ZH
EN
ES

Образец ПЭМ

Образец ПЭМ, Всего: 99 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Образец ПЭМ, являются: Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Метрология и измерения в целом, Оптическое оборудование, Образование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Испытание металлов, Технические рисунки, Обработка поверхности и покрытие, Материалы для армирования композитов, Физика. Химия, Качество воздуха, Защита от преступности, Защита от опасных грузов.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Образец ПЭМ

GB/T 33839-2017 Методы просвечивающей электронной микроскопии для биологических образцов, содержащих углеродные наноматериалы, обладающие биологическим действием
GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Professional Standard - Machinery, Образец ПЭМ

JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Образец ПЭМ

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Образец ПЭМ

JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, Образец ПЭМ

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии

International Organization for Standardization (ISO), Образец ПЭМ

ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Образец ПЭМ

GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Образец ПЭМ

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

British Standards Institution (BSI), Образец ПЭМ

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
15/30292710 DC BS ISO 19214. Руководство по определению направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии.
BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Образец ПЭМ

DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Образец ПЭМ

KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом

KR-KS, Образец ПЭМ

KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

工业和信息化部, Образец ПЭМ

YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Petroleum, Образец ПЭМ

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

国家能源局, Образец ПЭМ

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), Образец ПЭМ

ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM D5756-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM D5756-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии

German Institute for Standardization, Образец ПЭМ

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

PH-BPS, Образец ПЭМ

PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Danish Standards Foundation, Образец ПЭМ

DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Association Francaise de Normalisation, Образец ПЭМ

FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии

European Committee for Standardization (CEN), Образец ПЭМ

EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

AENOR, Образец ПЭМ

UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.

ES-UNE, Образец ПЭМ

UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)

AT-ON, Образец ПЭМ

OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Образец ПЭМ

JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.

未注明发布机构, Образец ПЭМ

DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Professional Standard - Judicatory, Образец ПЭМ

SF/T 0139-2023