ZH
EN
ES

Массовая характеристика + отклик

Массовая характеристика + отклик, Всего: 71 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Массовая характеристика + отклик, являются: Пестициды и другие агрохимикаты, Общие методы испытаний и анализа пищевых продуктов, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электронные лампы, Солнечная энергетика, Фотография, Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Астрономия. Геодезия. География, Первая помощь, Экологические испытания, Вибрации, измерения ударов и вибрации, Медицинское оборудование, Качество воды.

European Committee for Standardization (CEN), Массовая характеристика + отклик

PD CEN/TR 16468:2013 Анализ пищевых продуктов. Определение остатков пестицидов с помощью ГХ-МС. Время удерживания @ масс-спектрометрические параметры и информация о реакции детектора.
CEN/TR 16468:2013 Анализ пищевых продуктов. Определение остатков пестицидов с помощью ГХ-МС. Время удерживания, масс-спектрометрические параметры и информация о реакции детектора.

Danish Standards Foundation, Массовая характеристика + отклик

DS/CEN/TR 16468:2013 Анализ пищевых продуктов. Определение остатков пестицидов с помощью ГХ-МС. Время удерживания, масс-спектрометрические параметры и информация о реакции детектора.
DS/EN 60904-8:1999 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (ФЭ) устройства.

Association Francaise de Normalisation, Массовая характеристика + отклик

FD V03-157*FD CEN/TR 16468:2013 Анализ пищевых продуктов. Определение остатков пестицидов с помощью ГХ-МС. Время удерживания, масс-спектрометрические параметры и информация о реакции детектора.
FD CEN/TR 16468:2013 Анализ пищевых продуктов - Определение остатков пестицидов методом ГХ-МС - Время удерживания, параметры масс-спектрометрии и информация о реакции детекторов
NF C57-328*NF EN 60904-8:2014 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (ФЭ) устройства.
NF EN 60904-8:2014 Фотоэлектрические устройства. Часть 8: измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (ФЭ) устройства.

Professional Standard - Electron, Массовая характеристика + отклик

SJ 2354.7-1983 Метод измерения кривой спектрального отклика и диапазона спектрального отклика PIN и лавинных фотодиодов

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Массовая характеристика + отклик

GB/T 5295-2012 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
GB/T 11009-1989 Методы измерения спектрального отклика солнечных элементов
GB 5295-1985 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
GB/T 5295-1985 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
GB/Z 26209-2010 Определение спектральной чувствительности детекторов оптического излучения
GB/T 6495.8-2002 Фотоэлектрические устройства, часть 8: Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (PV) устройства

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Массовая характеристика + отклик

JJF 1903-2021 Спецификация калибровки для машин для испытания спектра ударной реакции
JJF 1655-2017 Спецификация калибровки солнечных элементов: спектральная чувствительность
JJF 1150-2006 Спецификация калибровки для относительной спектральной чувствительности
JJF 2064-2023 Спецификация калибровки многопереходных GaAs солнечных элементов — спектральная чувствительность

US-FCR, Массовая характеристика + отклик

FCR AF I32-4002-1997 ПРОГРАММА ПЛАНИРОВАНИЯ ЧРЕЗВЫЧАЙНЫХ МЕРОПРИЯТИЙ И РЕАГИРОВАНИЯ НА ОПАСНЫЕ МАТЕРИАЛЫ
FCR COE EM 1110-2-6050-1999 СПЕКТРЫ ОТКЛИКОВАНИЯ И СЕЙСМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ БЕТОННЫХ ГИДРАВЛИЧЕСКИХ КОНСТРУКЦИЙ
FCR COE ER 1130-2-434-1985 РЕАГИРОВАНИЕ НА ПРОИСШЕСТВИЯ С НЕФТЬЮ И ОПАСНЫМИ ВЕЩЕСТВАМИ

American National Standards Institute （ANSI), Массовая характеристика + отклик

ANSI/ASTM E1021:1995 Методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Массовая характеристика + отклик

ECA TEP 150-1964 Данные относительного спектрального отклика для светочувствительных устройств («S»-кривые)

Group Standards of the People's Republic of China, Массовая характеристика + отклик

T/CIMA 0019-2019 Масс-спектрометры для реакции переноса протона
T/CITS 0006-2023 Общие принципы технологии применения масс-спектрометрии медицинских нуклеиновых кислот

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Массовая характеристика + отклик

KS C 8525-2005(2010) Методы измерения спектрального отклика кристаллических солнечных элементов
KS C 8525-2005 Методы измерения спектрального отклика кристаллических солнечных элементов
KS C 8525-1995 Методы измерения спектрального отклика кристаллических солнечных элементов
KS C IEC 60904-8:2005 Фотоэлектрические устройства. Часть 8: Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (ФЭ) устройства.
KS C IEC 60904-8:2015 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрического (ФЭ) устройства.
KS C IEC 60904-8-2015(2020) Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрического (ФЭ) устройства.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Массовая характеристика + отклик

