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DE실리콘 질화물 창
모두 342항목의 실리콘 질화물 창와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 실리콘 질화물 창와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 합금철, 내화물, 분말 야금, 플라스틱, 반도체 소재, 절단 도구, 주방 용품, 상점 시설, 세라믹, 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 베어링, 단열재, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 금속 재료 테스트, 비철금속 제품, 수공구, 씰, 씰링 장치, 도로 차량 장치, 화학 제품, 문서 이미징 기술, 저항기, 정류기, 변환기, 조정된 전원 공급 장치, 태양광 공학, 반도체 개별 장치, 전기 장치, 절연유체, 입자 크기 분석, 스크리닝, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 비철금속, 고무 및 플라스틱 원료, 판막, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 무기화학, 건물 액세서리, 건물 구성요소, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 실리콘 질화물 창
- GB/T 30061-2013 망간질화규소
- GB/T 31703-2015 세라믹 볼 베어링 질화규소 볼
- GB/T 30854-2014 LED 조명용 질화갈륨 기반 에피택셜 웨이퍼
- GB/T 30656-2014 실리콘 카바이드 단결정 연마 웨이퍼
- GB/T 30656-2023 실리콘 카바이드 단결정 연마 웨이퍼
- GB/T 16555-2008 탄소, 탄화규소, 질화물 내화물의 화학적 분석 방법
- GB/T 21951-2008 상감 또는 고체 입방정 질화붕소 인서트입니다.
- GB/T 30866-2014 실리콘 카바이드 단일 웨이퍼 직경 테스트 방법
- GB/T 5687.2-2007 페로크로뮴 실리콘 크롬 합금의 실리콘 함량 측정 및 페로크로뮴 질화물 과염소산 탈수 중량 분석법
- GB/T 30655-2014 질화물 LED 에피택셜 웨이퍼 웨이퍼 내 양자 효율 시험 방법
- GB/T 30653-2014 III 질화물 에피택셜 웨이퍼의 결정 품질 테스트 방법
- GB/T 30654-2014 III족 질화물 에피택셜 웨이퍼의 격자 상수 시험 방법
- GB/T 21951-2023 상감 또는 솔리드 입방정 질화붕소 인서트 스타일 및 크기
- GB/T 5686.9-2023 파장 분산형 X선 형광 분광법(주조 유리판법)을 이용한 페로망간, 망간-실리콘 합금, 페로망간 질화물 및 금속 망간-망간, 실리콘, 인, 철의 함량 측정
- GB/T 32278-2015 실리콘 카바이드 단일 웨이퍼 평탄도 테스트 방법
- GB/T 6618-1995 실리콘 웨이퍼 두께 및 총 두께 변화 테스트 방법
- GB/T 11073-2007 실리콘 웨이퍼의 방사상 저항률 변화 측정 방법
- GB/T 6618-2009 실리콘 웨이퍼 두께 및 총 두께 변화 테스트 방법
- GB/T 41751-2022 질화갈륨 단결정 기판의 결정면 곡률반경 시험방법
- GB/T 30867-2014 탄화규소 단일 웨이퍼의 두께 및 전체 두께 변화에 대한 테스트 방법
- GB/T 30868-2014 화학적 에칭 방법에 의한 탄화규소 단일 웨이퍼의 마이크로튜브 밀도 측정
- GB/T 4058-1995 연마된 실리콘 웨이퍼의 산화로 인한 결함 검사 방법
- GB/T 4058-2009 연마된 실리콘 웨이퍼의 산화로 인한 결함 검사 방법
- GB/T 36705-2018 Raman 분광학을 이용한 질화갈륨 기판의 캐리어 농도 테스트
- GB/T 16555.5-1996 탄화규소 내화물의 화학적 분석 방법 페난트롤린 광도법에 의한 산화철 함량 측정.
- GB/T 14849.1-1993 산업용 실리콘 화학 분석 방법 철 함량 측정을 위한 1,10-페난트롤린 분광 광도법
- GB/T 42276-2022 이온 크로마토그래피를 통한 질화규소 분말의 불화물 및 염화물 이온 측정
- GB/T 5686.2-2008 망간철, 망간-실리콘 합금, 질화철망간 및 금속 망간 실리콘 함량 측정 몰리브덴 청색 광도법, 불화규산칼륨 적정 및 과염소산 중량법
- GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
- GB/T 5686.2-2022 몰리브덴청 분광광도법, 불화규산칼륨 적정 및 과염소산 중량법을 이용한 페로망간, 망간-실리콘 합금, 질화철망간 및 금속 망간-실리콘 함량 측정
- GB/T 8654.1-2007 페난트롤린 분광광도법 및 삼염화티타늄-중크롬산칼륨 적정을 통해 금속 망간-망간-실리콘 합금의 페로망간 및 질화페로망간 함량 측정
- GB/T 31351-2014 탄화규소 단결정 연마 웨이퍼의 마이크로튜브 밀도에 대한 비파괴 검사 방법
- GB/T 42902-2023 탄화규소 에피택셜 웨이퍼의 표면 결함을 테스트하기 위한 레이저 산란 방법
- GB/T 6901.4-2004 규산 내화물의 화학적 분석 방법 4부: 페난트롤린의 광도법을 통한 산화철 함량 측정
- GB/T 41605-2022 구름베어링 볼용 질화규소 재료의 상온압입 및 내결손성 시험방법 압입방법
- GB/T 32188-2015 질화갈륨 단결정 기판의 X선 쌍결정 로킹 커브의 반치폭 시험 방법
- GB/T 30869-2014 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 두께 및 전체 두께 변화 시험 방법
- GB/T 14849.1-2007 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 1부: 철 함량 측정 1,10-페난트롤린 분광 광도법
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 실리콘 질화물 창
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 실리콘 질화물 창
Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 질화물 창
Group Standards of the People's Republic of China, 실리콘 질화물 창
Professional Standard - Machinery, 실리콘 질화물 창
International Organization for Standardization (ISO), 실리콘 질화물 창
- ISO/FDIS 21068-1:2023 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석
- ISO/FDIS 21068-3:2024 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석
- ISO/FDIS 21068-4:2024 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석
- ISO/FDIS 21068-2:2024 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석
- ISO/DIS 21068-4 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 4부: XRD 방법
- ISO/DIS 21068-3 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 - 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화물 성분 측정
- ISO/DIS 21068-2 탄화규소, 질화규소, 산질화규소, 사이알론을 함유한 원료 및 내화 제품의 화학적 분석 2부: 휘발성 물질, 총탄소, 유리탄소, 탄화규소, 총규소 및 유리규소, 유리규소 측정
- ISO/DIS 21068-1 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 - 1부: 일반 정보 및 시료 준비
- ISO 6343:1981 마이크로필름 기술 일체형 마이크로필름 캐리어(윈도우 카드) 보호시트와 윈도우홀 접착력 확인
- ISO 16462:2004 인서트 또는 고체 입방정 질화붕소 인서트 치수, 유형
- ISO 16462:2014 인서트 또는 고체 입방정 질화붕소 인서트 치수, 유형
- ISO 17947:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 질화규소 미분말의 화학적 분석방법
- ISO 26602:2009 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 산업용 세라믹) 롤링 베어링 볼용 질화규소 소재
- ISO 21068-3:2008 탄화규소를 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화 성분 측정
- ISO 26602:2017 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 산업용 세라믹) 롤링 베어링 볼 및 롤러용 질화규소 소재
