ZH
EN
ES

Обнаружение кристаллической формы

Обнаружение кристаллической формы, Всего: 499 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Обнаружение кристаллической формы, являются: Полупроводниковые материалы, Органические химикаты, Электронные устройства отображения, Топливо, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Стекло, Неразрушающий контроль, Словари, Керамика, Разработка программного обеспечения и системная документация, Сельское и лесное хозяйство, Полупроводниковые приборы, Испытание металлов, Устройства для хранения жидкости, Детали трубопроводов и трубопроводы, Электронные компоненты в целом, Отходы, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Общие методы испытаний и анализа пищевых продуктов, Трансформеры. Реакторы, Изделия из железа и стали, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Цветные металлы, Профессиональная безопасность. Промышленная гигиена, Добыча полезных ископаемых, Строительные материалы, Материалы для армирования композитов, Солнечная энергетика, Оптика и оптические измерения, Черные металлы, Микробиология, Медицинское оборудование, Фрукты. Овощи, Станки, Оборудование для развлечений, Аналитическая химия, Аэрокосмические двигатели и двигательные установки, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Анализ размера частиц. просеивание, Продукция химической промышленности, Производство металлов, Магнитные материалы, Металлоносные полезные ископаемые, Изоляционные жидкости, Физика. Химия, Мясо, мясные продукты и другие продукты животного происхождения, Вентиляторы. Поклонники. Кондиционеры, Сети передачи и распределения электроэнергии, Ветеринария, Установки в зданиях, Кожаные технологии, Компоненты для электрооборудования, Бытовые электроприборы в целом, Качество воды, Сварка, пайка и пайка, Акустика и акустические измерения, Системы сигнализации и оповещения, Резина, Космические системы и операции, Термодинамика и измерения температуры, Применение информационных технологий, Вакуумная техника, Угли, Бесчиповое рабочее оборудование, Коррозия металлов, Пластмассы.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

JJG(电子) 04045-1995 Правила поверки тестера транзисторов JS-7B
JJG(电子) 04026-1989 Правила проверки тестера напряжения технического обслуживания кристаллического триода типа BJ2985
JJG(电子) 04046-1995 Правила поверки тестера параметров крутизны полевых транзисторов типа QC-13
JJG(电子) 04004-1987 Правила пробной проверки комплексного тестера параметров транзисторов BJ2911 (HQ-1B)
JJG(电子) 04048-1995 Транзистор высокочастотный QG-29 Гф(Кф), Ф(Нф), регламент проверки тестером АРУ
JJG(电子) 04007-1987 Правила пробной проверки тестера рабочего напряжения транзистора BJ2950A (JS-4A)
JJG(电子) 04005-1987 Правила пробной проверки низкочастотного тестера параметров H транзистора JSS-4A
JJG(电子) 04001-1987 Спецификация испытаний для проверки тестеров обратного тока отсечки транзисторов модели JS-2C
JJG(电子) 310007-2006 Спецификация для проверки системы тестирования параметров постоянного тока биполярных транзисторов с изолированным затвором
JJG(电子) 04015-1988 Правила пробной проверки тестера NF высокочастотного маломощного транзистора типа QZ3, QZ4
JJG(电子) 04052-1995 Правила поверки прибора быстрого досмотра транзисторов ПТК-2
JJG(电子) 04003-1987 Правила пробной проверки тестера напряжения обратного пробоя транзистора BJ2952A (JS-3A)
JJG(电子) 04009-1987 Правила пробной проверки тестера вторичного пробоя с прямым смещением типа BJ2983 на кристаллическом триоде
JJG(电子) 04010-1987 Правила пробной проверки тестера динамических параметров интегральной схемы транзистора BJ2961
JJG(电子) 04016-1988 BJ2984 (QR-3) Правила пробной проверки тестера переходного теплового сопротивления кристаллических транзисторов
JJG(电子) 04047-1995 Правила проверки тестера параметров высокочастотных маломощных транзисторов QG-6, QG-16
JJG 516-1987 Регламент проверки цифрового тестера характеристик постоянного тока модели BJ2920(HQ2) для биполярных транзисторов
JJG(电子) 04011-1987 Спецификация испытаний для проверки F-тестеров высокочастотных маломощных транзисторов QG21-QG25
JJG(电子) 04012-1987 Правила пробной проверки низкочастотного мощного транзистора Ft типа BJ3022 (QJ30)
JJG 809-1993 Регламент поверки цифровых индикаторов температуры с кварцевыми датчиками
JJG(电子) 04056-1995 Правила проверки устройства безопасной рабочей зоны транзисторного переключателя типа QO5-C
JJG(电子) 15003-1988 Правила пробной проверки генератора сигналов радиочастотного кристаллического маркера типа 3280
JJG(电子) 04018-1988 Правила проверки обратного пробоя биполярного транзистора BJ2901, стандартные правила испытательной проверки прибора
JJG(电子) 310004-2006 Технические условия на поверку тестеров параметра h транзисторов
JJG(电子) 04017-1988 Правила проверки обратного тока отсечки биполярного транзистора BJ2900, стандартные правила проверки прибора
JJG(电子) 04002-1987 BJ3030 высокочастотный маломощный транзистор Cc rbb правила пробной проверки тестера продукта
JJG 725-1991 Регламент проверки тестера характеристик постоянного и низкочастотного тока для транзисторов
JJG(电子) 04055-1995 QO5-A, транзистор постоянного тока B-типа, правила проверки устройства в импульсной безопасной рабочей зоне
JJG 180-2002 Регламент поверки кварцевых генераторов внутри электроизмерительных приборов
JJG(电子) 04049-1995 Правила проверки тестера CX с двойным затвором Guoyang
JJG(电子) 04022-1989 Спецификация для проверки стандартных измерительных приборов Ft на высокочастотном триодном транзисторе малой мощности модели Q01
JJG(电子) 04019-1988 Биполярный транзистор типа BJ2902 H21E, V (индекс BE (sat)), V (индекс CE (sat)) стандартные правила испытательной проверки прибора
JJG(电子) 04025-1989 Тип Q04 малая и средняя мощность кристаллический триодный переключатель измерения стандартных правил проверки устройства
JJG 940-1998 Регламент проверки устройства для испытания водорода каталитического типа горения
JJG(煤炭) 06-1996 Регламент поверки устройства для измерения метана интерференционного типа

Professional Standard - Electron, Обнаружение кристаллической формы

SJ/T 11501-2015 Метод испытаний для определения типа кристалла монокристаллического карбида кремния
SJ 20230-1993 Правила проверки транзисторного тестера Hfe модели BJ2951A(JS-5A)
SJ/T 31108-1994 Требования к готовности и методы проверки и оценки монокристаллических печей CG3000
SJ/T 11500-2015 Метод испытаний для измерения кристаллографической ориентации монокристаллического карбида кремния
SJ/T 11832.3-2022 Тонкая жидкокристаллическая ячейка дисплея, часть 3: метод обнаружения
SJ/T 31065-1994 Требования к готовности и методы контроля и оценки к полировальным машинам типа 24 NC
SJ/T 10439-1993 Методы испытаний тестеров параметров постоянного тока биполярных транзисторов
SJ 3244.3-1989 Методы измерения кристаллоориентации монокристаллов арсенида галлия и фосфида индия
SJ 20231-1993 Регулирование проверки тестера FET Yfs с двойным затвором KDK
SJ 20232-1993 Регулирование проверки тестера FET Gp с двойным затвором KDK
SJ/Z 9154.2-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристаллического блока. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения динамической емкости кварцевых кристаллических элементов.
SJ/T 10438-1993 Общие спецификации для тестеров параметров постоянного тока биполярных транзисторов
SJ 20256-1993 Регулирование проверки прибора для измерения напряженности телевизионного поля модели YH3910
SJ/Z 9154.1-1987 Использование метода нулевой фазы в π-сети для измерения параметров кварцевого кристалла. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллических элементов.
SJ 3245-1989 Методы измерения дислокации монокристалла фосфида индия

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Обнаружение кристаллической формы

KS M 1936-2002 Бензол-Определение точки кристаллизации
KS C IEC 61747-6:2005 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
KS D 0069-2002(2022) Метод определения температур кристаллизации аморфных металлов
KS C IEC 61747-6-2:2006 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Отражательного типа.
KS M 1936-2002(2012) Бензол – определение точки кристаллизации.
KS P ISO 11979-7:2006 Офтальмологические имплантаты－Интраокулярные линзы－Часть 7:Клинические исследования
KS C IEC 61747-5-2-2006(2016) Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 5-2. Визуальный осмотр модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей.
KS C IEC 61747-5-2-2006(2021) Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 5-2. Визуальный осмотр модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей.
KS B 4211-2001(2006) Код испытаний на производительность и точность вертикальных фрезерных станков станины
KS B 4211-1986 Код испытаний на производительность и точность вертикальных фрезерных станков станины
KS M 1936-2013 Бензол – определение точки кристаллизации.
KS C IEC/TS 62804-1-2016(2021) Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально-индуцированной деградации. Часть 1. Кристаллический кремний.
KS C 7110-2007 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения единицы подсветки для жидкокристаллических дисплеев.
KS C IEC/TS 62804-1:2016 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально-индуцированной деградации. Часть 1. Кристаллический кремний.
KS M ISO 1392:2004 Определение точки кристаллизации－Общий метод
KS M ISO 1392:2019 Определение точки кристаллизации. Общий метод.
KS C 0256-2002(2017) Метод испытания удельного сопротивления кристаллов и кремниевых пластин четырехточечным зондом
KS C 7110-2007(2022) Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения единицы подсветки для жидкокристаллических дисплеев.
KS C IEC 61747-30-3:2021 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
KS C 7101-1995(2000) МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ДЛЯ ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПАНЕЛЕЙ ДИСПЛЕЯ
KS C IEC 61747-6-3:2006 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6. 3. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей.
KS A 4442-2001 Мониторы гамма-излучающих радионуклидов в воде
KS C IEC 60444-9:2016 Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
KS C IEC 60444-9-2016(2021) Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
KS C IEC 60444-7:2016 Измерение параметров кварцевых агрегатов ― Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых агрегатов
KS D ISO 9400:2018 Сплавы на основе никеля. Определение стойкости к межкристаллитной коррозии
KS M 3041-2006(2011) Метод определения температуры плавления полукристаллических полимеров
KS B 0522-1994 Метод ультразвукового контроля и классификация результатов контроля сварных швов типа Т в алюминиевых пластинах
KS D 0264-1989(2019) Метод измерения плотности ямок травления кристалла германия

Group Standards of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

T/SZBSIA 005-2022 Тест на склеивание светодиодов
T/IAWBS 008-2019 Экспериментальный метод определения остаточных напряжений в пластинах SiC
T/ZSA 38-2020 Экспериментальный метод определения остаточных напряжений в пластинах SiC
T/SZBSIA 007-2022 Спецификация испытаний полупроводникового штампа
T/SCBDIF 002-2023 Метод обнаружения дефектов производственного процесса ЖК-панели
T/XAI 12-2021 Метод электрических испытаний ленты COF.
T/CRRA 1313-2023 Technical specification for reuse testing of retired liquid crystal display cell
T/CZSBDTHYXH 001-2023 Дефекты пластин Автоматическое оборудование для оптического контроля
T/GAPEC 004-2019 Спецификация для проверки качества масляного трансформатора 10 кВ (кроме типа аморфного сплава)
T/CNIA 0018-2019 Эксплуатационные условия проведения ограниченного контроля пожарной безопасности на заводах поликремния
T/IAWBS 010-2019 Метод обнаружения для измерения поверхности. Метод обнаружения для измерения качества поверхности и плотности микротрубок полированных пластин монокристаллического карбида кремния - метод лазерного рассеяния.
T/ZJSEE 0010-2023 Метод испытаний и определения дефектов кристаллических кремниевых модулей на фотоэлектрических электростанциях с помощью электролюминесцентной (ЭЛ) визуализации
T/CASAS 013-2021 Метод измерения плотности дислокаций в кристалле SiC. Комбинированные методы травления КОН и распознавания изображений.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

