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분광 분광 반사율

모두 500항목의 분광 분광 반사율와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 분광 분광 반사율와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 천문학, 측지학, 지리학, 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 계측 및 측정 합성, 농업 및 임업, 세라믹, 의료 장비, 사진 기술, 광섬유 통신, 금속 재료 테스트, 반도체 소재, 어휘, 통신 종합, 태양광 공학, 전기 및 전자 테스트, 광학 장비, 광전자공학, 레이저 장비, 방사선 측정, 비철금속, 검은 금속, 플라스틱, 금속 광석, 건축 자재, 철강 제품, 반도체 개별 장치, 비파괴 검사, 예술과 공예, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 내화물, 유리, 화학 제품, 기르다, 합금철, 페인트 및 바니시, 종이와 판지, 용어(원칙 및 조정), 쓰레기, 석유제품 종합, 차, 커피, 코코아, 종합 전자 부품, 페인트 성분, 보석류, 수질, 고무 및 플라스틱 제품, 원자력공학, 토양질, 토양과학, 소방, 연료, 밥을 먹이다, 유기화학, 표준화의 일반 원칙, 항공우주 제조용 재료, 섬유제품.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 분광 분광 반사율

  • GB/T 36540-2018(英文版) 물의 VIS SWIR 분광 반사율 측정
  • GB/T 36540-2018 물의 가시광선-단파 적외선 스펙트럼 반사율 측정
  • GB/T 26828-2011 다중 스펙트럼 반사 방지 코팅 사양
  • GB/T 33988-2017(英文版) 도시 표면 특징의 VIS SWIR 분광 반사율 측정
  • GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
  • GB/T 24578-2015 실리콘 웨이퍼 표면의 금속 오염에 대한 전반사 X선 형광 분광법 테스트 방법
  • GB/T 24578-2009 실리콘 웨이퍼 표면의 금속 오염에 대한 전반사 X선 형광 분광법 테스트 방법
  • GB/T 26179-2010 광원의 스펙트럼 방사 측정
  • GB/T 28208-2011 펄스광 방사원의 분광 방사 측정 방법
  • GB/T 16599-1996 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 16600-1996 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/Z 26209-2010 광방사선 검출기의 스펙트럼 응답을 결정하는 방법
  • GB/T 7999-2000 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전(측광) 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 14203-1993 철강 및 합금의 광전 방출 분광학 분석에 대한 일반 규칙
  • GB/T 26042-2010 아연 및 아연 합금 분석 방법 광전 방출 분광법
  • GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
  • GB/T 20150-2006 홍반 기준선 반응 스펙트럼 및 표준 홍반 용량
  • GB/T 7999-2015 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 7999-2007 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 28020-2011 보석 유해 원소 측정 X선 형광 분광법
  • GB/T 18043-2008 보석, 귀금속 함량 측정, X선 형광 분광법
  • GB/T 18043-2013 X-선 형광 분광법을 이용한 주얼리의 귀금속 함량 측정
  • GB/T 16597-1996 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
  • GB/T 19502-2004 표면 화학 분석 - 글로우 방전 방출 분광법의 일반 원리
  • GB/T 19502-2023 표면 화학 분석을 위한 글로우 방전 방출 분광법에 대한 일반 규칙
  • GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
  • GB/T 26070-2010 화합물 반도체 연마 웨이퍼의 표면 손상에 대한 반사 차등 스펙트럼 테스트 방법
  • GB/Z 42520-2023 철광석 X선 형광 분광법 실험실 운영 가이드
  • GB/T 16481-1996 희토류 원소 마이크로파 플라즈마 토치 방출 스펙트럼(MPT-AES) 표준 스펙트럼
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 분광 분광 반사율

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 분광 분광 반사율

  • GB/T 33988-2017 도시 지형의 가시광선-단파장 적외선 스펙트럼 반사율 측정
  • GB/T 34534-2017 X선 형광 분광법을 이용한 코크스재 성분 함량 측정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 분광 분광 반사율

