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기기 성능 매개변수

모두 19항목의 기기 성능 매개변수와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 기기 성능 매개변수와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학.

International Organization for Standardization (ISO), 기기 성능 매개변수

ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명

British Standards Institution (BSI), 기기 성능 매개변수

BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 기기 성능 매개변수

KS D ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 15471-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 - 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 기기 성능 매개변수

JIS K 0161:2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명

German Institute for Standardization, 기기 성능 매개변수

DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 기기 성능 매개변수

GB/T 25187-2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현

KR-KS, 기기 성능 매개변수

KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

Standard Association of Australia （SAA）, 기기 성능 매개변수

AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

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