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DE질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
모두 152항목의 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 금속 재료 테스트, 종합 전자 부품, 육류, 육류 제품 및 기타 동물성 식품, 수질, 낚시와 양식업, 환경 보호, 건강 및 안전, 도로 차량 장치, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 식품종합, 반도체 개별 장치, 농업 및 임업, 금속 광석, 전기공학종합, 쓰레기, 유기화학, 토양질, 토양과학, 지질학, 기상학, 수문학, 약국, 식품과 접촉하는 품목 및 재료, 의료 장비, 검은 금속, 비철금속 제품, 비철금속, 도체 재료, 파라핀, 역청물질 및 기타 석유제품, 환경 보호, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 공기질, 장애인용 장비, 세라믹, 반도체 소재.
International Organization for Standardization (ISO), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- ISO/TS 22933:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 시뮬레이션된 이온 질량 분석법에서 질량 분해능을 측정하는 방법.
- ISO 28540:2011 수질 물 속의 16가지 다환 방향족 탄화수소(PAH) 측정 질량 크로마토그래피 검출을 사용한 가스 크로마토그래피 분석
- ISO 178:1975 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
- ISO 17862:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
- ISO 17862:2013 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석법 - 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링의 선형성
- ISO 178:2019 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
- ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- ISO 17560:2002 표면 화학 분석 재생된 이온 질량의 분광학 측정 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 방법
- ISO 15192:2010 토양의 질 분광광도계 검출을 이용한 알칼리 분해 및 이온 크로마토그래피를 통해 토양 물질의 크롬(VI) 함량을 측정합니다.
- ISO 15192:2021 토양의 질 분광광도계 검출을 이용한 알칼리 분해 및 이온 크로마토그래피를 통해 토양 물질의 크롬(VI) 함량을 측정합니다.
- ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- ISO 18635:2016 수질 침전물, 하수 슬러지 및 부유 물질(미립자)에서 단쇄 폴리염화 트리페닐란(SCCP) 측정 가스 크로마토그래피 질량 분석법(GC-MS) 및 전자 포획 음이온화(ECNI) 방법
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- GB/T 37049-2018 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 통한 전자 등급 폴리실리콘의 매트릭스 금속 불순물 함량 측정
- GB/T 39560.6-2020 전기 및 전자 제품의 특정 물질 측정 6부: 가스 크로마토그래피-질량 분석법(GC-MS)을 통한 중합체 내 폴리브롬화 비페닐 및 폴리브롬화 디페닐 에테르 측정
- GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법
- GB/T 37160-2019 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법을 통한 중유, 잔류 오일 및 원유의 미량 금속 원소 측정
Group Standards of the People's Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
Professional Standard - Commodity Inspection, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
Jinlin Provincial Food Standard of the People's Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
KR-KS, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
International Electrotechnical Commission (IEC), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- IEC 62321-10:2020 전기 제품의 특정 물질 측정 - 파트 10: 가스 크로마토그래피-질량 분석법(GC-MS) 폴리머 및 전자 제품의 다환 방향족 탄화수소(PAH)
国家质量监督检验检疫总局, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
American Society for Testing and Materials (ASTM), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- ASTM D8469-22 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 이용한 대마초 매트릭스의 다중 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D846-84 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 이용한 대마초 매트릭스의 다중 원소 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM F1593-97 고품질 분해능 글로우 방전 질량 분석법을 사용하여 전자 등급 알루미늄의 미량 금속 불순물을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM F1593-97(2002) 