ZH
EN
ES
Электронный допинг
Электронный допинг, Всего: 31 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронный допинг, являются: Полупроводниковые материалы, Системы промышленной автоматизации, Изоляционные жидкости, Аналитическая химия, Применение информационных технологий, Цветные металлы, Организация и управление компанией.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронный допинг
- GB/T 13389-2014 Практика преобразования между удельным сопротивлением и плотностью легирующей примеси для кремния, легированного бором, фосфором и мышьяком.
- GB/T 13389-1992 Практика преобразования между удельным сопротивлением и плотностью легирующей примеси для кремния, легированного бором и фосфором.
- GB/T 20176-2006 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
Group Standards of the People's Republic of China, Электронный допинг
Professional Standard - Petroleum, Электронный допинг
Professional Standard - Building Materials, Электронный допинг
- JC/T 2132-2012 Определение легированных и микроэлементов в титанате бария-стронция (БСТ).Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно-связанной плазмой.
International Organization for Standardization (ISO), Электронный допинг
- ISO 14237:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
- ISO 14237:2000 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
Association Francaise de Normalisation, Электронный допинг
- NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
- NF ISO 14237:2010 Химический анализ поверхностей. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомов бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
British Standards Institution (BSI), Электронный допинг
- BS ISO 14237:2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Электронный допинг
- JIS K 0143:2023 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
- JIS K 0143:2000 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение атомной концентрации бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Электронный допинг
- ASTM E1438-06 Стандартное руководство по измерению ширины границ раздела при профилировании глубины распыления с использованием SIMS
- ASTM F1366-92(1997)e1 Стандартный метод измерения концентрации кислорода в сильнолегированных кремниевых подложках методом вторичной ионной масс-спектрометрии
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Электронный допинг
- KS D ISO 14237:2003 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение концентрации атомов бора в кремнии с использованием однородно легированных материалов.
German Institute for Standardization, Электронный допинг
- DIN 50450-1:1987-08 Испытание материалов для полупроводниковой техники; определение примесей в газах-носителях и легирующих газах; определение примеси воды в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелии с помощью ячейки с пятиокисью дифосфора
- DIN 50450-2:1991-03 Испытание материалов для полупроводниковой техники; определение примесей в газах-носителях и легирующих газах; определение примеси кислорода в N<(Индекс)2>, Ar, He, Ne и H<(Индекс)2>; с помощью гальванического элемента
- DIN 50445:1992 Испытание материалов для полупроводниковой техники; бесконтактное определение удельного электросопротивления полупроводниковых пластинок вихретоковым методом; однородно легированные полупроводниковые пластины
Professional Standard - Civil Aviation, Электронный допинг
工业和信息化部, Электронный допинг
- YS/T 1339-2019 Метод химического анализа легированного трехэлементного композитного гидроксида никель-кобальт-марганца.Определение содержания алюминия, магния, титана, стронция, циркония, лантана и иттрия методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой.
GB-REG, Электронный допинг