ZH
EN
ES

Электронный микроскоп против оптического микроскопа

Электронный микроскоп против оптического микроскопа, Всего: 488 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронный микроскоп против оптического микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Воски, битумные материалы и другие нефтепродукты, Словари, Оптика и оптические измерения, Станочные системы, Качество воздуха, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Качество, Медицинское оборудование, Аналитическая химия, Линейные и угловые измерения, Электронные компоненты в сборе, Метрология и измерения в целом, Электронные компоненты в целом, Электрические провода и кабели, Сварка, пайка и пайка, Фотография, Образование, Термодинамика и измерения температуры, Технические рисунки, Электронные устройства отображения, Анализ размера частиц. просеивание, Микробиология, Испытание металлов, Цветные металлы, Угли, Продукция текстильной промышленности, Защита от преступности, Обработка поверхности и покрытие, Физика. Химия, Материалы для армирования композитов, Строительные материалы, Сырье для резины и пластмасс, Жидкостные энергетические системы, Краски и лаки.

International Organization for Standardization (ISO), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO 8036:2015 Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO 21073:2019 Микроскопы — Конфокальные микроскопы — Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для получения биологических изображений
ISO 15227:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Испытание стереомикроскопов
ISO 8576:1996 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Эталонная система микроскопии в поляризованном свете
ISO 10934-1:2002 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
ISO 10934:2020 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 8038:1985 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Резьба для объективов
ISO 10934-2:2007 Оптика и оптические инструменты. Словарь микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 9344:1996 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Сетки для окуляров
ISO 10937:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Диаметр сменных окуляров
ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
ISO 19012-2:2009 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 2. Хроматическая коррекция.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 11884-1:1998 Оптика и оптические инструменты. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 8036-1:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии.
ISO 8578:1997/Cor 1:2002 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Маркировка объективов и окуляров; Техническое исправление 1
ISO 8040:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
ISO 8040:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Присоединительные размеры направляющих и пазов для трубок
ISO 10936-2:2001 Оптика и оптические инструменты. Операционные микроскопы. Часть 2. Опасность света от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 19012-1:2007 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 8038-2:2001 Оптика и оптические инструменты. Винтовые резьбы для объективов микроскопов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы M25 x 0,75 мм.
ISO 10935:1996 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Межфазное соединение типа С
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 10936-1:2017 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовые матрицы - Часть 1: Словарь; Техническое исправление 2
ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь и общие свойства.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
ISO 15362:1998 Оптика и оптические приборы - Стереомикроскопы - Информация, предоставляемая пользователю
ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 10936-1:2000 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 8037-1:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Слайды; Часть 1: Размеры, оптические свойства и маркировка
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 8255-1:2011 Микроскопы. Покровные стекла. Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства.
ISO 8255-1:2017 Микроскопы. Покровные стекла. Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства.
ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 3. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
ISO 8255-1:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Покровные стаканы; Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства.
ISO/CD 4407 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO 9345-1:1996 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии потерь энергии электронов.
ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
ISO 4407:2002 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
ISO 9345:2019 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
ISO/DIS 14880-4 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
ISO 8672:1993 Качество воздуха; определение количественной концентрации находящихся в воздухе неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии; метод мембранного фильтра
ISO 8672:2014 Качество воздуха. Определение количественной концентрации неорганических волокон в воздухе методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

JIS K 2400:2010 Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
JIS K 2400 AMD 1:2015 Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии (поправка 1)
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS B 7144:1995 Микроскоп. Соединение конденсаторов проходящего света с муфтами для предметного столика.
JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS B 7132-2:2022 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

British Standards Institution (BSI), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

