ZH
EN
ES

Как измерить микроскоп

Как измерить микроскоп, Всего: 224 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как измерить микроскоп, являются: Оптическое оборудование, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Аналитическая химия, Электрические провода и кабели, Жидкостные энергетические системы, Физика. Химия, Оптика и оптические измерения, Качество воздуха, Текстильные волокна, Обработка поверхности и покрытие, Электрооборудование для работы в особых условиях, Микробиология, Испытание металлов, Условия и процедуры испытаний в целом, Материалы для аэрокосмического строительства, Неразрушающий контроль, Метрология и измерения в целом, Атомная энергетика, Угли, Технологические процессы древесины, Смазочные материалы, индустриальные масла и сопутствующие товары, Строительные материалы, Коррозия металлов.

Professional Standard - Machinery, Как измерить микроскоп

JB/T 9339-1999 Измерительный микроскоп
JB/T 9349-1999 Измерительные ножи для инструментального микроскопа

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Как измерить микроскоп

JIS B 7153:1995 Измерительные микроскопы
JIS B 7152:1991 Объективы и окуляры биологических микроскопов. Методы измерения характеристик
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS M 8816:1992 Топливо твердое минеральное. Методы микроскопического измерения мацералов и отражательной способности
JIS A 1481-4:2016 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 4. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Как измерить микроскоп

JJG 571-2004 Читающий микроскоп и измерительный микроскоп
JJG 571-1988 Регламент поверки измерительного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Как измерить микроскоп

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.

IN-BIS, Как измерить микроскоп

IS 4329-1967 Технические характеристики измерительных (передвижных) микроскопов

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как измерить микроскоп

GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
GB/T 6462-2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
GB/T 32282-2015 Измерение плотности дислокаций в монокристалле нитрида галлия методом катодолюминесцентной микроскопии
GB/T 6462-1986 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
GB/T 8014.3-2005 Анодирование алюминия и его сплавов. Метод измерения толщины анодно-оксидных покрытий. Часть 3: Метод расщепленного лучевого микроскопа.
GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)

International Organization for Standardization (ISO), Как измерить микроскоп

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
ISO 4912:1981 Текстиль; Хлопковые волокна; Оценка зрелости; Микроскопический метод
ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 1. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля.
ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO/CD 22262-2:2011 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO 8672:1993 Качество воздуха; определение количественной концентрации находящихся в воздухе неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии; метод мембранного фильтра
ISO 8672:2014 Качество воздуха. Определение количественной концентрации неорганических волокон в воздухе методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.
ISO 22262-2:2014 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.

TH-TISI, Как измерить микроскоп

TIS 1083-1992 Стандарт для измерения толщины покрытия микроскопическим методом

American Society for Testing and Materials (ASTM), Как измерить микроскоп

ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
ASTM D5235-13 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM D5235-14 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5235-18 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM D5235-97 Стандартный метод испытаний для микроскопического измерения толщины сухой пленки покрытий на изделиях из древесины
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM D5770-02 Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM D5770-96 Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM D5770-02(2007) Стандартный метод полуколичественного микроопределения кислотного числа смазочных масел при испытаниях на окисление
ASTM F3294-18 Стандартное руководство по проведению количественных измерений интенсивности флуоресценции в клеточных анализах с помощью широкопольной эпифлуоресцентной микроскопии
ASTM B487-20 Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
ASTM C1356-96(2001) Стандартный метод испытаний для количественного определения фаз в портландцементном клинкере методом микроскопического точечного подсчета
ASTM B651-83(2001) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(1995) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(2006) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(2015) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B651-83(2010) Стандартный метод испытаний для измерения мест коррозии на гальванических поверхностях никель плюс хром или медь плюс никель плюс хром с помощью двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B588-88(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
ASTM B487-85(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
ASTM C1356-07 Стандартный метод испытаний для количественного определения фаз в портландцементном клинкере методом микроскопического точечного подсчета
ASTM C1356-07(2012) Стандартный метод испытаний для количественного определения фаз в портландцементном клинкере методом микроскопического точечного подсчета

(U.S.) Ford Automotive Standards, Как измерить микроскоп

FORD FLTM EU-BA 053-1-2000 МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ОБЕЗУГЛЕГРУЖЕНИЯ ПРУЖИННЫХ СТАЛЕЙ

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Как измерить микроскоп

KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS E 4005-2007(2012) Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS E 4005-1981 Портативный поляризационный микроскоп для отбора проб и определения негорючих веществ в угольных и каменно-пылевых смесях.
KS D 0204-2007 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 8519-2009(2015) Металлическое и оксидное покрытие－Измерение толщины покрытия－Микроскопический метод
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D 0204-1982 Сталь-Определение содержания неметаллических включений-Микрографический метод по стандартным диаграммам
KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух－Определение асбестовых волокон－Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
KS I ISO 8672:2006 Качество воздуха – определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии (метод мембранного фильтра).
KS I ISO 8672:2021 Качество воздуха. Определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.
KS I ISO 8672-2006(2017) Качество воздуха – определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии (метод мембранного фильтра).

British Standards Institution (BSI), Как измерить микроскоп

BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
BS ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
BS ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
21/30395346 DC БС ИСО 19056-3. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод
BS ISO 22262-2:2014 Качество воздуха. Объемные материалы. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
23/30420097 DC BS ISO 23124 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа
BS ISO 8672:2014 Качество воздуха. Определение количественной концентрации аэрозольных неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра
18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Petrochemical Industry, Как измерить микроскоп

SH/T 0336-1994 Метод определения содержания примесей смазки (микроскопический метод)

TIA - Telecommunications Industry Association, Как измерить микроскоп

TIA/EIA-455-45-B-1992 Метод FOTP-45 для измерения геометрии оптического волокна с помощью лабораторного микроскопа (отозвано в мае 2003 г.)

Group Standards of the People's Republic of China, Как измерить микроскоп

T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки

CZ-CSN, Как измерить микроскоп

CSN 65 6337-1974 Определение содержания механических примесей с помощью микроскопа
CSN ISO 1463:1993 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как измерить микроскоп

GB/T 34879-2017 Геометрические характеристики изделия (GPS). Метрологические характеристики и руководство по неопределенности измерений для оптических конфокальных микроскопов.

VN-TCVN, Как измерить микроскоп

TCVN 6035-1995 Текстиль.Хлопковое волокно.Оценка зрелости.Микроскопический метод.
TCVN 6504-1999 Качество воздуха.Определение количественной концентрации неорганических волокон в воздухе методом фазово-контрастной оптической микроскопии.Мембранный фильтрационный метод.

PT-IPQ, Как измерить микроскоп

NP 3160-1986 текстиль. Измерение диаметра волокна. Метод проекции микроскопа
NP 3563-1988 Текстиль Хлопковое волокно. Оценка зрелости. Микроскопический метод

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Как измерить микроскоп

IPC TM-650 2.2.14.1-1995 Распределение частиц припоя по размерам – метод измерительного микроскопа

KR-KS, Как измерить микроскоп

KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
KS I ISO 8672-2021 Качество воздуха. Определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.

FI-SFS, Как измерить микроскоп

SFS 3458-1989 пластик. Микроскопическое определение содержания черной сажи в полиэтилене

Association Francaise de Normalisation, Как измерить микроскоп

NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования.
NF EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный анализ с помощью микроскопа. Общие принципы тестирования.
NF A91-110:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
NF X43-066-2*NF ISO 22262-2:2014 Качество воздуха. Сыпучие материалы. Часть 2. Количественное определение асбеста гравиметрическими и микроскопическими методами.
NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа.

SE-SIS, Как измерить микроскоп

SIS SS-ISO 1463:1983 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SMS 2953-1971 Измерение толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечных сечений.

RO-ASRO, Как измерить микроскоп

STAS 10552-1976 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ДЕЛЬТА-ФЕРРИТА В НАПЛАВЛЕННОМ МЕТАЛЛЕ ПРИ СВАРКЕ АУСТЕНИТНЫХ СТАЛЕЙ Микроскопический метод
STAS 9070-1981 ШЕРСТЬ. Определение диаметра волокон и содержания сердцевинных волокон с помощью проекционного микроскопа.