- ISO 3272-5:1999 기술 도면 및 기타 사무 문서 도면의 마이크로필름화 5부: 윈도우 카드 마이크로필름 이미지의 디아조 재현을 위한 테스트 절차
Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 질화물 창
Professional Standard - Building Materials, 실리콘 질화물 창
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 실리콘 질화물 창
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 실리콘 질화물 창
工业和信息化部, 실리콘 질화물 창
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 질화물 창
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 실리콘 질화물 창
American Society for Testing and Materials (ASTM), 실리콘 질화물 창
British Standards Institution (BSI), 실리콘 질화물 창
- 18/30386543 DC BS EN 63229 Ed.1.0 반도체 장치용 탄화규소 기판의 질화갈륨 에피택셜 웨이퍼 결함 분류
- 23/30446960 DC BS EN ISO 21068-3 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 시알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화물 조성 결정
- 23/30446996 DC BS EN ISO 21068-4 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 시알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 4부: X선 회절 방법
- 23/30446956 DC BS EN ISO 21068-2 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 시알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학 분석 2부 휘발성 성분, 총 탄소, 유리 탄소, 탄화규소 등의 측정
- 23/30446952 DC BS EN ISO 21068-1 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 시알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 1부: 일반 정보 및 샘플 준비
- BS EN 12698-1:2007 탄화규소 내화물과 결합된 질화물의 화학적 분석 화학적 방법
- BS IEC 63229:2021 반도체 소자용 탄화규소 기판의 질화갈륨 에피택셜 필름의 결함 분류
- BS EN 12698-2:2007 탄화규소 내화물에 결합된 질화물의 화학적 분석 광선 회절(XRD) 방법
- BS EN ISO 17947:2023 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) 질화규소 미분말의 화학적 분석 방법
- BS ISO 17947:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 질화규소 미분말의 화학적 분석방법
- 19/30404655 DC BS EN IEC 63229 반도체 장치용 탄화규소 기판의 질화갈륨 에피택셜 필름의 결함 분류
- BS ISO 16462:2004 인서트 또는 고체 입방정 질화붕소 인서트 치수 및 유형
- BS ISO 16462:2014 인서트 또는 고체 입방정 질화붕소 인서트 치수 및 유형
- BS EN ISO 21068-3:2008 탄화규소를 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석, 질소, 산소, 금속 및 산화 성분 측정
- BS ISO 26602:2009 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 산업용 세라믹) 롤링 베어링 볼용 질화규소 소재
- BS ISO 26602:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) 롤링 베어링 볼 및 롤러용 질화규소 소재
German Institute for Standardization, 실리콘 질화물 창
- DIN EN ISO 21068-2:2023-07 탄화규소, 질화규소, 산질화규소, 사이알론을 함유한 원료 및 내화 제품의 화학적 분석 2부: 휘발성 성분, 총탄소, 유리탄소, 탄화규소, 총규소 및 유리규소, 유리규소 측정
- DIN EN ISO 21068-4:2023-07 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 - 4부: XRD 방법(ISO/DIS 21068-4:2023)
- DIN EN ISO 21068-3:2023-07 탄화규소, 질화규소, 산화질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화 제품의 화학적 분석 - 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화 성분 측정(ISO/DIS 21068-3:2023), 독일어 및 영어...