GB/T 26066-2010 Практика обнаружения неглубоких ямок травления на кремнии
GB/T 11114-1989 Способ обнаружения дислокаций синтетического кварца рентгенотопографическим методом
GB/T 17455-2008 Неразрушающий контроль. Методы металлографического исследования поверхности.
GB/T 17007-1997 Методы измерения биполярного транзистора с изолированным затвором
GB/T 3351-1982 Обозначения синтетических кристаллов кварца
GB/T 31351-2014 Метод неразрушающего контроля микротрубной плотности полированных пластин монокристаллического карбида кремния
GB/T 26646-2011 Неразрушающий контроль. Методика акустико-эмиссионного контроля мелких деталей.
GB/T 3069.2-1986 Метод определения температуры кристаллизации нафталина
GB/T 3069.2-2005 Метод определения температуры кристаллизации нафталина
GB/T 1663-2001 Пластификаторы. Определение точки кристаллизации.
GB/T 42676-2023 Рентгенодифракционный метод проверки качества монокристалла полупроводника
GB/T 20361-2006 Определение остатков малахитового зеленого и генцианвиолета в рыбной продукции. Высокоэффективная жидкостная хроматография с флуоресцентным детектором
GB/T 27537-2011 Выявление гриппа животных. Протокол исследования ДНК-микрочипов на подтипы вируса гриппа А.
GB/T 19915.3-2005 Метод определения Streptococcus suis типа 2 методом ПЦР.
GB/T 27538-2011 Обнаружение гриппа животных. Метод пиросеквенирования HA и NA в вирусе гриппа A(H1N1)
GB/T 22319.7-2015 Измерение параметров кристаллических агрегатов кварца. Часть 7. Измерение провалов активности кристаллических агрегатов кварца.
GB/T 24206-2009 Определение кристаллических веществ при 15 ℃ промывочного масла
GB/T 12832-2008 Каучук.Определение эффектов кристаллизации путем измерения твердости.
GB/T 12832-1991 Каучуки. Определение эффектов кристаллизации путем измерения твердости.
GB/T 19870-2005 Тепловизоры для промышленной инспекции
GB/T 17008-1997 Терминология и буквенные обозначения биполярного транзистора с изолированным затвором.
GB/T 11460-2000 Информационные технологии. Метод тестирования данных шрифта китайских иероглифов.
GB/T 11297.12-2012 Метод испытания коэффициента гашения оптического кристалла
GB/T 17669.2-1999 Гипсовые штукатурки. Определение содержания кристаллизационной воды
GB/T 13255.2-1991 Капролактам для промышленного использования. Определение температуры кристаллизации.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

JJF(电子) 20-1982 Методика поверки транзисторного цифрового омметра CR1A
JJF(电子) 21-1982 Метод проверки графического прибора характеристик транзистора JT-l

British Standards Institution (BSI), Обнаружение кристаллической формы

BS EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Трансмиссивный тип
BS EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
PD IEC/TS 62804-1:2015 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально вызванной деградации. Кристаллический кремний
BS EN 13925-2:2003(2008) Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Методики.
BS EN 13925-3:2005(2009) Неразрушающий контроль - Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах - Приборы
BS EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Методики.
BS EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль - Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах - Приборы
PD IEC TS 62804-1-1:2020 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально вызванной деградации. Кристаллический кремний. Расслаивание
BS EN 13925-1:2003(2008) Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Общие принципы.
BS EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Общие принципы.
19/30400770 DC BS EN 13708. Продукты питания. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
BS PD IEC/TS 62804-1:2015 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально вызванной деградации. Кристаллический кремний
21/30447603 DC БС ЕН МЭК 61747-30-1. Устройства жидкокристаллические индикаторные. Часть 30-1. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Трансмиссивный тип
BS IEC 61747-30-3:2019 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
BS EN 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
BS 5050-8:1980 Методы испытания криолита. Определение содержания кальция
BS EN 60444-7:2004 Измерение параметров кристаллических агрегатов кварца - Измерение активности и провалов частоты кварцевых агрегатов
BS EN ISO 3378:2002 Кожа. Физико-механические испытания. Определение устойчивости зерна к растрескиванию и индекса растрескивания зерна.
BS EN 60444-2:1997 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Метод фазового сдвига для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов
DD CEN/TS 15053:2005 Неразрушающий контроль. Рекомендации по типам несплошностей в образцах для испытаний
BS EN IEC 61215-1-3:2021 Наземные фотоэлектрические (PV) модули. Аттестация конструкции и одобрение типа. Особые требования к испытаниям тонкопленочных фотоэлектрических (PV) модулей на основе аморфного кремния.
BS EN 60444-1:1993 Измерение параметров кристаллической установки кварца. Базовый метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в $Gp-сети
BS EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения жидкокристаллических модулей отображения. Светоотражающий тип
BS EN 62823:2015+A1:2020 Тиристорные вентили для конденсаторов последовательного управления с тиристорным управлением (TCSC). Электрические испытания
BS EN ISO 643:2020 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна

HU-MSZT, Обнаружение кристаллической формы

MSZ 8626-1966 Сталь. Метод обнаружения границ зерен аустенита
MSZ 7264/4.lap-1963 Определение типа чугунных печей
MSZ 22510/2-1982 Размер зерна алмаза или нитрида бора. Крупнозернистый контроль обозначения и гранулометрического состава
MSZ 4687-1958 Типовые данные и эксплуатационные испытания
MSZ 11025/6-1987 Обнаружение обычных значений. Оптический осмотр модели R534
MSZ 6499-1970 Зеркальный контроль меди и медных сплавов с определенным размером зерна
MSZ 31-V11-1984 Влл. Обнаружение электродвигателя типа A
MSZ 12294/1-1979 Проверка поверхности молдинга мебели
MSZ 5550-1958 Вакуумные насосы и проверки с типичными данными работы
MSZ 11419-1967 Газовые плиты и требования к испытаниям для больших кухонь
MSZ 5703-1968 Испытания технологии стали и металлов. Проверка формирования дисков и колонн
MSZ 2986-1960 Определение октанового числа топлива в двигателе с использованием оборудования для обнаружения типа CFR.
MSZ 11708-1971 Проверьте определение октанового числа моторного топлива испытательное оборудование модели IT9.6.
MSZ KGST 1552-1979 Определение содержания шпинели в алюминиевых сплавах
MSZ KGST 2336-1980 Определение теплоты кристаллизации органических смесей
MNOSZ 19111-1954 Типовой осмотр лезвия
MSZ MI 19391/2-1980 Проверка поверхностного радиационного загрязнения, измерение тритиевого загрязнения
MNOSZ 10050-1951 Элемент продукта, элемент обнаружения большой точки
MSZ 11412-1967 Изделия и испытания больших кухонных плит
MSZ 31-V21-1984 В21. ． Проверка кранового оборудования модели D

