ZH
EN
ES

двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны, Всего: 114 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны, являются: Оптоволоконная связь, Сахар. Сахарные изделия. Крахмал, Сельское и лесное хозяйство, Зерновые, бобовые и производные продукты, Аналитическая химия, Изделия из железа и стали, Нерудные полезные ископаемые, Солнечная энергетика, Металлоносные полезные ископаемые, Медицинское оборудование.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

GB/T 29230.1-2012 Оптико-электронно-опто двунаправленный преобразователь длины волны для системы передачи по пластиковому оптоволоконному кабелю. Часть 1: Преобразователь длины волны между 650 и 1550 нм (или 1310 или 850 нм) Ethernet со скоростью 100 Мбит / с.

Group Standards of the People's Republic of China, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

T/ZNZ 183-2023 Определение амилозы и амилопектина в клубнях. Двухволновая спектрофотометрия.
T/GXAS 222-2021 Определение содержания амилозы и амилопекта в корнеплодах и клубнеплодах - Двухволновая спектрофотометрия.
T/QAS 076-2022 Определение амилозы и амилопектина в высокогорном ячмене методом двухволновой спектрофотометрии
T/CSTM 00379-2020 Определение содержания общего железа, оксида кальция, магнезии, кремнезема, пятиокиси ванадия, диоксида титана, оксида алюминия, фосфора и серы в шлаке, содержащем ванадий и титан, методом длинноволновой дисперсионной рентгенофлуоресцентной спектрометрии.
T/CSTM 00380-2020 Определение содержания общего железа, оксида кальция, магнезии, диоксида кремния, пятиокиси ванадия, диоксида титана, оксида алюминия, фосфора и серы в ванадий-титановом агломерате методом длинноволновой дисперсионной рентгенофлуоресцентной спектрометрии.

British Standards Institution (BSI), двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

BS EN 61280-1-3:2010 Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Подсистемы связи общего назначения. Измерение центральной длины волны и ширины спектра.
BS EN IEC 61280-1-3:2021 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик
BS ISO 14594:2003 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
BS ISO 14594:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
23/30425940 DC BS ISO 14594. Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
20/30421199 DC БС ЕН МЭК 61280-1-3. Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик
BS ISO 11938:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны
BS ISO 22489:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
BS ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
BS ISO 11938:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны
BS EN 61280-2-9:2003 Основные процедуры испытаний подсистем волоконно-оптической связи. Процедуры испытаний цифровых систем. Измерение оптического отношения сигнал/шум для систем с плотным мультиплексированием по длине волны.
BS EN 61280-2-9:2002 Основные процедуры испытаний подсистем волоконно-оптической связи. Процедуры испытаний цифровых систем. Измерение оптического отношения сигнал/шум для систем с плотным мультиплексированием по длине волны.
BS ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
BS EN 62788-1-4:2016 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Инкапсулянты. Измерение оптического пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.
BS EN 181101:1995 Спецификация для гармонизированной системы оценки качества электронных компонентов - Бланковая детальная спецификация: волоконно-оптические разветвительные устройства - Тип: пропускающая звезда, не селективная по длине волны
BS EN 62788-1-4:2016+A1:2020 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Герметики. Измерение оптического пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.
BS EN 181102:1995 Спецификация для гармонизированной системы оценки качества электронных компонентов - Бланковая детальная спецификация: волоконно-оптические разветвительные устройства - Тип: звезда селективной передачи по длине волны
BS EN 181104:1998 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов - Бланковая подробная спецификация: волоконно-оптические разветвительные устройства - Тип: пропускающая звезда с селективной длиной волны для телекоммуникационных приложений.
BS EN 181103:1998 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов - Бланковая детальная спецификация: волоконно-оптические разветвительные устройства - Тип: бесволновая селективная передающая звезда для телекоммуникационных приложений.
18/30387052 DC BS EN 62788-1-4 AMD1. Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Инкапсулянты. Измерение оптического пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

JIS C 61280-1-3:2010 Процедуры испытаний подсистем волоконно-оптической связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
JIS K 0190:2010 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
JIS C 61280-1-3:2017 Процедуры испытаний подсистем волоконно-оптической связи. Часть 1-3. Измерение центральной длины волны и ширины спектра.
JIS C 61280-2-9:2010 Процедуры испытаний подсистем волоконно-оптической связи. Измерение оптического отношения сигнал/шум для систем с плотным мультиплексированием с разделением по длине волны.
JIS K 0189:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Определение экспериментальных параметров для волнодисперсионной рентгеновской спектроскопии.
JIS C 6122-4-1:2013 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Переходные параметры. Измерение параметров усиления двухволновым методом.

Danish Standards Foundation, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

DS/EN 61280-1-3:2010 Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
DS/EN IEC 61280-1-3:2021 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик.
DS/EN 61290-4-1:2011 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод
DS/EN 62788-1-4:2020 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

EN 61280-1-3:2010 Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
EN 61290-4-1:2011 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод
EN 61290-4-1:2016 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод
EN 62788-1-4:2016 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического коэффициента пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.

