ZH
EN
ES

СЭМ-анализ сканирования

СЭМ-анализ сканирования, Всего: 43 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЭМ-анализ сканирования, являются: Линейные и угловые измерения, Оптическое оборудование, Обувь, Аналитическая химия, Словари, Образование, Термодинамика и измерения температуры, Качество воздуха.

American Society for Testing and Materials (ASTM), СЭМ-анализ сканирования

ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E967-97 Стандартная практика температурной калибровки дифференциальных сканирующих калориметров и дифференциальных термических анализаторов

International Organization for Standardization (ISO), СЭМ-анализ сканирования

ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 7111:1987 пластмассы; Термогравиметрия полимеров; Метод температурного сканирования
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

British Standards Institution (BSI), СЭМ-анализ сканирования

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ-анализ сканирования

DB35/T 1778-2018 Метод сканирования и анализа измерения формы стопы

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, СЭМ-анализ сканирования

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЭМ-анализ сканирования

KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь

KR-KS, СЭМ-анализ сканирования

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Professional Standard - Education, СЭМ-анализ сканирования

JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
JY/T 0589.3-2020 Общие принципы методов термического анализа. Часть 3. Дифференциальная сканирующая калориметрия.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЭМ-анализ сканирования

GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.

Association Francaise de Normalisation, СЭМ-анализ сканирования

NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

German Institute for Standardization, СЭМ-анализ сканирования

DIN 51007-2:2021 Термический анализ. Дифференциальный термический анализ (ДТА) и дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Часть 2. Быстрая дифференциальная сканирующая калориметрия (f-DSC); Чип-калориметрия
DIN 51007-2:2021-10 Термический анализ. Дифференциальный термический анализ (ДТА) и дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Часть 2. Быстрая дифференциальная сканирующая калориметрия (f-DSC); Чип-калориметрия
DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
DIN 51007:2019 Термический анализ. Дифференциальный термический анализ (ДТА) и дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Общие принципы.
DIN 51007:2019-04 Термический анализ. Дифференциальный термический анализ (ДТА) и дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Общие принципы.

RU-GOST R, СЭМ-анализ сканирования

GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

Professional Standard - Petroleum, СЭМ-анализ сканирования

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

国家能源局, СЭМ-анализ сканирования

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, СЭМ-анализ сканирования

GJB 5793-2006 Метод тестирования и оценки продуктов сканирования уязвимостей