ZH
EN
ES

полевой электронный микроскоп

полевой электронный микроскоп, Всего: 264 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к полевой электронный микроскоп, являются: Солнечная энергетика, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Спортивное оборудование и оборудование, Продукция текстильной промышленности, Нетекстильные напольные покрытия, Медицинское оборудование, Самолеты и космические аппараты в целом, Кинематография, Стекло, Организация и управление компанией, Оптика и оптические измерения, Мотоциклы и мопеды, Оборудование для химической промышленности, Цветные металлы, Аналитическая химия, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Взрывозащита, Геология. Метеорология. Гидрология, Системы дорожного транспорта, Сварка, пайка и пайка, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Гальванические элементы и батареи, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Структура и элементы конструкции, Метрология и измерения в целом, Измерения радиации, Астрономия. Геодезия. География, Защитная экипировка, Микробиология, Применение информационных технологий, Распределительные устройства и устройства управления, Сети передачи и распределения электроэнергии, Изделия из железа и стали, Графические технологии, Телекоммуникационное терминальное оборудование, Судостроение и морские сооружения в целом, Образование, Словари, Системы ветряных турбин и другие альтернативные источники энергии, Радиационная защита, Электромагнитная совместимость (ЭМС), Электрические и электронные испытания, Финансы. Банковское дело. Денежные системы. Страхование, Линейные и угловые измерения, Электронные компоненты в сборе, Двигатели внутреннего сгорания для дорожных транспортных средств, Обработка поверхности и покрытие, Термодинамика и измерения температуры.

Group Standards of the People's Republic of China, полевой электронный микроскоп

T/CSEE 0193-2021 Технический код для проектирования солнечной электростанции, башни, гелиостата, полевого распределения электроэнергии
T/ZZB 2870-2022 Электрохромное антибликовое зеркало заднего вида.
T/ZZB 1865-2020 Электрические зеркала заднего вида для водителя автомобиля
T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/IAC 19.4-2019 Спецификация по пригодности автомобиля для послепродажного обслуживания автомобилей. Часть 4: Сборка и детали наружных зеркал заднего вида транспортных средств.
T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
T/SHDSGY 101-2022 Первичное использование электронного мочевого пузыря и пиелоскопа
T/GDAQI 111-2023 Метод оценки глубины резкости медицинского электронного эндоскопа
T/CMSA 0042-2023 Калибровка датчика электромагнитного поля молнии

British Standards Institution (BSI), полевой электронный микроскоп

23/30451616 DC БС ЕН МЭК 62862-4-2. Солнечные тепловые электростанции - Часть 4-2. Гелиостатная система управления полем солнечных башенных установок
BS ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Ровность поля/План
BS EN 13745:2004 Поверхности для спортивных площадок. Определение зеркального отражения
BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS ISO 14490-9:2019 Оптика и фотоника. Методы испытаний телескопических систем - Методы испытаний на кривизну поля
PD IEC TR 63167:2018 Оценка контактного тока, связанного с воздействием на человека электрических, магнитных и электромагнитных полей
18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
BS EN ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Коммерческая информация
BS EN ISO 10685-2:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Коммерческая информация
BS EN ISO 10685-3:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Техническая информация
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS EN ISO 10685-1:2011 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS EN 62226-3-1:2007+A1:2017 Воздействие электрических или магнитных полей в диапазоне низких и средних частот. Методы расчета плотности тока и внутреннего электрического поля, наведенного в организме человека - Воздействие электрическими полями. Аналитические и 2D численные…
BS EN 62226-2-1:2005 Воздействие электрических или магнитных полей в диапазоне низких и средних частот - Методы расчета плотности тока и внутреннего электрического поля, наведенного в организме человека - Воздействие магнитных полей - 2D модели
BS EN 50413:2009 Базовый стандарт на методику измерения и расчета воздействия на человека электрических, магнитных и электромагнитных полей (0 Гц — 300 ГГц)
BS EN 62226-1:2005 Воздействие электрическими или магнитными полями в диапазоне низких и средних частот. Методы расчета плотности тока и внутреннего электрического поля, наведенного в организме человека. Общие сведения