ES-UNE, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

UNE-EN 61280-1-3:2010 Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра (одобрено AENOR в июне 2010 г.).
UNE-EN IEC 61280-1-3:2021 Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в октябре...
UNE-EN 61290-4-1:2016 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Усиление переходных параметров. Двухволновой метод (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2017 г.).
UNE-EN 62788-1-4:2017 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического коэффициента пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.
UNE-EN 62788-1-4:2017/A1:2021 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического коэффициента пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.

Association Francaise de Normalisation, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

NF EN 61280-2-10:2006 Процедуры испытаний оптоволоконных телекоммуникационных подсистем. Часть 2-10. Цифровые системы. Измерение колебаний длины волны с временным разрешением и альфа-фактора лазерных передатчиков.
NF X21-002:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
NF C93-807-1-3*NF EN 61280-1-3:2013 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Подсистемы связи общего назначения. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
NF C93-807-1-3*NF EN IEC 61280-1-3:2021 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик.
NF X21-003:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу с помощью рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
NF C93-805-4-1:2011 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры усиления переходных процессов. Двухволновой метод.
NF C93-805-4-1*NF EN 61290-4-1:2017 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод
NF EN IEC 61280-1-3:2021 Процедуры испытаний волоконно-оптических телекоммуникационных подсистем. Часть 1-3: общие телекоммуникационные подсистемы. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик...
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ - Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны.
NF C93-807-2-10*NF EN 61280-2-10:2006 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 2-10. Цифровые системы. Измерение ЛЧМ с временным разрешением и альфа-фактора лазерных передатчиков.
NF X21-006:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
NF C93-807-2-9*NF EN 61280-2-9:2009 Процедуры испытаний подсистем волоконно-оптической связи. Часть 2-9. Цифровые системы. Измерение оптического отношения сигнал/шум для систем с плотным мультиплексированием по длине волны.
NF ISO 11938:2012 Микролучевой анализ. Электронный микрозондовый анализ (микрозонд Кастинга). Методы анализа элементного картирования с использованием спектрометрии с дисперсией по длине волны.
NF C57-788-1-4*NF EN 62788-1-4:2017 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического коэффициента пропускания и расчет взвешенного коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.
NF C57-788-1-4/A1*NF EN 62788-1-4/A1:2020 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4: герметики. Измерение оптического пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

DB32/T 2265-2012 Определение амилозы и амилопектина в свежей кукурузе методом двухволновой спектрофотометрии

International Electrotechnical Commission (IEC), двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

IEC 61280-1-3:2021 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик.
IEC 61280-1-3:2021 RLV Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик.
IEC 61290-4-1:2016 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод
IEC 61290-4-1:2011 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод
IEC 61280-1-3:2010 Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
IEC 61280-1-3:1998 Основные процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Процедуры испытаний для подсистем связи общего назначения. Измерение центральной длины волны и ширины спектра
IEC 61280-2-9:2002 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 2-9: Цифровые системы; Оптическое измерение отношения сигнал/шум для плотных систем с мультиплексированием по длине волны
IEC 61280-2-9:2009 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 2-9. Цифровые системы. Измерение оптического отношения сигнал/шум для систем с плотным мультиплексированием по длине волны
IEC 62788-1-4:2016/AMD1:2020 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического пропускания и расчет коэффициента пропускания фотонов, взвешенных по солнечному свету, желтизны.
IEC 62788-1-4:2016 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического пропускания и расчет коэффициента пропускания фотонов, взвешенных по солнечному свету, желтизны.
IEC 62788-1-4:2016+AMD1:2020 CSV Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического пропускания и расчет коэффициента пропускания фотонов, взвешенных по солнечному свету, желтизны.

International Organization for Standardization (ISO), двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
ISO 14594:2003 Анализ по микрофайсу - Анализ по электронному микрозонду (Microsonde de Castaing) - Линии направления для определения экспериментальных параметров для спектрометрии по дисперсии по длине света
ISO 14594:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO/DIS 14594 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO 14594:2003/Cor 1:2009 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны; Техническое исправление 1
ISO 22489:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO 11938:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны.
ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

KS D ISO 14594:2012 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
KS D ISO 14594:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS C IEC 61280-1-3-2003(2018) Основные процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Части 1–3. Процедуры испытаний. Подсистемы связи общего назначения. Измерения центральной длины волны и ширины спектра.
KS D ISO 22489:2012 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
KS D ISO 22489:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS C IEC 61262-3-2003(2018) Медицинские приборы. Характеристики электронно-оптических рентгеновских изображений. Часть 3. Определение распределения яркости и неоднородности яркости.

KR-KS, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

KS D ISO 14594-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 14594-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 22489-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
KS D ISO 22489-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.