고품질 분해능 글로우 방전 질량 분석법을 사용하여 전자 등급 알루미늄의 미량 금속 불순물을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM F1710-08 고품질 분해능 글로우 방전 질량 분석법을 사용하여 전자 등급 티타늄의 미량 금속 불순물을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM F1593-08(2016) 고질량 분해능 글로우 방전 질량 분석법을 사용하여 전자 등급 알루미늄의 미량 금속 불순물을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM F1710-08(2016) 고질량 분해능 글로우 방전 질량 분석법을 사용하여 전자 등급 티타늄의 미량 금속 불순물을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM F1593-08 고품질 분해능 글로우 방전 질량 분석법을 사용하여 전자 등급 알루미늄의 미량 금속 불순물을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM UOP1037-20 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 통한 액화 석유 가스 내 미량 금속 분석
- ASTM F1710-97 고분해능 발광 질량분석법을 사용한 전자 등급 티타늄의 미량 금속 불순물에 대한 표준 테스트 방법
- ASTM F1710-97(2002) 고분해능 발광 질량분석법을 사용한 전자 등급 티타늄의 미량 금속 불순물에 대한 표준 테스트 방법
- ASTM F1845-08(2016) 고질량 분해능 글로우 방전 질량 분석법을 사용하여 전자 등급 알루미늄-구리, 알루미늄-실리콘 및 알루미늄-구리-실리콘 합금의 미량 금속 불순물에 대한 표준 테스트 방법
未注明发布机构, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- DIN ISO 28540 E:2013-03 수질 - 물 속의 16종 다환방향족탄화수소(PAH) 측정 - 질량분석법 검출이 포함된 가스 크로마토그래피를 사용하는 방법(GC-MS)
- DIN EN ISO 12010 E:2013-12 Water quality Determination of short-chain polychlorinated triphenylane (SCCP) in water by gas chromatography mass spectrometry (GC-MS) and negative ion chemical ionization (NCI) (draft)
- DIN EN ISO 12010 E:2018-03 Water quality Determination of short-chain polychlorinated triphenylane (SCCP) in water by gas chromatography mass spectrometry (GC-MS) and negative ion chemical ionization (NCI) (draft)
- DIN EN ISO 18635 E:2014-12 Water quality Determination of short-chain polychlorinated triphenylane (SCCP) in water sediments, sewage sludge and suspended (particulate) matter by gas chromatography mass spectrometry (GC-MS) and electron capture negative ionization (ECNI) method (dra
- DIN 50451-3 E:2012-11 반도체 기술용 재료 테스트 - 액체 내 미량 원소 측정 - 3부: 질산의 알루미늄(Al), 코발트(Co), 구리(Cu), 나트륨(Na), 니켈(Ni) 및 아연(Zn) ICP-MS로
- DIN EN 15991 E:2014-07 세라믹 및 기본 재료 테스트 - 전열 기화(ETV)와 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법(ICP OES)을 사용하여 탄화규소 분말 및 과립의 불순물 질량 분율을 직접 측정합니다.
Association Francaise de Normalisation, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
British Standards Institution (BSI), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- BS ISO 17862:2022 표면 화학 분석 2차 이온 질량분석기 분석 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 스케일링 선형성
- BS ISO 12010:2012 수질 물 속의 단쇄 폴리염화 알칸(SCCP) 측정 가스 크로마토그래피-질량 분석법(GC-MS) 및 음이온 화학 이온화(NCI)를 통한 측정
- 19/30342888 DC BS EN 62321-10 전기 제품의 특정 물질 측정 파트 10: 가스 크로마토그래피-질량 분석법(GC-MS)을 통한 폴리머 및 전자 제품의 다환 방향족 탄화수소(PAH)
- BS ISO 17560:2002 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
- BS ISO 17560:2014 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
- 20/30409963 DC BS ISO 17862 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 단일 이온 계수 비행 시간 질량 분석기의 강도 척도 선형성
- BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
- BS EN 15527:2008 폐기물 특성화 가스 크로마토그래피 질량 분석(GC/MS)을 통한 폐기물 내 다환 방향족 탄화수소(PAH) 측정
- BS EN ISO 15192:2021 분광 광도계 검출 기능을 갖춘 알칼리 분해 및 이온 크로마토그래피를 사용하여 토양 물질의 크롬(VI) 함량 측정
- BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- BS EN 13615:2001(2002) 주석 잉곳의 분석 방법은 원자 분광법을 통해 주석 등급 99.90% 및 99.85%의 불순물 원소 함량을 결정하는 것입니다.