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, полевой электронный микроскоп

DB44/T 1529.1-2015 Обозначение объектива микроскопа, часть 1: плоское поле.
DB44/T 2081-2017 Технические требования к электронной кольпоскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), полевой электронный микроскоп

KS B ISO 19012-1:2011 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 1. Неравномерность поля/План.
KS B ISO 19012-1:2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS R 4066-2013 ЗЕРКАЛО ЗАДНЕГО ВИДА ДЛЯ МОТОЦИКЛА
KS D 2713-2006 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS C 8517-2021 Вентилируемые никель-кадмиевые призматические вторичные одиночные элементы
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS V 8415-1979 Линзы для морских сигнальных фонарей Морзе
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS C IEC 60833:2006 Измерение электрических полей промышленной частоты
KS C IEC 60833-2006(2016) Измерение электрических полей промышленной частоты
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS I 4036-2019 Методы испытаний восстановленного электрического зеркала бокового обзора легковых автомобилей
KS C IEC 62226-2-1-2008(2018) Воздействие электрических или магнитных полей в диапазоне низких и средних частот. Методы расчета плотности тока и внутреннего электрического поля, индуцируемого в организме человека. Часть 2. 1. Воздействие.
KS W 8312-1981 ЛАМПЫ ДЛЯ ОСВЕЩЕНИЯ АЭРОПОРТОВ И ВОЗДУШНЫХ ПУТЕЙ

Professional Standard - Machinery, полевой электронный микроскоп

JB/T 7398.10-1994 Микроскоп - прибор темного поля
JB/T 9426.4-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 4: Байонетное крепление (тип Ｉ) для объектива кинокамеры 35 мм.
JB/T 9426.5-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 5: Крепление объектива с резьбой (тип C) для объектива кинокамеры 16 мм.
JB/T 9426.2-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 2: Серия объективов для кинокамер.
JB/T 9426.6-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 6. Метод определения различных функций объективов для кинокамеры.
JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 9426.1-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 1. Объектив с фиксированным фокусным расстоянием и зумом для кинокамеры.
JB/T 1787-2006 Технические характеристики кинопроекционного объектива 16 мм
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 1786-2005 Технические характеристики кинопроекционного объектива 35 мм
JB/T 1786-1991 Технические условия на кинопроекционный объектив 35 мм.
JB/T 1787-1991 Технические характеристики кинопроекционного объектива диаметром 16 мм.
JB/T 1786-2016 Технические характеристики кинопроекционного объектива 35 мм
JB/T 9409-2010 Метод определения различных функций кинопроекционных объективов
JB/T 7023-2014 Поковки подпорных полозьев для гидрогенераторов.Техническая характеристика
JB/T 9442-2015 Технические характеристики зеркала электростатических копировальных аппаратов
JB/T 9442-1999 Спецификация зеркала для электростатических копировальных аппаратов
JB/T 7023-2002 Спецификация на поковки бегунков гидрогенераторов
JB/T 9407-2010 Цель испытания разрешения для кинопроекционного объектива
JB/T 7023-1993 Технические условия на поковки зеркальных пластин для гидрогенераторов
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5378-2007 Технические характеристики анаморфной насадки для кинопроекционного объектива 16 мм.
JB/T 9408-2010 Технические характеристики анаморфотной насадки для кинопроекции 35 мм.
JB/T 5378-1991 Технические условия на анаморфотную насадку для кинопленки 16 мм.
JB/T 12112-2015 Технические характеристики зеркал цифровых кинопроекторов

American Society for Testing and Materials (ASTM), полевой электронный микроскоп

ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM D7200-06 Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, в шахтах и карьерах с помощью фазово-контрастной и просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

International Organization for Standardization (ISO), полевой электронный микроскоп

ISO 19012-1:2011 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 19012-1:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
ISO 10685-3:2012 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
ISO 10685-2:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO 10685-1:2011 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге.
ISO 14490-9:2019 Оптика и фотоника. Методы испытаний телескопических систем. Часть 9. Методы испытаний на кривизну поля.

