후방 산란 후방 산란

모두 89항목의 후방 산란 후방 산란와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 후방 산란 후방 산란와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 방사선방호, 분석 화학, 어휘, 금속 재료 테스트, 소방, 길이 및 각도 측정, 표면 처리 및 도금, 원자력공학, 종이와 판지, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 영화, 광학 및 광학 측정, 전자 디스플레이 장치, 의료 장비, 방사선 측정, 도로 공사, 입자 크기 분석, 스크리닝, 지질학, 기상학, 수문학, 건물 보호, 농업 기계, 도구 및 장비.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 후방 산란 후방 산란

KS A 4508-2001 저 후방 산란 물질의 산란율 시험 방법
KS A 4508-1985 저 후방 산란 물질의 산란율 시험 방법
KS A 4816-1980(1995) 후방산란 X선 감소 페인트
KS A 4816-1985 후방산란 X선 감소 페인트
KS A 4816-2000 후방산란 X선을 줄이는 코팅
KS D ISO 3543-2002(2022) 베타 후방 산란법을 이용한 금속 및 비금속 코팅 두께 측정
KS A 4508-1980(2000) 산란율이 낮은 산란물질의 시험방법
KS A 4729-1997(2012) 산란 방지 그리드
KS A 4729-1997 항X선 산란 그리드
KS F ISO 17497-1:2016 음향 - 표면 소리 산란 특성 1부: 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정
KS F ISO 17497-1-2016(2021) 음향 표면 소리 산란 특성 1부: 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 후방 산란 후방 산란

GB/T 19501-2004 전자 후방 산란 회절 분석 방법의 일반 원리
GB/T 19501-2013 마이크로빔 분석의 일반 원리 전자 후방 산란 회절 분석 방법
GB/T 36165-2018 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법을 통한 금속의 평균 입자 크기 결정
GB/T 30703-2014 마이크로빔 분석을 위한 지침 전자 후방 산란 회절 방향 분석 방법
GB/T 38532-2020 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 결정
GB/T 25451-2010 중수로 원자력 발전소 연료성분의 코팅 두께 측정을 위한 베타선 후방산란 방법
GB/T 20018-2005 금속 및 비금속 코팅 코팅 두께 측정 β선 후방 산란 방법
GB/T 21228.1-2007 음향 표면 소리 산란 특성 파트 1: 잔향실에서 무작위로 입사하는 소리 산란 계수 측정

International Organization for Standardization (ISO), 후방 산란 후방 산란

ISO/CD 23699 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 전자 회절 - 어휘
ISO 3543:2000 금속 및 비금속 코팅의 두께 측정을 위한 베타선 후방 산란 방법
ISO 23749:2022 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 강철의 오스테나이트 정량 측정
ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
ISO/DIS 24173:2023 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
ISO 23703:2022 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 사용하여 오스테나이트계 스테인리스 강의 기계적 손상을 평가하기 위한 방향 분석 가이드
ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)

工业和信息化部, 후방 산란 후방 산란

YB/T 4677-2018 강철 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법의 질감 결정
HG/T 5507-2018 광학 기능성 박막 액정 디스플레이 백라이트 모듈은 확산 필름을 사용합니다.

Association Francaise de Normalisation, 후방 산란 후방 산란

NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 후방산란 전자 회절 방향 측정 가이드
NF X21-014:2012 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 평균 입자 크기 측정
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석을 위한 전자 후방 산란 회절 방향 측정 가이드

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 후방 산란 후방 산란

DB31/T 1156-2019 전기 화재 용융 마크 기술 식별 전자 후방 산란 회절 방법

British Standards Institution (BSI), 후방 산란 후방 산란

BS EN ISO 3543:2001 금속 및 비금속 코팅 두께 측정 베타선 후방 산란 방법
BS ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 후방 산란 전자 회절 평균 입자 크기 측정
BS ISO 13067:2020 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정
BS ISO 23749:2022 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트의 정량적 측정
19/30365236 DC BS ISO 13067 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
21/30398224 DC BS ISO 23749 마이크로빔 분석을 통한 전자 후방 산란 회절을 통한 강철의 오스테나이트 정량 측정
23/30435799 DC BS ISO 24173 마이크로빔 분석에 의한 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
BS ISO 23703:2022 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 통한 오스테나이트계 스테인리스강의 기계적 손상 평가를 위한 오방향 분석에 대한 마이크로빔 분석 가이드
21/30395106 DC BS ISO 23703 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 통한 오스테나이트계 스테인리스강의 기계적 손상 평가를 위한 잘못된 방향 분석 가이드
BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
BS ISO 17497-1:2004+A1:2014 음향 표면의 소리 산란 특성 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정
BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법

German Institute for Standardization, 후방 산란 후방 산란

DIN ISO 13067:2021-08 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
DIN ISO 24173:2013-04 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
DIN ISO 13067:2021 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정(ISO 13067:2020)
DIN ISO 24173:2013 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 지침(ISO 24713-2009)
DIN 51866-2:2001-08 온도 측정 2부: 레일리 산란 및 라만 산란

