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자유 낙하

모두 28항목의 자유 낙하와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 자유 낙하와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 사진 기술, 환경 테스트, 전기 및 전자 테스트, 상품의 종합 포장 및 운송, 항공우주 전기 장비 및 시스템, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 광산 장비, 광학 장비.

Professional Standard - Machinery, 자유 낙하

• JB/T 8250.4-1999 카메라 자유 낙하 테스트 방법
• JB/T 9444.8-1999 복사기의 기본 환경 테스트 방법 Test Ec: 자유 낙하 테스트

British Standards Institution (BSI), 자유 낙하

• BS EN 60068-2-32:1993 환경 테스트 테스트 방법 테스트 교육 자유 낙하

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 자유 낙하

• JIS C 60068-2-32:1995 환경 테스트 2부: 테스트 테스트 교육: 자유 낙하
• JIS C 5402-7-1:2016 전자 장비용 커넥터 테스트 및 측정 파트 7-1: 충격 테스트(프리 커넥터) 테스트 7a: 자유 낙하(반복성)

工业和信息化部, 자유 낙하

• JB/T 13702.5-2019 카메라 환경 테스트 5부: 자유 낙하 테스트

TH-TISI, 자유 낙하

• TIS 2380.2-32-2013 기본 환경 테스트 2부: 테스트 테스트 교육: 자유 낙하

German Institute for Standardization, 자유 낙하

• DIN 55441-2:1998-05 포장 테스트 - 충격 테스트 - 2부: 플라스틱 병의 자유 낙하
• DIN EN 2591-421:2003 항공우주 시리즈 광전자 연결 부품 테스트 방법 파트 421: 자유 낙하

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 자유 낙하

• KS C 0244-2001 환경 테스트 방법, 전기 및 전자 제품, 자유 낙하 테스트 방법

CZ-CSN, 자유 낙하

• CSN 77 0912-1985 완전히 채워진 완전한 배송 포장입니다. 유통 시스템의 자유 낙하 위험

NL-NEN, 자유 낙하

• NEN 10068-2-32-1993 기본 환경 테스트 절차. 2부: 실험. 테스트 에디션: 자유 낙하

Association Francaise de Normalisation, 자유 낙하

• NF C20-732:1994 기본 환경 테스트 절차 2부: 테스트 교육 테스트: 자유 낙하

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 자유 낙하

• HD 323.2.32 S1-1988 기본 환경 테스트 절차 파트 2: 테스트 테스트 Ed: 자유 낙하

Professional Standard - Aviation, 자유 낙하

• HB 5871.4-1985 항공 보조 항공기 제품의 운송 패키지 테스트 방법 자유 낙하 테스트

International Electrotechnical Commission (IEC), 자유 낙하

• IEC 60068-2-32:1975 기본 환경 테스트 절차 파트 2-32: 테스트 테스트 Ed: 자유 낙하
• IEC 60068-2-32:1975/AMD2:1990 기본 환경 테스트 절차 파트 2-32: 테스트 테스트 Ed: 자유 낙하 수정 2

Professional Standard - Electron, 자유 낙하

• SJ/Z 9001.26-1987 기본 환경 테스트 절차 파트 2: 다양한 테스트 테스트 Ed: 자유 낙하

Professional Standard - Commodity Inspection, 자유 낙하

• SN/T 2498.2-2010 수출입 불꽃놀이 및 폭죽 제품에 대한 기본 환경 시험 규격 시험 Ed : 자유낙하

Professional Standard - Petroleum, 자유 낙하

• SY/T 5422-1991 석유 탐사 및 개발 장비 테스트 F에 대한 기본 환경 테스트 방법: 자유 낙하 테스트

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 자유 낙하

• GB/T 2423.8-1995 전기전자제품의 환경시험 2부, 시험방법 시험편: 자유낙하
• GB/T 12085.13-2010 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 13: 충격, 충돌 또는 자유 낙하 및 고온 및 저온 종합 테스트

RU-GOST R, 자유 낙하

• GOST 28218-1989 외부요인의 영향을 받는 주요 시험방법 제2부 시험 시험편 자유낙하

Aerospace, Security and Defence Industries Association of Europe (ASD), 자유 낙하

• ASD-STAN PREN 2591-421-1996 항공우주 시리즈. 전기 및 광학 연결 구성 요소. 실험 방법. 421부: 자유 낙하, 에디션 P1

Professional Standard - Geology, 자유 낙하

• DZ 29.3-1984 지질 장비 제품의 운송 포장에 대한 기본 환경 테스트 조건 및 방법 운송 포장에 대한 자유 낙하 테스트
• DZ 0040.4-1992 지질 장비 제품의 운송 포장에 대한 기본 환경 테스트 조건 및 방법 운송 포장에 대한 자유 낙하 테스트

International Organization for Standardization (ISO), 자유 낙하

• ISO 9022-13:1998 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 13: 건열 또는 건냉기와 결합된 충격, 충돌 또는 자유 낙하

CU-NC, 자유 낙하

• NC 97-52-1984 패키지. 자유로운 수직 낙하 충격. 테스트 방법

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