JSAE - Society of Automotive Engineers of Japan@ Inc., полевой электронный микроскоп

JASO T009-1994 Метод измерения поля зрения зеркала заднего вида для мотоциклов

Association Francaise de Normalisation, полевой электронный микроскоп

NF P90-123*NF EN 13745:2004 Поверхности для спортивных площадок. Определение зеркального отражения
NF C58-622:1996 Герметичные никель-кадмиевые призматические перезаряжаемые одиночные элементы.
NF EN ISO 10685-1:2012 Офтальмологическая оптика. Каталог и идентификация оправ для очков и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукции и иерархия электронного каталога.
NF S24-012:1958 КИНЕМАТОГРАФИЯ. МОНТАЖ ОБЪЕКТИВОВ.
NF S11-560-2:2013 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
NF S11-560-2*NF EN ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF EN 62226-3-1/A1:2017 Воздействие электрических или магнитных полей низкой и средней частоты. Методы расчета плотностей наведенного тока и наведенных электрических полей в организме человека. Часть 3-1. Воздействие электрических полей. Модель...
NF EN 62226-3-1:2008 Воздействие электрических или магнитных полей низкой и средней частоты. Методы расчета плотностей наведенного тока и наведенных электрических полей в организме человека. Часть 3-1. Воздействие электрических полей. Модель...
NF S11-560-3*NF EN ISO 10685-3:2013 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3: техническая информация.
NF S11-560-1*NF EN ISO 10685-1:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге.
NF C99-117*NF EN 50413:2009 Базовый стандарт по процедурам измерения и расчета воздействия на человека электрических, магнитных и электромагнитных полей (0 Гц – 300 ГГц)
NF EN 62226-2-1:2005 Воздействие электрических или магнитных полей низкой и средней частоты. Методы расчета плотностей наведенного тока и наведенных электрических полей в организме человека. Часть 2-1. Воздействие магнитных полей. Модель...

TIA - Telecommunications Industry Association, полевой электронный микроскоп

TIA-573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
TIA/EIA-573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
EIA-546A000-1989 Технические характеристики полевого портативного оптического микроскопа для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств

Danish Standards Foundation, полевой электронный микроскоп

DS/EN 13745:2004 Поверхности для спортивных площадок. Определение зеркального отражения
DS/EN ISO 10685-3:2013 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
DS/EN ISO 10685-2:2013 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация

Lithuanian Standards Office , полевой электронный микроскоп

LST EN 13745-2004 Поверхности для спортивных площадок. Определение зеркального отражения

AENOR, полевой электронный микроскоп

UNE-EN 13745:2006 Поверхности для спортивных площадок. Определение зеркального отражения

国家食品药品监督管理局, полевой электронный микроскоп

YY/T 1587-2018 Медицинский эндоскоп Электронный эндоскоп

KR-KS, полевой электронный микроскоп

KS B ISO 19012-1-2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Professional Standard - Medicine, полевой электронный микроскоп

YY/T 0619-2017 Медицинский эндоскоп, режущий эндоскоп с жесткой коагуляцией
YY 0619-2007 Жесткий резектоскоп

European Committee for Standardization (CEN), полевой электронный микроскоп

EN 13745:2004 Поверхности для спортивных площадок. Определение зеркального отражения
EN ISO 10685-3:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация (ISO 10685-3:2012).
EN ISO 10685-1:2011 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге (ISO 10685-1:2011)

German Institute for Standardization, полевой электронный микроскоп

DIN EN 13745:2004-05 Поверхности для спортивных площадок - Определение зеркального отражения; Немецкая версия EN 13745:2004.
DIN 28120:2021 Круглые фитинги для смотровых стекол со смотровыми стеклами на главном разъеме питания
DIN 28120:2021-04 Круглые фитинги для смотровых стекол со смотровыми стеклами на главном разъеме питания
DIN VDE 0848-5:2001 Безопасность в электрических, магнитных и электромагнитных полях. Часть 5. Защита от взрыва.
DIN 1324-3:1988-05 Электромагнитное поле; электромагнитные волны
DIN EN ISO 10685-3:2013-03 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация (ISO 10685-3:2012); Немецкая версия EN ISO 10685-3:2012.
DIN ISO 14490-9:2021-01 Оптика и фотоника. Методы испытаний телескопических систем. Часть 9. Методы испытаний на кривизну поля (ISO 14490-9:2019)
DIN VDE 0848-1:2000 Безопасность в электрических, магнитных и электромагнитных полях. Часть 1. Определения, методы измерения и расчета.
DIN EN ISO 10685-1:2012-03 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге (ISO 10685-1:2011); Немецкая версия EN ISO 10685-1:2011.
DIN 1324-2:1988-05 Электромагнитное поле; количества материала

