ZH
EN
JP
ES
RU
DE금 나노크기 측정
모두 99항목의 금 나노크기 측정와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 금 나노크기 측정와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 고무 및 플라스틱 제품, 물리학, 화학, 건물 내 시설, 분석 화학, 종합 전자 부품, 비파괴 검사, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 어휘, 에어로졸 탱크, 비철금속, 금속 재료 테스트, 길이 및 각도 측정, 광학 및 광학 측정, 표면 처리 및 도금, 페인트 및 바니시, 분말 야금, 캔, 캔, 튜브, 공기질, 실.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 금 나노크기 측정
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 금 나노크기 측정
Association Francaise de Normalisation, 금 나노크기 측정
International Organization for Standardization (ISO), 금 나노크기 측정
German Institute for Standardization, 금 나노크기 측정
British Standards Institution (BSI), 금 나노크기 측정
KR-KS, 금 나노크기 측정
IEC - International Electrotechnical Commission, 금 나노크기 측정
European Committee for Standardization (CEN), 금 나노크기 측정
American Society for Testing and Materials (ASTM), 금 나노크기 측정
HU-MSZT, 금 나노크기 측정
International Electrotechnical Commission (IEC), 금 나노크기 측정
ES-UNE, 금 나노크기 측정
未注明发布机构, 금 나노크기 측정
Standard Association of Australia (SAA), 금 나노크기 측정
PH-BPS, 금 나노크기 측정
BE-NBN, 금 나노크기 측정
CEN - European Committee for Standardization, 금 나노크기 측정
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 금 나노크기 측정
IN-BIS, 금 나노크기 측정
- IS 11103-1984 원통형 측정 핀 사양(0.1mm ~ 20mm 크기 범위)
- IS 7859-1975 ISO 맞춤 치수(공칭 치수 최대 500mm)의 내부 측정에 사용되는 일반 게이지의 게이지 공차 및 제조 공차
- IS 7876-1975 ISO 맞춤 치수(공칭 치수 최대 500mm)의 외부 측정을 위한 일반 게이지의 게이지 공차 및 제조 공차
- IS 6246-1980 일반 플러그 게이지 GO 및 NO GO 측정 부품 사양(크기 범위 120~250mm)
SE-SIS, 금 나노크기 측정
RU-GOST R, 금 나노크기 측정
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 금 나노크기 측정
RO-ASRO, 금 나노크기 측정
YU-JUS, 금 나노크기 측정
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 금 나노크기 측정
Danish Standards Foundation, 금 나노크기 측정
American National Standards Institute (ANSI), 금 나노크기 측정
American Society of Mechanical Engineers (ASME), 금 나노크기 측정