive Engineers (SAE), UV 검출 회로
- SAE AIR4964-2019 비파괴 검사 중 자외선 노출 수준
- SAE J2298-2011 UV 누출 감지: 이동식 에어컨 시스템 유지 관리를 위한 냉매 누출 감지 염료 사용 절차
- SAE J2298-1996 UV 누출 감지: 냉매 누출 감지 염료를 사용한 이동식 에어컨 시스템 유지 관리를 위한 운영 절차
- SAE J2299-1996 자외선 누출검출 : 이동식 에어컨 A/S용 형광냉매 누출검출 염료주입장치 성능요구사항, 규격 1996년 9월
- SAE J2299-2012 자외선 누출검출 : 이동식 에어컨 A/S용 형광냉매 누출검출 염료주입장치 성능요구사항, 규격 1996년 9월
- SAE J2297-1996 자외선 누출 감지: 이동식 R-134a 공조 시스템용 형광 냉매 누출 감지 염료의 안정성 및 호환성에 대한 표준, 1996년 9월 표준
- SAE J2297-2011 UV 누출 감지: 모바일 R-134a 및 R-1234yf(HFO-1234yf) 공조 시스템의 형광 냉매 누출 감지를 위한 연료 안정성 및 호환성 표준
- SAE J2297-2013 UV 누출 감지: 모바일 R-134a 및 R-1234yf(HFO-1234yf) 공조 시스템의 형광 냉매 누출 감지를 위한 연료 안정성 및 호환성 표준
Military Standards (MIL-STD), UV 검출 회로
Association Francaise de Normalisation, UV 검출 회로
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), UV 검출 회로
KR-KS, UV 검출 회로
German Institute for Standardization, UV 검출 회로
Professional Standard - Machinery, UV 검출 회로
Professional Standard - Geology, UV 검출 회로
Professional Standard - Electron, UV 검출 회로
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, UV 검출 회로
Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, UV 검출 회로
American Society for Testing and Materials (ASTM), UV 검출 회로
- ASTM E3022-18 형광 침투 및 자분 검사를 위한 LED UV 램프 방출 특성 및 요구 사항 측정
- ASTM UOP987-15 UV 형광 검출과 함께 산화 연소 방법을 사용하여 액체 탄화수소 내 미량 황 측정
- ASTM D7511-12(2017)e1 온라인 UV 분해 및 전류 측정 검출을 통한 분할 흐름 주입을 통한 총 시안화물 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D7511-09e1 온라인 UV 분해 및 전류 측정 검출을 통한 분할 흐름 주입을 통한 총 시안화물 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D7511-09 온라인 UV 분해 및 전류 측정 검출을 통한 분할 흐름 주입을 통한 총 시안화물 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM UOP987-11 UV 형광 검출을 이용한 산화 연소를 통한 액체 탄화수소 내 미량 황 측정
- ASTM D8234-19 전도도 억제 및 자외선 검출을 동시에 수행하는 이온 크로마토그래피를 통해 고도로 이온화된 물의 음이온 측정을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D5904-02(2017) 자외선 과황산염 산화 및 막 전도성을 통해 물 속의 총 탄소, 무기 및 유기 탄소에 대한 표준 테스트 방법.
- ASTM D5997-15 자외선, 과황산염 산화 및 막 전도도 검출 방법을 사용하여 물 속 총 탄소 및 무기 탄소를 온라인으로 모니터링하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D4839-03(2017) 자외선 및/또는 과황산염 산화 및 적외선을 이용한 물 속의 총 탄소 및 유기 탄소에 대한 표준 시험 방법
- ASTM D6317-98(2009) 자외선 과황산염 산화 및 막 전도도 검출을 통해 물 속의 총 탄소, 무기 및 유기 탄소를 낮은 수준으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D5997-96(2005) 자외선, 과황산염 산화 및 막 전도도 검출을 통해 물 속 총 탄소 및 무기 탄소를 온라인으로 모니터링하는 표준 테스트 방법
- ASTM D5997-96(2009) 자외선, 과황산염 산화 및 막 전도도 검출을 통해 물 속 총 탄소 및 무기 탄소를 온라인으로 모니터링하는 표준 테스트 방법
- ASTM UOP989-14 UV 형광 검출 산화 연소 방법을 통한 액화 석유 가스 및 기체 탄화수소 내 미량 황 측정
- ASTM D5997-96(2000) 자외선, 과황산염 산화 및 박막 전도도 검출을 사용하여 물 속 총 탄소 및 무기 탄소를 온라인으로 모니터링하는 표준 테스트 방법
- ASTM D7620-10(2020) 연속 분사 공기 산화 및 자외선 형광 검출을 통한 액체 탄화수소 기반 연료의 총 황에 대한 표준 테스트 방법
- ASTM D4779-93 자외선(UV) 또는 과황산염 산화 또는 둘 다 및 적외선 검출을 통해 고순도 물의 총 탄소, 유기 탄소 및 무기 탄소를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM UOP988-11 UV 형광 검출을 이용한 산화 연소를 통한 액화 석유 가스 및 기체 탄화수소 내 미량 황 측정
- ASTM D6667-10 자외선 형광을 이용한 기체 탄화수소 및 액화 석유 가스의 총 휘발성 황 측정을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D5904-96 자외선, 과황산화물 및 필름 전도도 검출 방법을 사용하여 물의 총 탄소, 유기 탄소 및 무기 탄소를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D5904-02 자외선, 과황산화물 및 박막 전도도 검출을 사용하여 물의 총 탄소, 유기 탄소 및 무기 탄소를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D5904-02(2009) 자외선, 과황산화물 및 박막 전도도 검출을 사용하여 물의 총 탄소, 유기 탄소 및 무기 탄소를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM E3022-15 형광 및 자분 검사용 LED 자외선 램프의 방출 특성 및 요구 사항 측정에 대한 표준 실습
- ASTM D6317-15 자외선, 과황산염 산화 및 막 전도도 검출을 사용하여 물 속의 총탄소, 무기탄소, 유기탄소를 낮은 수준으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D7511-09e2 간격 유동 주입 분석, 온라인 UV 소화 및 전류 측정 측정을 사용한 총 시안화물 함량에 대한 표준 테스트 방법
- ASTM D7511-12 간격 유동 주입 분석, 온라인 UV 소화 및 전류 측정 측정을 사용한 총 시안화물 함량에 대한 표준 테스트 방법
- ASTM D4839-03(2011) 자외선이나 과황산염 산화 또는 둘 다를 사용하고 적외선을 사용하여 물의 총 탄소 및 유기 탄소에 대한 표준 테스트 방법입니다.
