ZH
EN
ES
Различные разрешения микроскопа
Различные разрешения микроскопа, Всего: 13 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Различные разрешения микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Цветные металлы, Аналитическая химия.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Различные разрешения микроскопа
- KS D 2713-2006 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
International Organization for Standardization (ISO), Различные разрешения микроскопа
- ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
- ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
- ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
British Standards Institution (BSI), Различные разрешения микроскопа
- BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
- 23/30420097 DC BS ISO 23124 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- 20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
RU-GOST R, Различные разрешения микроскопа
- GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля