ZH
EN
ES

микроскопический четырехзондовый

микроскопический четырехзондовый, Всего: 128 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к микроскопический четырехзондовый, являются: Цветные металлы, Словари, Аналитическая химия, Образование, Оптика и оптические измерения, Оптическое оборудование, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Условия и процедуры испытаний в целом, Полупроводниковые приборы, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Испытание металлов, Сельское и лесное хозяйство, Материалы для армирования композитов, Полупроводниковые материалы, Неразрушающий контроль, Электронные устройства отображения, Проведение материалов, Пластмассы.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), микроскопический четырехзондовый

KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D ISO 23833:2022 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
KS D ISO 16592:2011 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
KS D ISO 16592-2011(2016) Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
KS D ISO 23833:2012 Микролучевой анализ-Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА)-Словарь
KS D ISO 23833:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
KS D 0260-1999 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЛАСТИН МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ ЧЕТЫРЕХТОЧЕЧНЫМ ЗОНДОМ
KS L 1619-2013(2018) Методы испытания удельного сопротивления тонких проводящих керамических пленок с помощью четырехточечной матрицы датчиков
KS C 0256-2002(2022) Метод испытания удельного сопротивления кристаллов и кремниевых пластин четырехточечным зондом
KS D 0260-1989(1994) МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЛАСТИН МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ ЧЕТЫРЕХТОЧЕЧНЫМ ЗОНДОМ
KS D ISO 14595:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
KS C 0256-2002(2017) Метод испытания удельного сопротивления кристаллов и кремниевых пластин четырехточечным зондом
KS D ISO 14594:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, микроскопический четырехзондовый

JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

KR-KS, микроскопический четырехзондовый

KS D ISO 23833-2022 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
KS D ISO 23833-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
KS D ISO 14595-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
KS D ISO 14595-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
KS D ISO 14594-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 14594-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, микроскопический четырехзондовый

GB/T 21636-2021 Микролучевой анализ — Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) — Словарь
GB/T 4930-2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
GB/T 1551-2021 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния — метод линейного четырехточечного зонда и метод двухточечного зонда постоянного тока.
GB/T 39978-2021 Нанотехнология. Сопротивление порошка углеродных нанотрубок. Четырехзондовый метод.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, микроскопический четырехзондовый

GB/T 21636-2008 Микролучевой анализ.Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА).Словарь.
GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
GB/T 32055-2015 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны.
GB/T 20725-2006 Рекомендации по электронно-зондовому микроанализу для качественного точечного анализа с помощью рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
GB/T 30705-2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
GB/T 28634-2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
GB/T 15247-2008 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочных кривых.
GB/T 22461.2-2023 Глоссарий по химическому анализу поверхности. Часть 2: Терминология сканирующей зондовой микроскопии
GB/T 20726-2015 Микролучевой анализ. Отдельные параметры аппаратуры для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.
GB/T 42543-2023 Определение нормальной упругой константы консольной балки методом химического анализа поверхности сканирующей зондовой микроскопии
GB/T 1552-1995 Методика измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния и германия коллинеарной четырехзондовой решеткой
GB/T 26074-2010 Монокристалл германия. Измерение удельного сопротивления линейным четырехточечным зондом постоянного тока.
GB/T 15246-2022 Микролучевой анализ. Количественный анализ сульфидных минералов методом электронно-зондового микроанализа.
GB/T 4930-2008 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).

Professional Standard - Education, микроскопический четырехзондовый

JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии

Professional Standard - Electron, микроскопический четырехзондовый

SJ/T 10315-1992 Общая спецификация четырехточечного датчика
SJ/T 10314-1992 Типовые характеристики прибора для измерения удельного сопротивления с четырехточечным зондом
SJ/T 31122-1994 Требования к готовности и методы контроля и оценки к четырехточечным зондам

British Standards Institution (BSI), микроскопический четырехзондовый

BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 16592:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
BS ISO 18115-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
BS ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации легирующих примесей и других целей.
BS ISO 11938:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны
19/30394914 DC BS ISO 15632. Микролучевой анализ. Отдельные рабочие параметры прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроскопе или электронно-зондовом микроанализаторе (ЭПМА)
21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 23833:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) Словарь
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 15632:2012 Микролучевой анализ. Отдельные параметры аппаратуры для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе
BS ISO 15632:2021 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров (EDS) для использования со сканирующим электронным микроскопом (SEM) или электронно-зондовым микроанализатором (EPMA)
BS ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур
BS ISO 14595:2023 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных стандартных образцов (CRM)
BS ISO 19463:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализатор (ЭПМА). Руководство по выполнению процедур обеспечения качества
22/30430960 DC BS ISO 14595. Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных стандартных образцов (CRM)