  • ASTM E573-01(2021) 내부 반사 분광학의 표준 실습
  • ASTM E573-96 내부 반사 분광법의 표준 사례
  • ASTM E573-01 내부 반사 분광법의 표준 사례
  • ASTM E573-01(2007) 내부 반사 분광법의 표준 사례
  • ASTM E573-01(2013) 내부 반사 분광법의 표준 사례
  • ASTM E307-72(2019) 고온에서의 일반적인 스펙트럼 방사율에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2193-16 모노에틸렌글리콜의 자외선 투과도 표준시험법(자외선 분광법)
  • ASTM E3029-15(2023) 형광 분광계 방출 신호의 상대 스펙트럼 보정 계수 결정을 위한 표준 실습
  • ASTM E1621-21 X선 방출 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM D3649-91 물의 고해상도 감마선 분광법 시험방법
  • ASTM D3649-98a 물의 고해상도 감마선 분광법 시험방법
  • ASTM E3029-15 형광 분광계 방출 신호에 대한 상대 스펙트럼 보정 계수 결정을 위한 표준 실습
  • ASTM E995-04 나선형 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1654-94(2004) 장거리 라만 광섬유 분광법을 위한 광섬유 및 케이블의 전리 방사선 유발 스펙트럼 변화 측정을 위한 표준 가이드
  • ASTM D3649-23 물의 고해상도 감마선 분광법에 대한 표준 사례
  • ASTM E995-16 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기 기술에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1654-94(1999) 원격 Raman 광섬유 분광학 측정에 사용되는 광섬유 및 케이블의 이온화 방사선 유발 스펙트럼 변화에 대한 표준 가이드
  • ASTM C523-68(1987) 통합 구 반사계를 사용한 음향 재료의 빛 반사율 측정을 위한 테스트 방법
  • ASTM D5381-93(2003) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM D5381-93(1998) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM E971-11 태양 복사에 대한 재료의 투과율 및 반사율을 계산하기 위한 표준 관행
  • ASTM D3649-06 물의 고해상도 감마선 분광법에 대한 표준 사례
  • ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM F1252-89(2002) 투명재료의 빛반사율 측정시험방법
  • ASTM F1252-89(1996) 투명재료의 빛반사율 측정시험방법
  • ASTM F1252-08 투명재료의 빛반사율 측정시험방법
  • ASTM D7990-15 반사 분광법을 사용하여 폴리머 벽판의 온도 상승 지수를 얻기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D7990-21 반사 분광법을 이용한 폴리머의 벽 가열 지수 생성을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E944-96 원자로 모니터링에 중성자 스펙트럼 조정 방법 적용
  • ASTM E1097-97 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E10-08 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E10-15 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM C1402-04 토양 시료의 고해상도 감마선 분광법을 위한 표준 가이드
  • ASTM C1402-98 토양 시료의 고해상도 감마선 분광법을 위한 표준 가이드
  • ASTM C1402-04(2009) 토양 시료의 고해상도 감마선 분광법을 위한 표준 가이드
  • ASTM E423-71(2019) 고온에서 비전도성 시편의 일반 스펙트럼 방사율에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM D3649-06(2014) 물의 고해상도 감마선 분광법에 대한 표준 사례
  • ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
  • ASTM F1252-21 투명재료의 광학반사율 표준시험방법
  • ASTM E1507-98 광학 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 가이드
  • ASTM E2626-08 반응성 내화 금속의 분광 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1021-12 광전자 장치의 스펙트럼 응답을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2626-08e1 반응성 내화 금속의 분광 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E971-88(2003) 태양 복사에 대한 재료의 광도 투과율 및 반사율을 계산하기 위한 표준 관행
  • ASTM E971-88(1996)e1 태양 복사에 대한 재료의 광도 투과율 및 반사율을 계산하기 위한 표준 관행
  • ASTM E971-11(2019) 태양 복사에 대한 재료의 광도 투과율 및 반사율을 계산하기 위한 표준 관행

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

  • JJF 1601-2016 확산 반사율 측정 분광계의 교정 사양
  • JJF 1335-1990 800~2000나노미터의 스펙트럼 반사 하위 참조 작동을 위한 기술 사양
  • JJF 1975-2022 분광복사계 교정 사양
  • JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양
  • JJF 1807-2020 스펙트럼 총 방사속 램프 교정 사양
  • JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