BS ISO 10934:2020 Микроскопы. Словарь по световой микроскопии
BS 7012-10.2:1997 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы.
BS 7012-12:1997 Световые микроскопы. Эталонная система микроскопии поляризованного света
BS ISO 10934-1:2003 Оптика и оптические приборы. Словарь по микроскопии. Световая микроскопия.
BS 7012-14:1997 Световые микроскопы. Маркировка стереомикроскопов
19/30387825 DC BS ISO 10934. Микроскопы. Словарь по световой микроскопии
BS ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
BS ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы
BS ISO 8036:2015 Отслеживаемые изменения. Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
BS 7012-10.1:1998 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 21073:2019 Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации
BS 7012-8:1997 Световые микроскопы - Сетки для окуляров
BS ISO 15227:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Испытание стереомикроскопов
BS 7012-1:1998 Световые микроскопы. Спецификация на увеличивающую силу компонентов микроскопа, обеспечивающих получение изображений.
BS ISO 10934-2:2007 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Передовые методы световой микроскопии.
BS 7012-15:1997 Световые микроскопы - Маркировка объективов и окуляров
18/30339977 DC BS ISO 21073. Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации
BS EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовая решетка - Словарь
BS ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Опасность света от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
BS 7012-4.1:1998 Световые микроскопы. Спецификация винтовой резьбы объектива и револьверной насадки микроскопа. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма x 1/36 дюйма)
BS 7012-10.4:1998 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Информация, предоставляемая пользователю.
BS 7012-6:1998 Световые микроскопы. Спецификация спектральных фильтров
BS ISO 10936-1:2002 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний
BS ISO 8040:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
BS EN ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Словарный запас и общие свойства
BS 7012-11:1998 Световые микроскопы - Информация, предоставляемая пользователю
BS 7012-0:1989 Световые микроскопы. Общее введение
BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
BS EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний геометрических свойств.
BS 7012-3:1997 Световые микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета для трубки длиной 160 мм.
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS 7011 Sec.2.1:1989 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Слайды. Спецификация размеров и оптических свойств
BS ISO 10936-1:2017 Отслеживаемые изменения. Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний
BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS ISO 10936-1:2000 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний.
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 8255-1:2017 Отслеживаемые изменения. Микроскопы. Накройте стаканы. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства
BS 7012-9:1997 Световые микроскопы. Спецификация для интерфейсного соединения типа C
BS ISO 8255-1:2011 Микроскопы. Накройте стаканы. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства
21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
BS EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
BS 7011-1-1.1:1998 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Иммерсионные масла. Спецификация на иммерсионные масла общего назначения.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
BS 7011-0:1989 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Общее введение
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
BS 7011-2.2:1998 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Слайды. Спецификация на материалы и качество отделки
BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS 7012-13:1997 Световые микроскопы. Интерфейсное соединение для 35-мм зеркальных фотокамер (адаптация Т-образной резьбы)
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
BS ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния визуализации, связанные с механическими базовыми плоскостями. Оптические системы с коррекцией на бесконечность
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
15/30292710 DC BS ISO 19214. Руководство по определению направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии.
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS 7011-2.1:1989 Расходные принадлежности для световых микроскопов - Слайды - Спецификация размеров и оптических свойств
BS ISO 4407:2002 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии

PT-IPQ, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

E E 15-1971 Оптический микроскоп

Military Standards (MIL-STD), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

DOD A-A-54970-1994 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ
DOD A-A-54868-1993 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ СТЕРЕОСКОПИЧЕСКИЙ
DOD A-A-50852 A-1985 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ БИНОКЛЯРНЫЙ
DOD A-A-51796 A-1991 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ (БИНОКЛЯРНЫЙ)
DOD A-A-54386-1991 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ (БИНОКЛЯРНЫЙ, СВЕТЛОПОЛЕ)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

GB/T 27668-2023 Терминология световой микроскопии микроскопа
GB/T 26600-2011 Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии.
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
GB/T 20082-2006 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

