ZH
EN
ES

Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа

Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа, Всего: 12 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа, являются: Оптика и оптические измерения, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Защита от опасных грузов, Аналитическая химия.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа

GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.

International Organization for Standardization (ISO), Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа

ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа

ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-05 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-19 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии

British Standards Institution (BSI), Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа

BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Основная конструкция просвечивающего электронного микроскопа

GB/T 34002-2017 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.