ZH
EN
ES
Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
Что измеряет атомно-силовой микроскоп?, Всего: 28 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Что измеряет атомно-силовой микроскоп?, являются: Физика. Химия, Термодинамика и измерения температуры, Материалы для аэрокосмического строительства, Условия и процедуры испытаний в целом, Оптика и оптические измерения, Линейные и угловые измерения, Атомная энергетика, Аналитическая химия, Керамика.
Group Standards of the People's Republic of China, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа
American Society for Testing and Materials (ASTM), Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
- ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток
- GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
- GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)
German Institute for Standardization, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).
Professional Standard - Nuclear Industry, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа
International Organization for Standardization (ISO), Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
- ISO/DIS 19606:2023 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии.
British Standards Institution (BSI), Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур
- 23/30461942 DC BS ISO 19606. Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
RU-GOST R, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
- GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Метод измерения эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- JIS R 1683:2007 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
- JIS R 1683:2014 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Что измеряет атомно-силовой микроскоп?
- SPB-M6-2-2010 Апрель 08: Коллоидные взаимодействия между асфальтенами и различными поверхностями, измеренные с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ)