ZH
EN
JP
ES
RU
DE

단결정 X선 회절계 분석

모두 168항목의 단결정 X선 회절계 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 단결정 X선 회절계 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 기르다, 분석 화학, 방사선방호, 금속 재료 테스트, 비파괴 검사, 무기화학, 산업안전, 산업위생, 화학 제품, 금속 생산, 비철금속, 내화물, 비금속 광물, 방사선 측정, 건축 자재, 세라믹, 발전소 종합, 공기질, 페인트 성분, 어휘, 금속 광석, 원자력공학, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 반도체 소재, 광학 및 광학 측정, 길이 및 각도 측정.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 단결정 X선 회절계 분석

• JJG 629-2014 다결정 X선 회절계의 교정 절차
• JJG 629-1989 다결정 X선 회절계의 교정 절차
• JJG(地质) 1014-1990 다결정 X선 회절계의 교정 절차

PT-IPQ, 단결정 X선 회절계 분석

• E E 14-1971 X선 회절 분석

Professional Standard - Education, 단결정 X선 회절계 분석

• JY/T 0588-2020 단결정 X선 회절분석기를 이용한 저분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리
• JY/T 008-1996 4원 단결정 X선 회절계를 사용하여 소분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 단결정 X선 회절계 분석

• KS M 0043-2009 X선 회절 분석
• KS M 0043-2009(2019) X선 회절 분석의 일반 규칙
• KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
• KS E 3076-2002 원패스 실리카 및 실리카의 X선 형광 분석
• KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
• KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
• KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
• KS D ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
• KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 단결정 X선 회절계 분석

• GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
• GB/T 42676-2023 반도체 단결정 품질검사 X선 회절법
• GB/T 30904-2014 무기화학제품의 결정구조 분석을 위한 X선 회절법
• GB/T 19421.1-2003 층상 결정질 이규산나트륨의 시험 방법 델타상 층상 결정질 이규산나트륨의 정성 분석 X선 회절법
• GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
• GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
• GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
• GB/T 6609.32-2009 알루미나의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 32부: α-알루미나 함량 측정 X선 회절 방법
• GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현

British Standards Institution (BSI), 단결정 X선 회절계 분석

• BS EN 13925-3:2005(2009) 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 장비
• BS EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 장비
• BS ISO 22278:2020 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 평행 X선빔 X선 회절법을 이용한 단결정박막(웨이퍼)의 결정질 결정시험방법
• 20/30360821 DC BS ISO 22278 파인 세라믹스(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) 평행 X선 빔 X선 회절 방법을 사용하여 단결정 박막(웨이퍼)의 결정 품질을 결정하는 테스트 방법
• BS ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 간접 분석 방법
• BS EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법
• BS ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 직접 여과법
• BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
• BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
• BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
• BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 회절계 분석

• GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

German Institute for Standardization, 단결정 X선 회절계 분석

• DIN EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
• DIN EN 13925-3:2005-07 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• DIN EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
• DIN EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
• DIN EN 13925-2:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 2부: 절차
• DIN EN 13925-1:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 1부: 일반 원리
• DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• DIN EN 15305:2009-01 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• DIN EN 1330-11:2007-09 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
• DIN EN 15305:2009 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법.
• DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X-선 회절 분석을 이용한 비파괴 시험 잔류 응력 분석 시험 방법
• DIN EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
• DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
• DIN EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
• DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
• DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
• DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
• DIN ISO 15632:2015 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 발산 X선 분광계에 대한 기기 사양(ISO 15632-2012)

European Committee for Standardization (CEN), 단결정 X선 회절계 분석

• EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
• EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
• EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
• EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
• EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법 정오표 포함 - 2009년 1월

