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DE포토다이오드 시스템
모두 316항목의 포토다이오드 시스템와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 포토다이오드 시스템와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광전자공학, 레이저 장비, 반도체 개별 장치, 광섬유 통신, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, 도로 차량 장치, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 전자관, TV 방송 및 라디오 방송, 도로 공사, 원자력공학, 태양광 공학, 작은 배, 배터리 및 축전지, 운송, 전등 및 관련 기기, 철도/로프웨이 건설 및 유지보수 장비, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 전자 디스플레이 장치, 치과, 전기 및 전자 테스트, 계측 및 측정 합성, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 항공기 및 우주선 통합, 전기 장치, 통신 종합, 전송 및 배전망.
American Society for Testing and Materials (ASTM), 포토다이오드 시스템
- ASTM F3095-17 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관의 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례
- ASTM F3095-17a(2022) 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관의 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례
- ASTM F3095-14 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례
- ASTM F3095-17a 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례
ES-UNE, 포토다이오드 시스템
- UNE-EN 120008:1993 BDS: 광섬유 시스템 또는 하위 시스템용 발광 다이오드 및 적외선 방출 다이오드
- UNE-EN 120005:1992 BDS: 포토다이오드, 포토다이오드 어레이(광섬유 애플리케이션에는 적합하지 않음).
- UNE-EN 120001:1992 BDS: LED, LED 어레이, 내부 로직 및 저항기가 없는 LED 디스플레이
- UNE-EN 120006:1992 BDS: 광섬유 애플리케이션용 PIN 포토다이오드
- UNE-EN IEC 62149-12:2023 광섬유 능동 부품 및 장치에 대한 성능 표준 12부: 광섬유 아날로그 무선 시스템용 분산 피드백 레이저 다이오드 장치
- SAE AS81714/26A-2023 단자 배선 시스템, 단자대, 세그먼트화, 모듈, 전자, 다이오드, 피드백 유형, 크기 20 시리즈 I
- UNE-EN IEC 62149-3:2020/AC:2021-03 광섬유 능동 구성요소 및 장비에 대한 성능 표준 3부: 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템용 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
- UNE-EN IEC 62149-3:2020 광섬유 능동 구성요소 및 장비에 대한 성능 표준 3부: 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템용 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
- EN IEC 62149-3:2023 광섬유 능동 부품 및 장비에 대한 성능 표준 3부: 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템용 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
- UNE-EN 62149-3:2014 광섬유 능동 부품 및 장비에 대한 성능 표준 3부: 2.5Gbit/s ~ 40Gbit/s의 광섬유 전송 시스템용 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
Association Francaise de Normalisation, 포토다이오드 시스템
Professional Standard - Military and Civilian Products, 포토다이오드 시스템
British Standards Institution (BSI), 포토다이오드 시스템
- BS EN 120005:1986 전자 부품 품질 평가 및 조정 시스템 빈 세부 사양 포토다이오드, 포토다이오드 어레이(비섬유용)
- BS IEC 60747-5-8:2019 반도체소자, 광전자소자, 발광다이오드, 발광다이오드의 광전효율 시험방법
- BS EN 120001:1991 전자 부품의 품질 평가를 위한 조정 시스템 빈 세부 사양 내부 논리 부품 및 저항기가 없는 발광 다이오드, 발광 다이오드 어레이, 발광 다이오드 디스플레이
- BS IEC 60747-5-16:2023 반도체 소자 - 광전자 소자 발광 다이오드 GaN 기반 발광 다이오드 광전류 스펙트럼 기반 플랫 밴드 전압 테스트 방법
- BS IEC 60747-5-11:2019 반도체 장치, 광전자 장치, 발광 다이오드, 발광 다이오드의 방사 및 비방사 전류에 대한 테스트 방법
- BS EN 120001:1993 전자 부품의 품질 평가를 위한 조정 시스템 발광 다이오드, 발광 다이오드 어레이, 내부 논리 및 저항이 없는 발광 다이오드 디스플레이에 대한 빈 세부 사양
- BS QC 720102:1997 광섬유 시스템 및 하위 시스템용 납 레이저 다이오드의 모듈러스에 대한 빈 세부 사양
- 18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 반도체 장치 5-8부 광전자 장치 발광 다이오드 발광 다이오드의 광전 효율 테스트 방법
- BS EN 120005:1993 전자 부품의 품질 평가를 위한 조정 시스템 사양 공백 포토다이오드, 포토다이오드 어레이에 대한 상세 사양(광섬유 애플리케이션에는 적용되지 않음)
- BS DD CLC/TS 50509:2007 도로 교통 신호 시스템에 발광 다이오드(LED) 표시 장치 사용
- DD CLC/TS 50509-2007 도로 교통 신호 시스템에 발광 다이오드(LED) 표시 장치 사용
- BS PD IEC/TS 62916:2017 태양광 모듈 바이패스 다이오드 정전기 방전 감도 테스트
- BS EN ISO 19009:2015 소형 보트, 전기 항해등, LED 조명의 성능.
- 18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11 반도체 장치 파트 5-11 광전자 장치 발광 다이오드 발광 다이오드 방사 및 비방사 전류에 대한 테스트 방법
- PD IEC/TS 62916:2017 태양광 모듈 바이패스 다이오드 정전기 방전 감수성 테스트
- BS EN 120002:1993 전자 부품 품질 평가를 위한 조정 시스템 사양 공백 세부 사양: 적외선 발광 다이오드, 적외선 발광 다이오드 어레이
- BS EN 62341-6-1:2011 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법
- BS EN IEC 62149-12:2023 광섬유 능동 부품 및 장치 성능 표준 광섬유 아날로그 무선 시스템용 분산 피드백 레이저 다이오드 장치
- PD IEC TR 60747-5-12:2021 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 LED 효율 시험 방법
- BS IEC 60747-5-15:2022 전기반사스펙트럼을 기반으로 한 반도체소자-광전자소자 발광다이오드 플랫밴드 전압 테스트 방법
- 19/30392174 DC BS EN 60747-5-6 반도체 장치 파트 5-6 광전자 장치 발광 다이오드
- BS EN 62384:2006 발광 다이오드 모듈용 AC 및 DC 전원 공급 장치용 전자 제어 장치 성능 요구 사항
- BS IEC 60747-5-9:2019 온도변화 전계발광 기반 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 내부양자효율 시험 방법
- PD IEC TS 63109:2022 광전지(PV) 모듈 및 셀은 전자발광 이미지 정량 분석을 통해 다이오드 이상성 인자를 측정합니다.
- BS EN IEC 62149-3:2020 광섬유 능동 구성요소 및 장치 성능 표준 변조기 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템용 통합 레이저 다이오드 송신기
- BS EN 61347-2-13:2006 조명 제어 장치 발광 다이오드 AC 및 DC 전원 공급 장치 제어 장치에 대한 세부 요구 사항
- BS EN 61347-2-13:2014 조명 제어 장치 발광 다이오드 AC 및 DC 전원 공급 장치 제어 장치에 대한 세부 요구 사항
- 21/30445177 DC BS EN IEC 62149-12 광섬유 능동 구성요소 및 장치에 대한 성능 표준 파트 12: 광섬유 아날로그 무선 시스템에 사용되는 분산 피드백 레이저 다이오드 장치
- BS EN 62384:2006+A1:2009 발광 다이오드(LED) 모듈용 AC 또는 DC 전원 전자 제어 장치 성능 요구 사항
- 14/30313209 DC BS EN 62341-6-1 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
- 23/30475452 DC BS EN IEC 62341-6-1 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
- 20/30430108 DC BS EN IEC 62341-6-1 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
- 21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16 반도체 장치 파트 5-16 광전자 장치 발광 다이오드 광전류 스펙트럼을 기반으로 한 플랫 밴드 전압 테스트 방법
- 20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15 반도체 장치 파트 5-15 광전자 장치 발광 다이오드 전기 반사 분광법을 기반으로 한 플랫 밴드 전압 테스트 방법
- BS IEC 60747-5-10:2019 상온기준점 기반 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 내부양자효율 시험방법
- BS EN 62149-3:2014 광섬유 능동 구성요소 및 장치 성능 표준 2,5-Gbit/s ~ 40-Gbit/s의 광섬유 전송 시스템용 변조기 통합 레이저 다이오드 방출기
- BS EN 62560:2012 50V 이상의 전압을 사용하는 일반 조명용 자체 안정기 발광 다이오드(LED) 램프. 안전 사양
- BS EN 62341-6-2:2012 유기 전계 발광 다이오드(OLED) 디스플레이 시각적 품질 및 환경 성능 측정 방법
- 22/30455917 DC BS EN IEC 62149-3 광섬유 능동 구성요소 및 장치에 대한 성능 표준 파트 3: 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템에 사용하기 위한 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
