ZH

EN

ES

использование сравнительных микроскопов

использование сравнительных микроскопов, Всего: 57 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к использование сравнительных микроскопов, являются: Защита от преступности, Оптическое оборудование, Медицинское оборудование, Текстильные волокна, Материалы для аэрокосмического строительства, Испытание металлов, Линейные и угловые измерения, Механические испытания, Аналитическая химия, Качество воздуха, Сырье для резины и пластмасс, Обработка поверхности и покрытие, Словари, Оптика и оптические измерения, Краски и лаки.


Professional Standard - Public Safety Standards, использование сравнительных микроскопов

  • GA/T 1670-2019 Общие технические требования к судебно-медицинской сравнительной микроскопии

British Standards Institution (BSI), использование сравнительных микроскопов

  • BS ISO 18221:2016 Микроскопы. Микроскопы с цифровыми дисплеями. Информация, предоставляемая пользователю относительно характеристик обработки изображений
  • BS ISO 19056-3:2022 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
  • BS ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля
  • 21/30395346 DC БС ИСО 19056-3. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 3. Флуоресцентная микроскопия падающего света с источниками некогерентного света.
  • BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
  • BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
  • PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
  • BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
  • 12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), использование сравнительных микроскопов

  • JIS T 10936-2:2014 Операционные микроскопы. Часть 2. Опасность света от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), использование сравнительных микроскопов

  • KS P ISO 10936-2:2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
  • KS M ISO 8503-3-2012(2017) Подготовка стальных поверхностей перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных поверхностей, прошедших пескоструйную очистку. Часть 3. Метод калибровки поверхности ISO p.
  • KS M ISO 8503-3:2021 Подготовка стальных оснований перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных оснований, очищенных пескоструйной очисткой. Часть 3. Метод калибровки ISO surf.
  • KS M ISO 8503-3:2012 Подготовка стальных оснований перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных оснований, прошедших пескоструйную очистку. Часть 3. Метод калибровки компараторов профиля поверхности ISO и определения поверхности.

KR-KS, использование сравнительных микроскопов

  • KS P ISO 10936-2-2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
  • KS M ISO 8503-3-2021 Подготовка стальных оснований перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных оснований, очищенных пескоструйной очисткой. Часть 3. Метод калибровки ISO surf.

Association Francaise de Normalisation, использование сравнительных микроскопов

  • NF G07-075:2020 Шерсть - Определение процентного содержания сердцевинных волокон под проекционным микроскопом
  • NF T35-503-3*NF EN ISO 8503-3:2012 Подготовка стальных оснований перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных оснований, подвергнутых пескоструйной очистке. Часть 3. Метод калибровки компараторов профиля поверхности ISO и определения s.
  • NF T35-503-3:1995 Подготовка стальных оснований перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных поверхностей, подвергнутых струйной очистке. Часть 3: метод калибровки компараторов профиля поверхности ISO и определения поверхностного

CZ-CSN, использование сравнительных микроскопов

  • CSN 65 6337-1974 Определение содержания механических примесей с помощью микроскопа

German Institute for Standardization, использование сравнительных микроскопов

  • DIN 53943-3:1983 Тестирование текстиля; зрелость хлопкового волокна; определение процента погашения; микроскопический метод с использованием поляризационного микроскопа
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
  • DIN EN 15204:2006-12 Качество воды – Руководящие стандарты по подсчету фитопланктона с использованием инвертированной микроскопии (метод Утермоля); Немецкая версия EN 15204:2006.
  • DIN 58959-4:1997-06 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
  • DIN EN ISO 8503-3:2012 Подготовка стальных оснований перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных оснований, прошедших пескоструйную очистку. Часть 3. Метод калибровки компараторов профиля поверхности ISO и определения su

ANSI - American National Standards Institute, использование сравнительных микроскопов

  • Z80.38-2017 Офтальмология: световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии

Danish Standards Foundation, использование сравнительных микроскопов

  • DS/ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
  • DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.

HU-MSZT, использование сравнительных микроскопов

  • MSZ 3227/2-1980 Метод обнаружения шерсти использует микроскоп для определения диаметра шерсти.
  • MSZ 14340/3-1979 Закрытый радиоактивный источник. Технические требования и классификация радиоактивных источников 60Co, используемых в микроскопах.

未注明发布机构, использование сравнительных микроскопов

  • DIN EN ISO 8503-3:1995 Характеристики шероховатости поверхности стальных поверхностей, прошедших струйную очистку. Метод калибровки компараторов профиля поверхности ISO и определения профиля поверхности DIN с использованием фокусирующего микроскопа.

International Organization for Standardization (ISO), использование сравнительных микроскопов

  • ISO 19056-1:2015 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 1. Яркость и однородность изображения в микроскопии светлого поля.
  • ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
  • ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
  • ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
  • ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.

American Society for Testing and Materials (ASTM), использование сравнительных микроскопов

  • ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
  • ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
  • ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
  • ASTM E2926-17 Стандартный метод испытаний для судебно-медицинского сравнения стекла с использованием микрорентгенофлуоресцентной (µ  ——XRF) спектрометрии
  • ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
  • ASTM D7200-06 Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, в шахтах и карьерах с помощью фазово-контрастной и просвечивающей электронной микроскопии
  • ASTM D3849-14a Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
  • ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
  • ASTM D7201-06 Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с просвечивающей электронной микроскопией и ее опцией)
  • ASTM D7200-12 Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, в шахтах и карьерах с помощью фазово-контрастной и просвечивающей электронной микроскопии

IT-UNI, использование сравнительных микроскопов

  • UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

Canadian General Standards Board (CGSB), использование сравнительных микроскопов

  • CGSB 4.2 NO. 73.1-M91-CAN/CGSB-1991 Методы испытаний шерстяных тканей: определение процентного содержания смешанных волокон с помощью проекционного микроскопа.

Association of German Mechanical Engineers, использование сравнительных микроскопов

  • VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем

RO-ASRO, использование сравнительных микроскопов

  • SR ISO 4407:1991 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами методом подсчета с использованием микроскопа.

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., использование сравнительных микроскопов

  • ASHRAE 4652-2003 Сравнение производительности унитарной сплит-системы с использованием микроканальных и оребренных наружных теплообменников (RP-1195)

BE-NBN, использование сравнительных микроскопов

  • NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, использование сравнительных микроскопов

  • SPB-M6-1-2010 Апрель 08: Межфазные и реологические свойства асфальтенов, исследованные с помощью АСМ.

TIA - Telecommunications Industry Association, использование сравнительных микроскопов

  • TIA/EIA-455-45-B-1992 Метод FOTP-45 для измерения геометрии оптического волокна с помощью лабораторного микроскопа (отозвано в мае 2003 г.)

European Committee for Standardization (CEN), использование сравнительных микроскопов

  • EN ISO 8503-3:2012 Подготовка стальных оснований перед нанесением красок и сопутствующих продуктов. Характеристики шероховатости поверхности стальных оснований, прошедших пескоструйную очистку. Часть 3. Метод калибровки компараторов профиля поверхности ISO и определения su




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.