RU-GOST R, 분광 분광 반사율

  • GOST 8.197-2013 측정의 일관성을 보장하는 국가 시스템 스펙트럼 범위 0.001 um ~ 1.600 um의 분광 복사, 분광 복사 전력, 분광 복사, 분광 복사 강도, 전력 및 복사 강도 측정 장비에 대한 조건 검증 프로그램
  • GOST R 55080-2012 주철.X선 형광 분광법(XRF) 분석 방법
  • GOST 19834.3-1976 반도체 방사체 복사 에너지와 복사 스펙트럼 폭의 상대 스펙트럼 분포를 측정하는 방법
  • GOST 22091.8-1984 X선 장비 스펙트럼 성분 및 스펙트럼 상대 오염 수준을 측정하는 방법
  • GOST 17261-2008 아연 원자 방출 분광법
  • GOST R 59742-2021 레이저 장비의 광학 부품의 정반사율 및 기존 투과율에 대한 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 테스트 방법
  • GOST R 54153-2010 강철 - 원자 방출 분광법
  • GOST 27981.3-1988 스펙트럼 광전 기록을 이용한 고순도 구리의 방출 스펙트럼 분석 방법 / 참고: GOST 31382(2009)로 대체 예정
  • GOST 8.332-1978 국가 측정 균일성 보증 시스템 광 측정 광시 단색광의 분광 효율 상대값
  • GOST R 53203-2008 석유 제품 - 파장 산란 X선 형광 분광법을 통한 황 측정
  • GOST 6012-2011 니켈 화학 원자 방출 분광법
  • GOST 8776-2010 코발트 화학 원자 방출 분광법
  • GOST 6012-1978 니켈 화학 원자 방출 분광법
  • GOST 33850-2016 토양X-선 형광 분광법을 통한 화학 조성 측정
  • GOST 8.332-2013 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 빛 측정 빛 적응 비전을 위한 단색 방사선에 대한 상대 스펙트럼 시감 효율 함수 값
  • GOST 21195-1984 고강도 광방사 가스 방전 스펙트럼 소스 일반 기술 조건

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

  • DB37/T 2188-2012 Apple Blossom 반사 분광학 측정을 위한 기술 규정
  • DB37/T 2189-2012 사과 개화기 동안 캐노피 반사 스펙트럼 검출을 위한 기술 규정

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 분광 분광 반사율

International Commission on Illumination (CIE), 분광 분광 반사율

  • CIE 64-1984 광학 방사선 검출기(E)의 스펙트럼 응답성 결정
  • CIE 63-1984 광원의 스펙트럼 방사 측정(E)
  • CIE 151-2003 햇빛의 자외선 복사에 대한 스펙트럼 가중치
  • CIE 105-1993 펄스형 광학 방사원의 스펙트럼 방사 측정법(제1판) (E)
  • CIE 202-2011 검출기, 복사계 및 광도계의 스펙트럼 응답 측정
  • CIE 86-1990 CIE 1988 광시 비전을 위한 2도 분광 효율 기능(제1판) (E)

German Institute for Standardization, 분광 분광 반사율

  • DIN EN 61290-5-1:2007-03 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN 5030-3:2021-09 방사선 분광학 측정 스펙트럼 분리 정의 및 특성
  • DIN 58141-2:2012-09 광섬유 부품 측정 2부: 도광체의 스펙트럼 투과율 측정
  • DIN 5030-3:2021 방사선 스펙트럼 분리 정의 및 특성의 스펙트럼 측정
  • DIN 5030-3:1984 방사선의 스펙트럼 측정 스펙트럼 격리 정의 및 특성
  • DIN EN 61290-5-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기
  • DIN 5030-5:1987 방출된 빛의 스펙트럼 측정 방출된 빛의 스펙트럼 측정을 위한 물리적 검출기 용어, 특성 값, 선택 기준
  • DIN EN ISO 13697:2006-08 광학 및 포토닉스 - 레이저 및 레이저 관련 장비 - 광학 레이저 부품의 정반사율 및 기존 투과율에 대한 테스트 방법
  • DIN 5030-2:1982-09 방사선 스펙트럼 측정, 방사선원, 선택 기준
  • DIN 19011-3:1989 플래시 광원 파트 3: 방사선 스펙트럼 분포 표시 번호
  • DIN 5030-5:2019-08 방사선 분광학 물리적 검출기 용어, 특성량, 방사선 스펙트럼 측정을 위한 선택 기준
  • DIN 5030-2:1982 방사선의 스펙트럼 측정 방사선원 선택 기준
  • DIN 5036-3:1979-11 재료의 방사성 및 광도 특성, 광도 및 분광 방사 특성 측정 방법
  • DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN EN ISO 10545-18:2022-08 세라믹 타일 파트 18: 광 반사율 값(LRV) 결정
  • DIN EN 15079:2015-07 구리 및 구리 합금 - 스파크 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • DIN IEC 62484:2014 방사선 방호 장비 분광학 방사성 물질의 불법 운송을 위한 스펙트럼 기반 입구 모니터(IEC 62484-2010)
  • DIN 5030-1:1985-06 방사선 분광학 측정, 항, 수량, 고유값
  • DIN 5030-1:2023-07 방사선 스펙트럼 측정 - 용어, 수량, 특성 값
  • DIN 4522-4:1993-04 사진렌즈, 분광투과율 측정방법
  • DIN EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN 58141-2:1989 광섬유 부품 검사 2부: 광 전도체의 스펙트럼 투과 계수 결정

