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전자현미경 시스템

모두 158항목의 전자현미경 시스템와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자현미경 시스템와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 문서 이미징 기술, 광학 장비, 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 어휘, 길이 및 각도 측정, 항공우주 유체 시스템 및 부품, 계측 및 측정 합성, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 상업용 차량, 전자 디스플레이 장치, 공기질, 기르다, 광전자공학, 레이저 장비, 전자 부품 및 부품, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 종합 전자 부품, 조선 및 해양 구조물 통합, 금속 재료 테스트, 반도체 개별 장치, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 범죄 예방, 열역학 및 온도 측정, 인간 공학, IT 단말기 및 기타 주변기기.


Association for Information and Image Management (AIIM), 전자현미경 시스템

  • AIIM TR34-1996 전자 이미지 관리(EIM) 및 현미경 사진 시스템의 특성을 확인하기 위한 샘플링 검사

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자현미경 시스템

  • GB/T 22061-2008 현미경 편광현미경용 기준 시스템
  • GB/T 23414-2009 마이크로빔 분석주사 전자 현미경 용어
  • GB/T 43610-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 투과전자현미경 방법
  • GB/T 21636-2008 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어
  • GB 7667-1996 전자현미경 X선 누출량
  • GB 7667-2003 전자현미경 X선 누출량
  • GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
  • GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
  • GB/T 22092-2018 전자 디지털 디스플레이 마이크로미터 및 깊이 마이크로미터
  • GB/T 22092-2008 전자 디지털 디스플레이 마이크로미터 및 깊이 마이크로미터
  • GB/T 32055-2015 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 분광법 원소 표면 분석
  • GB/T 21638-2008 철 및 강철 재료의 결함에 대한 전자빔 현미경 분석의 일반 원리
  • GB/T 30705-2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 분광법의 실험 매개변수 결정을 위한 지침

British Standards Institution (BSI), 전자현미경 시스템

  • BS 7012-12:1997 광학현미경 편광현미경 참조 시스템
  • BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • BS ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
  • BS ISO 22493:2014 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
  • BS EN ISO 14880-1:2005 광학 및 포토닉스.마이크로렌즈 시리즈.용어집
  • BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
  • BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
  • BS EN 62047-4:2010 반도체 장치 마이크로 전자 기계 장치 마이크로 전자 기계 시스템(MEMS) 일반 사양
  • BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
  • BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차

International Organization for Standardization (ISO), 전자현미경 시스템

  • ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
  • ISO 22493:2014 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
  • ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
  • ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
  • ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 8576:1996 광학 및 광학 기기 현미경 편광 현미경용 참조 시스템
  • ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
  • ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법
  • ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
  • ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법

Professional Standard - Machinery, 전자현미경 시스템

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자현미경 시스템

  • GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법
  • GB/T 33838-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 이미지 선명도 평가 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자현미경 시스템

  • JIS K 0132:1997 주사전자현미경의 일반 원리
  • JIS B 7251:2000 편광현미경용 기준 시스템
  • JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
  • JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
  • JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

Association Francaise de Normalisation, 전자현미경 시스템

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자현미경 시스템

KR-KS, 전자현미경 시스템

  • KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
  • KS D ISO 23833-2022 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 용어집
  • KS B ISO 8576-2023 광학 및 광학 기기 현미경 검사 편광 현미경 검사를 위한 기준 시스템.
  • KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드
  • KS D 2716-2023 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
  • KS D ISO TR 17270-2007 마이크로빔분석-분석투과전자현미경-전자에너지손실분광학 실험변수결정 기술보고서

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자현미경 시스템

  • GB/T 40300-2021 마이크로빔 분석 분석용 전자현미경 용어
  • GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별
  • GB/T 21636-2021 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석(EPMA) 용어
  • GB/T 4930-2021 마이크로빔 분석 및 전자탐침 미세분석을 위한 표준시료의 기술적 조건에 대한 지침