- BS EN ISO 18635:2016 수질 침전물, 하수 슬러지 및 부유(미립자) 물질에서 단쇄 폴리염화 트리페닐란(SCCP) 측정 가스 크로마토그래피 질량 분석법(GC-MS) 및 전자 포획 음이온화(ECNI) 방법
- BS ISO 22415:2019 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 분석 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일링의 수율 결정 방법
- BS ISO 16740:2005 작업장 공기 공기 중 미립자 물질의 6가 크롬 측정 디페닐카바진을 사용한 이온 크로마토그래피 및 분광 광도 측정
- BS EN 15991:2011 세라믹 원료 및 기본 재료 테스트 전열 증발(ETV) 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-OES)을 사용하여 탄화규소 분말 및 입자의 불순물 질량 분율을 직접 측정
- BS EN 15991:2015 세라믹 원료 및 기본 재료 테스트 전열 증발(ETV) 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-OES)을 사용하여 탄화규소 분말 및 입자의 불순물 질량 분율을 직접 측정
German Institute for Standardization, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- DIN ISO 28540:2014 수질 물 속의 16가지 다환 방향족 탄화수소(PAH) 측정 질량 크로마토그래피 검출 기능이 있는 가스 크로마토그래피(GC-MS)를 사용하는 방법(ISO 28540-2011)
- DIN EN ISO 12010:2014 수질 물 속 단쇄 폴리염화 트리페닐란(SCCP) 측정 가스 크로마토그래피 질량 분석법(GC-MS) 및 음이온 화학 이온화(NCI)(ISO 12010-2012), 독일 버전 EN ISO 12010-2014
- DIN EN 13615:2002-04 주석 잉곳 분석 방법 원자 분광법을 이용한 99.90% 및 99.85% 주석 등급의 불순물 원소 함량 측정 독일 버전 EN 13615:2001
- DIN EN 15991:2016-02 세라믹 및 기본 재료 테스트 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법을 사용하여 탄화규소 분말 및 과립의 불순물 질량 분율을 직접 측정
- DIN EN ISO 18635:2016 수질 침전물, 하수 슬러지 및 부유(미립자) 물질에서 단쇄 폴리염화 트리페닐란(SCCP) 측정 가스 크로마토그래피 질량 분석법(GC-MS) 및 전자 포획 음이온화(ECNI) 방법(ISO 18635-2016) .독일어 버전 EN ISO 18635-2016
- DIN 51456:2013-10 반도체 기술 재료 테스트 수용성 분석 용액의 다원소 측정을 위해 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 사용하여 실리콘 웨이퍼의 표면 분석
- DIN 50451-4:2024-01 반도체 기술 재료 테스트 액체의 미량 원소 측정 4부: 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 통한 초순수 내 34개 원소 측정
- DIN 50451-4:2007-02 반도체 기술 재료 테스트 액체의 미량 원소 측정 4부: 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 통한 초순수 내 34개 원소 측정
- DIN 51457:2017 세라믹 원료 및 기본 재료 테스트 유도 결합 플라즈마(ICP OES) 광학 방출 분광법 및 전열 증발을 사용하여 흑연 분말, 과립 및 응집체의 미량 불순물 질량 분율을 직접 측정합니다.
- DIN 51457:2023-11 세라믹 원료 및 세라믹 재료 테스트 유도 결합 플라즈마(ICP OES) 및 전열 방출 분광법을 사용하여 분말, 입상 및 벌크 흑연의 미량 불순물 질량 분율을 직접 측정
- DIN 50451-3:2003 반도체 공정에 사용되는 재료 테스트 액체 내 미량 원소 측정 3부: 알루미늄(AL), 코발트(Co), 구리(Cu), 나트륨(Na), 니켈(Ni) 및 아연(Zn) 함량 측정
- DIN 50451-3:2014 반도체 공정을 위한 재료 테스트 액체 내 미량 원소 측정 3부: 유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)을 사용한 고순도 질산의 31개 원소 측정
- DIN EN 62321-3-2:2014 전기기술 제품의 특정 물질 측정 3-2부: 스크리닝 연소 방법을 사용한 고분자 및 전자 제품의 총 브롬 측정 이온 크로마토그래피(IEC 62321-3-2-2013), 독일 버전 EN 62321-3-2 -2014
- DIN 51852-3:2023-05 내부 연소 엔진 냉각수 - 테스트 방법 - 3부: 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP OES)을 통한 첨가제 및 불순물의 원소 함량 직접 측정
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
RU-GOST R, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
Standard Association of Australia (SAA), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
ES-UNE, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
AT-OVE/ON, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- OVE EN IEC 62321-10:2020 전기 제품의 특정 물질 측정 파트 10: 가스 크로마토그래피-질량 분석법 GC-MS IEC 111/575F 영어 버전 폴리머 및 전자 제품의 다환 방향족 탄화수소 PAH 측정
Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
European Committee for Standardization (CEN), 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- EN ISO 15192:2021 토양의 질 분광광도계 검출을 이용한 알칼리 분해 및 이온 크로마토그래피를 통해 토양 물질의 크롬(VI) 함량을 측정합니다.
