ZH
EN
ES

резонансная структура

резонансная структура, Всего: 12 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к резонансная структура, являются: Интегральные схемы. Микроэлектроника, Сырье для резины и пластмасс, Полупроводниковые приборы, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Пластмассы.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, резонансная структура

GB/T 38447-2020 Технология микроэлектромеханических систем — метод усталостных испытаний структуры МЭМС с использованием резонансной вибрации.

工业和信息化部, резонансная структура

SH/T 1832-2020 Определение микроструктуры изопренового каучука методом H-ЯМР-спектроскопии

Danish Standards Foundation, резонансная структура

DS/EN 62047-12:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур.

German Institute for Standardization, резонансная структура

DIN EN 62047-12:2012-06 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур (IEC 62047-12:2011); Немецкая версия EN 62047-12:2011.
DIN EN 62047-12:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур (IEC 62047-12:2011); Немецкая версия EN 62047-12:2011.

ES-UNE, резонансная структура

UNE-EN 62047-12:2011 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытания тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур (одобрено AENOR в феврале 2012 г.)

International Electrotechnical Commission (IEC), резонансная структура

IEC 62047-12:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), резонансная структура

JIS C 5630-12:2014 Полупроводниковые приборы.Микроэлектромеханические устройства.Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур.

British Standards Institution (BSI), резонансная структура

BS EN 62047-12:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур

Association Francaise de Normalisation, резонансная структура

NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур.

Lithuanian Standards Office , резонансная структура

LST EN 62047-12-2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур (IEC 62047-12:2011)

国家能源局, резонансная структура

SH/T 1800-2016 Анализ содержания мономеров и последовательной структуры пластикового сополимера этилена и пропилена полипропилена методом спектроскопии ядерного магнитного резонанса углерода-13.