German Institute for Standardization, Обнаружение кристаллической формы

DIN 51798:2018 Испытание жидкого топлива. Определение точки кристаллизации чистого бензола.
DIN 51798:2005 Испытание жидкого топлива. Определение точки кристаллизации чистого бензола.
DIN EN 13925-3:2005-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы; Немецкая версия EN 13925-3:2005.
DIN EN 13925-2:2003-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
DIN EN 13925-1:2003-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
DIN 53736:1973 Тестирование пластмасс; определение температуры плавления полукристаллических пластмасс
DIN EN 61747-6-2:2012-02 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа (IEC 61747-6-2:2011); Немецкая версия EN 61747-6-2:2011
DIN EN 61747-30-1:2013-03 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012); Немецкая версия EN 61747-30-1:2012 / Примечание: DIN EN 61747-6 (2004-12) остается действительным наряду с этим стандартом до 2...
DIN EN 1330-11:2007-09 Неразрушающий контроль. Терминология. Часть 11. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах; Трехъязычная версия EN 1330-11:2007.
DIN EN 13708:2022 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
DIN EN 13708:2019 Пищевые продукты - Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии; Немецкая и английская версия prEN 13708:2019.
DIN 50443-1:1988 Испытание материалов для использования в полупроводниковой технике; обнаружение кристаллических дефектов и неоднородностей в монокристаллах кремния методом рентгеновской топографии
DIN EN 13708:2022-08 Пищевые продукты - Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии; Немецкая версия EN 13708:2022
DIN EN 12370:1999 Методы испытаний природного камня - Определение устойчивости к кристаллизации солей; Немецкая версия EN 12370:1999.
DIN 50434:1986 Испытание материалов для полупроводниковой техники; обнаружение кристаллических дефектов в монокристаллическом кремнии методами травления на поверхностях {111} и {100}
DIN EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Методики; Немецкая версия EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы; Немецкая версия EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы; Немецкая версия EN 13925-3:2005.
DIN EN 60444-1:2000 Измерение параметров кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети. Часть 1. Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети (IEC 60444).
DIN EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 9. Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007); Немецкая версия EN 60444-9:2007.
DIN 50453-1:1990 Испытание материалов для полупроводниковой техники; определение скоростей травления травильных смесей; монокристаллы кремния; гравиметрический метод
DIN 24163-3:1985 Поклонники; тестирование производительности небольших вентиляторов с использованием стандартизированных тестовых воздуховодов
DIN EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Часть 11. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах; Трехъязычная версия EN 1330-11:2007.
DIN EN 60444-2:1997 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2. Метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов (IEC 60444-2:1980); Немецкая версия EN 60444-2:1997.
DIN EN 60444-9:2007-12 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 9. Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007); Немецкая версия EN 60444-9:2007.
DIN EN 10306:2002-04 Железо и сталь – Ультразвуковой контроль двутавровых балок с параллельными полками и балок IPE; Немецкая версия EN 10306:2001.
DIN EN 61747-5-2:2012-01 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 5-2. Методы испытаний на воздействие окружающей среды, износостойкости и механических испытаний. Визуальный осмотр модулей цветных жидкокристаллических дисплеев с активной матрицей (IEC 61747-5-2:2011); Немецкая версия EN 61747-5-2:2011
DIN 51798:2018-03 Испытание жидкого топлива. Определение точки кристаллизации чистого бензола.
DIN EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа (IEC 61747-6-2:2011); Немецкая версия EN 61747-6-2:2011
DIN EN 60444-8:2017-11 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа (IEC 60444-8:2016); Немецкая версия EN 60444-8:2017 / Примечание: DIN EN 60444-8 (2004-03) остается действительным наряду с этим стандартом до 19 января 2020 г.
DIN 50454-1:2000 Испытание материалов для полупроводниковой техники - Определение дислокаций в монокристаллах полупроводников III-V-соединений - Часть 1: Арсенид галлия
DIN EN 60444-7:2004-11 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых кристаллов (IEC 60444-7:2004); Немецкая версия EN 60444-7:2004.
DIN EN 60444-7:2004 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых кристаллов (IEC 60444-7:2004); Немецкая версия EN 60444-7:2004.
DIN EN ISO 643:2020-06 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна (ISO 643:2019, исправленная версия 2020-03); Немецкая версия EN ISO 643:2020
DIN 50433-2:1976 Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов по фигуре оптического отражения
DIN EN IEC 62276:2023-05 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 49/1401/CD:2022); Текст на немецком и английском языках / Примечание: Дата выпуска 28 апреля 2023 г. *Предназначено для замены стандарта DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 62276:2017-08 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2016); Немецкая версия EN 62276:2016 / Примечание: DIN EN 62276 (2013-08) остается действительным наряду с этим стандартом до 28 ноября 2019 г.
DIN EN 60444-8:2004 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа (IEC 60444-8:2003); Немецкая версия EN 60444-8:2003

International Organization for Standardization (ISO), Обнаружение кристаллической формы

PRF IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
IWA 43:2023 Типы стекол. Хрусталь, хрусталь и свинцовый хрусталь. Технические характеристики и методы испытаний.
ISO 5278:1980 Бензол; Определение точки кристаллизации
ISO 1392:1977 Определение точки кристаллизации; Общий метод
ISO 20179:2005 Качество воды. Определение микроцистинов. Метод с использованием твердофазной экстракции (ТФЭ) и высокоэффективной жидкостной хроматографии (ВЭЖХ) с ультрафиолетовым (УФ) детектированием.
ISO 3387:1978 Каучуки; Определение эффектов кристаллизации путем измерения твердости
ISO 3052:1974 Гипсовые штукатурки; Определение содержания кристаллизационной воды
ISO/CD 643 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.
ISO/DIS 643:2023 Стали. Микрографическое определение кажущегося размера зерна.

European Committee for Standardization (CEN), Обнаружение кристаллической формы

EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
EN 13708:2001 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.

Danish Standards Foundation, Обнаружение кристаллической формы

DS/EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
DS/EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
DS/EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.
DS/EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
DS/EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
DS/EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
DS/EN 13708:2002 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
DS/EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
DS/CEN/TS 15053:2005 Неразрушающий контроль. Рекомендации по типам несплошностей в образцах для испытаний
DS/EN 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
DS/ISO 1392:1986 Определение точки кристаллизации. Общий метод.
DS/ISO 3387:1982 Резина. Определение эффектов кристаллизации путем измерения твердости
DS/EN 60444-8:2003 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
DS/EN 60444-7:2004 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых кристаллов.
DS/EN ISO 9400:1996 Сплавы на основе никеля. Определение стойкости к межкристаллитной коррозии
DS/EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

Lithuanian Standards Office , Обнаружение кристаллической формы

LST EN 13925-3-2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
LST EN 13925-2-2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
LST EN 1330-11-2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.
LST EN 13925-1-2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
LST EN 13708-2002 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
LST EN 61747-6-2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6: Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающий тип (IEC 61747-6:2004)
LST EN 61747-6-2-2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (IEC 61747-6-2:2011)
LST EN 61747-30-1-2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (IEC 61747-30-1:2012)
LST ISO 1392:1997 Определение точки кристаллизации. Общий метод

AENOR, Обнаружение кристаллической формы

UNE-EN 13925-2:2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
UNE-EN 13925-3:2006 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
UNE-EN 13925-1:2006 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
UNE-EN 1330-11:2008 Неразрушающий контроль. Терминология. Часть 11. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.
UNE-EN 13708:2002 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
UNE 70106:1986 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТОЧКИ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ. ОБЩИЙ МЕТОД
UNE-CEN/TS 15053:2006 IN Неразрушающий контроль. Рекомендации по типам несплошностей в образцах для испытаний