Association Francaise de Normalisation, 분광 분광 반사율

  • NF EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF S11-687:1997 광학 및 광학 기기, 콘택트 렌즈, 분광학 및 광선 투과율 측정
  • NF X21-061:2008 표면 화학 분석나선형 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 해상도 결정
  • NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사율 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-3부: 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사율 매개변수 반사 허용오차 테스트 방법
  • NF S10-114*NF EN ISO 13697:2006 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 광학 레이저 부품의 분광 반사 계수 및 투과 계수 테스트 방법
  • NF C93-805-5-1*NF EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석 방법
  • NF A06-840:1998 아연 및 아연 합금 광학 방출 분광 분석
  • NF EN ISO 13697:2006 레이저 광학 부품의 반사율 및 투과율에 대한 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 테스트 방법
  • NF S10-049*NF ISO 15368:2021 평면 반사율 및 평면 평행 요소의 투과율에 대한 광학 및 포토닉스 측정
  • NF ISO 15368:2021 광학 및 포토닉스 - 평면 평행 요소의 평면 반사율 및 투과율 측정
  • NF A07-510X2:1975 비합금 알루미늄의 방출 스펙트럼 분석
  • NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 5-3: 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사 허용 오차 감지
  • NF A07-510:1971 비합금 알루미늄의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A07-515:1971 알루미늄-구리 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF B30-111*NF ISO 1776:1986 유리는 100℃에서 염산 침식에 강합니다. 화염 방출 분광법 또는 화염 원자 흡수 분광법
  • NF C93-805-5-1:2001 광섬유 강화기 기본 사양 파트 5-1: 반사 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
  • NF A07-500:1979 알루미늄 및 그 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF S10-049:2003 광학 및 광학 기기 평면 평행 요소의 평면 반사 및 투과율 측정
  • NF A06-590:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광 분석 안내
  • NF M60-818:2008 수질 방사성 핵종 활성 농도 측정 고해상도 감마 분광법
  • NF EN 15079:2015 구리 및 구리 합금의 스파크 광학 방출 분광법(SEO-E) 분석
  • NF S10-048*NF ISO 19962:2019 평면 평행 광학 요소의 통합 산란을 위한 광학 및 포토닉스 스펙트럼 측정 방법
  • NF ISO 19962:2019 광학 및 포토닉스. 평행 평면 광학 요소의 통합 산란을 위한 스펙트럼 측정 방법
  • NF C57-805-2*NF EN 62805-2:2017 태양광 유리 측정 방법 2부: 투과율 및 반사율 측정
  • NF EN 62805-2:2017 태양광(PV) 유리 측정 방법 2부: 투과율 및 반사율 측정
  • NF ISO 14707:2006 표면 화학 분석을 위한 글로우 방전 방출 분광법 사용 소개
  • NF V03-002*NF EN 1786:1997 식품 뼈 방사선 식품 검출 ESR 분광법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 분광 분광 반사율

European Committee for Standardization (CEN), 분광 분광 반사율

  • EN ISO 8599:1996 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈의 스펙트럼 및 빛 투과율 측정
  • EN 12019:1997 아연 및 아연 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내
  • PREN 14726-2003 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내
  • DD ENV 12908-1997 납 및 납 합금 스파크 여기를 이용한 광학 방출 분광법(OES) 분석

