ZH
EN
ES
Сэм??
Сэм??, Всего: 25 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Сэм??, являются: Рыбалка и рыбоводство, Оптическое оборудование, Защита от огня, Линейные и угловые измерения, Качество воздуха.
RO-ASRO, Сэм??
- STAS 12623-1988 Гидростатические приводы СОЕДИНЕНИЯ С ЛАМПАМИ SEM10 Размеры
NEMA - National Electrical Manufacturers Association, Сэм??
Indonesia Standards, Сэм??
- SNI 7587.1-2010 Тест на остаточное содержание семикарбазида (SEM) у рыб и креветок с использованием метода иммуноферментного анализа (ELISA)
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Сэм??
- DB13/T 2777-2018 Методика оценки индекса удовлетворенности населения службой административного лицензирования на основе SEM
International Organization for Standardization (ISO), Сэм??
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
British Standards Institution (BSI), Сэм??
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Сэм??
- GB/T 16840.6-2012 Методы технического определения электрических свидетельств пожара. Часть 6. Метод микроморфологического анализа с использованием сканирующего электронного микроскопа.
IEC - International Electrotechnical Commission, Сэм??
- IEC 60748-2-6:1991 Полупроводниковые приборы Интегральные схемы Часть 2. Цифровые интегральные схемы Раздел шестой. Пустая подробная спецификация для микропроцессорных интегральных схем (Редакция 1.0)
American Society for Testing and Materials (ASTM), Сэм??
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
- ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
- ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
- ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
- ASTM E3284-23 Стандартная практика обучения судебно-медицинской экспертизе остатков выстрелов капсюля (pGSR) с использованием сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
RU-GOST R, Сэм??
- GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
German Institute for Standardization, Сэм??
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
- DIN ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
Association Francaise de Normalisation, Сэм??
- NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)