International Organization for Standardization (ISO), микроскопический четырехзондовый

ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 19463:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализатор (ЭПМА). Рекомендации по выполнению процедур обеспечения качества.
ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
ISO 16592:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой.
ISO 16592:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой.
ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации легирующих примесей и других целей.
ISO 23692:2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный анализ дендритной сегрегации Mn в непрерывнолитом стальном изделии.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
ISO 23833:2013 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) - Словарь
ISO 23833:2006 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) - Словарь
ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
ISO/PRF 14595 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
ISO 14595:2023 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
ISO/DIS 14594 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, микроскопический четырехзондовый

GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, микроскопический четырехзондовый

JJG 508-2004 Приборы для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом
JJG 508-1987 Правила поверки средств измерения удельного сопротивления четырехзонным методом

Group Standards of the People's Republic of China, микроскопический четырехзондовый

T/CASAS 019-2021 Метод испытания удельного сопротивления спеченных компактов микро- и нанометаллов: четырехзондовый метод
T/CSTM 00252-2020 Метод определения удельного сопротивления углеродного волокна четырехзондовым методом
T/ZGIA 001-2019 Метод испытания графена для определения проводимости порошка четырехзондовым методом

Association of German Mechanical Engineers, микроскопический четырехзондовый

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем

Association Francaise de Normalisation, микроскопический четырехзондовый

NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
NF X21-007:2008 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ - Рекомендации по определению содержания углерода в стали методом калибровочной кривой.
NF ISO 11938:2012 Микролучевой анализ. Электронный микрозондовый анализ (микрозонд Кастинга). Методы анализа элементного картирования с использованием спектрометрии с дисперсией по длине волны.
NF X21-003:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу с помощью рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
NF X21-009:2008 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) - Словарь.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), микроскопический четырехзондовый

JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
JIS K 0189:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Определение экспериментальных параметров для волнодисперсионной рентгеновской спектроскопии.
JIS K 0190:2010 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
JIS H 0612:1975 Методы испытаний удельного сопротивления пластин монокристаллического кремния четырехточечным зондом
JIS H 0602:1995 Метод испытания удельного сопротивления кристаллов и кремниевых пластин четырехточечным зондом
JIS K 7194:1994 Метод испытания удельного сопротивления проводящих пластмасс с помощью четырехточечной зондовой матрицы

未注明发布机构, микроскопический четырехзондовый

JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.

RU-GOST R, микроскопический четырехзондовый

GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST 24392-1980 Монокристаллический кремний и германий. Измерение удельного электросопротивления четырехзондовым методом
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля

German Institute for Standardization, микроскопический четырехзондовый

DIN ISO 16592:2015 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях с использованием метода калибровочной кривой (ISO 16592:2012)
DIN 50431:1988 Испытание полупроводниковых материалов; измерение удельного сопротивления монокристаллов кремния или германия четырехзондовым методом постоянного тока с коллинеарной матрицей

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, микроскопический четырехзондовый

DB32/T 4378-2022 Четырехзондовый метод неразрушающего контроля поверхностного сопротивления тонких пленок нанометрового и субмикронного масштаба на поверхности подложки
DB32/T 4027-2021 Динамический четырехзондовый метод определения электропроводности порошка графена

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, микроскопический четырехзондовый

DB13/T 5255-2020 Определение квадратного сопротивления графеновых проводящих чернил четырехзондовым методом

American Society for Testing and Materials (ASTM), микроскопический четырехзондовый

ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM F1711-96(2016) Стандартная практика измерения сопротивления тонкопленочных проводников при производстве плоских дисплеев с использованием метода четырехточечного зонда
ASTM F390-98(2003) Стандартный метод испытаний листового сопротивления тонких металлических пленок с помощью коллинеарной четырехзондовой матрицы

Professional Standard - Aviation, микроскопический четырехзондовый

HB 8422-2014 Количественный метод обнаружения ЭПМА микроэлементов в сплавах