KS B ISO 8576-2006(2016) Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS M 2617-2007(2017) Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 15227:2013 Оптика и оптические приборы ― микроскопы ― испытания стереомикроскопов
KS B ISO 15227:2003 Оптика и оптические приборы-Микроскопы-Испытание стереомикроскопов
KS B ISO 15227:2018 Оптика и оптические приборы — Микроскопы — Испытание стереомикроскопов
KS M 2617-2007(2022) Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 8576:2006 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Справочная система микроскопии в поляризованном свете
KS B ISO 10934-1:2004 Оптика и оптические приборы－Словарь по микроскопии－Часть 1:Световая микроскопия
KS B ISO 10934-1:2019 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
KS B ISO 8576-2006(2021) Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 8036-1:2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 8036-1:2008 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 10934-2-2011(2021) Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
KS B ISO 10934-2-2011(2016) Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
KS P ISO 10936-2:2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
KS B ISO 10934-2:2011 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
KS B ISO 8578-2016(2021) Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Маркировка объективов и окуляров
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS B ISO 8039:2006 Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS B ISO 8039-2016(2021) Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS B ISO 8039:2016 Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS B ISO 8040:2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Размеры соединений предметных стекол и пазов для пробирок
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS B ISO 8040-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS B ISO 8478-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS B ISO 8478-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS B ISO 8040-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS B ISO 12853:2006 Оптика и оптические приборы-Микроскопы-Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 12853-2016(2021) Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 12853:2016 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS B ISO 14880-2:2013 Оптика и фотоника ― Массивы микролинз ― Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта
KS B ISO 14880-2:2008 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
KS B ISO 15362:2006 Оптика и оптические приборы-Стереомикроскопы-Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 15362-2016(2021) Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 15362:2016 Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS D 2713-2006 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS B ISO 8038-1:2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Винтовая резьба для объективов и соответствующих револьверов－Часть 1: Винтовая резьба типа RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма)
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS B ISO 8038-2:2006 Оптика и оптические инструменты. Резьба для объективов микроскопа и револьверов. Часть 2. Тип резьбы M25×0,75 мм.
KS B ISO 8038-2-2006(2016) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы М25 × 0,75 мм.
KS B ISO 8038-2-2006(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы М25 × 0,75 мм.
KS B ISO 10936-1:2006 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS B ISO 10936-1-2006(2016) Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS B ISO 10936-1-2006(2021) Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS B ISO 8038-1-2006(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма).
KS B ISO 8038-1-2006(2016) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма).
KS B ISO 9345-1-2016(2021) Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
KS I ISO 4407:2017 Силовая часть гидравлической жидкости－Загрязнение жидкости－Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа
KS I ISO 4407-2017(2022) Силовая часть гидравлической жидкости－Загрязнение жидкости－Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа
KS B ISO 9345-1:2006 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-1:2016 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-1-2023 Расстояние изображения оптических и оптических инструментальных микроскопов относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1: длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-2-2016(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-2:2006 Оптика и оптические инструменты-Микроскопы:Расстояния изображения относительно механических плоскостей отсчета.Часть 2:Оптические системы с коррекцией на бесконечность
KS B ISO 9345-2:2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS I ISO 8672:2006 Качество воздуха – определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии (метод мембранного фильтра).
KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом

Professional Standard - Medicine, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

YY 1296-2016 Оптические и фотонные хирургические микроскопы Фотоопасность офтальмологических хирургических микроскопов

KR-KS, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

KS B ISO 15227-2018 Оптика и оптические приборы — Микроскопы — Испытание стереомикроскопов
KS B ISO 10934-1-2019 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
KS B ISO 8576-2023 Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS B ISO 8036-1-2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS P ISO 10936-2-2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
KS B ISO 8578-2016 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Маркировка объективов и окуляров
KS B ISO 8039-2016 Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS B ISO 19012-1-2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS B ISO 12853-2016 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 10936-1-2023 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS B ISO 15362-2016 Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS B ISO 8040-2023 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
KS K 5578-2023 Обнаружение волокон перьев сухопутных птиц в оперении — Метод световой микроскопии
KS B ISO 8038-2-2023 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы М25 × 0,75 мм.
KS B ISO 8038-1-2023 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма).
KS I ISO 4407-2017 Силовая часть гидравлической жидкости－Загрязнение жидкости－Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа
KS B ISO 9345-2-2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-2-2023 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

German Institute for Standardization, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