Association Francaise de Normalisation, 단결정 X선 회절계 분석

• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
• NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 - 용어 - 파트 11: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절
• NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 기본 원리
• NF EN 13925-2:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 2부: 절차
• NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X선 회절을 이용한 작업장 공기 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
• NF EN 15305:2009 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 3부: 장비
• NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 1부: 일반 원리
• NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 용어.
• NF T25-111-3:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 3부: X선 회절의 방위각 분석
• NF A09-185*NF EN 15305:2009 비파괴 시험 - X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
• NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X선 회절을 통한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
• NF A09-285:1999 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
• NF ISO 16258-2:2015 작업장 공기 중 X선 회절을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 2부: 간접 분석 방법
• NF ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절 방법을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 1부: 직접 여과 분석 방법
• NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법.
• NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
• NF X21-008:2012 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계의 기기 사양

Danish Standards Foundation, 단결정 X선 회절계 분석

• DS/EN 13925-3:2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• DS/EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• DS/EN 13925-1:2003 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
• DS/EN 15305/AC:2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• DS/EN 15305:2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법

Lithuanian Standards Office , 단결정 X선 회절계 분석

• LST EN 13925-3-2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• LST EN 13925-2-2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• LST EN 13925-1-2004 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
• LST EN 15305-2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• LST EN 15305-2008/AC-2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법

AENOR, 단결정 X선 회절계 분석

• UNE-EN 13925-3:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
• UNE-EN 13925-2:2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
• UNE-EN 13925-1:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
• UNE-EN 15305:2010 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
• UNE-EN 1330-11:2008 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 단결정 X선 회절계 분석

• JIS H 7805:2005 X선 회절계를 이용한 금속 결정의 결정립 크기 측정 방법
• JIS K 0131:1996 X선 회절계 측정 분석에 대한 일반 규칙
• JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
• JIS A 1481-3:2014 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석
• JIS A 1481-3 AMD 1:2022 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석(수정 사항 1)
• JIS K 0148:2005 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼의 주요 표면 오염 물질을 측정합니다.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 단결정 X선 회절계 분석

• GB/T 37983-2019 결정 재료 X선 회절계 회전 배향 시험 방법
• GB/T 36923-2018 진주분말 식별법 X선 회절분석
• GB/T 40407-2021 포틀랜드 시멘트 클링커의 광물상의 X선 회절분석법

工业和信息化部, 단결정 X선 회절계 분석

• YS/T 1178-2017 알루미늄 슬래그 상 분석 X선 회절법
• YB/T 172-2020 X-선 회절법을 이용한 실리카 벽돌의 정량적 상 분석
• YS/T 1344.3-2020 주석 도핑된 산화인듐 분말의 화학적 분석 방법 제3부: 상 분석 X선 회절 분석 방법
• YS/T 1160-2016 산업용 실리콘 분말의 정량상 분석 실리카 함량 결정 X선 회절 K 값 방법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 단결정 X선 회절계 분석

• YB/T 172-2000 실리카 벽돌의 정량상 분석.X선 회절법
• YB/T 5336-2006 X-선 회절법을 이용한 고속도강의 탄화물 상의 정량 분석
• YB/T 5320-2006 금속재료의 정량상 분석을 위한 X선 회절 K 값 방법

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 단결정 X선 회절계 분석

• JJF 1256-2010 X선 단결정 배향 장비의 교정 사양
• JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

American National Standards Institute （ANSI), 단결정 X선 회절계 분석

• ANSI N43.2-2001 X선 회절 및 형광 분석 장비의 방사선 안전성

Professional Standard - Energy, 단결정 X선 회절계 분석

• NB/SH/T 6015-2020 X-선 회절법에 의한 ZSM-23 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
• NB/SH/T 6033-2021 X-선 회절법에 의한 ZSM-22 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
• NB/SH/T 6024-2021 X선 회절법을 이용한 ZSM-5 분자체의 상대적 결정화도 측정
• NB/SH/T 0339-2021 X선 회절법을 이용한 포자사이트 제올라이트의 단위 셀 매개변수 결정

