Разрешение измерительной системы микроскопа

Разрешение измерительной системы микроскопа, Всего: 33 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Разрешение измерительной системы микроскопа, являются: Аналитическая химия, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Оптическое оборудование, Угли, Обработка поверхности и покрытие, Коррозия металлов, Цветные металлы.

International Organization for Standardization (ISO), Разрешение измерительной системы микроскопа

ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
ISO/FDIS 23124:2023 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем

RU-GOST R, Разрешение измерительной системы микроскопа

GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST 15114-1978 Телескопическая система для оптических приборов. Визуальный метод определения пределов разрешения

British Standards Institution (BSI), Разрешение измерительной системы микроскопа

BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
23/30420097 DC BS ISO 23124 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа
20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS ISO 14490-7:2005 Оптика и оптические приборы. Методы испытаний телескопических систем. Методы испытаний предела разрешающей способности.
PD IEC TS 62607-9-1:2021 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Прослеживаемые измерения рассеянного магнитного поля наномасштаба с пространственным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Разрешение измерительной системы микроскопа

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2006 Bestimmung geometrischer Messgroessen mit Rastersondermikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen

Association of German Mechanical Engineers, Разрешение измерительной системы микроскопа

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Разрешение измерительной системы микроскопа

GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.

American National Standards Institute （ANSI), Разрешение измерительной системы микроскопа

ANSI/IEEE 208:1995 Стандарт на видеотехнику: измерение разрешения систем камер, методы 1993 г.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Разрешение измерительной системы микроскопа

IEEE 208-1960 Стандарты IEEE по видеотехнике: измерение разрешения систем камер, 1961 г.
ANSI/IEEE Std 208-1960 Стандарты IEEE по видеотехнике: измерение разрешения систем камер, 1961 г.
IEEE Std 208-1995 Стандарт IEEE на видеотехнику: Измерение разрешения систем камер, методы 1993 г.

未注明发布机构, Разрешение измерительной системы микроскопа

DIN ISO 14490-7 E:2017-04 Оптика и фотоника. Методы испытаний телескопических систем. Часть 7. Методы испытаний на предел разрешающей способности.

International Electrotechnical Commission (IEC), Разрешение измерительной системы микроскопа

IEC TS 62607-9-1:2021 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Часть 9-1. Прослеживаемые измерения рассеянного магнитного поля наномасштаба с пространственным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия

German Institute for Standardization, Разрешение измерительной системы микроскопа

DIN 22020-5:2005-02 Исследования сырья при добыче каменного угля. Микроскопические исследования каменного угля, кокса и брикетов. Часть 5. Измерения отражательной способности витринитов / Примечание: DIN 22020-5 (1986-09) остается действительным наряду с настоящим стандартом до 2005-07 гг. -31.
DIN ISO 14490-7:2017 Оптика и фотоника. Методы испытаний телескопических систем. Часть 7. Методы испытаний на предел разрешения (ISO 14490-7:2016)
DIN 22020-5:2005 Исследования сырья при добыче каменного угля. Микроскопические исследования каменного угля, кокса и брикетов. Часть 5. Измерения отражательной способности витринитов.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Разрешение измерительной системы микроскопа

ASTM F1438-93(1999) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1438-93(2020) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1438-93(2012) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Разрешение измерительной системы микроскопа

JIS H 8680-3:2013 Анодирование алюминия и его сплавов.Определение толщины анодно-оксидных покрытий.Часть 3. Неразрушающие измерения с помощью расщепленного лучевого микроскопа.