- EN 15991:2011 세라믹 원료 및 기본 재료 테스트 전열 증발(ETV) 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-OES)을 사용하여 탄화규소 분말 및 입자의 불순물 질량 분율을 직접 측정
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
海关总署, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- SN/T 5323-2021 식품 접촉 물질, 고분자 물질, 플라스틱, 액체 크로마토그래피-탠덤 질량 분석법에서 파라벤의 이동량 측정
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- YS/T 34.1-2011 고순도 비소의 화학적 분석방법 유도결합플라즈마질량분석기(ICP-MS)를 이용한 고순도 비소의 불순물 함량 측정
PL-PKN, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
国家食品药品监督管理局, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- YY/T 1507.2-2016 수술용 임플란트용 초고분자량 폴리에틸렌 분말의 불순물 원소 측정 2부: 이온 크로마토그래피를 통한 염소(Cl) 원소 함량 측정
Danish Standards Foundation, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- DS/EN 13615/AC:2003 주석 잉곳의 분석 방법은 원자 분광법을 통해 주석 등급 99.90% 및 99.85%의 불순물 원소 함량을 결정하는 것입니다.
- DS/EN 13615:2002 주석 잉곳의 분석 방법은 원자 분광법을 통해 주석 등급 99.90% 및 99.85%의 불순물 원소 함량을 결정하는 것입니다.
- DS/EN 15991:2011 세라믹 및 기본 재료 테스트 ICP OES(유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법) 및 ETV(전열 기화)를 사용하여 탄화규소 분말 및 과립의 불순물 질량 분율을 직접 측정합니다.
Lithuanian Standards Office , 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- LST EN 13615-2002 주석 잉곳의 분석 방법은 원자 분광법을 통해 주석 등급 99.90% 및 99.85%의 불순물 원소 함량을 결정하는 것입니다.
- LST EN 13615-2002/AC-2003 주석 잉곳의 분석 방법은 원자 분광법을 통해 주석 등급 99.90% 및 99.85%의 불순물 원소 함량을 결정하는 것입니다.
- LST EN 62321-3-2-2014 전기기술 제품의 특정 물질 측정 3-2부: 스크리닝 연소 방법을 사용한 폴리머 및 전자 제품의 총 브롬 측정 이온 크로마토그래피(IEC 62321-3-2-2013)
- LST EN 15991-2011 세라믹 및 기본 재료 테스트 ICP OES(유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법) 및 ETV(전열 기화)를 사용하여 탄화규소 분말 및 과립의 불순물 질량 분율을 직접 측정합니다.
ZA-SANS, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- SANS 163-2:1995 수질. 액체 크로마토그래피에 의한 용해된 음이온 함량 측정. 파트 2: 폐수 내 브롬화물 이온, 염화물 이온, 질산염 이온, 아질산염 이온 및 오르토인산염 이온 측정
ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- TS 102 250-8-1-2018 음성 및 멀티미디어 전송 품질(STQ), 모바일 네트워크에서 널리 사용되는 서비스의 QoS 측면, 파트 8: 서비스 품질 매개변수 및 해당 계산의 공식 정의, 하위 파트 1: 일반 측면 및 용어(V1.1.1)
Association of German Mechanical Engineers, 질량 스펙트럼의 분자량은 44입니다.
- VDI 2267 Blatt 16-2007 먼지 침전물의 일부인 As, Cd, Co, Cr, Cu, Ni, Pb, Sb, V 및 Zn의 질량 농도를 측정하여 원자 흡수 분광법(AAS)을 통해 대기 중 부유 물질 측정