Данные спектроскопии

Данные спектроскопии, Всего: 49 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Данные спектроскопии, являются: Атомная энергетика, Аналитическая химия, Применение информационных технологий, Неразрушающий контроль, Электрические и электронные испытания, Системы дорожного транспорта, Разработка программного обеспечения и системная документация, , Цветные металлы, Продукция химической промышленности, Энергетика и теплопередача в целом, Качество воды, Сети передачи и распределения электроэнергии.

Association Francaise de Normalisation, Данные спектроскопии

NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхностей – регистрация и отчетность данных оже-электронной спектроскопии (AES)
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
NF A06-001:1979 Анализ легких металлов методом спектрографии. Обработка результатов испытаний. Статистическая интерпретация.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

未注明发布机构, Данные спектроскопии

DIN ISO 16242 E:2019-10 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)

International Electrotechnical Commission (IEC), Данные спектроскопии

IEC 61455:1995 Ядерное приборостроение - формат обмена данными гистограммы MCA для ядерной спектроскопии.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Данные спектроскопии

GB/T 32565-2016 Химический анализ поверхности — запись и отчетность данных с помощью электронной оже-спектроскопии (AES).
GB/T 33502-2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

German Institute for Standardization, Данные спектроскопии

DIN ISO 16242:2020 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке
DIN ISO 16242:2020-05 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES) (ISO 16242:2011); Текст на английском языке

American Society for Testing and Materials (ASTM), Данные спектроскопии

ASTM E1947-98(2022) Стандартные спецификации для протокола обмена аналитическими данными для хроматографических данных
ASTM E2078-00(2005) Стандартное руководство по протоколу обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных
ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E2077-00 Стандартные спецификации протокола обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных
ASTM E2078-00 Стандартное руководство по протоколу обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных
ASTM E2077-00(2005) Стандартные спецификации протокола обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных
ASTM E1948-98(2022) Стандартное руководство по протоколу обмена аналитическими данными для хроматографических данных
ASTM E2078-00(2010) Стандартное руководство по протоколу обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных
ASTM E2077-00(2010) Стандартные спецификации протокола обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных
ASTM E2077-00(2016) Стандартные спецификации протокола обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных
ASTM E2078-00(2016) Стандартное руководство по протоколу обмена аналитическими данными для масс-спектрометрических данных

Group Standards of the People's Republic of China, Данные спектроскопии

T/QGCML 1802-2023 Интеллектуальная система анализа BI-данных
T/SDBDA 4-2020 Спецификация для оценки способностей аналитика данных
T/CAEA 0004-2020 Стандарт обучения компетентности аналитика данных
T/SHRH 050-2023 Оценка кожи на основе искусственного интеллекта. Методы анализа данных
T/QGCML 1209-2023 Функциональные требования к системе анализа данных электронной коммерции
T/QGCML 990-2023 Система управления интеллектуальным интеграционным анализом группы данных

Society of Automotive Engineers (SAE), Данные спектроскопии

SAE J2556-2000 Излучение (RE) Узкополосный анализ данных Спектральная плотность мощности (PSD)
SAE J2556-2010 Излучение (RE) Узкополосный анализ данных Спектральная плотность мощности (PSD)
SAE J2556-2014 Анализ узкополосных данных по радиационному излучению (RE) – спектральная плотность мощности (PSD)
SAE J2556-2005 Анализ узкополосных данных по радиационному излучению (RE) — спектральная плотность мощности (PSD)

GSO, Данные спектроскопии

GSO ISO 16242:2015 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
BH GSO ISO 16242:2017 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES).
GSO ISO 16243:2015 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
BH GSO ISO 16243:2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
OS GSO ISO 16243:2015 Химический анализ поверхности. Регистрация и представление данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
GSO OIML R83:2008 Системы газового хроматографа/масс-спектрометра для анализа органических загрязнителей в воде

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Данные спектроскопии

YB/T 4142-2006 Статистические правила обработки данных спектрального анализа

International Organization for Standardization (ISO), Данные спектроскопии

ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

British Standards Institution (BSI), Данные спектроскопии

BS ISO 16242:2011 Химический анализ поверхности. Запись и отчетность данных в электронной оже-спектроскопии (AES)
BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

American National Standards Institute （ANSI), Данные спектроскопии

ANSI/IEEE 1214:1992 Формат обмена данными гистограммы MCA для ядерной спектроскопии

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Данные спектроскопии

IEEE 1214-1992 Стандартный формат обмена данными гистограммы многоканального анализатора (MCA) для ядерной спектроскопии

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Данные спектроскопии

DB37/T 2204-2012 Метод анализа энергетических данных для промышленных предприятий

CZ-CSN, Данные спектроскопии

CSN 42 0600 Cast.1-1975 Сурьма высокой чистоты. Методы химического и спектрального анализа. Общие данные.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Данные спектроскопии

GB/T 17359-2012 Микролучевой анализ. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии.

Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, Данные спектроскопии

DB21/T 3792-2023 Спецификация интерфейса данных для платформы анализа больших данных для онлайн-мониторинга энергопотребления ключевых энергопотребляющих объектов