- ASTM D6317-98 자외선, 과황산염 산화 및 막 전도도 검출을 통해 물 속의 총 탄소, 유기 탄소 및 무기 탄소를 낮은 수준으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D6317-98(2004) 자외선, 과황산염 산화 및 막 전도도 검출을 통해 물 속의 총 탄소, 유기 탄소 및 무기 탄소를 낮은 수준으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D4839-94 자외선이나 과황산염 산화 또는 둘 다 및 적외선을 이용한 물 속의 총 탄소 및 유기 탄소에 대한 표준 테스트 방법
- ASTM D4839-03 자외선이나 과황산염 산화 또는 둘 다 및 적외선을 이용한 물 속의 총 탄소 및 유기 탄소에 대한 표준 테스트 방법
- ASTM D8519-23 진공 자외선 흡수 분광법(GC-VUV)을 이용한 가스 크로마토그래피를 통한 폐플라스틱 가공유의 탄화수소 종류 결정을 위한 표준 테스트 방법
Defense Logistics Agency, UV 검출 회로
- DLA SMD-5962-89476 REV A-2011 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS, UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 장치, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-85135 REV B-1988 실리콘 모놀리식 UV 확장 프로그래밍 가능 읽기 전용 메모리, 64KX8비트 디지털 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-91545 REV F-2007 CMOS 디지털 마이크로회로 메모리, UV로 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 어레이, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-86864 REV A-2010 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS, UV 삭제 가능, 프로그래밍 가능 논리 어레이, 모놀리식 실리콘
- DLA MIL-M-38510/507 B VALID NOTICE 1-2010 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS UV 소거 가능 프로그래밍 가능 어레이 로직, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-89469 REV C-2011 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 장치, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-91584 REV A-2012 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-91772 REV A-2012 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-88726 REV F-2010 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS, UV 삭제 가능, 프로그래밍 가능 논리 어레이, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-87515 REV B-2006 실리콘 모놀리식 8KX8 UV, 전기적으로 지울 수 있는 프로그래밍 가능 읽기 전용 메모리 디지털 주 메모리 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-88680-1991 실리콘 모놀리식 2K
- DLA SMD-5962-89780 REV A-2010 미세 회로, 선형, 과전압 감지 회로, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-88635 REV A-1993 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 보완적인 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-89537 REV B-2006 실리콘 모놀리식 16K X 8 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 읽기 전용 메모리 디지털 저장 마이크로회로
- DLA SMD-5962-93248-1993 실리콘 모놀리식, 전압 UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-90754 REV B-2012 마이크로회로, 메모리, 디지털, CMOS UV 소거 가능 비동기식 등록 프로그래밍 가능 논리 어레이, 모놀리식 실리콘
- DLA DSCC-VID-V62/04648 REV B-2010 마이크로회로, 선형, 전압 검출기, 모놀리식 실리콘
- DLA MIL-M-38510/224 VALID NOTICE 4-2010 초소형 회로, 메모리, 디지털, MOS, 32K X 8, UV 소거 가능 프로그래밍 가능 읽기 전용 메모리(EPROM) 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-93245-1993 실리콘 모놀리식, 확장된 전압 UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-94510 REV A-2007 실리콘 모놀리식, UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88549 REV A-1992 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-93144 REV B-2007 실리콘 모놀리식, UV로 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 설정, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-85135 REV C-2009 초소형 회로, 메모리, 디지털, NMOS, 64K x 8비트 UV Erasable Programmable Read Only Memory(UVEPROM), 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-90989 REV A-2006 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체 UV 프로그래밍 가능 논리 어레이, 디지털 메인 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-87661 REV F-2006 실리콘 모놀리식 16K
- DLA SMD-5962-91772-1993 실리콘 모놀리식 상보형 금속 산화물 반도체, UV 소거 가능 로직 어레이, 디지털 메인 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-87744 REV A-2010 마이크로회로, 메모리, 디지털, NMOS, 64K
- DLA SMD-5962-87803 REV D-2011 마이크로회로, 선형, 위상 주파수 검출기, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-11239-2013 마이크로회로, 선형, 전력 검출기, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-11239 REV A-2013 마이크로회로, 선형, 전력 검출기, 모놀리식 실리콘
