캐리어 밀도를 측정하는 방법

모두 55항목의 캐리어 밀도를 측정하는 방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 캐리어 밀도를 측정하는 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 금속 재료 테스트, 반도체 소재, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 전자기 호환성(EMC), 방사선 측정, 원자력공학, 분석 화학, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 도체 재료.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

GB/T 8757-2006 갈륨비소의 캐리어 농도에 대한 플라즈마 공명 측정 방법
GB/T 37543-2019(英文版) DC 전송선 및 변환기 스테이션의 총 전계 강도 및 이온 전류 밀도 측정 방법
GB/T 11068-2006 갈륨비소 에피택셜층 캐리어 농도 용량-전압 측정 방법
GB 11068-1989 갈륨비소 에피택셜층 캐리어 농도 용량-전압 측정 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 캐리어 밀도를 측정하는 방법

ASTM F1392-00 수은 프로브를 사용한 정전 용량-전압 측정을 통해 실리콘 웨이퍼의 순 캐리어 밀도 분포를 결정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1393-92(1997) 수은 프로브가 있는 밀링 머신 피드백 마스터 툴 측정 머신을 사용하여 실리콘의 순 캐리어 밀도를 결정하는 테스트 방법
ASTM E265-98 황-32의 방사능을 이용한 빠른 중성자 자속밀도 및 반응속도 측정 시험방법
ASTM E265-98(2002) 황-32의 방사능을 이용한 빠른 중성자 자속밀도 및 반응속도 측정 시험방법
ASTM E265-07e1 황-32의 방사능을 이용한 빠른 중성자 자속밀도 및 반응속도 측정 시험방법
ASTM E265-07 방사성 황-32를 이용한 빠른 중성자 자속밀도 및 반응속도 측정을 위한 표준시험방법
ASTM F398-92(1997) 플라즈몬 공명의 최소 파수 또는 파장을 측정하여 반도체의 다수 캐리어 농도를 결정하는 표준 테스트 방법
ASTM F391-96 정상 상태 표면 광전압 측정을 통해 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이를 결정하기 위한 표준 테스트 방법

RO-ASRO, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

STAS 11071/21-1990 측정 장비 레벨. 열중성자 유체 밀도 측정 장비의 계층적 블록 다이어그램

British Standards Institution (BSI), 캐리어 밀도를 측정하는 방법

BS EN 60512-5-2:2002 전자 장비용 커넥터 시험 및 측정 통전 용량 시험 시험 5b 전류 온도 강하
PD IEC TS 62607-5-3:2020 나노 제조의 주요 제어 특성 박막 유기/나노전자 장치의 캐리어 농도 측정
BS EN IEC 61788-17:2021 대면적 초전도막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포에 대한 초전도 전자 특성 측정
BS ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 광전자 분광법(XPS) 및 원자 방출 분광법(AES)의 깊이 프로파일링에서 이온 빔 교정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
BS ISO 16531:2020 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES 및 XPS의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 정렬 방법 및 관련 전류 또는 전류 밀도 측정 방법
19/30399949 DC BS ISO 16531 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 정렬 방법 및 AES 및 XPS의 깊이 프로파일링을 위한 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법
19/30391554 DC BS EN 61788-17. 초전도. 파트 17: 전자 특성 측정. 대면적 초전도막의 국부적 임계전류밀도 및 분포

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

GB/T 37543-2019 DC 전송선 및 변환기 스테이션의 결과적인 전계 강도 및 이온 전류 밀도를 측정하는 방법
GB/T 39843-2021 전자 특성은 대면적 초전도막의 국부적 임계 전류 밀도 및 분포를 측정합니다.

AENOR, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

UNE-EN 60512-5-2:2002 전자 장비 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 전류 운반 용량 테스트 테스트 5b: 전류-온도 감소

RU-GOST R, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

GOST 8.105-1980 ГСИ. 핵물리 시설에서 중성자 자속 밀도와 유량을 측정하는 장비를 위한 국가 특별 기준 장비 및 전 소련 교정 시스템
GOST 8.033-1984 ГСИ 방사성 핵종 및 입자 흐름의 활동에 대한 국가 계측 시스템의 국가 교정 시스템 다이어그램 및 방사성 핵종 소스의 α, β 입자 흐름 및 광자 흐름에 대한 밀도 측정 장비
GOST 8.033-1996 ГСИ 방사성 핵 및 입자 흐름의 활동에 대한 국가 계측 시스템의 국가 교정 시스템 다이어그램 및 방사성 핵원의 α, β 입자 흐름 및 광자 흐름에 대한 밀도 측정 장비

