ZH
EN
JP
ES
RU
DE

X선 회절계 및 형광계

모두 208항목의 X선 회절계 및 형광계와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 X선 회절계 및 형광계와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 방사선방호, 산업안전, 산업위생, 광학 및 광학 측정, 원자력공학, 방사선 측정, 금속 광석, 석유 및 가스 산업 장비, 계측 및 측정 합성, 비파괴 검사, 분석 화학, 금속 재료 테스트, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 페인트 성분, 발전소 종합, 어휘, 광전자공학, 레이저 장비, 의료 장비, 화학 제품, 금속 생산, 비금속 광물, 석유제품 종합, 연료, 비철금속, 길이 및 각도 측정, 기르다, 내화물, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 표면 처리 및 도금, 쓰레기, 무기화학, 조잡한, 토양질, 토양과학.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X선 회절계 및 형광계

  • GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
  • GB/T 31364-2015 에너지 분산형 X선 형광 분광기의 주요 성능 시험 방법
  • GB/Z 42358-2023 철광석에 대한 파장분산형 X선 형광분광기의 정확도 결정
  • GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
  • GB/T 11685-2003 반도체 X선 검출기 시스템 및 반도체 X선 에너지 분광계의 측정 방법
  • GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • GB/T 19421.1-2003 층상 결정질 이규산나트륨의 시험 방법 델타상 층상 결정질 이규산나트륨의 정성 분석 X선 회절법
  • GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
  • GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
  • GB/T 12162.4-2010 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • GB/T 4835.2-2013 방사선 방호 기기 - 주변 및/또는 방향성 선량당량(율) 측정기 및/또는 베타, X 및 감마 방사선 모니터 - 2부: 비상 방사선 방호를 위한 휴대용 고범위 베타 및 광자 선량 및 선량률 측정기

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X선 회절계 및 형광계

  • GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

Professional Standard - Machinery, X선 회절계 및 형광계

Professional Standard - Nuclear Industry, X선 회절계 및 형광계

Professional Standard - Building Materials, X선 회절계 및 형광계

Professional Standard - Geology, X선 회절계 및 형광계

  • DZ 0029-1992 HYX—3형 마이크로컴퓨터 X선 형광 측정기

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X선 회절계 및 형광계

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X선 회절계 및 형광계

  • JJF 1952-2021 X선 형광 황 측정기의 교정 사양
  • JJF 1306-2011 X선 형광 코팅 두께 측정기 교정 사양
  • JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양
  • JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

国家能源局, X선 회절계 및 형광계

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, X선 회절계 및 형광계

American National Standards Institute （ANSI), X선 회절계 및 형광계

  • ANSI N43.2-2001 X선 회절 및 형광 분석 장비의 방사선 안전성
  • ANSI/ASTM E915:1996 잔류응력 측정을 위한 X선 회절분석기의 검증방법
  • ANSI/HPS N43.2-2021 광선 회절 및 형광 분석 장비의 방사선 안전
  • ANSI N42.26-1995 방사선 방호 장비 모니터링 장비 개인용 X선 및 감마선 방사선 경고 장치
  • ANSI N43.5-1977 방사선 촬영 및 형광투시용 산업용 X선 장비 설계에 대한 방사성 안전 표준

Group Standards of the People's Republic of China, X선 회절계 및 형광계

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X선 회절계 및 형광계

  • GB/T 36017-2018 비파괴검사기 X선형광분석관
  • GB/T 35734-2017 휴대용 튜브 여기 X선 형광 분석기의 분류, 안전 요구 사항 및 테스트
  • GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정

Standard Association of Australia （SAA）, X선 회절계 및 형광계

  • AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정
  • AS 2563:2019 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정

工业和信息化部/国家能源局, X선 회절계 및 형광계

Professional Standard - Agriculture, X선 회절계 및 형광계

工业和信息化部, X선 회절계 및 형광계

  • YB/T 5338-2019 강철의 오스테나이트 정량 측정을 위한 X선 회절계 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), X선 회절계 및 형광계

  • IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비
  • IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
  • IEC 61452:1995 원자력 기기의 방사성 핵종 r-선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 응용
  • IEC 61344:1996 방사선 방호 계측 감시 장비 X선 및 감마선 방사선에 대한 개인 경보 장치
  • IEC 60846-2:2007 방사선 방호 장비 주변 및/또는 방향 선량당량(율) 측정기 및/또는 베타용 모니터,
  • IEC 61452:2021 핵 장비 감마선 방출 방사성 핵종의 활성 또는 방사율 측정 게르마늄 기반 분광계의 교정 및 사용
  • IEC 61137:1992 방사선 방호 장비 고정형 개인 표면 오염 모니터링 장치 저에너지 X선 및 감마선 방출기

IN-BIS, X선 회절계 및 형광계

  • IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법
  • IS 12737-1988 반도체 X선 에너지 분광계의 표준 테스트 절차

British Standards Institution (BSI), X선 회절계 및 형광계

  • BS EN 13925-3:2005(2009) 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 장비
  • BS EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 장비
  • BS PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산형 X선 형광 분광계 정확도 결정
  • PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
  • BS EN ISO 20884:2011 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광계
  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • 18/30382086 DC BS EN 61452 핵 계측 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • 20/30412413 DC BS EN IEC 61452 핵 계측 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • BS EN 16424:2014 폐기물의 특성분석 휴대용 X선형광분광기를 이용한 원소성분 스크리닝 방법
  • BS IEC 61452:2021 원자력 기기 감마선 방사성 핵종의 방사능 또는 방사율 측정 게르마늄 기반 분광계의 교정 및 사용
  • PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
  • BS EN ISO 21587-1:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택 사항) 실리카의 기기, 시약, 분해 및 중량 측정
  • BS IEC 60846-2:2015 방사선 방호 장비 베타, X 및 감마 방사선에 대한 환경 및/또는 방향성 선량당량(율) 측정기 및/또는 모니터 긴급 방사선 방호를 위한 높은 범위의 베타 및 광자 선량 및 선량률 휴대용 장비
  • BS EN 15309:2007 폐기물 및 토양 특성 X선 형광을 통한 원소 조성 결정
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용

International Organization for Standardization (ISO), X선 회절계 및 형광계

  • ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
  • ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
  • ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 15632:2002 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
  • ISO 15597:2001 석유 및 관련 제품의 염소 및 브롬 함량 측정 파장 산란 X선 형광 분광법
  • ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X선 회절계 및 형광계

  • GB/T 37983-2019 결정 재료 X선 회절계 회전 배향 시험 방법
  • GB/T 40196-2021 X선 형광 분광법을 이용한 목재 방부제 및 목재 방부제의 CCA 및 ACQ 측정 방법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X선 회절계 및 형광계

  • YB/T 5337-2006 금속 격자 상수의 결정 방법 X선 회절계 방법
  • YB/T 5338-2006 X-선 회절계 방법을 사용하여 강철 내 잔류 오스테나이트의 정량 측정
  • YB/T 5336-2006 X-선 회절법을 이용한 고속도강의 탄화물 상의 정량 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), X선 회절계 및 형광계

  • ASTM D5381-93(2014) 안료 및 필러의 X선 형광(XR) 분광법에 대한 표준 가이드
  • ASTM E915-96 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 테스트 방법
  • ASTM E915-16 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 테스트 방법
  • ASTM E915-96(2002) 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 테스트 방법
  • ASTM E1172-87(2003) 파장 확산 X선 분광계에 대한 설명 및 사양
  • ASTM E915-19 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 검증을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E915-10 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E915-21 잔류 응력 측정을 위한 X선 회절계의 교정 및 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM E1172-87(2001) 파장 확산 X선 분광계 설명에 대한 표준 사례
  • ASTM E2120-10 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가를 위한 표준 작업 절차
  • ASTM E1172-87(1996) 파장 분산형 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 사례
  • ASTM E1172-22 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1172-16 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E2120-00 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가에 대한 표준 사례
  • ASTM D5381-93(2021) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광법을 위한 표준 가이드
  • ASTM UOP836-82 X선 형광을 이용한 증류액 및 잔류 오일의 황 측정
  • ASTM E902-05 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1172-87(2011) 파장 확산 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 실습
  • ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1217-11 X선 광전자 분광계 및 오거 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 작업 절차
  • ASTM D5381-93(2009) 안료 및 필러의 X선 형광 분광법에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1217-00 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1217-05 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례