Association Francaise de Normalisation, Обнаружение кристаллической формы

NF EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Часть 11. Рентгеновская дифракция поликристаллических и аморфных материалов.
NF EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция поликристаллических и аморфных материалов. Часть 3: оборудование.
NF C93-547-30-1*NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
NF C93-547-6-2*NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
NF EN 61747-30-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
NF EN 61747-6-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Рефлекторного типа
NF C93-547-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей. Передающего типа.
NF V03-005*NF EN 13708:2022 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
NF EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция поликристаллических и аморфных материалов. Часть 2: процедуры.
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3: приборы.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2: процедуры.
NF EN 13708:2022 Пищевые продукты. Обнаружение с помощью ЭПР-спектроскопии ионизированных пищевых продуктов, содержащих кристаллизованные сахара.
NF EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция применительно к поликристаллическим и аморфным материалам. Часть 1: общие принципы.
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Часть 11. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1: общие принципы.
NF C57-105-1-1*NF EN IEC 61215-1-1:2021 Наземные фотоэлектрические (PV) модули. Квалификация конструкции и одобрение типа. Часть 1-1: специальные требования к испытаниям фотоэлектрических (PV) модулей из кристаллического кремния.
NF C93-622*NF EN 60444-2:2001 Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов.
NF C53-823*NF EN 62823:2016 Тиристорные вентили для последовательных конденсаторов с тиристорным управлением (TCSC) - Электрические испытания
NF C53-823/A1*NF EN 62823/A1:2020 Тиристорные вентили для последовательных конденсаторов с тиристорным управлением (TCSC) - Электрические испытания
NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
NF C57-105-1-3*NF EN IEC 61215-1-3:2021 Наземные фотоэлектрические (PV) модули. Квалификация проектирования и одобрение типа. Часть 1-3. Специальные требования к испытаниям тонкопленочных фотоэлектрических (PV) модулей на основе аморфного кремния.
NF EN 61747-5-2:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 5-2. Методы испытаний на воздействие окружающей среды, на выносливость и механические испытания. Визуальный осмотр модулей цветного жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
NF EN 61747-6-3:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения в модулях жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
NF EN 62823:2016 Тиристорные вентили для последовательных конденсаторов с тиристорным управлением (CSCT) - Электрические испытания
NF EN 62823/A1:2020 Тиристорные вентили для последовательных конденсаторов с тиристорным управлением (CSCT) - Электрические испытания
NF C93-621-8*NF EN 60444-8:2017 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
NF C93-547-6-3*NF EN 61747-6-3:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
NF ISO 18535:2016 Аморфные углеродные покрытия - Определение характеристик трения и износа аморфных углеродных покрытий методом шарика на диске
NF ISO 3387:2020 Каучук. Определение влияния кристаллизации с помощью измерений твердости.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Обнаружение кристаллической формы

YB/T 4290-2012 Метод определения наибольшей крупности зерна (зерен АЛК) на поверхности металлографического контроля
YB/T 5031-1993 Метод определения вымывания кристаллов масла при 15°С

YU-JUS, Обнаружение кристаллической формы

JUS C.A5.062-1989 Испытания металлов. Определение устойчивости к межкристаллитному образованию по тесту Монипенни-Штрауса.
JUS N.R9.031-1986 Пьезоэлектрические вибраторы. Измерение параметров кристалла кварца методом нулевой фазы в n-сети. Фазовый метод измерения подвижной емкости кварцевого кристалла
JUS C.A7.091-1985 Неразрушающий контроль. Методы металлографического исследования поверхности.
JUS H.B8.126-1980 Криолит природный и искусственный. Традиционный тест для оценки содержания свободных фторидов
JUS H.P8.506-1985 Испытания пестицидов. Растворимые бензола

Professional Standard - Building Materials, Обнаружение кристаллической формы

JC/T 2151-2012 Метод испытания морфологии керамических усов

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

DB32/T 2554-2013 ЭПР-спектроскопия-обнаружение облученных сельскохозяйственных продуктов, содержащих кристаллический сахар
DB32/T 1775-2011 Метод ОТ-ПЦР для выявления вируса гепатита уток типа Ⅰ

Hubei Provincial Standard of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

DB42/ 204-2001 Ультразвуковое исследование действующего автоклава из искусственного кристалла

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

DB61/T 1163-2018 Эдди-текущие правила проверки находящихся в эксплуатации чайников из искусственного кристалла
DB61/T 450-2017 Правила ультразвукового контроля чайников из искусственного кристалла, находящихся в эксплуатации

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Обнаружение кристаллической формы

EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
EN 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения Часть 6. Методы измерения для жидкокристаллических модулей Передающего типа
EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Обнаружение кристаллической формы

EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
EN 62823:2015 Тиристорные вентили для последовательных конденсаторов с тиристорным управлением (TCSC) - Электрические испытания
EN 60444-8:2017 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
EN 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

International Electrotechnical Commission (IEC), Обнаружение кристаллической формы

IEC 61747-6:2004 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Часть 6. Методы измерения жидкокристаллических модулей. Передающего типа
IEC 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа
IEC 61747-6-2:2011/COR1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа; Исправление 1
IEC 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
IEC TS 62804-1:2015 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально-индуцированной деградации. Часть 1. Кристаллический кремний
IEC 60444-2:1980 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кристаллов кварца.
IEC 61747-30-3:2019 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
IEC 61215-1-3:2021 Наземные фотоэлектрические (PV) модули. Квалификация проектирования и одобрение типа. Часть 1-3. Специальные требования к испытаниям тонкопленочных фотоэлектрических (PV) модулей на основе аморфного кремния.
IEC 60444-1:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 1: основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети.
IEC TS 62804-1-1:2020 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально-индуцированной деградации. Часть 1-1. Кристаллический кремний. Расслаивание
IEC 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

DB35/T 1914-2020 Определение содержания β-кристаллов в β-кристаллических полипропиленовых трубах и фитингах (рентгеноструктурный метод)

ES-UNE, Обнаружение кристаллической формы

UNE-EN 61747-6-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражающего типа (одобрено AENOR в ноябре 2011 г.)
UNE-EN 61747-30-1:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-1. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Передающего типа (одобрено AENOR в октябре 2012 г.)
UNE-EN 13708:2022 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.
UNE-EN 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей (одобрено AENOR в декабре 2011 г.)
UNE-EN 61747-5-2:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 5-2. Методы испытаний на воздействие окружающей среды, выносливости и механических испытаний. Визуальный осмотр модулей цветных жидкокристаллических дисплеев с активной матрицей (одобрено AENOR в ноябре 2011 г.)
UNE-EN 62823:2015/A1:2020 Тиристорные клапаны для последовательных конденсаторов с тиристорным управлением (TCSC) — электрические испытания (одобрено Испанской ассоциацией по стандартизации в апреле 2020 г.)
UNE-EN 62823:2015 Тиристорные клапаны для последовательных конденсаторов с тиристорным управлением (TCSC) — электрические испытания (одобрено AENOR в январе 2016 г.)
UNE-EN 60444-8:2017 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 8: Испытательное приспособление для кварцевых кристаллов поверхностного монтажа (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2017 г.)
UNE-EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в январе 2017 г.)
UNE-EN 60444-7:2004 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых кристаллов (одобрено AENOR в сентябре 2004 г.).