Professional Standard - Customs, 단결정 X선 회절계 분석

• HS/T 12-2006 X선 회절법을 이용한 활석, 녹니석, 마그네사이트의 혼합상의 정량분석

Professional Standard - Nuclear Industry, 단결정 X선 회절계 분석

• EJ/T 767-1993 방사성 소스에 의해 여기되는 X선 형광 분석기
• EJ/T 684-1992 휴대용 소스 여기 X선 형광 분석기
• EJ/T 684-2016 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분석기

International Organization for Standardization (ISO), 단결정 X선 회절계 분석

• ISO 22278:2020 파인 세라믹스(첨단 세라믹 및 첨단 산업용 세라믹) 평행 X선 빔 X선 회절법에 의한 단결정 박막(웨이퍼)의 결정 품질 측정 시험 방법
• ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
• ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X-선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
• ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
• ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
• ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
• ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
• ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
• ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
• ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
• ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
• ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
• ISO 14706:2000 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
• ISO 14706:2014 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
• ISO 15632:2002 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
• ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명

Professional Standard - Electricity, 단결정 X선 회절계 분석

• DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

Professional Standard - Building Materials, 단결정 X선 회절계 분석

• JC/T 1085-2008 시멘트용 X선 형광 분석기

KR-KS, 단결정 X선 회절계 분석

• KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
• KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 단결정 X선 회절계 분석

• ASTM D5380-93(2003) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D5380-93(2021) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM E3294-22 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM E3294-23 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM D5380-93(2009) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D5380-93(1998) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM D5380-93(2014) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C1365-06(2011) X-선 분말 회절 분석을 통한 포틀랜드 시멘트 및 포틀랜드 시멘트 슬래그 단계 비율 결정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C1365-06 X-선 분말 회절 분석을 통한 포틀랜드 시멘트 및 포틀랜드 시멘트 슬래그 단계 비율 결정을 위한 표준 테스트 방법
• ASTM C1365-98 X-선 분말 회절 분석을 통한 포틀랜드 시멘트와 포틀랜드 시멘트 슬래그의 단계 비율 결정을 위한 표준 시험 방법
• ASTM C1365-98(2004) X-선 분말 회절 분석을 통한 포틀랜드 시멘트와 포틀랜드 시멘트 슬래그의 단계 비율 결정을 위한 표준 시험 방법

Professional Standard - Petroleum, 단결정 X선 회절계 분석

• SY/T 5163-1995 퇴적암 내 점토광물의 상대적 함량에 대한 X선 회절분석법
• SY/T 5163-2010 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법
• SY/T 6210-1996 퇴적암 내 총점토광물과 일반 비점토광물에 대한 X선 회절 정량분석 방법

未注明发布机构, 단결정 X선 회절계 분석

• BS EN 15305:2008(2009) 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
• BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성

Professional Standard - Machinery, 단결정 X선 회절계 분석

• JB/T 9399-1999 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈
• JB/T 9399-2010 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈

RU-GOST R, 단결정 X선 회절계 분석

• GOST R ISO 16258-1-2017 X선 회절을 이용한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부. 직접 여과법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 단결정 X선 회절계 분석

• GB/T 36017-2018 비파괴검사기 X선형광분석관
• GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
• GB/T 35734-2017 휴대용 튜브 여기 X선 형광 분석기의 분류, 안전 요구 사항 및 테스트

International Electrotechnical Commission (IEC), 단결정 X선 회절계 분석

• IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
• IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비

国家能源局, 단결정 X선 회절계 분석

• SY/T 5163-2018 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법

工业和信息化部/国家能源局, 단결정 X선 회절계 분석

• JB/T 12962.2-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 파트 2: 원소 분석기
• JB/T 12962.3-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 3부: 코팅 두께 분석기

IN-BIS, 단결정 X선 회절계 분석

• IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법

기타:   X선 회절 분석기, X선 단결정 회절계, 단결정 X선 회절계 분석, 단결정 X선 회절계.