International Organization for Standardization (ISO), 분광 분광 반사율

  • ISO 8599:1994 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈의 스펙트럼 및 빛 투과율 측정
  • ISO 18516:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 가로 해상도 결정
  • ISO 26723:2020 플라스틱 총 광선 투과율 및 반사율 측정
  • ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • ISO 13142:2021 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 높은 반사율 및 높은 투과율 측정을 위한 캐비티 링다운 방법.
  • ISO/CD 23698 화장품 자외선 차단제 테스트 방법: 확산 반사 분광법을 통한 자외선 차단제 효능 확인
  • ISO 8478:2017 광학 및 포토닉스 사진 렌즈 ISO 스펙트럼 투과율 측정
  • ISO 19012-3:2015 현미경, 현미경 대물렌즈의 명명법, 3부: 스펙트럼 투과율
  • ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • ISO 7669:1986 양극 산화 처리된 알루미늄 및 알루미늄 합금 광전 반사계에 의한 전반사율 측정
  • ISO 15368:2001 광학 및 광학 기기의 평면 반사율 및 평면 평행 요소의 투과율 측정
  • ISO 19618:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) FTIR 분광계 기준 흑체를 이용한 일반 분광휘도 측정 방법
  • ISO/TR 16043:2015 철광석, 염소 함량 측정, X선 형광 분광법
  • ISO 10703:2007 수질 방사성 핵종 활성 농도 측정 고해상도 감마 분광법
  • ISO 10703:2021 수질 방사성 핵종 활성 농도 측정 고해상도 감마 분광법
  • ISO 10703:1997 고해상도 감마선 분광법을 통한 수질 내 방사성 핵종 활성 농도 측정
  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
  • ISO 19962:2019 광학 및 포토닉스 - 평면 평행 광학 요소의 통합 산란을 분광 측정하는 방법
  • ISO 13142:2015 전기 광학 시스템 높은 반사율 측정을 위한 캐비티 링다운 기술
  • ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
  • ISO 15368:2021 광학 및 광학 기기 - 평면 반사 계수 및 평면 평행 요소의 투과율 측정
  • ISO 8478:1996 사진 카메라 렌즈 ISO 분광 투과율 측정

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

Professional Standard - Machinery, 분광 분광 반사율

British Standards Institution (BSI), 분광 분광 반사율

  • BS ISO 8478:2017 광학 및 포토닉스 카메라 렌즈의 ISO 분광 투과율 측정
  • BS EN 61290-5-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS ISO 18516:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 가로 해상도 결정
  • BS EN 60904-8:1998 광전자 장치 광전자 장치 스펙트럼 응답 측정
  • BS EN 60904-8:2014 광전자 장치 광전자 장치 스펙트럼 응답 측정
  • BS ISO 19012-3:2015 현미경법.미세 대물렌즈의 명명법.분광 투과율
  • BS EN 61280-1-1:1998 광섬유 증폭기 기본 스펙트럼 분석기 단일 모드 광 케이블용 송신기의 광 출력 전력 측정
  • BS EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전자 스펙트럼 분석기에 의한 반사 허용 오차 결정
  • BS EN ISO 10545-18:2022 세라믹 타일의 광반사율 값(LRV) 결정
  • PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
  • BS EN 12019:1998 아연 및 아연 합금 - 광 방출 분광학 분석
  • BS ISO 26723:2020 플라스틱의 전광선 투과율 및 반사율 측정
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • BS ISO 15368:2021 평면 반사율 및 평면 평행 요소의 투과율에 대한 광학 및 포토닉스 측정
  • BS IEC 60747-5-15:2022 전기반사스펙트럼을 기반으로 한 반도체소자-광전자소자 발광다이오드 플랫밴드 전압 테스트 방법
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS EN 62805-2:2017 태양광(PV) 유리 측정 방법 투과율 및 반사율 측정
  • 20/30352222 DC BS ISO 15368 광학 및 포토닉스의 평면 평행 요소의 평면 반사 및 투과 측정
  • 19/30368985 DC BS ISO 26723 플라스틱의 총 광선 투과율 및 반사율 결정
  • BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
  • BS ISO 19618:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) FTIR 분광계 기준 흑체를 이용한 일반 분광휘도 측정 방법
  • PD ISO/TR 16043:2015 X선 형광 분광법을 이용한 철광석의 염소 함량 측정
  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • 20/30384001 DC 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 관련 장비의 높은 반사율 및 높은 투과율 측정을 위한 BS ISO 13142 캐비티 링다운 방법
  • BS ISO 14707:2015 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
  • BS ISO 14707:2000 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
  • BS EN 15079:2015 구리 및 구리 합금의 스파크 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • BS ISO 19962:2019 평면 평행 광학 요소로부터의 통합 산란의 분광학 측정을 위한 광학 및 포토닉스 방법
  • BS ISO 13142:2015 전기 광학 시스템 높은 반사율 측정을 위한 캐비티 링다운 기술
  • BS ISO 13142:2021 전기 광학 시스템의 높은 반사율 측정을 위한 캐비티 링다운 기술
  • BS EN 61290-5-2:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • BS ISO 15368:2001 광학 및 광학 기기 평면 반사 계수 측정 및 평행 평면 요소의 투과율
  • BS EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광법 분석 가이드

未注明发布机构, 분광 분광 반사율

  • BS EN ISO 8599:1997 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈의 스펙트럼 및 빛 투과율 측정
  • BS ISO 18516:2006(2010) 표면 화학 분석 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 측면 분해능 결정

