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대형 레이저형 전자현미경

모두 67항목의 대형 레이저형 전자현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 대형 레이저형 전자현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 수력공학, 통합 서비스 디지털 네트워크(ISDN), 집적 회로, 마이크로 전자공학, 통신 종합, 전자기 호환성(EMC), 무선 통신, 과일, 야채 및 그 제품, 용접, 브레이징 및 저온 용접, 반도체 개별 장치, 항공우주 제조용 재료, 방사선 측정, 소방, 전기공학종합.


Group Standards of the People's Republic of China, 대형 레이저형 전자현미경

国家能源局, 대형 레이저형 전자현미경

CZ-CSN, 대형 레이저형 전자현미경

Lithuanian Standards Office , 대형 레이저형 전자현미경

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 대형 레이저형 전자현미경

  • PRETS 300 127-1993 장비 엔지니어링(EE), 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트
  • PRETS 300 127-1991 장비 엔지니어링(EE), 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트
  • ETS 300 127-1994 장비 엔지니어링(EE), 대형 통신 시스템의 방사 방출 테스트
  • ETSI EN 300 127:1999 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 물리학 방사 방출 테스트(V1.2.1)
  • ETSI EN 300 127:1998 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 물리학 방사 방출 테스트(V1.2.1)

Defense Logistics Agency, 대형 레이저형 전자현미경

  • DLA SMD-5962-98636 REV C-2003 미세 회로, 선형, 방사선 경화, J형 전계 효과 입력 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
  • DLA SMD-5962-98539-2000 미세회로, 선형, 방사선 경화, 단일 고속, 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
  • DLA SMD-5962-98639 REV D-2007 초소형 회로, 선형, 방사선 경화, 초저 오프셋 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
  • DLA SMD-5962-98533 REV C-2005 마이크로 회로, 선형, 방사선 경화, 초저잡음 쿼드 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
  • DLA SMD-5962-95670 REV C-2003 방사선 경화 저전력 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-98637 REV D-2005 초소형 회로, 선형, 방사선 견고성, 단일 채널 저입력 전류 연산 증폭기, 외부 보상, 모놀리식 실리콘
  • DLA SMD-5962-95669 REV C-2005 방사선 하드 샘플링 및 홀딩 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-98518 REV A-2007 초소형 회로, 선형, 방사선 견고성, 비활성화 기능이 있는 저전력 전류 피드백 연산 증폭기, 모놀리식 실리콘
  • DLA SMD-5962-95684 REV C-2007 방사선 강화 쿼드 채널 프로그래밍 가능 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95687 REV C-2003 방사선 경화 저전력 프로그래밍 가능 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95671 REV B-2006 내방사성 다중 주파수 고저항 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-96767 REV C-2005 방사선 하드 프로그래밍 가능 입력 제한 전류 피드백 증폭기 실리콘 모놀리식 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96830 REV C-2004 방사선 경화 저전력 전류 피드백 비디오 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95686 REV B-2003 방사선 경화 내부 보상 높은 슬루율 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-88608 REV A-2004 실리콘 모놀리식 TTL 호환 10비트 돋보기 조정 가능한 빠른 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-88656 REV A-2004 실리콘 모놀리식 TTL 호환 9비트 돋보기 규제 고속 상보성 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95685 REV E-2007 방사선 경도 비보상 높은 슬루율 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95688 REV D-2007 방사선 방지 다중 주파수 고입력 임피던스 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-97512 REV D-2005 방사선 경화 이중 다중 주파수 고입력 임피던스 비보상 연산 증폭기, 실리콘 모놀리식 회로 라인 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-95690 REV F-2005 방사선 하드 보완 금속 산화물 반도체 쿼드 저잡음 연산 증폭기 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로 회로

YU-JUS, 대형 레이저형 전자현미경

  • JUS N.R1.172-1988 텔레비전 컬러 음극선관, 유형 30M. 전기적 특성. 최대값

Danish Standards Foundation, 대형 레이저형 전자현미경

  • DS/EN 300127 V1.2.1:2000 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 방사성 방출 테스트
  • DS/ETS 300127:1994 장비 엔지니어링(EE). 부피가 큰 통신 시스템의 방사 방출 테스트
  • DS/IEC 244-7A:1982 무선 송신기의 측정 방법. 7부: 1GHz 이상의 주파수에서 섀시 방사. 하위 파트 4: 중형 송신기. 하위 파트 5: 대형 송신기

International Telecommunication Union (ITU), 대형 레이저형 전자현미경

  • ITU-R REPORT SA.2166-2009 우주 연구 및 전파 천문학에 사용되는 대형 안테나의 방사 패턴 예
  • ITU-R SA.1345-1 SPANISH-2010 우주 연구 및 전파 천문학에 사용되는 대형 안테나의 방사 패턴 예측 방법
  • ITU-R SA.1345-2010 우주연구 및 전파천문학에 사용되는 대형 안테나의 방사 패턴 예측 방법
  • ITU-T V.34-1994 (철회) 범용 교환 전화망 및 임대 지점 간 2회선 전화 회선에서 사용하기 위한 데이터 신호 전송 속도(최대 전송 속도는 초당 28,800비트)

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), 대형 레이저형 전자현미경

  • ETSI PRETS 300 127-1991 장비 엔지니어링(EE) 대규모 통신 시스템의 무선 방출 테스트
  • ETSI PRETS 300 127-1993 장비 엔지니어링(EE) 대규모 통신 시스템의 무선 방출 테스트
  • ETSI EN 300 127-1999 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM) 대규모 통신 시스템의 방사 방출 테스트(버전 1.2.1)

SAE - SAE International, 대형 레이저형 전자현미경

  • SAE J1407-1982 대형 TEM 셀을 이용한 차량 전자파 민감도 테스트
  • SAE J1407-1988 대형 TEM 셀을 이용한 차량 전자파 민감도 테스트