German Institute for Standardization, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

DIN EN 61290-4-1:2017-06 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод (IEC 61290-4-1:2016); Немецкая версия EN 61290-4-1:2016 / Примечание: DIN EN 61290-4-1 (2012-04) остается действительным наряду с этим стандартом до 31 октября 2019 г.
DIN EN 61280-1-3:2011 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра (IEC 61280-1-3:2010); Немецкая версия EN 61280-1-3:2010
DIN EN 61290-4-1:2012 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод (IEC 61290-4-1:2011); Немецкая версия EN 61290-4-1:2011
DIN EN 61290-4-1:2017 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод (IEC 61290-4-1:2016); Немецкая версия EN 61290-4-1:2016

Lithuanian Standards Office , двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

LST EN 61280-1-3-2010 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны и ширины спектра (IEC 61280-1-3:2010).
LST EN 61290-4-1-2011 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 4-1. Параметры переходного процесса усиления. Двухволновой метод (IEC 61290-4-1:2011)
LST EN 62788-1-4/A1-2021 Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического коэффициента пропускания и расчет взвешенного коэффициента пропускания солнечных фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения (IEC 62788-1-4:2016/A).

AT-OVE/ON, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

OVE EN IEC 61280-1-3:2021 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик (IEC 86C/1701/CDV)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

EN 61280-1-3:1999 Основные процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Процедуры испытаний для подсистем связи общего назначения. Измерение центральной длины волны и ширины спектра.

European Standard for Electrical and Electronic Components, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

CECC 81 101- 804 ISSUE 1-1994 Волоконно-оптические разветвительные устройства; Тип: селективная передающая звезда без длины волны 1 x 8 портов, двунаправленный; Стиль: Конфигурация A, тип волокна A1.a (En)
CECC 81 102- 801 ISSUE 1-1994 Волоконно-оптические разветвительные устройства; Тип: Избирательный мультиплексор/демультиплексор по длине волны 1 x 2 порта, двунаправленный; Стиль: Конфигурация A, тип волокна B1.2 (En)

(U.S.) Telecommunications Industries Association , двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

TIA-455-236-2004 FOTP-236 IEC 61280-2-9. Процедуры тестирования подсистем оптоволоконной связи. Цифровые системы. Часть 2-9. Измерение оптического отношения сигнал/шум для плотных систем с мультиплексированием по длине волны.

International Telecommunication Union (ITU), двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

ITU-T G.694.2 SPANISH-2003 Спектральные сетки для приложений WDM: сетка длин волн CWDM
ITU-T G.694.2 FRENCH-2003 Спектральные сетки для приложений WDM: сетка длин волн CWDM

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

DB13/T 5588-2022 Определение общего содержания железа в стальном шлаке, диоксида кремния, оксида кальция, оксида магния и оксида алюминия методом рентгеновской флуоресцентной спектрометрии с дисперсией по длине волны.

工业和信息化部, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

YB/T 6038-2022 Определение общего содержания кальция, фтора, диоксида кремния, оксидов алюминия и оксидов магния в шлаках электрошлакового переплава. Длинноволновая дисперсионная рентгенофлуоресцентная спектрометрия.
YB/T 4850-2020 Определение общего железа прямого восстановления, фосфора, серы, диоксида кремния, оксида алюминия, оксида кальция и оксида магния методом рентгеновской флуоресцентной спектрометрии с дисперсией по длине волны.
YB/T 6037-2022 Определение содержания оксида магния, оксида алюминия, диоксида кремния, оксида кальция, диоксида титана, триоксида хрома и оксида железа в плавленом магнезиально-хромовом песке методом дисперсионной рентгенофлуоресцентной спектрометрии (метод наплавленных пластин)

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

YB/T 190.13-2014 Порошок пресс-формы для непрерывного литья. Определение содержания диоксида кремния, оксида алюминия, оксида кальция, оксида магния и общего содержания железа. Рентгенофлуоресцентный спектрометрический метод с дисперсией по длине волны.

Professional Standard - Nuclear Industry, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

EJ/T 1212.3-2018 Аналитические методы для спеченных таблеток диоксида гадолиния-урана. Часть 3. Определение содержания триоксида дигадолиния методом рентгеновской флуоресцентной спектрометрии с дисперсией по длине волны

PL-PKN, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

PN-EN 62788-1-4-2017-02/A1-2021-07 E Процедуры измерения материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Герметики. Измерение оптического коэффициента пропускания и расчет взвешенного по солнечному свету коэффициента пропускания фотонов, индекса желтизны и длины волны отсечки УФ-излучения.

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

ITU-T G.694.2-2002 Спектральные сетки для приложений WDM: Сетка длин волн CWDM Серия G: Системы передачи и среда @ Цифровые системы и сети Характеристики среды передачи - Характеристики оптических компонентов и подсистем (Исследовательская группа 15)

Professional Standard - Non-ferrous Metal, двухфотонная длина волны трехфотонная длина волны

YS/T 1047.6-2015 Методы химического анализа медного магнетита. Часть 6. Определение содержания меди, общего железа, диоксида кремния, оксида алюминия, оксида кальция, оксида магния, диоксида титана, оксида марганца и фосфора. Длина волны дисперсионной рентгеновской флуоресценции.