TIA - Telecommunications Industry Association, 분광 분광 반사율

  • EIA/TIA-455-46A-1990 FOTP-46 긴 등급 인덱스 광섬유의 스펙트럼 감쇠 측정
  • TIA/EIA-455-115-1996 FOTP-115 스텝 인덱스 다중 모드 광섬유의 스펙트럼 감쇠 측정
  • 455-50A-1987 장거리 등급 인덱스 광섬유 스펙트럼 감쇠 측정을 위한 FOTP-50 발광 조건
  • TIA/EIA-455-50B-1998 장거리 등급 인덱스 광섬유 스펙트럼 감쇠 측정을 위한 FOTP-50 발광 조건
  • TIA-455-50-B-1998 긴 길이 등급 인덱스 광섬유 스펙트럼 감쇠 측정을 위한 FOTP 50 광 방출 조건(ANSI 승인은 2003년 6월 철회됨)
  • TIA-455-46A-1990 FOTP-46 긴 길이의 등급형 인덱스 광섬유의 스펙트럼 감쇠 측정(EIA-455-46 개정)
  • TIA-455-115-1996 FOTP 115 스텝 인덱스 다중 모드 광섬유의 스펙트럼 감쇠 측정(2003년 6월 ANSI 승인 취소)
  • TIA/EIA-455-168A-1992 FOTP-168 시간 영역 스펙트럼 그룹 지연 측정을 통한 다중 모드 등급 인덱스 광섬유 및 단일 모드 광섬유의 분산 측정

Professional Standard - Agriculture, 분광 분광 반사율

KR-KS, 분광 분광 반사율

Group Standards of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

  • T/ZZB 2793-2022 스펙트럼 복사계
  • T/CSTM 00197-2021 분자형광분광법을 이용한 그래핀 양자점의 청색광 방출 상대형광양자수율 측정
  • T/CSTM 00313-2021 스펙트럼 반전에 기초한 광학박막 상수 시험 방법
  • T/CAIA SH003-2015 X선 형광 분광법을 이용한 쌀의 카드뮴 측정
  • T/SHDSGY 031-2023 고해상도 분광계 기술 사양
  • T/CSTM 00901-2023 휴대용 X선 형광 분광계의 교정 사양
  • T/HEBQIA 208-2023 아스팔트 막용 태양광 반사율이 높은 모래
  • T/GZTPA 0005-2020 근적외선 확산반사분광법을 이용한 귀주녹차의 주요 화학성분 측정
  • T/CACE 064-2022 X선 형광 분광법을 이용한 석탄 가스화 슬래그 조성 측정
  • T/GZTSS 1-2021 근적외선 확산 반사 분광법을 이용한 차의 테아닌 및 테오브로민 함량 측정
  • T/SZFAA 01-2018 식물용 인공 방사선원의 스펙트럼 매개변수 사양

International Telecommunication Union (ITU), 분광 분광 반사율

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 분광 분광 반사율

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

  • CNS 11993-1987 광섬유 소자 검사 방법(장거리 경사 광섬유 분광 감쇠 측정 FOTP-50을 위한 투광 조건)
  • CNS 11789-1986 광섬유 부품 검사 방법(장거리 경사율 광섬유 FOTP-46의 스펙트럼 감쇠 측정)
  • CNS 12381-1988 판유리의 투과율, 반사율 및 일사열 취득율 시험 방법
  • CNS 12788-1990 내화벽돌 및 내화골재의 형광X선 분광분석
  • CNS 12762-2000 휘발유의 납 함량 측정(X선 분광법)

ES-UNE, 분광 분광 반사율

  • UNE-EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-3부: 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사율 매개변수 반사 허용오차 테스트 방법
  • UNE-EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-1:2006)
  • UNE-EN ISO 10545-18:2022 세라믹 타일 파트 18: 광 반사율 값(LRV) 결정
  • UNE-EN 15079:2015 구리 및 구리 합금의 스파크 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • UNE-EN 62805-2:2017 태양광(PV) 유리 측정 방법 2부: 투과율 및 반사율 측정
  • UNE-EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법