未注明发布机构, Обнаружение кристаллической формы

BS EN 61747-6-2:2011(2012) Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6–2. Методы измерения модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
BS 5050:1974(2011) Методы испытания криолита

Professional Standard - Aviation, Обнаружение кристаллической формы

HB 7782-2005 Метод испытаний и оценки рекристаллизации на лопатках с направленной закалкой.
HB 5255-1983 Определение межкристаллитной коррозии и тенденции межкристаллитной коррозии алюминиевого сплава
HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

DB53/T 419-2012 Правила ультразвукового контроля бывших в употреблении хрустальных чайников сверхвысокого давления

RU-GOST R, Обнаружение кристаллической формы

GOST 18604.20-1978 Транзисторы биполярные. Методы измерения коэффициента шума на низких частотах
GOST 27264-1987 Силовые биполярные транзисторы. Методы измерения
GOST 18604.10-1976 Транзисторы биполярные. Методика измерения входного сопротивления
GOST 18604.26-1985 Биполярные транзисторы. Методы измерения временных параметров
GOST 18604.2-1980 Транзисторы биполярные. Методы измерения статического коэффициента передачи тока
GOST 8.215-1976 Государственная система обеспечения единства измерений. Стеклянные пластинки для интерференционных измерений. Средства и методы проверки
GOST 18604.23-1980 Биполярные транзисторы. Метод измерения комбинационных частот
GOST R 53205-2008 Неразрушающий контроль. Оценка размера зерен стали ультразвуком. Общие требования
GOST 18604.1-1980 Транзисторы биполярные. Метод измерения постоянной времени коллектор-база на высоких частотах
GOST 31652-2012 Продовольственные товары. Метод электронного парамагнитного резонанса для обнаружения радиационно обработанных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар
GOST 22838-1977 Жаропрочные сплавы. Методы испытаний и оценки макроструктур
GOST 18604.3-1980 Транзисторы биполярные. Методы измерения емкостей коллектора и эмиттера
GOST R 52829-2007 Продукты питания. Метод электронного парамагнитного резонанса для обнаружения радиационно обработанных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар
GOST 18604.16-1978 Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента обратной связи по напряжению в условиях слабого сигнала
GOST 18604.22-1978 Транзисторы биполярные. Методы измерения напряжения насыщения коллектор-эмиттер и база-эмиттер
GOST 18604.15-1977 Биполярные транзисторы СВЧ-генератора. Методы измерения критического тока
GOST 16947-1971 Транзисторы типа ГТ701А для аппаратуры широкого применения.
GOST 19138.6-1986 Тиристоры. Методы измерения электрических параметров
GOST 18604.11-1988 Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента шума на высоких и сверхвысоких частотах
GOST 30240.9-1995 Баритовый концентрат. Метод определения фторида
GOST 18604.9-1982 Транзисторы биполярные. Методы определения частоты среза и частоты перехода
GOST 20003-1974 Биполярные транзисторы. Термины, определения и символы параметров

VN-TCVN, Обнаружение кристаллической формы

TCVN 7747-2007 Пищевые продукты. Обнаружение облученных пищевых продуктов, содержащих кристаллический сахар, методом ЭПР-спектроскопии.

中国石油化工总公司, Обнаружение кристаллической формы

SH/T 2003-1991 Правила оценки и контроля класса качества пресс-форм для испарения аммиака

American Society for Testing and Materials (ASTM), Обнаружение кристаллической формы

ASTM A262-15(2021) Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению аустенитных нержавеющих сталей
ASTM A763-93(2009) Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению ферритных нержавеющих сталей
ASTM A763-93(1999)e1 Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению ферритных нержавеющих сталей
ASTM E2125-11 Стандартное руководство по исследованию микрокристаллов при судебно-медицинском анализе фенциклидина и его аналогов
ASTM A763-15(2021) Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению ферритных нержавеющих сталей
ASTM A763-93(2004) Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению ферритных нержавеющих сталей
ASTM A763-14 Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению ферритных нержавеющих сталей
ASTM A763-15 Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению ферритных нержавеющих сталей
ASTM A262-14 Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению аустенитных нержавеющих сталей
ASTM A262-15 Стандартные методы обнаружения склонности к межкристаллитному разрушению аустенитных нержавеющих сталей
ASTM F528-99 Стандартный метод измерения коэффициента усиления переходных транзисторов по постоянному току с общим эмиттером
ASTM F528-99(2005) Стандартный метод измерения коэффициента усиления переходных транзисторов по постоянному току с общим эмиттером
ASTM G28-22 Стандартные методы испытаний для определения склонности к межкристаллитной коррозии в деформируемых никельсодержащих хромсодержащих сплавах
ASTM E1968-98(2003) Стандартное руководство по тестированию микрокристаллов при судебно-медицинском анализе кокаина
ASTM E1968-98 Стандартное руководство по тестированию микрокристаллов при судебно-медицинском анализе кокаина
ASTM A901-03(2008) Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
ASTM A901-19 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
ASTM A876-12 Стандартные спецификации для плоского проката, текстурированного проката, кремниево-железного проката, электротехнической стали, полностью обработанных типов
ASTM A901-03 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
ASTM A901-97 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
ASTM A901-12 Стандартные спецификации для аморфных сплавов с магнитными сердечниками полуобработанных типов
ASTM E1932-12(2017) Стандартное руководство по акустоэмиссионному исследованию мелких деталей
ASTM D5357-03 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
ASTM D5357-19 Стандартный метод определения относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
ASTM E1969-11 Стандартное руководство по тестированию микрокристаллов при судебно-медицинской экспертизе метамфетамина и амфетамина
ASTM E1969-06 Стандартное руководство по тестированию микрокристаллов при судебно-медицинской экспертизе метамфетамина и амфетамина
ASTM A986/A986M-01 Стандартные спецификации для магнитопорошкового исследования поковок коленчатого вала с непрерывным потоком зерна
ASTM A986/A986M-98 Стандартные спецификации для магнитопорошкового исследования поковок коленчатого вала с непрерывным потоком зерна
ASTM A986/A986M-01(2021) Стандартные спецификации для магнитопорошкового исследования поковок коленчатого вала с непрерывным потоком зерна
ASTM A986/A986M-01(2016) Стандартные спецификации для магнитопорошкового исследования поковок коленчатого вала с непрерывным потоком зерна