ZA-SANS, Как измерить микроскоп

SANS 144:1982 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.

German Institute for Standardization, Как измерить микроскоп

DIN 58959-4:1997 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
DIN 22020-5:2005-02 Исследования сырья при добыче каменного угля. Микроскопические исследования каменного угля, кокса и брикетов. Часть 5. Измерения отражательной способности витринитов / Примечание: DIN 22020-5 (1986-09) остается действительным наряду с настоящим стандартом до 2005-07 гг. -31.
DIN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021); Немецкая версия EN ISO 1463:2021.
DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
DIN EN ISO 2128:2010-12 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа (ISO 2128:2010).

European Committee for Standardization (CEN), Как измерить микроскоп

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

Danish Standards Foundation, Как измерить микроскоп

DS/EN ISO 1463:1994 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
DS/EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021).
DS/EN ISO 2128:2010 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа.

PL-PKN, Как измерить микроскоп

PN C05551-1987 Вода и сточные воды. Определение численности фитопланктона с помощью инвертированного микроскопа.

RU-GOST R, Как измерить микроскоп

GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Процедура проверки
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межпенарные расстояния в кристаллах. Метод измерения с помощью просвечивающего электронного микроскопа
GOST R 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Метод измерения эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

ES-UNE, Как измерить микроскоп

UNE-EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)
UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Как измерить микроскоп

GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).

PH-BPS, Как измерить микроскоп

PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Professional Standard - Nuclear Industry, Как измерить микроскоп

EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа

Professional Standard - Commodity Inspection, Как измерить микроскоп

SN/T 3231-2012 Определение асбеста в тальке. Поляризационный микроскоп и рентгеноструктурный метод.
SN/T 3131-2012 Определение асбеста в велосипедных тормозных накладках. Паларизованный световой микроскоп и рентгеновский дифракционный метод.

AENOR, Как измерить микроскоп

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
UNE-EN ISO 1463:2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
UNE-EN ISO 2128:2011 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа (ISO 2128:2010).

Lithuanian Standards Office , Как измерить микроскоп

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
LST EN ISO 1463:2004 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2003).
LST EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
LST ISO 8672:2001 Качество воздуха. Определение количественной концентрации аэрозольных неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра
LST EN ISO 2128:2011 Анодирование алюминия и его сплавов. Определение толщины анодно-оксидных покрытий. Неразрушающее измерение с помощью расщепленного лучевого микроскопа (ISO 2128:2010).

AT-ON, Как измерить микроскоп

OENORM EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

CH-SNV, Как измерить микроскоп

SN EN ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод (ISO 1463:2021)
VSM 34130-1934 Анодирование алюминия и алюминиевых сплавов. Определение толщины анодной оксидной пленки. Неразрушающие измерения с использованием светоделительной микроскопии
VSM 18653.1-1965 Анодирование алюминия и алюминиевых сплавов. Определение толщины анодной оксидной пленки. Неразрушающие измерения с использованием светоделительной микроскопии

NO-SN, Как измерить микроскоп

NS 1181-1979 Металлическое и оксидное покрытие. Измерение толщины путем микроскопического исследования поперечного сечения.

CU-NC, Как измерить микроскоп

NC 90-01-50-1987 Метрологическое обеспечение. Инструментальные микроскопы. Методы и средства проверки.

工业和信息化部, Как измерить микроскоп

SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

未注明发布机构, Как измерить микроскоп

DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

IT-UNI, Как измерить микроскоп

UNI 6500-1969 Анодирование накладок из алюминия и его сплавов. Измерение толщины футеровки оптическим микроскопом

YU-JUS, Как измерить микроскоп

JUS U.M1.056-1993 Бетон. Определение содержания и факторного расстояния между порами газобетона с помощью линейного микроскопа.

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Как измерить микроскоп

SPB-M6-2-2010 Апрель 08: Коллоидные взаимодействия между асфальтенами и различными поверхностями, измеренные с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ)