ZH
EN
KR
JP
ES
DEизмерительный микроскоп
измерительный микроскоп, Всего: 48 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к измерительный микроскоп, являются: Оптическое оборудование, Текстильные волокна, Линейные и угловые измерения, Обработка поверхности и покрытие.
Professional Standard - Machinery, измерительный микроскоп
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), измерительный микроскоп
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, измерительный микроскоп
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), измерительный микроскоп
- KS K ISO 4912:2007 Текстиль-Хлопковое волокно-Оценка зрелости-Микроскопический метод
- KS K ISO 4912:2014 Текстиль. Хлопковое волокно. Оценка зрелости. Микроскопический метод.
- KS D 8519-2009(2015) Металлическое и оксидное покрытие-Измерение толщины покрытия-Микроскопический метод
- KS D 8519-2015 Металлическое и оксидное покрытие-Измерение толщины покрытия-Микроскопический метод
Indonesia Standards, измерительный микроскоп
- SNI ISO 4912:2010 Текстиль. Хлопковые волокна. Оценка зрелости. Микроскопический метод.
VN-TCVN, измерительный микроскоп
- TCVN 6035-1995 Текстиль.Хлопковое волокно.Оценка зрелости.Микроскопический метод.
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), измерительный микроскоп
International Organization for Standardization (ISO), измерительный микроскоп
- ISO 4912:1981 Текстиль; Хлопковые волокна; Оценка зрелости; Микроскопический метод
- ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
PT-IPQ, измерительный микроскоп
- NP 3160-1986 текстиль. Измерение диаметра волокна. Метод проекции микроскопа
ZA-SANS, измерительный микроскоп
- SANS 144:2008 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- SANS 144:1982 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, измерительный микроскоп
- GB/T 6462-2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
SE-SIS, измерительный микроскоп
- SIS SS-ISO 1463:1983 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
Danish Standards Foundation, измерительный микроскоп
- DS/EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- DS/ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- DS/EN ISO 1463:1994 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- DS/EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021).
German Institute for Standardization, измерительный микроскоп
- DIN EN ISO 1463:2021-08 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021); Немецкая версия EN ISO 1463:2021.
- DIN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021); Немецкая версия EN ISO 1463:2021.
Association Francaise de Normalisation, измерительный микроскоп
- NF A91-110:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- NF EN ISO 1463:2021 Металлические покрытия и оксидные слои. Измерение толщины покрытия. Метод микрографического среза.
- NF EN ISO 4507:2007 Спеченные, цементированные или карбонитридированные черные материалы. Определение и проверка глубины цементации путем измерения микротвердости.
ES-UNE, измерительный микроскоп
- UNE-EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
GSO, измерительный микроскоп
- GSO ISO 1463:2013 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
SCC, измерительный микроскоп
- BS EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
- DANSK DS/ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
- BS EN ISO 1463:1995 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
- DANSK DS/EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021).
- NS-EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021).
- NS-EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
- NS-EN ISO 1463:1994 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытий. Микроскопический метод (ISO 1463:1982).
CZ-CSN, измерительный микроскоп
- CSN ISO 1463:1993 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
PL-PKN, измерительный микроскоп
- PN-EN ISO 1463-2021-10 E Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
未注明发布机构, измерительный микроскоп
Lithuanian Standards Office , измерительный микроскоп
- LST EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
- LST EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
AT-ON, измерительный микроскоп
- OENORM EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
CH-SNV, измерительный микроскоп
- SN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
AENOR, измерительный микроскоп
- UNE-EN ISO 1463:2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
RU-GOST R, измерительный микроскоп
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
British Standards Institution (BSI), измерительный микроскоп
- 20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
IN-BIS, измерительный микроскоп
- IS 4329-1967 Технические характеристики измерительных (передвижных) микроскопов