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Обнаружение кристаллической формы

JIS H 0609:1999 Методы контроля кристаллических дефектов кремния методами избирательного травления
JIS H 7151:1991 Метод определения температур кристаллизации аморфных металлов
JIS R 7651:2007 Измерение параметров решетки и размеров кристаллитов углеродных материалов
JIS G 0551:1977 Методы определения размера зерен аустенита стали
JIS G 0552:1977 Методы определения размера ферритного зерна стали
JIS C 7030:1993 Методы измерения транзисторов
JIS C 7072:1988 Методы измерения жидкокристаллических дисплеев
JIS H 7803:2005 Общие правила определения размера частиц и размера кристаллитов в металлических катализаторах
JIS Z 3082:1995 Методы ультразвукового контроля сварных швов типа Т алюминиевых пластин
JIS T 8204:1986 Приборы для измерения сероводорода с детекторной трубкой (по длине пятна)
JIS H 7805:2005 Метод определения размера кристаллитов металлических катализаторов методом рентгеновской дифрактометрии
JIS K 0804:1992 Газодетекторные трубки (типа «Длина пятна»)
JIS C 7051:1974 Методы испытаний триодных тиристоров обратной блокировки
JIS Z 8754:1999 Вакуумная техника. Калибровка течеискателя масс-спектрометрического типа.

Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Обнаружение кристаллической формы

DB65/T 3486-2013 Метод инфракрасной дефектоскопии блока поликремния солнечного качества

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Обнаружение кристаллической формы

GB/T 18910.62-2019 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-2. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Отражательного типа.
GB/T 39079-2020 Характеристики проверки и испытаний крупномасштабного развлекательного устройства. Испытание на ускорение.
GB/T 20050-2020 Спецификации проверок и испытаний крупномасштабных развлекательных устройств. Общие принципы.
GB/T 37213-2018 Метод испытания размеров кремниевого кирпича — метод лазерной технологии.
GB/T 19870-2018 Промышленные инспекционные тепловизоры
GB/T 5252-2020 Метод определения дислокационной плотности монокристаллического германия
GB/T 23901.1-2019 Неразрушающий контроль. Качество рентгенограмм. Часть 1. Определение значения качества изображения с использованием проволочных индикаторов качества изображения.

KR-KS, Обнаружение кристаллической формы

KS C IEC/TS 62804-1-2016 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально-индуцированной деградации. Часть 1. Кристаллический кремний.
KS M ISO 1392-2019 Определение точки кристаллизации. Общий метод.
KS C IEC 60444-9-2016 Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
KS C IEC 61747-30-3-2021 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 30-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей
KS C IEC 60444-7-2016 Измерение параметров кварцевых агрегатов ― Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых агрегатов
KS C IEC 60444-8-2016 Измерение параметров кварцевых агрегатов. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых агрегатов поверхностного монтажа.
KS D ISO 9400-2018 Сплавы на основе никеля. Определение стойкости к межкристаллитной коррозии

SAE - SAE International, Обнаружение кристаллической формы

SAE J418-1983 Определение размера зерна сталей
SAE J418-1999 Определение размера зерна сталей

GOSTR, Обнаружение кристаллической формы

GOST 8.215-2019 Государственная система обеспечения единства измерений. Стеклянные пластины для интерференционных измерений. Процедура проверки

IN-BIS, Обнаружение кристаллической формы

IS 5813-1970 Как определить точку кристаллизации

U.S. Military Regulations and Norms, Обнаружение кристаллической формы

ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 1,0 МГц ДО 85 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНАЯ ВОЛНА, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 50 Гц ДО 50 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, ПРЯМОПОДАВНАЯ ВОЛНА, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1,544 МГЦ ДО 125 МГЦ, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЙ КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), ОТ 0,01 Гц ДО 15,0 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, МЕЖДУНАРОДНЫЙ, КМОП
ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 ГЕНЕРАТОР, КРИСТАЛЛ-УПРАВЛЯЕМЫЙ, ТИП 1 (КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (XO)), 1 ДО 100 МГц, ГЕРМЕТИЧЕСКАЯ ПЕЧАТЬ, НИЗКОВОЛЬТНОЕ 1,8 В КМОП
ARMY MIL-T-10246 B-1953 ТЕСТЕР, ДИНАМИЧЕСКИЙ, M4, M4A1 И M12
ARMY MIL-T-48621 A NOTICE 1-1997 ТЕСТЕР ШУМА, X-ДИАПАЗОН, AN/PSM-44: 11822700
ARMY MIL-T-48621 A (1)-1992 ТЕСТЕР ШУМА, X-ДИАПАЗОН, AN/PSM-44: 11822700
ARMY MIL-T-48621 A-1991 ТЕСТЕР ШУМА, X-ДИАПАЗОН, AN/PSM-44: 11822700
ARMY MIL-R-49421 A NOTICE 1-1997 РАДИАЦИОННЫЙ ДЕТЕКТОР ДТ-236( )/ПДР-75
ARMY MIL-R-49421 A-1990 РАДИАЦИОННЫЙ ДЕТЕКТОР ДТ-236( )/ПДР-75

工业和信息化部, Обнаружение кристаллической формы

JB/T 9020-2018 Ультразвуковой контроль крупнокованых коленчатых валов
YB/T 4932-2021 Метод магнитопорошкового контроля горячекатаной стали.