Military Standards (MIL-STD), полевой электронный микроскоп

DOD GG-O-770 D-1986 НАБОР ОТОСКОПА И ОФТАЛЬМОСКОПА, ТИПА БАТАРЕИ [Использовать вместо: DOD GG-O-00770 C]

RU-GOST R, полевой электронный микроскоп

GOST 9039-1973 Анаморфотные насадки для объективов кинопроекторов. Технические характеристики
GOST 9040-1981 Анаморфотные киноаппараты и анаморфотные насадки для объективов фотоаппаратов для пленок шириной 35 мм. Общие технические характеристики
GOST R 51075-2017 Телевизионное увеличительное оборудование. Основные Характеристики
GOST 3840-1979 Проекционные линзы. Технические характеристики
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST 8998-1974 Линзы для телефонных коммутаторов. Технические характеристики
GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
GOST R 51070-1997 Приборы измерения напряжения электрических и магнитных полей. Общие технические требования и методы испытаний

Professional Standard - Business, полевой электронный микроскоп

SB/T 11145-2015 Спецификация строительства и управления рынком оптической торговли

American National Standards Institute （ANSI), полевой электронный микроскоп

ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
ANSI/IEEE C95.3.1:2010 Рекомендуемая практика измерений и расчетов электрических, магнитных и электромагнитных полей с учетом воздействия таких полей на человека, 0–100 кГц
ANSI/IEEE 644:1994 Методика измерения электрических и магнитных полей промышленной частоты от линий электропередачи переменного тока
ANSI/IEEE 1460:1996 Руководство по измерению квазистатических магнитных и электрических полей

YU-JUS, полевой электронный микроскоп

JUS M.L2.108-1994 Колесные тракторы для сельского и лесного хозяйства. Зеркала заднего вида. Монтаж.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, полевой электронный микроскоп

GB/T 34831-2017 Нанотехнологии. Электронно-микроскопическое изображение наночастиц благородных металлов. Метод кольцевой визуализации в темном поле под большим углом.

Professional Standard - Commodity Inspection, полевой электронный микроскоп

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
SN/T 1840-2006 Способ обнаружения вирусов растений методом иммуноэлектронной микроскопии

工业和信息化部/国家能源局, полевой электронный микроскоп

JB/T 13292-2017 Объективы для кинопроекции 35 мм и 70 мм и размеры держателя объектива
JB/T 1787-2017 Технические условия кинопроекционного объектива диаметром 16 мм.
JB/T 5378-2017 Технические условия анаморфотного дополнительного объектива для кинопроекции формата 16 мм.

U.S. Military Regulations and Norms, полевой электронный микроскоп

ARMY MIL-P-45602 B VALID NOTICE 2-2013 Перископ, Командование батареи: M65
ARMY MIL-C-62205 B NOTICE 2-1995 ПЛАТА В СБОРЕ: 11743417 ЗЕРКАЛО/А-ТРИГГЕР И БУФЕР
ARMY MIL-C-62205 B (1)-1993 ПЛАТА В СБОРЕ: 11743417 ЗЕРКАЛО/А-ТРИГГЕР И БУФЕР
ARMY MIL-C-62205 B VALID NOTICE 1-1987 ПЛАТА В СБОРЕ: 11743417 ЗЕРКАЛО/А-ТРИГГЕР И БУФЕР
ARMY MIL-C-62205 B-1981 ПЛАТА В СБОРЕ: 11743417 ЗЕРКАЛО/А-ТРИГГЕР И БУФЕР