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 캐리어 밀도를 측정하는 방법

KS C IEC 60512-5-2:2003 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 전류용량 테스트 테스트 5b: 전류 온도 강하
KS C IEC 60512-5-2:2014 전자 장비용 커넥터의 시험 및 측정 5-2부: 통전 용량 시험 시험 5b 전류 온도 강하
KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) 전자 장비용 커넥터의 시험 및 측정 제5-2부: 통전 용량 시험 시험 5b: 전류 온도 경감
KS C IEC 61788-17:2020 초전도성 - 17부: 전자 특성 측정 - 대면적 초전도막의 국부적 임계 전류 밀도 및 분포

International Electrotechnical Commission (IEC), 캐리어 밀도를 측정하는 방법

IEC 60512-5-2:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 통전 용량 테스트 테스트 5b: 전류 온도 강하
IEC TS 62607-5-3:2020 나노제조 핵심 제어 특성 5-3부: 박막 유기/나노전자 소자의 전하 캐리어 농도 측정
IEC 61788-17:2021 초전도 17부: 대면적 초전도 박막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포의 전자 특성 측정
IEC 61788-17:2021 RLV 초전도 17부: 대면적 초전도 박막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포의 전자 특성 측정

Association Francaise de Normalisation, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 전류용량 테스트 테스트 5b: 현재 온도 강하 값
NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 초전도 17부: 대면적 초전도 박막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포의 전자 특성 측정
NF EN IEC 61788-17:2021 초전도성 - 17부: 전자 특성 측정 - 국부적 임계 전류 밀도 및 대형 표면 초전도 박막의 분포

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 캐리어 밀도를 측정하는 방법

JIS C 5402-5-2:2005 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 통전 용량 테스트 테스트 5b: 전류 온도 강하

Professional Standard - Electron, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

SJ 3244.1-1989 갈륨비소 및 인듐인화물의 홀 이동도 및 캐리어 농도를 측정하는 방법

Lithuanian Standards Office , 캐리어 밀도를 측정하는 방법

LST EN 60512-5-2-2003 전자 장비 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 전류 전달 용량 테스트 테스트 5b: 전류 온도 경감(IEC 60512-5-2:2002)
LST EN IEC 61788-17:2021 초전도 파트 17: 전자 특성 대면적 초전도 박막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포 측정(IEC 61788-17:2021)

German Institute for Standardization, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

DIN EN 60512-5-2:2003-01 전자 장비용 커넥터 - 테스트 및 측정 - 파트 5-2: 전류 전달 용량 테스트, 테스트 5b: 전류 온도 경감(IEC 60512-5-2:2002)
DIN EN 60512-5-2:2003 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 전류 전달 용량 테스트 테스트 5b: 전류 온도 강하(IEC 60512-5-2:2002), 독일어 버전 EN 60512-5-2:2002

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

GB/T 34326-2017 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES 및 XPS 깊이 프로파일링 이온빔 정렬 방법 및 해당 빔 또는 빔 밀도 측정 방법

Danish Standards Foundation, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

DS/EN 60512-5-2:2002 전자 장비 커넥터의 테스트 및 측정 5-2부: 전류 운반 용량 테스트 테스트 5b: 전류-온도 경감
DS/EN IEC 61788-17:2021 초전도 17부: 대면적 초전도막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포의 전자 특성 측정
DS/EN 61788-17:2013 초전도 17부: 대면적 초전도 박막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포의 전자 특성 측정

International Organization for Standardization (ISO), 캐리어 밀도를 측정하는 방법

ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES(원자 방출 분광학) 및 XPS(광전자 분광학)의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 보정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
ISO 16531:2020 표면 화학 분석 - 깊이 분석 - 이온빔 정렬 방법 및 관련 전류 또는 전류 밀도 측정은 AES 및 XPS의 깊이 분석에 사용됩니다.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

EN 60512-5-2:2002 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 5-2: 전류 전달 용량 테스트 테스트 5b: 전류 온도 강하 IEC 60512-5-2:2002
EN IEC 61788-17:2021 초전도 17부: 대면적 초전도 박막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포의 전자 특성 측정
EN 61788-17:2013 초전도 17부: 대면적 초전도 박막의 국부 임계 전류 밀도 및 분포의 전자 특성 측정

ES-UNE, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

UNE-EN IEC 61788-17:2021 초전도 17부: 대면적 초전도박막의 국부적 임계전류밀도 및 분포의 전자특성 측정
UNE-EN 61788-17:2013 초전도 17부: 대면적 초전도박막의 국부적 임계전류밀도 및 분포의 전자특성 측정

KR-KS, 캐리어 밀도를 측정하는 방법

KS C IEC 61788-17-2020 초전도성 - 17부: 전자 특성 측정 - 대면적 초전도막의 국부적 임계 전류 밀도 및 분포