DIN ISO 8576:2002-06 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете (ISO 8576:1996)
DIN ISO 8577:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Спектральные фильтры (ISO 8577:1997).
DIN 58629-1:2006 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
DIN ISO 8576:2002 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете (ISO 8576:1996)
DIN ISO 10937:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Диаметр сменных окуляров (ISO 10937:2000)
DIN ISO 8040:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов для пробирок (ISO 8040:2001)
DIN ISO 12853:2005 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Информация, предоставляемая пользователю (ISO 12853:1997)
DIN 58959-4:1997 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта (ISO 14880-2:2006); Английская версия DIN EN ISO 14880-2:2007-03
DIN ISO 8038-2:2006 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Резьба для объективов и револьверов. Часть 2. Тип резьбы M 25 x 0,75 мм (ISO 8038-2:2001); Английская версия DIN ISO 8038-2:2006.
DIN 58959-4:1997-06 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
DIN ISO 8038-1:2006 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма x 1/36 дюйма) (ISO 8038-1:1997); Английская версия DIN ISO 8038-1. :2006
DIN ISO 8037-1:2003 Оптика и оптические приборы - Микроскопы; Слайды. Часть 1. Размеры, оптические свойства и маркировка (ISO 8037-1:1986)
DIN EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств (ISO 14880-4:2006). Английская версия DIN EN ISO 14880-4:2006-08.
DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN ISO 8037-1:2003-05 Оптика и оптические приборы - Микроскопы; Слайды. Часть 1. Размеры, оптические свойства и маркировка (ISO 8037-1:1986)
DIN EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 3. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта (ISO 14880-3:2006). Английская версия DIN EN ISO 14880-3:2006-08.
DIN ISO 9345-2:2005 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность (ISO 9345-2:2003)
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.

Professional Standard - Machinery, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 9333-1999 Микроскопы. Иммерсионное масло общего назначения в световой микроскопии.
JB/T 8230.1-1999 Световой микроскоп.Словарь
JB/T 7398.2-1994 Размеры оптического соединения микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

Defense Logistics Agency, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

DLA MIL-M-37869-1978 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ БИНОКЛЯРНЫЙ
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.
DLA A-A-50207 A-1988 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.

机械工业部, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

JB/T 8230.1-1995 Терминология световой микроскопии

Association Francaise de Normalisation, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

NF S10-500*NF ISO 21073:2020 Микроскопы - Конфокальные микроскопы - Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологических изображений
NF ISO 21073:2020 Микроскопы - Конфокальные микроскопы - Оптические данные конфокальных флуоресцентных микроскопов для биологических изображений
X11-660:1983 Анализ размера частиц методом оптического микроскопа. Общие показания к микроскопу.
NF X11-660:1983 Размер частиц - Анализ размера частиц методом оптической микроскопии - Общие сведения о микроскопе.
NF S12-023:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. ПРИСОЕДИНИТЕЛЬНЫЕ РАЗМЕРЫ ТРУБНЫХ НАПРАВЛЯЮЩИХ И ТРУБНЫХ ПНЕВ.
NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF S10-132-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1: словарь и общие свойства.
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
NF X11-661:1990 Анализ размера частиц. Определение размера частиц порошков. Метод оптического микроскопа.
NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фонотика - Массивы микролинз - Часть 4: методы испытаний геометрических свойств.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF S12-024-1:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. ПОКРЫТИЕ СТЕКЛА. ЧАСТЬ 1: ДОПУСКИ НА РАЗМЕРЫ, ТОЛЩИНА И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА.
NF S12-021-1:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. СЛАЙДЫ. ЧАСТЬ 1: РАЗМЕРЫ, ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА И МАРКИРОВКА.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF S10-132-2*NF EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.

RO-ASRO, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

STAS 6851/2-1975 МИКРОСКОПЫ Основные оптические размеры
STAS 7353/4-1982 МИКРОСКОПЫ Основные оптические размеры
STAS 7353/5-1982 МИКРОСКОПЫ Основные оптические параметры
STAS SR ISO 8040 Оптика и дополнительные инструменты. Микроскопы. Присоединительные размеры предметных стекол и слотов для пробирок.
STAS SR ISO 8037-1:1995 Оптика и оптические приборы Микроскопы. Слайды Часть 1: Размеры, оптические свойства и маркировка
STAS SR ISO 8255-1:1995 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Защитные стекла Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства

RU-GOST R, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

GOST 4.451-1986 Система индексов качества продукции. Световые микроскопы. Номенклатура индексов
GOST 28489-1990 Световые микроскопы. Понятия и определения
GOST 29214-1991 Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Присоединительные размеры направляющих и пазов для трубок
GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
GOST R 56169-2014 Оптика и оптические приборы. Операционный микроскоп. Требования и методы испытаний
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST 15114-1978 Телескопическая система для оптических приборов. Визуальный метод определения пределов разрешения
GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST ISO 4407-2006 Промышленная чистота. Определение загрязненности жидкости счетным методом с использованием оптического микроскопа
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки

PL-PKN, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

PN N53040-1988 Световые микроскопы Оптико-механические размеры
PN H04951-1986 Порошковая металлургия. Определение крупности частиц порошка методом оптического микроскопа.
PN-ISO 4407-2021-03 P Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.

Professional Standard - Commodity Inspection, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
SN/T 3798-2014 Определение асбеста в строительных и автомобильных материалах. Поляризационный микроскоп.
SN/T 3129.2-2013 Правила проверки оптических приборов при ввозе и вывозе. Часть 2: Биологические микроскопы.

Danish Standards Foundation, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

DS/ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM D8075-16 Стандартное руководство по классификации микроструктурных и микротекстурных особенностей, наблюдаемых на оптических микрофотографиях графита
ASTM D8075-16(2021) Стандартное руководство по классификации микроструктурных и микротекстурных особенностей, наблюдаемых на оптических микрофотографиях графита
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1951-98 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-02 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-01 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-14(2019) Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM D3849-02 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
ASTM D3849-04 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа

IN-BIS, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

IS 5258-1969 Определение размера частиц порошка методом оптической микроскопии

European Committee for Standardization (CEN), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника. Микролинзовая решетка. Часть 1. Словарь.
EN ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фонотика. Массивы микролинз. Часть 3. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов [Заменено: IPC TM-650 2.6.22]

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Group Standards of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп
T/TIAA 014-2018 Оптические методы измерения устройств индикации электронного зеркала заднего вида автомобиля

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Education, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

International Electrotechnical Commission (IEC), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

IEC PAS 62191:2000 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов

TIA - Telecommunications Industry Association, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

TIA-573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
TIA/EIA-573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
EIA-546A000-1989 Технические характеристики полевого портативного оптического микроскопа для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)
DVS 2310-1-1984 Инструкция по изготовлению шлифов и оценке термонапыленных слоев под светооптическим микроскопом
VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.

American National Standards Institute （ANSI), Электронный микроскоп против оптического микроскопа

ANSI/TIA/EIA 573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов

Professional Standard - Aviation, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

HB/Z 110-1986 Технические инструкции по дисплею наблюдения оптического микроскопа для разрушения плексигласа

Standard Association of Australia （SAA）, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

AS 2856.1:2000(R2013) Подготовка проб угля для падающей световой микроскопии петрографии угля.
AS 2856.1:2000 Петрография угля. Подготовка проб угля для микроскопии падающего света.

Professional Standard - Petroleum, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах

国家能源局, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

工业和信息化部, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии
SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

Professional Standard - Public Safety Standards, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)

Professional Standard - Judicatory, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SF/T 0139-2023

Indonesia Standards, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SNI ISO 10936-1:2008 Микроскоп для хирургии. Часть 1. Технические характеристики и метод испытаний.

SE-SIS, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

ZA-SANS, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SANS 6154:2006 Стеклосодержание гранулированного металлургического шлака (метод микроскопии в проходящем свете)

IT-UNI, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

ES-UNE, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

SPB-M2-1-2007 Межфазные и реологические свойства асфальтенов изучены методом атомно-силовой микроскопии.

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах (включает поправку 1: январь 2007 г.)

PH-BPS, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

AENOR, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.

Lithuanian Standards Office , Электронный микроскоп против оптического микроскопа

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

AT-ON, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

VN-TCVN, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

TCVN 6504-1999 Качество воздуха.Определение количественной концентрации неорганических волокон в воздухе методом фазово-контрастной оптической микроскопии.Мембранный фильтрационный метод.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

GJB 5384.22-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 21. Определение концентрации количества твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Электронный микроскоп против оптического микроскопа

GJB 8684.22-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 22. Определение числовой концентрации твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.