ZH
EN
ES
ширина шва
ширина шва, Всего: 14 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к ширина шва, являются: Дорожное строительство, Продукция текстильной промышленности, Строительные материалы, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия.
ACI - American Concrete Institute, ширина шва
Professional Standard - Traffic, ширина шва
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, ширина шва
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ширина шва
- GB/T 16989-1997 Геотекстиль. Испытание соединений/швов на растяжение методом широкой ширины.
- GB/T 16989-2013 Геосинтетика. Испытание соединений/швов на растяжение методом широкой полосы.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, ширина шва
- JJF 1334-2012 Спецификация калибровки приборов для измерения ширины и глубины бетонных трещин
CZ-CSN, ширина шва
American Society for Testing and Materials (ASTM), ширина шва
- ASTM C1472-16(2022) Стандартное руководство по расчету смещения и других эффектов при определении ширины шва герметика
- ASTM C1472-10 Стандартное руководство по расчету смещения и других эффектов при определении ширины шва герметика
- ASTM C1472-00 Стандартное руководство по расчету смещения и других эффектов при определении ширины шва герметика
- ASTM E925-83(1994)e1 Стандартная практика контроля калибровки спектрофотометров ультрафиолетового и видимого диапазона, спектральная ширина щели которых не превышает 2 нм
- ASTM E925-09(2014) Стандартная практика контроля калибровки спектрофотометров ультрафиолетового и видимого диапазона, спектральная ширина полосы которых не превышает 2 нм
- ASTM E925-02 Стандартная практика контроля калибровки спектрофотометров ультрафиолетового и видимого диапазона, спектральная ширина щели которых не превышает 2 нм
- ASTM E925-09 Стандартная практика контроля калибровки спектрофотометров ультрафиолетового и видимого диапазона, спектральная ширина щели которых не превышает 2 нм