ASTM E1021-95(2001) Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ASTM E1021-95 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ASTM D4626-95(2000) Стандартная практика расчета коэффициентов отклика газовой хроматографии
ASTM E1021-15(2019) Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
ASTM D4626-95(2019) Стандартная практика расчета коэффициентов отклика газовой хроматографии
ASTM E1021-15 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств
ASTM D4626-95(2015) Стандартная практика расчета коэффициентов отклика газовой хроматографии
ASTM D4626-95(2005) Стандартная практика расчета коэффициентов отклика газовой хроматографии
ASTM D4626-95(2010) Стандартная практика расчета коэффициентов отклика газовой хроматографии
ASTM F1127-22 Стандартное руководство по локализации разливов опасных материалов персоналом аварийно-спасательных служб
ASTM E1021-06 Стандартный метод испытаний для измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств

International Commission on Illumination (CIE), Массовая характеристика + отклик

CIE 64-1984 Определение спектральной чувствительности детекторов оптического излучения (Э)
CIE 202-2011 ИЗМЕРЕНИЕ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ДЕТЕКТОРОВ, РАДИОМЕТРОВ И ФОТОМЕТРОВ

US-Unspecified Preparing Activity, Массовая характеристика + отклик

DI-SESS-81923-2013 Протокол проверок качества и ответов (QAFRR)

IETF - Internet Engineering Task Force, Массовая характеристика + отклик

RFC 4721-2007 Расширения запроса/ответа для мобильного IPv4 (пересмотренные)
RFC 2195-1997 Расширение IMAP/POP AUThorize для простого запроса/ответа
RFC 5802-2010 Механизм аутентификации «соленый запрос-ответ» (SCRAM) Механизмы SASL и GSS-API

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Массовая характеристика + отклик

JJG 685-1990 Регламент проверки относительной спектральной чувствительности фотоэлектрического детектора
JJG(电子) 30902-2006 Технические условия на проверку абсолютной спектральной скорости отклика фотодетекторов

ECIA - Electronic Components Industry Association, Массовая характеристика + отклик

TEP 150-1964 «Данные относительного спектрального отклика для светочувствительных устройств («S»-кривые)»

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Массовая характеристика + отклик

JIS C 8944:2009 Методы измерения спектрального отклика многопереходных солнечных элементов
JIS C 60068-2-81:2007 Экологические испытания. Часть 2-81. Удар. Синтез спектра реакции на удар.
JIS C 8915:1998 Методы измерения спектрального отклика кристаллических солнечных элементов и модулей

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Массовая характеристика + отклик

SMPTE ST 2065-2-2012 Плотность печати Академии (APD) — спектральная чувствительность, эталонное измерительное устройство и спектральный расчет

Professional Standard - Machinery, Массовая характеристика + отклик

JB/T 9478.9-2013 Методы измерения фотоэлектрических элементов. Часть 9: Характеристики спектрального отклика

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Массовая характеристика + отклик

DB52/T 1690-2022 Уровень аварийного реагирования электросетей в зоне геологического бедствия, вызванного дождями

RU-GOST R, Массовая характеристика + отклик

GOST R 25645.162-1995 Антропогенное воздействие низкочастотных волн на ионосферу и магнитосферу Земли. Пространственно-временные и спектральные отклики

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Массовая характеристика + отклик

JEDEC JEP78-1969 Относительные кривые спектрального отклика полупроводниковых инфракрасных детекторов

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Массовая характеристика + отклик

ASHRAE CH-06-5-1-2006 Управление с помощью строительной массы. Часть 1: Модель термического реагирования

International Electrotechnical Commission (IEC), Массовая характеристика + отклик

IEC 60904-8:1998 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (ФЭ) устройства.
IEC 60904-8:2014 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрического (ФЭ) устройства.

German Institute for Standardization, Массовая характеристика + отклик

DIN EN 60904-8:1998 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (ФЭ) устройства (IEC 60904-8:1998); Немецкая версия EN 60904-8:1998.
DIN EN ISO 17294-1:2022-07 Качество воды. Применение масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS). Часть 1: Общие рекомендации (ISO/DIS 17294-1:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17294-1:2022 / Примечание: Дата выпуска 17 июня 2022 г. *Предназначена для замены стандарта DIN ...

British Standards Institution (BSI), Массовая характеристика + отклик

BS ISO 18431-4:2007 Механическая вибрация и удар. Обработка сигналов. Анализ спектра ударной реакции.
BS EN 60904-8-1:2017 Фотоэлектрические устройства. Измерение спектральной чувствительности многопереходных фотоэлектрических (ФЭ) устройств.
BS ISO 17294-1:2004 Качество воды. Применение масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS). Общие рекомендации.
BS EN ISO 17294-1:2004 Качество воды. Применение масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS). Общие рекомендации.

Indonesia Standards, Массовая характеристика + отклик

SNI 04-6205.8-2000 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Руководство по спектральному измерению спектральной чувствительности фотоэлектрического устройства.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Массовая характеристика + отклик

EN 60904-8:1998 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектрального отклика фотоэлектрического (ФЭ) устройства.