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각도 X선 산란

모두 4항목의 각도 X선 산란와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 각도 X선 산란와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 입자 크기 분석, 스크리닝, 길이 및 각도 측정.

International Organization for Standardization (ISO), 각도 X선 산란

• ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
• ISO 20804:2022 소각 X선 산란(SAXS)을 통한 다공성 및 미립자 시스템의 비표면적 측정

British Standards Institution (BSI), 각도 X선 산란

• BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법

RU-GOST R, 각도 X선 산란

• GOST R 8.698-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 나노입자 및 필름의 공간 매개변수 소각 X선 산란 회절계를 사용한 측정 방법

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