CN-STDBOOK, 전자현미경 시스템

RU-GOST R, 전자현미경 시스템

  • GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법
  • GOST 8.594-2009 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사전자현미경 식별방법
  • GOST R 8.631-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사형 전자 측정 현미경 검증 방법
  • GOST R 8.594-2009 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 주사전자현미경
  • GOST 21006-1975 전자 현미경 용어, 정의 및 알파벳 기호
  • GOST 8.593-2009 국가 측정 균일성 보증 시스템, 원자력 주사 탐침 현미경, 식별 방법
  • GOST R 8.630-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 원자력 주사 검출 현미경, 검증 방법
  • GOST R 8.635-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 원자력 주사 탐침 현미경, 교정 방법

IX-UIC, 전자현미경 시스템

  • UIC OR 612-05-2012 운전실 디스플레이 시스템(DDS) 전자 시간표 디스플레이(ETD)

Society of Automotive Engineers (SAE), 전자현미경 시스템

  • SAE ARP598C-2003 (R) 액체 전력 시스템의 공중 현미경 입자 크기 및 입자 오염

German Institute for Standardization, 전자현미경 시스템

  • DIN ISO 8576:2002-06 광학 및 광학 기기 현미경 검사법 편광 현미경 기준 시스템
  • DIN ISO 8576:2002 광학 및 광학 기기 현미경 검사 편광 현미경 검사용 기준 시스템(ISO 8576:1996)
  • DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
  • DIN EN 61174:2016-06 해상 항해 및 무선 통신 장비 및 시스템 전자 해도 표시 및 정보 시스템
  • DIN EN ISO 9241-303:2012 인간-시스템 상호작용의 인간공학 파트 303: 전자 영상 디스플레이 시스템에 대한 요구사항

CZ-CSN, 전자현미경 시스템

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 전자현미경 시스템

Group Standards of the People's Republic of China, 전자현미경 시스템

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 전자현미경 시스템

Professional Standard - Education, 전자현미경 시스템

SAE - SAE International, 전자현미경 시스템

Association of German Mechanical Engineers, 전자현미경 시스템

Aeronautical Radio Inc., 전자현미경 시스템

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자현미경 시스템

  • ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
  • ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법

Professional Standard - Aviation, 전자현미경 시스템

  • HB 6556-1991 민간 항공기 전자 디스플레이 시스템에 대한 일반 요구 사항

VE-FONDONORMA, 전자현미경 시스템

NATO - North Atlantic Treaty Organization, 전자현미경 시스템

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 전자현미경 시스템

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, 전자현미경 시스템

Professional Standard - Petroleum, 전자현미경 시스템

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자현미경 시스템

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 전자현미경 시스템

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자현미경 시스템

国家能源局, 전자현미경 시스템

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, 전자현미경 시스템

  • STANAG 4564-2007 군함 전자 해도 표시 및 정보 시스템 표준 (WECDIS)

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자현미경 시스템

  • DB32/T 3459-2018 그래핀 필름의 미세 영역 커버리지를 테스트하기 위한 주사 전자 현미경 방법

工业和信息化部, 전자현미경 시스템

  • YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

International Telecommunication Union (ITU), 전자현미경 시스템

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 전자현미경 시스템

  • QUESTION 98/5-1990 전자 해도 표시 시스템 업데이트를 위한 디지털 데이터 전송

IMO - International Maritime Organization, 전자현미경 시스템

  • T127E-2000 전자해도표시정보시스템(ECDIS) 운영 활용
  • TA127E-2012 전자해도표시정보시스템(ECDIS) 운영 활용

International Maritime Organization (IMO), 전자현미경 시스템

Professional Standard - Judicatory, 전자현미경 시스템

  • SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

IT-UNI, 전자현미경 시스템

  • UNI 7604-1976 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 현미경 사진 검사용 복제본 준비

European Committee for Standardization (CEN), 전자현미경 시스템

  전자현미경, 마이크로일렉트로닉스, 현미경 시스템, 현미경 시스템, 전자현미경, 전자현미경, 전자현미경, 전자 시스템, 전자현미경 이미지, 전자 미세구조, 전자현미경 시스템, 전자현미경, 전자현미경, 전자현미경 분석, 전자현미경, 투과 전자 현미경, 전자현미경 시스템, 전자현미경 시스템, 전자 투과 현미경, 전자현미경 시스템.

 



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