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 후방 산란 후방 산란

GB/T 41076-2021 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트 정량 분석
GB 15208.5-2018 마이크로도즈 엑스레이 안전검사 장비 제5부: 후방산란 물품 안전검사 장비

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 후방 산란 후방 산란

GB/T 34172-2017 금속 및 합금의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 위상 분석 방법
GB/T 33699-2017 태양광 자원의 산란 방사선 측정

Lithuanian Standards Office , 후방 산란 후방 산란

LST EN ISO 3543:2004 금속 및 비금속 코팅의 두께 측정을 위한 베타 후방 산란 방법(ISO 3543:2000)
LST EN ISO 3543:2001/AC:2006 금속 및 비금속 코팅의 두께 측정을 위한 베타 후방 산란 방법(ISO 3543:2000/Cor.1:2003)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 후방 산란 후방 산란

CNS 14931-2005 종이 및 판지의 불투명도(종이 뒷면) 테스트 방법 - 확산 반사법
CNS 2387-1993 종이 불투명도 테스트 방법(89% 반사율 뒷면)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 후방 산란 후방 산란

GJB 6924A-2021 표적과 해수면 배경의 근거리 전자파 산란 특성에 대한 시뮬레이션 시험 방법
GJB 6181-2007 표적 및 배경 방사선 밝기 테스트 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 후방 산란 후방 산란

ASTM F2359-04(2011) 확산광원 멤브레인 스위치의 백라이트 색상 결정을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2627-13 완전히 재결정화된 다결정 물질에서 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 사용하여 평균 입자 크기를 결정하는 표준 관행
ASTM E2627-13(2019) 전자 후방 산란 회절(EBSD)을 통해 완전히 재결정화된 다결정 재료의 평균 입자 크기를 결정하는 표준 관행
ASTM D589-97 종이의 불투명도 측정을 위한 표준 테스트 방법(15°C 확산광 조명 A, 89% 반사 뒷면 및 종이 뒷면)
ASTM D589-97(2002) 종이의 불투명도 측정을 위한 표준 테스트 방법(15°C 확산광 조명 A, 89% 반사 뒷면 및 종이 뒷면)

Professional Standard - Machinery, 후방 산란 후방 산란

JB/T 12587-2016 후면 투사 전송 하드 스크린

RU-GOST R, 후방 산란 후방 산란

GOST R ISO 13067-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
GOST 17038.8-1989 이온화 방사선 섬광 검출기 검출기의 배경 및 고유 배경 결정
GOST R ISO 17497-1-2011 음향 표면 소리 산란 특성 파트 1: 잔향실에서 무작위로 입사되는 소리의 산란 계수 측정.

Group Standards of the People's Republic of China, 후방 산란 후방 산란

T/ZZB 0215-2017 LCD 백라이트 모듈용 광확산 필름
T/CI 027-2021 LCD 백라이트 모듈용 양자점 확산판

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 후방 산란 후방 산란

ITU-R SM.329-7-1997 스퓨리어스 방출
ITU-R SM.329-9-2001 스퓨리어스 방출*
ITU-R SM.329-8-2000 스퓨리어스 방출*

SE-SIS, 후방 산란 후방 산란

SIS 13 61 04-1962 백법랑의 산란반사율 및 산란계수 시험방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 후방 산란 후방 산란

JIS Z 4910:2000 산란 방지 격자
JIS Z 4910 ERRATUM 1:2000 산란 방지 격자(정오표 1)

IET - Institution of Engineering and Technology, 후방 산란 후방 산란

PROPAG SCAT DISSPA ELECTRO WAV-1993 전자파의 전파, 산란 및 소멸

Professional Standard - Medicine, 후방 산란 후방 산란

YY 0012-1990 산란 방지 그리드

Standard Association of Australia （SAA）, 후방 산란 후방 산란

AS/NZS 2891.14.4:1999 아스팔트 샘플링 및 테스트 방법 - 현장 밀도 측정 - 핵 표면 수분 - 농도계 교정 - 후방 산란 모드
AS/NZS 2891.14.4:2013 역청 샘플링 및 테스트 방법 현장 밀도 테스트 핵 표면 수분 농도계 교정 후방 산란 모드

NZ-SNZ, 후방 산란 후방 산란

NZS/AS 1301.454S-1992 확산 반사법에 의한 불투명도(종이 뒷면) 결정

(U.S.) Parachute Industry Association, 후방 산란 후방 산란

PIA PS22017B-2006 스냅온 낙하산 스트랩 퀵 릴리스 투석기 MS22017

Professional Standard - Forestry, 후방 산란 후방 산란

LY/T 1988-2011 임업 기계 배낭 고범위 스프레이 살포기

SAE - SAE International, 후방 산란 후방 산란

SAE AMS3779/1B-2016 테이프로 뒷받침된 감압성 방열성 알루미늄 호일/유리 천

KR-KS, 후방 산란 후방 산란

KS F ISO 17497-1-2016 음향 사운드 산란 표면의 특성 - 1부: 잔향실의 무작위 입사 산란 계수 측정

Professional Standard - Aviation, 후방 산란 후방 산란

HB 6742-1993 X선 후면 조명 Laue 사진을 통한 단결정 블레이드의 결정 방향 결정