German Institute for Standardization, X선 회절계 및 형광계

  • DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
  • DIN 51003:2004 전반사 X선 형광 일반 원리 및 정의
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
  • DIN EN 13925-3:2005-07 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
  • DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-1:2008-08 방사선 분광학 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN EN 16424:2015-03 폐기물 특성화 휴대용 X선 형광기기 원소 조성 스크리닝 방법
  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:2015-03 X선 분광법 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 교정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예
  • DIN ISO 15632:2015 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 발산 X선 분광계에 대한 기기 사양(ISO 15632-2012)
  • DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
  • DIN IEC 61452:2023-02 핵 장비 감마선 방출 방사성 핵종의 활동 또는 방사율 측정 교정 및 게르마늄 기반 분광계의 사용
  • DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
  • DIN 51577-4:1994 광유 및 유사 제품의 탄화수소 검사 염소 및 브롬 함량 측정 저가형 기기의 에너지 산란 X선 분광계를 사용한 분석

Professional Standard - Electricity, X선 회절계 및 형광계

  • DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

RU-GOST R, X선 회절계 및 형광계

  • GOST 22091.6-1984 X선 장치 X선 노광 파워 및 펄스당 노광량을 측정하는 방법
  • GOST 20337-1974 X선 장치 - 용어 및 정의
  • GOST 22091.14-1986 X선기기 X선 에너지속밀도(광속밀도) 측정방법
  • GOST 22091.3-1984 X선 장치. X선 조사 조사야 크기 및 작업빔 개방각 측정 방법
  • GOST 22091.2-1984 X선 장비.X선 전자 사이클로트론 박스의 주입 전류 및 전압 측정 방법
  • GOST 29025-1991 비파괴 검사X선 전자 광학 변환기 및 전자 X선 그래픽 결함 검사 장비를 갖춘 X선 TV 결함 검사 장비일반 기술 요구 사항
  • GOST 22091.8-1984 X선 장비 스펙트럼 성분 및 스펙트럼 상대 오염 수준을 측정하는 방법
  • GOST 22091.1-1984 X선 장치 - 필라멘트 전류 및 전압 측정 방법
  • GOST R 8.698-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 나노입자 및 필름의 공간 매개변수 소각 X선 산란 회절계를 사용한 측정 방법

Association Francaise de Normalisation, X선 회절계 및 형광계

  • NF C74-111:1985 의료 전기 장비 엑스선 장비 엑스선 장비 방사선 진단 엑스선관 조립 구조 및 테스트 요구 사항
  • NF S10-133:2005 광학 및 광학 기기 회절 광학 어휘
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
  • NF X21-008:2012 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계의 기기 사양
  • NF EN 16424:2014 폐기물 특성화 - 휴대용 X선 형광 분석기를 사용한 원소 조성 결정을 위한 스크리닝 방법
  • NF M60-522:1998 X선 및 감마선 방사선 - 직접 또는 간접 판독 커패시터 코어 선량계
  • NF EN 13068-3:2002 NDT 형광 검사 파트 3: 금속 재료의 X선 및 감마선 형광 검사의 일반 원리
  • NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • NF X30-495*NF EN 16424:2014 폐기물의 특성분석 휴대용 X선형광분광기를 이용한 원소성분 스크리닝 방법
  • NF EN ISO 14597:1999 석유 제품 - 바나듐 및 니켈 함량 - 파장 분산형 X선 형광 분광법.
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 X선 형광 분석을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정

SE-SIS, X선 회절계 및 형광계

European Committee for Standardization (CEN), X선 회절계 및 형광계

  • EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기

Danish Standards Foundation, X선 회절계 및 형광계

  • DS/EN 13925-3:2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측

Lithuanian Standards Office , X선 회절계 및 형광계

AENOR, X선 회절계 및 형광계

  • UNE-EN 13925-3:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
  • UNE-EN 16424:2015 폐기물 특성화 휴대용 X선 형광기기 원소 조성 스크리닝 방법

Professional Standard - Customs, X선 회절계 및 형광계

  • HS/T 12-2006 X선 회절법을 이용한 활석, 녹니석, 마그네사이트의 혼합상의 정량분석

未注明发布机构, X선 회절계 및 형광계

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X선 회절계 및 형광계

  • KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
  • KS D 2597-1996 지르코늄 및 지르코늄 합금 X선 형광 분광법
  • KS E 3076-2017 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
  • KS E 3076-2022 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
  • KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
  • KS L 3316-2009 내화 벽돌 및 내화 모르타르의 X선 형광 분광법
  • KS C IEC 61452-2017(2022) 핵 계측 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
  • KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
  • KS D ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
  • KS E 3075-2017 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
  • KS E 3075-2022 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
  • KS A IEC 61137-2003(2013) 방사선 방호 장비 - 설치자 표면 오염 모니터링 키트 - 저에너지 X선 및 감마선 방출기
  • KS D ISO 3497-2002(2017) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - X선 분광계 방법
  • KS M ISO 15597:2003 석유 및 관련 제품 염소 및 브롬 함량 측정 파장 산란 X선 형광 분광법
  • KS D 2597-1996(2016) 지르코늄 및 지르코늄 합금의 X선 형광 분광법 분석 방법
  • KS E 3076-2002 원패스 실리카 및 실리카의 X선 형광 분석
  • KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명

KR-KS, X선 회절계 및 형광계

  • KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
  • KS C IEC 61452-2017 원자력 기기 - 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 - 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정

VN-TCVN, X선 회절계 및 형광계

  • TCVN 6596-2000 X선 진단 방사선학 및 X선 형광투시 발생기, X선관 및 콜리메이터 테스트 절차
  • TCVN 7055-2002 금 및 금 합금 X선 형광법을 통한 금 함량 측정

AT-ON, X선 회절계 및 형광계

  • ONORM S 5240-10-1998 엑스레이 진단 이미지 품질 보증. 방사선 및 형광투시 X선의 승인 테스트

Professional Standard - Education, X선 회절계 및 형광계

  • JY/T 0588-2020 단결정 X선 회절분석기를 이용한 저분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리
  • JY/T 008-1996 4원 단결정 X선 회절계를 사용하여 소분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리.

Professional Standard - Electron, X선 회절계 및 형광계

  • SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법
  • SJ 20147.1-1992 은 및 은 합금 코팅의 두께 측정 방법 X선 형광 분광법

Professional Standard - Commodity Inspection, X선 회절계 및 형광계

  • SN/T 3810-2014 X선 형광 분광법을 이용한 요소 및 황산암모늄의 질소 함량 측정
  • SN/T 3809-2014 X선 형광 분광법을 이용한 염화칼륨 및 황산칼륨의 칼륨 함량 측정
  • SN/T 2697-2010 수출입 석탄 X선 형광 분광법의 황, 인, 비소 및 염소 측정

BR-ABNT, X선 회절계 및 형광계

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., X선 회절계 및 형광계

  • IEEE N42.14-1991 게르마늄 분광기를 이용한 방사성 핵종의 감마선 방사율 교정 및 측정

RO-ASRO, X선 회절계 및 형광계

  • STAS R 12771-1989 X 및 T 방사선에 대한 광자 에너지 반응 함수를 결정하기 위한 선량계, 선량률 측정기 및 기준 방사선 교정에 대한 자세한 지침

  X선 응력 측정기 및 회절계, 형광 X선 회절계, X선 회절계 및 X선 응력 측정기, X선 회절계와 X선 응력 측정기는 동일한가요?, X선 회절 및 형광계, 단결정 회절계 및 X선 회절계, X선 회절계 및 형광 분석기, X선 회절계 및 X선 형광 분석기, X선 단결정 회절계 및 X선 회절계, X선 회절계 및 형광계, X선 형광 회절계, x-회절계 및 형광 분석기.

 



©2007-2024 저작권 소유