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엑스레이 포인트

모두 65항목의 엑스레이 포인트와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 엑스레이 포인트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 건축 자재, 금속 재료 테스트, 비철금속, 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 어휘, 연료, 광산 장비, 길이 및 각도 측정, 검은 금속, 의료 장비, 원자력공학, 플라스틱, 철강 제품, 발전소 종합, 방사선 측정, 화학 제품, 비파괴 검사, 수질, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 내화물.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 엑스레이 포인트

Professional Standard - Machinery, 엑스레이 포인트

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 포인트

American Society for Testing and Materials (ASTM), 엑스레이 포인트

  • ASTM E1172-87(2003) 파장 확산 X선 분광계에 대한 설명 및 사양
  • ASTM E1172-87(2001) 파장 확산 X선 분광계 설명에 대한 표준 사례
  • ASTM E1172-87(1996) 파장 분산형 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 사례
  • ASTM D5059-98 X선 분광광도법을 이용한 휘발유의 납 함량 표준 시험 방법
  • ASTM D5059-98(2003)e1 X선 분광광도법을 이용한 휘발유의 납 함량 표준 시험 방법
  • ASTM E1172-87(2011) 파장 확산 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 실습
  • ASTM D5059-07 X선 분광광도법을 이용한 휘발유의 납 함량 표준 시험 방법
  • ASTM D5059-21 X선 분광광도법을 이용한 휘발유의 납 함량 표준 시험 방법
  • ASTM F1375-92(2005) 가스 분배 시스템 부품의 금속 표면 상태에 대한 에너지 분산형 X선 분광 분석 시험 방법
  • ASTM F1375-92(2012) 가스 분배 시스템 구성요소의 금속 표면 상태에 대한 에너지 분산형 X선 분광계(EDX) 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F2617-08e1 에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 고분자 재료의 크롬 브롬, 카드뮴, 수은 및 납의 식별 및 정량을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D2332-84(1999) 파장 분산 X선 형광을 이용한 수중 퇴적물 분석의 표준 사례

German Institute for Standardization, 엑스레이 포인트

  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN ISO 15632:2015 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 발산 X선 분광계에 대한 기기 사양(ISO 15632-2012)
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008-08 방사선 분광학 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)

(U.S.) Ford Automotive Standards, 엑스레이 포인트

PT-IPQ, 엑스레이 포인트

Association Francaise de Normalisation, 엑스레이 포인트

  • NF X21-008:2012 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계의 기기 사양

International Organization for Standardization (ISO), 엑스레이 포인트

  • ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 15632:2002 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석

工业和信息化部, 엑스레이 포인트

RU-GOST R, 엑스레이 포인트

Professional Standard - Building Materials, 엑스레이 포인트

Professional Standard - Nuclear Industry, 엑스레이 포인트

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 엑스레이 포인트

KR-KS, 엑스레이 포인트

Professional Standard - Electricity, 엑스레이 포인트

  • DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 엑스레이 포인트

British Standards Institution (BSI), 엑스레이 포인트

International Electrotechnical Commission (IEC), 엑스레이 포인트

  • IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
  • IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 엑스레이 포인트

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 엑스레이 포인트

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 엑스레이 포인트

  • IEEE 759-1984 반도체 X선 에너지 스펙트럼 분석기의 테스트 절차

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