동일 평면성 테스트

모두 2항목의 동일 평면성 테스트와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 동일 평면성 테스트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 동일 평면성 테스트

• JEDEC JESD22-B108A-2003 표면 실장 반도체 장비의 동일 평면성 테스트
• JEDEC JESD22-B108B-2010 표면 실장 반도체 장치의 동일 평면성 테스트

기타:   균일성 테스트, 내마모성 테스트, 테스트 적합성, 신뢰성 테스트, 장비 테스트 가능성 설계, 미끄럼 방지 테스트, 내마모성 테스트, 적합성 테스트 방법, 내후성 시험, 전도도 테스트, 균일성 테스트, 용매 테스트, 테스트 추정치, 동등성 테스트, 테스트 디자인, 동등성 테스트+, 시험 보고서, 장비 테스트 가능성, 동일 평면성 테스트.