ZH
EN
ES

Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, Всего: 10 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии, являются: Керамика, Испытание металлов, Физика. Химия.

Professional Standard - Petroleum, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

国家能源局, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа

German Institute for Standardization, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

IT-UNI, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Подготовка проб для сканирующей электронной микроскопии

GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа