ZH
EN
ES

Подготовка образцов в электронном микроскопе

Подготовка образцов в электронном микроскопе, Всего: 10 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Подготовка образцов в электронном микроскопе, являются: Керамика, Испытание металлов, Физика. Химия, Словари, Защита от опасных грузов.

ES-AENOR, Подготовка образцов в электронном микроскопе

UNE 7 108 Подготовка образцов шлака и портландцемента для наблюдения в микроскоп.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Подготовка образцов в электронном микроскопе

JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе

IT-UNI, Подготовка образцов в электронном микроскопе

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Подготовка образцов в электронном микроскопе

GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа

International Organization for Standardization (ISO), Подготовка образцов в электронном микроскопе

ISO/CD 17297 Микролучевой анализ. Применение сфокусированного ионного пучка для подготовки образцов ПЭМ. Словарь

American Society for Testing and Materials (ASTM), Подготовка образцов в электронном микроскопе

ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-99 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-05 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии

NL-NEN, Подготовка образцов в электронном микроскопе

NVN 5770-1993 Почва и ил. Пробоподготовка почвы и ила для определения элементов методом атомной спектрометрии. Разрушение азотной кислотой и соляной кислотой в микроволновой печи.