ZH
EN
ES

Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля

Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля, Всего: 8 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля, являются: Цветные металлы, Аналитическая химия, Качество воздуха.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля

• KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
• KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)

International Organization for Standardization (ISO), Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля

• ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.

British Standards Institution (BSI), Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля

• BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля

Professional Standard - Commodity Inspection, Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля

• SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

RU-GOST R, Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля

• GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля

• JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

Другие:   Сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля, Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия, СЭМ ближнего поля, СЭМ ближнего поля, СЭМ ближнего поля, оптическое сканирование ближнего поля, сканирующий оптический микроскоп ближнего поля, оптический сканирующий электронный микроскоп, оптический сканирующий микроскоп ближнего поля, СЭМ и оптика, оптический сканирующий микроскоп ближнего поля, сканирующий оптический микроскоп ближнего поля, Сканирующая электронная микроскопия и оптика, СЭМ оптика, Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля, Сканирующая оптическая электронная микроскопия ближнего поля, СЭМ оптика, Сканирующая электронная микроскопия и оптическая электронная микроскопия, Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия, оптический сканирующий электронный микроскоп.