- 19/30400216 DC BS EN IEC 62149-3. 광섬유 활성 구성 요소 및 장치. 성능 표준. 파트 3: 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템용 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
- 18/30388398 DC BS EN 62149-3 Ed.3.0 광섬유 능동 구성요소 및 장치에 대한 성능 표준 3부: 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템에 사용하기 위한 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
German Institute for Standardization, 포토다이오드 시스템
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 포토다이오드 시스템
- EN 120008:1993 공백 상세 사양: 광섬유 시스템 또는 하위 시스템에 사용하기 위한 발광 다이오드 및 적외선 방출 다이오드
Illuminating Engineering Society of North America, 포토다이오드 시스템
SE-SIS, 포토다이오드 시스템
Lithuanian Standards Office , 포토다이오드 시스템
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 포토다이오드 시스템
未注明发布机构, 포토다이오드 시스템
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 포토다이오드 시스템
Professional Standard - Electron, 포토다이오드 시스템
- SJ/T 2216-2015 실리콘 포토다이오드 기술 사양
- SJ/T 2214-2015 반도체 포토다이오드 및 포토트랜지스터 테스트 방법
- SJ/T 2354-2015 PIN, 애벌런치 포토다이오드 테스트 방법
- SJ/T 2354-2015/0352 PIN, 애벌런치 포토다이오드 테스트 방법
- SJ/T 958-2000 전자선관 전자광학계의 전극 명명법
- SJ 2354.1-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 광전 매개변수에 대한 테스트 방법 일반 원리
- SJ 2354.5-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 커패시턴스 테스트 방법
- SJ/T 11401-2009 반도체 발광 다이오드 제품 시리즈 스펙트럼
- SJ 50033/102-1995 GD218형 InGaAs/InP PIN 포토다이오드 상세 사양
- SJ 2214.10-1982 반도체 포토다이오드 및 삼극관의 광전류 테스트 방법
- SJ 50033/112-1996 반도체 광전자소자 GD3251Y형 포토다이오드 상세사양
- SJ 50033/113-1996 반도체 광전자소자 GD3252Y형 포토다이오드 상세사양
- SJ 2354.3-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 암전류 테스트 방법
- SJ 2354.12-1983 애벌런치 포토다이오드의 역항복 전압 온도 계수 테스트 방법
- SJ 20644.1-2001 반도체 광전자 장치 GD3550Y 유형 PIN 포토 다이오드의 세부 사양
- SJ 20644.2-2001 반도체 광전자 장치 GD101 유형 PIN 포토다이오드의 세부 사양
- SJ 2354.10-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 배열 스트링 광학 요소에 대한 테스트 방법
- SJ 2354.6-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 응답성을 테스트하는 방법
- SJ 2354.13-1983 애벌런치 포토다이오드 증배율 테스트 방법
- SJ 2214.3-1982 반도체 포토다이오드의 암전류 테스트 방법
- SJ 2214.5-1982 반도체 포토다이오드 접합 용량 테스트 방법
- SJ 2354.4-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 순방향 전압 강하 테스트 방법
- SJ 2354.2-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 역항복 전압 테스트 방법
- SJ 50033/136-1997 반도체 광전자소자 GF116 적색발광다이오드 상세사양
- SJ 50033/143-1999 반도체 광전자 장치 유형 GF1120 적색 발광 다이오드의 상세 사양
- SJ 50033/137-1997 반도체 광전자소자 GF216 주황색 발광다이오드 상세사양
- SJ 50033/139-1998 반도체 광전자소자 GF4111 녹색발광다이오드 상세사양
- SJ 50033/138-1998 반도체 광전자 장치 유형 GF318 노란색 발광 다이오드의 상세 사양
- SJ 50033/58-1995 반도체 광전자소자 GF413 녹색발광다이오드 상세사양
- SJ/T 11393-2009 반도체 광전자소자 전력발광다이오드의 빈칸 상세사양
- SJ 50033/142-1999 반도체 광전자소자 GF4112 녹색발광다이오드 상세사양
- SJ 50033/57-1995 반도체 광전자소자 GF115 적색발광다이오드 상세사양
- SJ 2354.14-1983 애벌런치 포토다이오드 과잉 잡음 지수 테스트 방법
- SJ 2215.6-1982 반도체 광커플러(다이오드) 접합 용량 테스트 방법
- SJ/T 11866-2022 반도체 광전자 장치 - 실리콘 기판 백색광 전력 발광 다이오드의 세부 사양
- SJ/T 11400-2009 반도체 광전자소자용 저전력 발광다이오드의 빈칸 상세사양
- SJ 2354.11-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 어레이의 사각지대 폭 테스트 방법
- SJ 2215.3-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 순방향 전류 테스트 방법
- SJ 2214.4-1982 반도체 포토다이오드의 역항복 전압 테스트 방법
- SJ 2215.4-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 역전류 테스트 방법
- SJ 2354.9-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 잡음 등가 전력 테스트 방법
- SJ 50033/99-1995 반도체 광전자소자 GF511 주황색/녹색 이중색상 발광다이오드 상세사양
- SJ 20642.7-2000 반도체 광전자소자 GR1325J형 장파장 발광다이오드 어셈블리 상세사양
- SJ/T 11817-2022 반도체 광전자소자용 발광다이오드, 필라멘트램프 상세사양 공란
- SJ 2354.7-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 스펙트럼 응답 곡선 및 스펙트럼 응답 범위에 대한 테스트 방법
- SJ 2142-1982 실리콘 제너다이오드의 전류온도계수 시험방법
- SJ 50033/109-1996 반도체 광전자 장치 반도체 레이저 다이오드 유형 GJ9031T, GJ9032T 및 GJ9034T 세부 사양
- SJ 2354.8-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 펄스 상승 및 하강 시간 테스트 방법
- SJ 50033/110-1996 반도체 광전자소자 GR9413형 적외선 방출다이오드 상세사양
- SJ 2215.5-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 역항복 전압 테스트 방법
- SJ 53930/1-2002 반도체 광전자 장치 GR8813 적외선 방출 다이오드 유형의 상세 사양
- SJ 2658.4-1986 반도체 적외선 발광다이오드의 시험방법, 정전용량의 시험방법
- SJ 1391-1978 노이즈 다이오드의 냉전압 정재파 계수 시험 방법
- SJ/T 10947-1996 전자부품 FG341052, FG343053형 반도체 녹색발광다이오드 상세사양
- SJ 2658.3-1986 반도체 적외선 발광다이오드 시험방법 역전압 시험방법
- SJ 2658.13-1986 반도체 적외선 발광다이오드의 시험방법, 출력광전력의 온도계수 시험방법
- SJ/T 2658.16-2016 반도체 적외선 방출 다이오드의 측정 방법 제16부: 광전 변환 효율
- SJ/T 10948-1996 전자부품 FG313052, FG314053, FG313054, FG314055형 반도체 적색발광다이오드 상세사양
- SJ 2658.5-1986 반도체 적외선 발광 다이오드 테스트 방법 순방향 직렬 저항 테스트 방법
Professional Standard - Machinery, 포토다이오드 시스템
CZ-CSN, 포토다이오드 시스템
International Electrotechnical Commission (IEC), 포토다이오드 시스템
Professional Standard - Post and Telecommunication, 포토다이오드 시스템
邮电部, 포토다이오드 시스템
American National Standards Institute (ANSI), 포토다이오드 시스템
Group Standards of the People's Republic of China, 포토다이오드 시스템
Society of Automotive Engineers (SAE), 포토다이오드 시스템
- SAE J2650-2005 도로 조명 설치 시스템의 발광 다이오드에 대한 성능 요구 사항
- SAE J2650-2013 도로 조명 설치 시스템의 발광 다이오드(LED)에 대한 성능 요구 사항
- SAE AS81714/21-2012 터미널 터미널 시스템, 터미널 블록, 전자 장치, 푸시인 배선, 통합 다이오드, 시리즈 I
- SAE AS81714/21B-2021 터미널 터미널 시스템, 터미널 블록, 분할형, 전자 푸시인 배선, 다이오드, 시리즈 I
- SAE AS81714/24-2012 터미널 블록 시스템, 터미널 블록, 세그먼트형, 전자, 푸쉬-인 배선, 이중, 통합 다이오드, 시리즈 I
- SAE AS81714/24B-2021 단자 배선 시스템, 단자대, 분할된 전자 푸시인 배선, 이중, 통합 다이오드, 시리즈 I
SAE - SAE International, 포토다이오드 시스템
PT-IPQ, 포토다이오드 시스템
NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 포토다이오드 시스템
RO-ASRO, 포토다이오드 시스템
PL-PKN, 포토다이오드 시스템
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 포토다이오드 시스템
Defense Logistics Agency, 포토다이오드 시스템
- DLA MIL-DTL-3976/1 B-2007 발광 다이오드(LED), 위치 조명 - 전원 끄기, 14 및 28볼트
- DLA MIL-DTL-28803/1 E-2013 디스플레이, 광전자공학, 세그먼트 판독, 백라이트, STYLE II(발광 다이오드), RFI 차폐, 내습 밀봉, 고충격, 유형 R01
- DLA MIL-PRF-22885/113-2008 스위치, 버튼, 조명, 1.17 x 0.96, 발광 다이오드(LED), 태양광 판독 가능, 전압 조정 가능, 야간 투시경 호환, EMC 호환, 공통 단자 시스템(CTS), SPDT, DPDT, 4PDT, 논리 레벨 ~ 7.5A , 방적, 물
- DLA MIL-PRF-22885/112 A-2013 스위치, 푸시 버튼, 백색 발광 다이오드(LED) 조명, 표준, 야간 투시 이미징 시스템(NVIS) 및 햇빛 판독 가능 디스플레이, 밝기 조절 가능, SPDT 및 DPDT, 최저 7Amp, 밀봉 및 비밀폐, 납땜 및 범용 단자 시스템(C )
- DLA MIL-PRF-22885/113 (1)-2008 스위치, 버튼, 조명, 1.17 x 0.96, 발광 다이오드(LED), 태양광 판독 가능, 전압 조정 가능, 야간 투시경 호환, EMC 호환, 공통 단자 시스템(CTS), SPDT, DPDT, 4PDT, 논리 레벨 ~ 7.5A , 방적, 방수
International Organization for Standardization (ISO), 포토다이오드 시스템
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 포토다이오드 시스템
RU-GOST R, 포토다이오드 시스템
IEC - International Electrotechnical Commission, 포토다이오드 시스템
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 포토다이오드 시스템
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 포토다이오드 시스템
GB-REG, 포토다이오드 시스템
Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, 포토다이오드 시스템
KR-KS, 포토다이오드 시스템
API - American Petroleum Institute, 포토다이오드 시스템
National Electrical Manufacturers Association(NEMA), 포토다이오드 시스템
Danish Standards Foundation, 포토다이오드 시스템
GOSTR, 포토다이오드 시스템
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 포토다이오드 시스템
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 포토다이오드 시스템
Standard Association of Australia (SAA), 포토다이오드 시스템
- IEC 62149-3:2023 광섬유 능동 구성요소 및 장치 - 성능 표준 - 3부: 40Gbit/s 광섬유 전송 시스템용 변조기 통합 레이저 다이오드 송신기
United States Navy, 포토다이오드 시스템
Professional Standard - Electricity, 포토다이오드 시스템
BE-NBN, 포토다이오드 시스템