AWS - American Welding Society, полевой электронный микроскоп

FACT SHEET NO. 17-1996 Электрические и магнитные поля (ЭМП)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), полевой электронный микроскоп

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS B 7166:1983 Рефлектор для кинопроекторов 35 мм
JIS B 7167:1990 Проекционные линзы для кинопроекторов 35 мм.
JIS B 7168:1984 Проекционные линзы для кинопроекторов 16 мм
JIS B 7172:1962 Проекционные линзы для кинопроекторов 8 мм
JIS B 7287-2:2017 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
JIS B 7263-9:2023 Оптика и фотоника. Методы испытаний телескопических систем. Часть 9. Методы испытаний на кривизну поля.
JIS B 7287-3:2017 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS B 7287-1:2015 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукции и иерархия продуктов в электронном каталоге.

中国气象局, полевой электронный микроскоп

QX/T 566-2020 Прибор атмосферного электрического поля полевой мельницы

Professional Standard - Automobile, полевой электронный микроскоп

QC/T 965-2014 Водитель электрозеркал заднего вида для автомобиля

HU-MSZT, полевой электронный микроскоп

MSZ 6575/7.lap-1961 Контроль гальванического слоя стандартов зеркальной поверхности
MSZ 20586-1980 Символ эндоскопа и батареи за работой
MNOSZ 14971-1953 Хирургические инструменты Электронный офтальмоскоп (сухая среда)

Association of German Mechanical Engineers, полевой электронный микроскоп

DVS 2801-1968 Контактная сварка в микроскопии (обследование)
DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, полевой электронный микроскоп

DB5106/T 28-2023

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, полевой электронный микроскоп

CNS 14959-2005 Пределы воздействия изменяющихся во времени электрических, магнитных и электромагнитных полей (до 300 ГГц)

International Electrotechnical Commission (IEC), полевой электронный микроскоп

IEC TR 63167:2018 Оценка контактного тока, связанного с воздействием на человека электрических, магнитных и электромагнитных полей
IEC 60833:1987 Измерение электрических полей промышленной частоты

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, полевой электронный микроскоп

GB/T 38010.2-2021 Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
GB/T 38010.3-2021 Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
GB/T 38010.1-2019 Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, полевой электронный микроскоп

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

International Telecommunication Union (ITU), полевой электронный микроскоп

ITU-R REPORT BT.2017-1998 Стереоскопическое телевидение Многопрофильный профиль MPEG-2 7 стр.
ITU-R INFORME BT.2017 SPANISH-1998 Многопроекционный профиль стереоскопического телевидения MPEG-2
ITU-R RAPPORT BT.2017 FRENCH-1998 Многопроекционный профиль стереоскопического телевидения MPEG-2
ITU-R INFORME BS.516-4 SPANISH-1990 Напряженность поля, возникающая в результате действия нескольких электромагнитных полей
ITU-R RAPPORT BS.516-4 FRENCH-1990 Напряженность поля, возникающая в результате действия нескольких электромагнитных полей
ITU-R REPORT BS.516-4-1990 Напряженность поля, возникающая в результате действия нескольких электромагнитных полей
ITU-T K.83-2011 Мониторинг напряженности электромагнитных полей (5-я Исследовательская группа)
ITU-T K.83 SPANISH-2011 Мониторинг напряженности электромагнитных полей

United States Navy, полевой электронный микроскоп

NAVY MIL-L-22257-1959 СИСТЕМА ОБЪЕКТИВОВ, ТЕЛЕВИЗИОННАЯ МАРКА 2 MOD 0

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, полевой электронный микроскоп

JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
JJG 561-2016 Приборы для измерения электрического поля в ближней зоне

Professional Standard - Education, полевой электронный микроскоп

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, полевой электронный микроскоп

GB/T 42557-2023 Технические условия на защиту электромагнитной среды радиотелескопа
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 16203-1996 Санитарный стандарт электрического поля на производстве
GB/T 2900.87-2011 Электротехническая терминология.Организация/рынок электроэнергии.
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 12720-1991 Измерение электрических полей промышленной частоты
GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB 18555-2001 Предел профессионального воздействия высокочастотного поля в рабочей среде

ZA-SANS, полевой электронный микроскоп

SANS 1400:1993 Средства (включая очки) для защиты глаз, лица и шеи от неионизирующего излучения, возникающего при сварке и аналогичных операциях - Сварочные каски, ручные щитки, очки и сварочные очки
SANS 1632-3:2005 Батареи. Часть 3. Призматические никель-кадмиевые элементы и батареи вентилируемого типа.