Society of Automotive Engineers (SAE), 대형 레이저형 전자현미경

  • SAE J1407-1995 대형 TEM 셀을 이용한 차량 전자파 민감도 테스트

ES-UNE, 대형 레이저형 전자현미경

  • UNE-EN 300127 V1.2.1:2003 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), 대형 통신 시스템의 물리학 방사 방출 테스트

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 대형 레이저형 전자현미경

  • REPORT SA.2166-2009 우주 연구 및 전파 천문학에 사용되는 대형 안테나의 방사 패턴 예
  • ITU-R SA.1345-1998 우주 연구 및 전파 천문학에 사용되는 대형 안테나의 방사 패턴 예측 방법
  • ITU-R SA.1345-1-2010 우주연구 및 전파천문학에 사용되는 대형 안테나의 방사 패턴 예측 방법

Association Francaise de Normalisation, 대형 레이저형 전자현미경

  • NF EN 300127:2000 통신 - 전자파 적합성 및 무선 스펙트럼(ERM) - 대형 통신 시스템에서 방출되는 방사선과 관련된 테스트
  • NF Z87-127*NF EN 300127:2000 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 조건(ERM) 대규모 통신 시스템의 방사선 테스트를 위한 물리학

International Electrotechnical Commission (IEC), 대형 레이저형 전자현미경

  • IEC 60244-7A:1980 무선 송신기의 측정 방법 파트 7: 1GHz 이상의 주파수에서의 인클로저 방사선 보충 1: 섹션 4: 중형 송신기 섹션 5: 대규모 송신기
  • CISPR TR 16-2-5:2008 무선 간섭 및 내성 측정을 위한 기기 및 방법 사양 2-5부: 대형 장비에서 발생하는 간섭 방출의 현장 측정
  • CISPR TR 16-2-5-2008 무선 간섭 및 내성 측정을 위한 기기 및 방법 사양 2-5부: 대형 장비에서 발생하는 간섭 방출의 현장 측정
  • CISPR/TR 16-2-5-2008 무선 간섭 및 간섭 내성 측정 장비 및 방법에 대한 사양 2-5부: 대형 장비에서 발생하는 간섭 방사선의 현장 측정

European Association of Aerospace Industries, 대형 레이저형 전자현미경

  • AECMA PREN 2346-004-2001 작동 온도가 -65°C ~ 260°C 사이인 항공우주 시리즈 내화 케이블 부품 004: DN 제품군 단일 UV 레이저 인쇄 및 다중 코어 부착 장치 경량
  • AECMA PREN 2346-005-2005 항공우주 시리즈 내화 케이블의 작동 온도는 -65°C ~ 260°C입니다. 부품 005: DW 제품군 단일 UV 레이저 인쇄 및 다중 코어 부착 경량 제품 표준 P1 버전

British Standards Institution (BSI), 대형 레이저형 전자현미경

  • BS EN ISO 9692-1:2013 용접 및 관련 공정 접합 준비 유형 수동 금속 아크 용접, 가스 금속 아크 용접 및 가스 용접, 텅스텐 불활성 가스 아크 용접 및 강의 레이저 광 용접
  • PD CISPR/TR 16-2-5:2008 무선 교란 및 내성 측정 장비에 대한 사양 및 대형 물리적 장비에서 발생하는 간섭 방출의 현장 측정 방법

European Committee for Standardization (CEN), 대형 레이저형 전자현미경

  • EN ISO 9692-1:2013 용접 및 관련 공정 조인트 준비 유형 1부: 수동 금속 아크 용접, 가스 금속 아크 용접 및 가스 용접, 텅스텐 불활성 가스 아크 용접 및 강철의 레이저 광용접

International Organization for Standardization (ISO), 대형 레이저형 전자현미경

  • ISO 9692-1:2013 용접 및 관련 공정 접합 준비 유형 1부 수동 금속 아크 용접, 가스 금속 아크 용접 및 가스 용접, 텅스텐 불활성 가스 아크 용접 및 강의 레이저 광용접

RU-GOST R, 대형 레이저형 전자현미경

  • GOST 18604.27-1986 고전력, 고전압 바이폴라 트랜지스터 이미터(콜렉터) 전류가 0일 때 콜렉터-베이스(이미터-베이스) 항복 전압 측정 방법
  • GOST 18229-1981 전리 방사선의 반도체 검출기용 분광계용 전하 감지 전치 증폭기 유형, 기본 매개변수 및 측정 방법

Standard Association of Australia (SAA), 대형 레이저형 전자현미경

  • AS/NZS CISPR 16.2.5:2013 무선 간섭 및 내성 측정을 위한 장비 및 방법 사양 - 대형 장비에서 발생하는 간섭 방출의 현장 측정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 대형 레이저형 전자현미경

  • GB/Z 6113.205-2013 무선 방해 및 내성 측정 장비 및 측정 방법에 대한 사양 2-5부: 대형 장비의 방해 방출 현장 측정

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 대형 레이저형 전자현미경

  • KS C 9816-2-5-2017 무선 간섭 및 내성 측정을 위한 장비 및 방법 사양 2-5부: 대형 장비에서 발생하는 간섭 방출의 현장 측정
  • KS C 9816-2-5-2020 무선 교란 및 내성을 측정하기 위한 기기 및 방법에 대한 사양 2-5부: 물리적 대형 장비에서 발생하는 간섭 방사선의 현장 측정

未注明发布机构, 대형 레이저형 전자현미경

  • PD CISPR TR 16-2-5:2008 무선 교란 및 내성 측정 장비 및 방법에 대한 사양 2-5부: 대형 물리적 장비에서 생성되는 간섭 방출의 현장 측정




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