- DLA SMD-5962-88548 REV A-1992 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 디지털 저장 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88678 REV B-2005 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88724 REV D-2007 실리콘 모놀리식 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보성 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 디지털 저장 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88726 REV E-2007 실리콘 모놀리식 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보성 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 디지털 저장 마이크로회로
- DLA SMD-5962-85102 REV E-2005 실리콘 모놀리식 8KX8 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 읽기 전용 메모리, 산화물 반도체 디지털 주 메모리 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-91584-1992 실리콘 모놀리식 UV 소거 가능 프로그래밍 가능 로직 어레이, 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 메인 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-92062 REV B-2007 실리콘 모놀리식 UV 와이프 가능 프로그래밍 가능 논리 장치, 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마스터 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-89468 REV C-2007 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로회로
- DLA SMD-5962-89469 REV B-1994 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 보완적인 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-89476-1992 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 보완적인 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-89842 REV B-2005 실리콘 모놀리식, 프로그래밍 가능 전압 검출기, 선형 미세 회로
- DLA SMD-5962-89817 REV C-2007 실리콘 모놀리식, 32K
- DLA SMD-5962-92322-1993 실리콘 모놀리식, 64K
- DLA SMD-5962-90658 REV A-2006 실리콘 모놀리식, 4K
- DLA SMD-5962-86063 REV H-2006 실리콘 모놀리식 144비트(32KX8) UV 소거 가능 프로그램 262 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 메인 메모리 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-90799-1994 UV 소거 가능 동기식 서명 프로그래밍 가능 논리 장치, 디지털 주 기억 장치 마이크로 회로, 상보성 금속 산화물 반도체, 디지털 주 기억 장치 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-87648 REV E-2006 실리콘 모놀리식 64K
- DLA SMD-5962-89614 REV F-2003 실리콘 모놀리식, 128K
- DLA SMD-5962-89815 REV B-2007 실리콘 모놀리식, 2K
- DLA SMD-5962-93122-1993 실리콘 모놀리식, 2K
- DLA SMD-5962-87529 REV E-2006 실리콘 모놀리식 2K
- DLA SMD-5962-90754 REV A-1992 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체 UV 소거 가능 동기화 프로그래밍 가능 논리 장치, 디지털 주 메모리 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-89484 REV A-2007 실리콘 모놀리식 8K
- DLA DSCC-VID-V62/11607 REV B-2011 마이크로회로, 디지털, 위상 검출기/주파수 합성기, 모놀리식 실리콘
RU-GOST R, UV 검출 회로
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, UV 검출 회로
ECIA - Electronic Components Industry Association, UV 검출 회로
Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, UV 검출 회로
Universal Oil Products Company (UOP), UV 검출 회로
- UOP 987-2015 UV 형광 검출을 이용한 산화 연소를 통한 액체 탄화수소 내 미량 황 측정
- UOP 989-2014 UV 형광 검출 산화 연소 방법을 통한 액화 석유 가스 및 기체 탄화수소 내 미량 황 측정
- UOP 988-2011 UV 형광 검출을 이용한 산화 연소를 통한 액화 석유 가스 및 기체 탄화수소 내 미량 황 측정
International Organization for Standardization (ISO), UV 검출 회로
- ISO 11369:1997 수질 선택적 식물 처리제 확인 고액 추출 - UV 검출을 통한 고성능 액체 크로마토그래피
- ISO 20179:2005 수질 미세결정 측정 고체상 추출(SPE) 및 UV 검출 기능이 있는 고성능 액체 크로마토그래피(HPLC)를 사용합니다.
- ISO 10677:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 물질 검출용 자외선원
- ISO 29441:2010 수질 자외선(UV) 분해 및 흡수 후 총 질소 측정 흐름 분석(CFA 및 FIA) 및 분광 검출 방법 사용
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National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, UV 검출 회로
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Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, UV 검출 회로
British Standards Institution (BSI), UV 검출 회로
International Telecommunication Union (ITU), UV 검출 회로
SE-SIS, UV 검출 회로
Underwriters Laboratories (UL), UV 검출 회로
Lithuanian Standards Office , UV 검출 회로
International Electrotechnical Commission (IEC), UV 검출 회로
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