ZH
EN
ES

высокая передача электронов

высокая передача электронов, Всего: 73 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к высокая передача электронов, являются: Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Метрология и измерения в целом, Комплектующие и аксессуары для телекоммуникационного оборудования, Специальное измерительное оборудование для использования в телекоммуникациях, Медицинское оборудование, Образование, Гальванические элементы и батареи, Испытание металлов, Изделия цветных металлов, Технические рисунки, Обработка поверхности и покрытие, Материалы для армирования композитов, Физика. Химия, Качество воздуха, Измерения радиации, Электронные компоненты в целом, Электронные устройства отображения, Цветные металлы.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, высокая передача электронов

DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

US-FCR, высокая передача электронов

FCR FED HANDBOOK 55-1957 ЗАЩИТА ОТ БЕТАТРОННО-СИНХРОТРОННЫХ ИЗЛУЧЕНИЙ НАПРЯЖЕННОСТЬЮ ДО 100 МИЛЛИОНОВ ЭЛЕКТРОН ВОЛЬТ

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, высокая передача электронов

GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB 6996.4-1986 Таблица высокочастотных испытаний пленок для телевидения
GB/T 6996.5-1986 Тестовая таблица высокого разрешения прозрачных пленок для телевидения
GB/T 6996.4-1986 Таблица высокочастотных испытаний пленок для телевидения
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
GB/T 30543-2014 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
GB/T 29658-2013 Мишень из распыленного алюминия и алюминиевого сплава высокой чистоты, используемая в электронной пленке

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, высокая передача электронов

GB/T 34002-2017 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Machinery, высокая передача электронов

JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, высокая передача электронов

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/CI 035-2022 Метод калибровки увеличения рентгеновского детектора для литий-ионной батареи
T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, высокая передача электронов

JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, высокая передача электронов

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, высокая передача электронов

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Professional Standard - Medicine, высокая передача электронов

YY/T 0586-2005 Изделия медицинские полимерные. Методы испытаний рентгеноконтрастности
YY/T 0586-2016 Медицинские полимерные изделия-Методы испытаний рентгеноконтрастности

Defense Logistics Agency, высокая передача электронов

DLA QPL-29-QPD-2011 Резисторы, фиксированные, измерительный умножитель, внешние (высоковольтные, с наконечником с наконечником)

International Organization for Standardization (ISO), высокая передача электронов

ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 13142:2021 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Метод резонатора для измерений с высоким коэффициентом отражения и пропускания.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), высокая передача электронов

KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
KS D ISO TR 17270:2007 Микролучевой анализ－Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия－Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов

KR-KS, высокая передача электронов

KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS D ISO TR 17270-2007 Микролучевой анализ－Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия－Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов

工业和信息化部, высокая передача электронов

YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

British Standards Institution (BSI), высокая передача электронов

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
PD IEC TR 61000-2-15:2023 Электромагнитная совместимость. Описание характеристик сетей с высоким проникновением силовых электронных преобразователей
20/30384001 DC BS ISO 13142. Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Метод резонаторного кольца для измерений с высоким коэффициентом отражения и пропускания
PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Non-ferrous Metal, высокая передача электронов

YS/T 819-2012 Мишень из распыляемой меди высокой чистоты, используемая в электронной пленке
YS/T 893-2013 Титановая мишень высокой чистоты, используемая в электронных пленках
YS/T 1025-2015 Мишень для распыления из вольфрама и вольфрамового сплава высокой чистоты, используемая в электронной пленке

American Society for Testing and Materials (ASTM), высокая передача электронов

ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM F1709-97 Стандартные спецификации для мишеней для распыления титана высокой чистоты для применения в тонкопленочных электронных устройствах
ASTM F1709-97(2016) Стандартные спецификации для мишеней для распыления титана высокой чистоты для применения в тонкопленочных электронных устройствах

PH-BPS, высокая передача электронов

PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Danish Standards Foundation, высокая передача электронов

DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Association Francaise de Normalisation, высокая передача электронов

FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.

German Institute for Standardization, высокая передача электронов

DIN 6800-2:2020-08 Методика дозиметрии с детекторами зондового типа для фотонного и электронного излучения. Часть 2. Дозиметрия в ионизационной камере фотонного и электронного излучения высоких энергий.
DIN 6800-2 Berichtigung 1:2010 Методы дозиметрии с детекторами зондового типа для фотонного и электронного излучения. Часть 2. Дозиметрия фотонов и электронов в ионизационной камере, исправление к DIN 6800-2:2008-03.
DIN 6800-2:2008 Методы дозиметрии с детекторами зондового типа для фотонного и электронного излучения. Часть 2. Дозиметрия в ионизационной камере фотонного и электронного излучения высоких энергий.
DIN EN 100012:1995 Базовая спецификация: Рентгеновский контроль электронных компонентов; Немецкая версия EN 100012:1995.

VN-TCVN, высокая передача электронов

TCVN 6502-1999 Атмосферный воздух.Определение асбестовых частиц.Метод прямотрансферной просвечивающей электронной микроскопии.

European Committee for Standardization (CEN), высокая передача электронов

EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)