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, полевой электронный микроскоп

REPORT BS.516-4-1990 Напряженность поля, возникающая в результате действия нескольких электромагнитных полей

工业和信息化部, полевой электронный микроскоп

JB/T 13803-2020 Технические условия объектива для цифрового кинопроекции

CEN - European Committee for Standardization, полевой электронный микроскоп

EN ISO 10685-2:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация

Indonesia Standards, полевой электронный микроскоп

SNI 04-6950-2003 Линии высокого и сверхвысокого напряжения. Величина ограничения электрических и электромагнитных полей.
SNI 04-6267.131.1-2001 Электротехнический словарь - Глава 131: Электрические и магнитные цепи - Раздел 1: Общие сведения

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., полевой электронный микроскоп

IEEE 644-1979 РЕКОМЕНДУЕМЫЕ МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ ОТ ЛИНИЙ ПЕРЕМЕННОГО ТОКА
IEEE P644/D5-2018 Проект стандарта на измерение электрических и магнитных полей промышленной частоты от линий электропередачи переменного тока
IEEE P644/D6-2019 Проект стандарта на измерение электрических и магнитных полей промышленной частоты от линий электропередачи переменного тока

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), полевой электронный микроскоп

IEEE Std C95.3.1-2010 Рекомендуемая практика измерений и расчетов электрических, магнитных и электромагнитных полей с учетом воздействия таких полей на человека, от 0 Гц до 100 кГц
IEEE Std 1460-1996 Руководство IEEE по измерению квазистатических магнитных и электрических полей
IEEE Std C95.1-2345-2014 Охрана здоровья рабочих мест и военнослужащих в отношении воздействия на персонал электрических, магнитных и электромагнитных полей в диапазоне от 0 Гц до 300 ГГц
IEEE Std 644-1979 Рекомендуемые IEEE методы измерения электрических и магнитных полей промышленной частоты в линиях электропередачи переменного тока
IEEE 644-1994 Измерение электрических и магнитных полей промышленной частоты от линий электропередачи переменного тока
IEEE Std 644-1994 Стандартные процедуры IEEE для измерения электрических и магнитных полей промышленной частоты от линий электропередачи переменного тока.
ANSI/IEEE Std 644-1987 Стандартные процедуры IEEE для измерения электрических и магнитных полей промышленной частоты в линиях электропередачи переменного тока
IEEE 644-2019 Стандартные процедуры IEEE для измерения электрических и магнитных полей промышленной частоты в линиях электропередачи переменного тока
IEEE 644-1987 Стандартные процедуры IEEE для измерения электрических и магнитных полей промышленной частоты в линиях электропередачи переменного тока
IEEE Std 644-2019 Стандартные процедуры IEEE для измерения электрических и магнитных полей промышленной частоты в линиях электропередачи переменного тока
IEEE PC95.1-2345/D6.9, March 2014 Стандарт IEEE для военных рабочих мест - Защита здоровья военнослужащих в отношении воздействия на персонал электрических, магнитных и электромагнитных полей, от 0 Гц до 300 ГГц
IEEE Unapproved Draft Std PC95.3.1/D3.18, Dec 2009 Проект рекомендуемой практики IEEE для измерений и расчетов электрических, магнитных и электромагнитных полей с учетом воздействия таких полей на человека, 0–100 кГц
IEEE Std C95.3-2021 Рекомендуемая IEEE практика измерений и расчетов электрических, магнитных и электромагнитных полей с учетом воздействия таких полей на человека, от 0 Гц до 300 ГГц
IEEE 1460-1996(R2008) Руководство IEEE по измерению квазистатических магнитных и электрических полей
IEEE Std C95.1-2019 Стандарт IEEE по уровням безопасности в отношении воздействия на человека электрических, магнитных и электромагнитных полей, от 0 Гц до 300 ГГц

未注明发布机构, полевой электронный микроскоп

BS EN ISO 10685-2:2016(2017) Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.