- DIN EN ISO 21068-1:2023-07 탄화규소, 질화규소, 산질화규소 및 사이알론을 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 - 1부: 일반 정보 및 샘플 준비(ISO/DIS 21068-1:2023)
- DIN EN 12698-1:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 1부: 화학적 방법
- DIN V VDE V 0126-18-2-2:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 2-2부: 실리콘 웨이퍼의 기하학적 치수 측정 두께 변화
- DIN EN 12698-1:2007-06 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 1부: 화학적 방법
- DIN EN 12698-2:2007-06 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: XRD 방법
- DIN ISO 16462:2015-08 입방정 질화붕소 블레이드 뾰족하거나 단단한 크기, 유형
- DIN ISO 16462:2005 인서트 또는 고체 입방정 질화붕소 인서트 치수, 유형
- DIN EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
- DIN ISO 16462:2015 인서트 또는 고체 입방정 질화붕소 인서트 치수, 유형(ISO 16462-2014)
- DIN EN ISO 17947:2023-06 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) - 미세 질화규소 분말의 화학적 분석 방법
- DIN EN ISO 17947:2023 파인 세라믹의 미세 질화규소 분말의 화학적 분석 방법(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics)(ISO 17947:2014)
- DIN EN ISO 21068-3:2008 탄화규소를 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화 성분 측정
- DIN EN 12365-4:2003-12 건축 하드웨어 - 문, 창문, 셔터 및 커튼월용 개스킷 및 비바람막이 - 4부: 가속 내후성 테스트 방법 후 복구
- DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정
CEN - European Committee for Standardization, 실리콘 질화물 창
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 실리콘 질화물 창
- KS L 1613-2011 파인 세라믹용 질화규소 분말의 화학적 분석 방법
- KS L 3318-1998 질화규소 분말 파인 세라믹스의 화학적 분석 방법
- KS L 3318-1988 질화규소 분말 파인 세라믹스의 화학적 분석 방법
- KS B 3191-2013 다이아몬드 또는 입방정 질화붕소 톱날
- KS L 1613-1994 파인 세라믹용 질화규소 미세 분말의 화학적 분석 방법
- KS L 1613-2011(2016) 미세 질화규소 분말 파인 세라믹의 화학적 분석 방법
- KS L 1613-2011(2021) 파인세라믹스용 질화규소 미분말의 화학적 분석방법
- KS D 0259-2012(2022) 실리콘 웨이퍼 두께, 두께 변화 및 굽힘 측정 방법
- KS D 0259-2012 실리콘 웨이퍼의 두께, 두께 변화 및 곡률 측정 방법
- KS L ISO 26602:2011 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 산업용 세라믹) 롤링 베어링 볼용 질화규소 소재
- KS L ISO 26602-2011(2021) 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 산업용 세라믹) - 롤링 베어링 볼용 질화규소 소재
- KS L ISO 26602-2011(2016) 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 산업용 세라믹) - 롤링 베어링 볼용 질화규소 소재
- KS L ISO 21068-3-2012(2022) 탄화규소를 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화물 성분 측정
- KS L ISO 21068-3-2012(2017) 탄화규소 함유 원료 및 내화 제품의 화학적 분석 방법 - 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화 성분 측정
- KS L ISO 21068-3:2012 탄화규소를 함유한 원료 및 내화물의 화학적 분석 3부: 질소, 산소, 금속 및 산화 성분 측정
Association Francaise de Normalisation, 실리콘 질화물 창
Defense Logistics Agency, 실리콘 질화물 창
- DLA MIL-PRF-47009 D-2006 방열판 실리콘 화합물
- DLA DSCC-DWG-88008 REV B-2007 고정 필름 칩 탄탈륨 질화물 유형 0505 저항기
- DLA DSCC-DWG-88009 REV E-2007 탄탈륨 질화물 유형 1505를 포함하는 고정 박막 칩 저항기
- DLA SMD-5962-87791 REV B-1989 실리콘 모놀리식 선입선출 편광 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-87755 REV B-2005 실리콘 모놀리식 버퍼 카운터 양극화 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88515-1988 실리콘 모놀리식 프로그래밍 가능 논리 극성 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88604 REV B-2007 실리콘 모놀리식 양방향 트랜시버 이중 편파 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-97543 REV C-2003 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체, 팔각형 버스 3상태 수신기, 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77044 REV F-2005 실리콘 모놀리식 게이트리스 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-01502 REV B-2007 모놀리식 실리콘 디지털 마이크로회로 CMOS 방사선 경화 마이크로프로세서
- DLA SMD-5962-87769 REV A-2001 실리콘 모놀리식 이중 라인 드라이버 양극형 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-87772-1988 실리콘 모놀리식 가산기 트랜시버 양극형 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-00501 REV C-2007 모놀리식 실리콘 선형 미세 회로 방사선 경화 정밀 전압 레퍼런스
- DLA SMD-5962-01510 REV D-2007 모놀리식 실리콘 방사선 경화 선형 미세 회로 쿼드 전압 비교기
- DLA SMD-5962-88507 REV A-2001 실리콘 모놀리식 현장 프로그래밍 가능 극성 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77027 REV C-1982 실리콘 모놀리식 6개 인버터 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77053 REV M-2005 실리콘 모놀리식 4중 가상 스위치, 산화물 반도체 마이크로회로
- DLA SMD-5962-87739 REV H-2007 실리콘 모놀리식 방사선 강화 전압 비교기 쿼드 선형 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88539 REV E-2005 실리콘 모놀리식 정밀 기기 스피커 방사선 경화 선형 미세 회로
- DLA SMD-5962-88696 REV A-1990 실리콘 모놀리식 동적 메모리 컨트롤러 이중 편파 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-89517 REV A-1994 실리콘 모놀리식 16비트 칩 마이크로프로세서 보완적 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84043 REV E-2005 실리콘 모놀리식 XOR 게이트 고속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84069 REV F-2005 실리콘 모놀리식 버스 컨트롤러, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77034 REV X-2006 실리콘 모놀리식 가변 전압 조정기, 산화물 반도체 선형 미세 회로
- DLA SMD-5962-77037 REV G-2005 실리콘 모놀리식 비교기, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88550 REV C-2001 실리콘 모놀리식 D형 플립플롭 에지 트리거 극성 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-93007 REV D-1996 실리콘 모놀리식, 2차원 컨볼루션, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77023 REV F-2005 실리콘 모놀리식 듀얼 업 카운터 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-81019 REV B-1984 실리콘 모놀리식 4중 D 래치, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-78029 REV H-2005 실리콘 모놀리식 디코더-디코더, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-00520 REV D-2007 모놀리식 실리콘 방사선 강화 디지털 선형 미세 회로 8채널 소스 드라이버
- DLA SMD-5962-00523 REV F-2006 모놀리식 실리콘 방사선 경화 선형 미세 회로 2.5V 션트 다이오드 조정기
- DLA SMD-5962-02523 REV A-2007 모놀리식 실리콘 방사선 강화 디지털 마이크로회로 CMOS MCS-96 기반 마이크로컨트롤러
- DLA SMD-5962-94533-1994 실리콘 모놀리식, 32비트 마이크로프로세서, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88504 REV D-2006 실리콘 모놀리식 현장 프로그래밍 가능 논리 어레이(FPLA) 양극화 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-88565 REV F-2003 실리콘 모놀리식 QUAD 작동 스피커 저소음 방사선 경화 선형 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-93168 REV A-1995 실리콘 모놀리식, 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 어레이, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
- DLA SMD-5962-06208-2006 실리콘 모놀리식 디지털 신호 프로세서 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84052 REV D-1990 실리콘 모놀리식, 16비트 마이크로프로세서, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84068 REV E-2005 실리콘 모놀리식 클록 생성기 드라이버, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77024 REV F-2005 실리콘 모놀리식 쿼드 2입력 및 게이트, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77036 REV D-2005 실리콘 모놀리식 쿼드 2입력 및 게이트, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
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Professional Standard - Electron, 실리콘 질화물 창
Danish Standards Foundation, 실리콘 질화물 창
Lithuanian Standards Office , 실리콘 질화물 창
AENOR, 실리콘 질화물 창
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 질화물 창
International Electrotechnical Commission (IEC), 실리콘 질화물 창
HU-MSZT, 실리콘 질화물 창
European Committee for Standardization (CEN), 실리콘 질화물 창
RO-ASRO, 실리콘 질화물 창
CZ-CSN, 실리콘 질화물 창
Professional Standard - Commodity Inspection, 실리콘 질화물 창
ES-UNE, 실리콘 질화물 창
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IN-BIS, 실리콘 질화물 창
Professional Standard - Electricity, 실리콘 질화물 창
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