RO-ASRO, 분광 분광 반사율

Illuminating Engineering Society of North America, 분광 분광 반사율

International Electrotechnical Commission (IEC), 분광 분광 반사율

  • IEC 61976:2000 핵 장비 분광법 HPGe 핵 감마선 분광법의 스펙트럼 배경 특성
  • IEC 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 스펙트럼 분석 방법
  • IEC 60904-8:1995 광전자 장치 8부: 광전자 장치의 스펙트럼 응답 측정 지침
  • IEC 61290-5-1:2000 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-1부: 반사 매개변수의 측정 방법 광 스펙트럼 분석기
  • IEC 62805-2:2017 태양광(PV) 유리 측정 방법 2부: 투과율 및 반사율 측정
  • IEC 61290-5-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 60747-5-15:2022 반도체소자 5-15부: 전기반사분광법을 기반으로 한 광전자소자 발광다이오드의 플랫밴드 전압 시험방법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 분광 분광 반사율

  • YS/T 631-2007 아연 분석 방법 광전자 방출 분광법
  • YS/T 558-2009 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 559-2009 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 558-2006 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 559-2006 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 482-2005 구리 및 구리 합금 분석 방법 광전 방출 분광법
  • YS/T 1036-2015 마그네슘 희토류 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 568.9-2006 하프늄 산화물 내 지르코늄 산화물의 양 측정(X선 형광 분광법)
  • YS/T 361-2006 순수 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 362-2006 순수 팔라듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 363-2006 순수 로듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 364-2006 순수 이리듐의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 361-1994 순수 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석

Danish Standards Foundation, 분광 분광 반사율

  • DS/EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-3부: 전자 스펙트럼 분석기를 사용한 반사율 매개변수 반사 허용오차 테스트 방법
  • DS/EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN ISO 13697:2006 광학 및 포토닉스 - 레이저 및 레이저 관련 장비 - 광학 레이저 부품의 정반사율 및 기존 투과율에 대한 테스트 방법
  • DS/EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 15079:2007 구리 및 구리 합금의 스파크 소스 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • DS/ENV 12908:1998 납 및 납 합금의 스파크 유발 광학 방출 분광법(OES) 분석
  • DS/EN ISO 22969:2021 페인트 및 바니시의 태양광 반사율 측정(ISO 22969:2019)

ZA-SANS, 분광 분광 반사율

  • SANS 61290-5-1:2007 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법

(U.S.) Ford Automotive Standards, 분광 분광 반사율

Professional Standard - Nuclear Industry, 분광 분광 반사율

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 분광 분광 반사율

  • GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
  • GB/T 37412-2019 레이저의 광공동 링다운 고반사율 측정 방법 및 레이저 관련 장비
  • GB/T 16597-2019 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리

Tianjin Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

  • DB12/T 955-2020 근적외선 확산 반사 분광법을 이용한 낙농장 분뇨수 내 질소 및 인 측정
  • DB12/T 1015-2020 중적외선 감쇠 전반사 분광법을 이용한 낙농장 분뇨의 질소 및 인 측정

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 분광 분광 반사율

国家能源局, 분광 분광 반사율

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

  • DB63/T 1678-2018 X-선 형광 분광법(에너지 분광법)을 통한 탕카의 미네랄 색소 측정

Professional Standard - Commodity Inspection, 분광 분광 반사율

  • SN/T 2785-2011 아연 및 아연 합금 광전 방출 분광법 분석 방법
  • SN/T 2786-2011 마그네슘 및 마그네슘 합금의 광전방출분광법 분석방법
  • SN/T 4020-2013 X선 형광 분광법을 통한 순수 철 불순물 함량 측정
  • SN/T 2260-2010 광전방출분광법을 이용한 구리음극의 화학적 조성 측정
  • SN/T 2489-2010 선철의 크롬, 망간, 인 및 규소 측정 광전 방출 분광법
  • SN/T 2764-2011 X선 형광 분광법을 통한 형석의 다양한 성분 측정
  • SN/T 3231-2012 활석의 석면 함량 측정 편광현미경-X선 회절 분광법
  • SN/T 2079-2008 스테인레스강 및 합금강 X선 형광 분광법 분석 방법
  • SN/T 3712-2013 편광 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
  • SN/T 3808-2014 X선 형광 분광법을 이용한 인산이암모늄의 총 인 함량 측정