ES-UNE, полевой электронный микроскоп

UNE-EN ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация (ISO 10685-2:2016, исправленная версия от 15 мая 2016 г.)

CZ-CSN, полевой электронный микроскоп

CSN 19 8039-1995 киноискусство. Часть для хранения объектива. Спецификация
CSN IEC 833:1992 Измерение электрических полей промышленной частоты

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, полевой электронный микроскоп

GJB 8975-2017 Требования к мониторингу электрических полей атмосферы на космодромах

国家能源局, полевой электронный микроскоп

NB/T 10639-2021 Технические условия для выбора площадки для строительства ветропарков

Defense Logistics Agency, полевой электронный микроскоп

DLA MIL-L-3661/26 A VALID NOTICE 4-2008 Патроны ламп, индикаторные лампы, корпуса индикаторных ламп и линзы индикаторных ламп (тип электромагнитных помех), пылезащитные линзы, тип LC26
DLA MIL-L-3661/27 A VALID NOTICE 4-2008 Патроны ламп, индикаторные лампы, корпуса индикаторных ламп и линзы индикаторных ламп (тип электромагнитных помех), пылезащитные линзы, тип LC27
DLA MIL-L-3661/28 B VALID NOTICE 3-2008 Патроны ламп, индикаторные лампы, корпуса индикаторных ламп и линзы индикаторных ламп (тип электромагнитных помех) Линзы пылезащитных фонарей, тип LC28
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 2-2001 ЛАМПОРЫ, ИНДИКАТОРНЫЕ ЛАМПЫ, КОРПУСЫ ИНДИКАТОРНЫХ ЛАМП И ЛИНЗЫ ИНДИКАТОРНЫХ ЛАМП (ПЛОСКИЕ) (ТИП ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОМЕХ) ПЫЛЕЗАЩИТНАЯ ЛИНЗА, ТИПА LC25
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 4-2008 Патроны ламп, индикаторные лампы, корпуса индикаторных ламп и линзы индикаторных ламп (плоские) (тип электромагнитных помех) Пылезащитные линзы, тип LC25

SE-SIS, полевой электронный микроскоп

SIS SS IEC 833:1989 Измерение электрических полей промышленной частоты

IET - Institution of Engineering and Technology, полевой электронный микроскоп

ELECTRO MEAS NEAR FLD-2012 Электромагнитные измерения в ближнем поле

Standard Association of Australia （SAA）, полевой электронный микроскоп

AS 3720:2008 Измерение электрических полей промышленной частоты

Professional Standard-Ships, полевой электронный микроскоп

CB 1383-2008 Спецификация телевизора малой освещенности перископа подводной лодки

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), полевой электронный микроскоп

IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

GOSTR, полевой электронный микроскоп

GOST 17175-1982 Объективы для фотографии, кино, телевидения. Ряд числовых значений относительных отверстий

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, полевой электронный микроскоп

GBZ/T 189.3-2018 Измерение физических факторов на рабочем месте Часть 3: Электрические и магнитные поля от 1 Гц до 100 кГц

PL-PKN, полевой электронный микроскоп

PN T04880-1972 Электронные лампы Осциллографические и радароскопические трубки Методы электрических и оптических испытаний

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, полевой электронный микроскоп

EN 50413:2008 Базовый стандарт по процедурам измерения и расчета воздействия на человека электрических, магнитных и электромагнитных полей (0 Гц–300 ГГц) (включает поправку A1: 2013 г.)
EN 50413:2019 Базовый стандарт по процедурам измерения и расчета воздействия на человека электрических, магнитных и электромагнитных полей (0 Гц – 300 ГГц)

NZ-SNZ, полевой электронный микроскоп

NZS 6808:2010 Акустика – шум ветряной электростанции