ZH
EN
ES

Субстрат

Субстрат, Всего: 15 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Субстрат, являются: Полупроводниковые материалы, Изоляционные жидкости, Испытание металлов.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Субстрат

GB/T 30861-2014 Германиевая подложка для солнечных батарей
GB/T 13843-1992 Подложки из полированного монокристаллического сапфира
GB/T 31353-2014 Методы испытаний дуг из сапфировых подложек
GB/T 31352-2014 Методы испытаний на коробление сапфировых подложек
GB/T 30857-2014 Стандартный метод испытаний толщины и изменений толщины сапфировых подложек
GB/T 41751-2022 Метод определения радиуса кривизны кристаллической плоскости пластин монокристаллической подложки GaN
GB/T 36705-2018 Метод определения концентрации носителей подложек из нитрида галлия — метод спектра комбинационного рассеяния
GB/T 32188-2015 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки GaN
GB/T 30858-2014 Подложка из полированного монокристаллического сапфира

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Субстрат

GB/T 37053-2018 Общие технические условия на эпитаксиальные пластины и подложки на основе нитрида галлия

Professional Standard - Electron, Субстрат

SJ/T 11396-2009 Сапфировые подложки для нитридных светодиодов

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Субстрат

DB44/T 1328-2014 Характеристики испытаний подложки с сапфировым рисунком

Group Standards of the People's Republic of China, Субстрат

T/CASAS 025-2023 Маркировка и размеры 8-дюймовой пластины из карбида кремния
T/ZZB 2332-2021 Полированная сапфировая подложка для светодиодов

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Субстрат

GB/T 34504-2017 Метод измерения поверхностного загрязнения металла на сапфировой полированной подложке