ZH
EN
ES
Какие существуют классификации электронных микроскопов?
Какие существуют классификации электронных микроскопов?, Всего: 171 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Какие существуют классификации электронных микроскопов?, являются: Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Словари, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Образование, Испытание металлов, Изделия из железа и стали, Материалы для армирования композитов, Защита от преступности, Сырье для резины и пластмасс, Текстильные волокна, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Бумага и картон, Линейные и угловые измерения, Полупроводниковые приборы, Физика. Химия, Защита от опасных грузов.
International Organization for Standardization (ISO), Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
- ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии потерь энергии электронов.
- ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- ISO/CD 20263:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
- ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 21915-1:2020 Текстиль. Качественный и количественный анализ некоторых целлюлозных волокон (лиоцелла, купро) и их смесей. Часть 1. Идентификация волокон с помощью сканирующей электронной микроскопии и метода спектрального анализа.
- ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
- ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Professional Standard - Machinery, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
Association Francaise de Normalisation, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
- NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- NF EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Климатические и механические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых корпусах.
- NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
- FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
British Standards Institution (BSI), Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- 20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
- 21/30404763 DC BS ISO 24639. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Способ определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
- BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- 18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
- 19/30394914 DC BS ISO 15632. Микролучевой анализ. Отдельные рабочие параметры прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроскопе или электронно-зондовом микроанализаторе (ЭПМА)
- BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
- BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 21915-1:2020 Текстиль. Качественный и количественный анализ некоторых целлюлозных волокон (лиоцелла, купро) и их смесей. Идентификация волокон методами сканирующей электронной микроскопии и спектрального анализа.
- BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
KR-KS, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
- JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.
- JIS L 1030-4-1:2023 Текстиль. Качественный и количественный анализ некоторых целлюлозных волокон (лиоцелла, купро) и их смесей. Часть 4-1. Идентификация волокон с использованием методов сканирующей электронной микроскопии и спектрального анализа.
Professional Standard - Education, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
- GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
- GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
- GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
- GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
- GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.
- GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
- GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
- GB/T 2679.11-2008 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод SEM/EDAX.
- GB/T 2679.11-1993 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод СЭМ/EDAX
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
Professional Standard - Petroleum, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
国家能源局, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
工业和信息化部, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии
American Society for Testing and Materials (ASTM), Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM D3849-02 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM D3849-04 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM D5756-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
- ASTM D5756-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
- ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
- ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
- ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
- ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
- ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
- ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
Group Standards of the People's Republic of China, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп
PH-BPS, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
European Committee for Standardization (CEN), Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
- EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
- prEN ISO 17751-2 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022)
Danish Standards Foundation, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/EN 60749-35:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
- DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- GJB 5384.22-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 21. Определение концентрации количества твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии
- GJB 5384.23-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 23. Определение гранулометрического состава твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- GJB 8684.22-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 22. Определение числовой концентрации твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.
- GJB 8684.23-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 23. Определение гранулометрического состава твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.
ES-UNE, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
- UNE-EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006) (Одобрено AENOR в январе 2007 г.)
- UNE-EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016)
AT-ON, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
Professional Standard - Public Safety Standards, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
- GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
未注明发布机构, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
German Institute for Standardization, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
- DIN EN 60749-35:2007-03 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006); Немецкая версия EN 60749-35:2006.
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
- DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
- DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
Professional Standard - Commodity Inspection, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
RU-GOST R, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
Lithuanian Standards Office , Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- LST EN 60749-35-2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006)
IX-IX-IEC, Какие существуют классификации электронных микроскопов?
- IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.