American National Standards Institute （ANSI), 분광 분광 반사율

工业和信息化部, 분광 분광 반사율

  • SJ/T 11760-2020 광전적분법에 의한 태양전지 텍스처 반사율 측정

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 분광 분광 반사율

  • EN 61290-5-1:2000 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법

Professional Standard - Education, 분광 분광 반사율

  • JY/T 0569-2020 파장 분산형 X선 형광 분광법의 일반 원리

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 분광 분광 반사율

  • IEEE N42.14-1991 게르마늄 분광기를 이용한 방사성 핵종의 감마선 방사율 교정 및 측정

IT-UNI, 분광 분광 반사율

Lithuanian Standards Office , 분광 분광 반사율

  • LST EN 61290-5-2-2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사율 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-2:2003)
  • LST EN ISO 13697:2006 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 광학 레이저 부품의 정반사율 및 기존 투과율에 대한 테스트 방법(ISO 13697:2006)
  • LST EN 61290-5-1-2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-1:2006)
  • LST EN 61290-5-3-2003 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-3부: 전기 스펙트럼 분석기의 반사 허용 오차를 사용한 반사율 매개변수 테스트 방법(IEC 61290-5-3:2002)
  • LST EN 15079-2007 구리 및 구리 합금의 스파크 소스 광학 방출 분광법(S-OES) 분석
  • LST L ENV 12908-2000 납 및 납 합금의 스파크 유발 광학 방출 분광법(OES) 분석

AENOR, 분광 분광 반사율

  • UNE-EN ISO 13697:2007 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 광학 레이저 부품의 정반사율 및 기존 투과율에 대한 테스트 방법(ISO 13697:2006)

BE-NBN, 분광 분광 반사율

IN-BIS, 분광 분광 반사율

Standard Association of Australia （SAA）, 분광 분광 반사율

  • AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

VN-TCVN, 분광 분광 반사율

  • TCVN 7737-2007 건축용 유리 빛 투과율, 빛 반사율, 총 태양 투과율 및 자외선 투과율 측정 방법
  • TCVN 1048-2007 유리 100°C 염산 부식에 대한 내성 화염 방출 분광법 또는 화염 원자 흡수 분광법
  • TCVN 7175-2011 수질 방사성 핵종 활성 농도 측정 고해상도 감마 분광법
  • TCVN 6704-2008 휘발유 X-선 분광법을 통한 석유 내 납 측정

CEN - European Committee for Standardization, 분광 분광 반사율

  • EN 14726:2019 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내

SE-SIS, 분광 분광 반사율

  • SIS SS-ISO 7669:1988 양극산화처리된 알루미늄 및 그 합금. 광전 반사계를 사용하여 전체 반사율 측정

Professional Standard - Electron, 분광 분광 반사율

National Aeronautics and Space Administration (NASA), 분광 분광 반사율

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광 분광 반사율

  • DB22/T 1994-2013 공급 X선 형광 분광법을 통한 구리, 철, 망간 및 아연 측정

Professional Standard - Chemical Industry, 분광 분광 반사율

  • HG/T 5077-2016 광학 기능성 필름의 근적외선 분광 투과도 측정 방법

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 분광 분광 반사율

  • EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법 IEC 61290-5-1
  • EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기의 기본 사양 파트 5-3: 반사 매개변수 테스트 방법 광전자 스펙트럼 분석기를 사용한 반사 허용 오차 테스트 방법 IEC 61290-5-3-2002

PL-PKN, 분광 분광 반사율

  • PN E04042-03-1991 광학 방사선 측정. 비색법(Colorimetry)은 광원의 스펙트럼 및 색상 특성을 결정하는 방법입니다.
  • PN-EN ISO 22969-2021-06 E 페인트 및 바니시의 태양광 반사율 측정(ISO 22969:2019)

国家质量监督检验检疫总局, 분광 분광 반사율

  • SN/T 4668-2016 천연색면의 UV 확산반사분석법을 이용한 수출입 섬유섬유의 정성분석 원문보기 KCI 원문보기 인용

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 분광 분광 반사율

  • IEEE/ANSI N42.14-1999 감마선 방사율의 방사성 핵종 함량 측정을 위한 게르마늄 분광계의 교정 및 사용 방법

AT-ON, 분광 분광 반사율

  적외선 스펙트럼 반사율, 분광 반사율 측정, 분광 반사율 측정, 분말 스펙트럼 스펙트럼, 적외선 분광법, 방출 스펙트럼 스펙트럼, 스펙트럼 스펙트럼 정의, 스펙트럼 반사율, 스펙트럼 반사율, 스펙트럼스펙트럼 강도, 분광 반사율 측정, 스펙트럼 반사율 측정, 반사 스펙트럼, 적외선 스펙트럼 반사율, 적외선 스펙트럼 반사율, 분광 반사율 측정기, 분광 반사율 측정기, UV 스펙트럼 반사율, 스펙트럼 반사율 스펙트럼, 분광 분광 반사율.

 



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