RO-ASRO, Обнаружение кристаллической формы

STAS 10026-1975 Испытания на ударный удар с U-образным и V-образным надрезом. ОПРЕДЕЛЕНИЕ кристаллической LINILLY И фибросткости FRAGIIRE.
STAS SR ISO 1392:1994 Определение точки кристаллизации. Общий метод.
STAS 8125/16-1982 БАРИТ Определение гигроскопической влажности
STAS 8125/5-1982 BARYTE Определение влажности при доставке
STAS SR ISO 9136:1995 Абразивные макрозерна - Определение объемной плотности
STAS 10207/3-1984 СТЕКЛОВАЯ И КРИСТАЛЛИЗОВАННАЯ ЭМАЛЬ Проверка толщины слоя эмали высоким напряжением

ES-AENOR, Обнаружение кристаллической формы

UNE 70-106-1986 Общий метод определения температуры кристаллизации
UNE 18-165 Pt.2-1991 Типичная и узкая трапециевидная длина ремня. Часть 2: Проверка измерений

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Обнаружение кристаллической формы

GJB 6259-2008 Спецификация самоклеящейся полировальной подушечки, используемой для полировки кристаллических пластин Te-Cd-Hg

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Обнаружение кристаллической формы

YS/T 785-2012 Определение относительной кристалличности цеолита натрия А методом рентгеновской дифракции
YS/T 587.13-2007 Кокс прокаленный для предварительно обожженных блоков. Методы испытаний. Часть 13. Определение размера кристаллитов (L)
YS/T 63.26-2012 Углеродистые материалы, используемые в производстве алюминия. Часть 26. Кирпич огнеупорный плотный. Определение криолитостойкости.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Обнаружение кристаллической формы

GJB 8773-2015 Спецификация на салфетки для полировки прямой связи для пластин детектора теллурида ртути-кадмия

SE-SIS, Обнаружение кристаллической формы

SIS SS 11 42 53-1982 Неразрушающий контроль - Ультразвуковой контроль - Эталонный испытательный блок типа ЧНВ
SIS SS 11 42 52-1982 Неразрушающий контроль. Ультразвуковой контроль. Эталонный испытательный образец типа FBHV.
SIS SS 11 42 51-1982 Неразрушающий контроль. Ультразвуковой контроль. Эталонный испытательный образец типа FBHP.
SIS SS 11 42 54-1982 Неразрушающий контроль. Ультразвуковой контроль. Эталонный испытательный образец типа RSNV.
SIS SS 11 42 50-1982 Неразрушающий контроль. Ультразвуковой контроль. Эталонный испытательный образец типа FBHN.

CZ-CSN, Обнаружение кристаллической формы

CSN 65 0311-1981 Метод определения температуры кристаллизации
CSN 35 8750-1964 Транзистор. Измерение h-параметров
CSN 72 1565 Cast.12-1985 Испытание кирпичных глин. Определение известковых губительных конкрементов (лёссовых куколок)
CSN 35 8909-1962 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
CSN 35 8757 Cast.9-1986 Транзисторы. Методы измерения термического сопротивления
CSN 35 8748-1964 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
CSN 35 8912-1962 Транзисторы. Измерение реактивного импеданса
CSN 35 8757 Cast.3-1984 Транзистор. Метод измерения коэффициента шума
CSN 35 8740-1985 Транзисторы. Методы измерения напряжения насыщения
CSN 35 8757 Cast.11-1986 Транзисторы. Метод измерения времени переключения

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Обнаружение кристаллической формы

ECA 699-1997 Метод испытаний визуального контроля заготовок кварцевых резонаторов

Professional Standard - Commodity Inspection, Обнаружение кристаллической формы

SN/T 0480.3-1995 Метод анализа барита на экспорт.Определение влажности куска барита.
SN/T 1667.2-2007 Проверка механических и электрических товаров на импорт и экспорт. Часть 2: Измерение электрических и оптических характеристик цветных жидкокристаллических устройств отображения.

Defense Logistics Agency, Обнаружение кристаллической формы

DLA SMD-5962-98621-1998 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, СОВРЕМЕННЫЕ КМОП, КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ ТАКТОВЫЙ ГЕНЕРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97589 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ВОСЬМЕРИЧНЫЕ ПРОЗРАЧНЫЕ ЗАЩЕЛКИ ТИПА D С 3-ХОСТОВЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97590 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, ВОСЬМЕРИЧНО-КРЕМНИЕВЫЕ ШЛЕПАНЦЫ D-ТИПА С ТРЕМЯ ГОСУДАРСТВЕННЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 МИКРОсхема, цифровая, транслятор TTL-ECL, монолитный кремний
DLA SMD-5962-87508 REV E-2006 МИКРОСХЕМА ЦИФРОВАЯ ПЕРЕВОДЧИК ECL-TO-TTL, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-S-19500/38 C (1)-1988 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР, ТРАНЗИСТОР, PNP, ГЕРМАНИЕВЫЙ ТИПА МОЩНОСТИ 2N539 И 2N539A
DLA SMD-5962-98627 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, TTL, ДВОЙНЫЕ ШЛЕПАНКИ D-ТИПА С ПОЛОЖИТЕЛЬНЫМ КРОМКОМ, С ПРОЗРАЧНЫМИ И ПРЕДВАРИТЕЛЬНЫМИ НАСТРОЙКАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97592 REV A-2007 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ДВОЙНЫЕ ШЛЕПАНКИ D-ТИПА С ПОЛОЖИТЕЛЬНЫМ КРОМКОМ, С ПРОЗРАЧНЫМИ И ПРЕДВАРИТЕЛЬНЫМИ НАСТРОЙКАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91725-1994 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРИЧНОЙ ЗАЩЕЛКОЙ ТИПА D, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ

TR-TSE, Обнаружение кристаллической формы

TS 2310-1976 Неразрушающий контроль – методы металлографического исследования поверхности

Professional Standard - Machinery, Обнаружение кристаллической формы

JB/T 7902-2006 Неразрушающий контроль Индикаторы качества изображения (тип провода) для радиографического контроля
JB/T 9213-1999 Неразрушающий контроль. Пенетрантный контроль. Блок сравнения типа.
JB/T 6307.4-1992 Метод испытания силового полупроводникового модуля Плечо и пара плеч биполярного транзистора

American National Standards Institute （ANSI), Обнаружение кристаллической формы

ANSI/EIA 699:1997 Метод испытаний визуального контроля заготовок кварцевых резонаторов
ANSI/ISEA 102-1990 Трубчатые газодетекторные блоки – кратковременного типа для токсичных газов и паров в рабочих средах

BE-NBN, Обнаружение кристаллической формы

NBN T 02-104-1979 Определение точки кристаллизации. Общий метод.

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Обнаружение кристаллической формы

IEEE 218-1956 СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ПРОВЕРКИ ТРАНЗИСТОРОВ

Indonesia Standards, Обнаружение кристаллической формы

SNI 03-6454-2000 Методы испытаний на вертикальность скважин
SNI 13-4702-1998 Определение крупности угля просеивающим оборудованием

Electronic Industrial Alliance (U.S.), Обнаружение кристаллической формы

EIA-699-1997 Метод испытаний визуального контроля заготовок кварцевых резонаторов

ECIA - Electronic Components Industry Association, Обнаружение кристаллической формы

699-1997 Метод испытаний визуального контроля заготовок кварцевых резонаторов

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Обнаружение кристаллической формы

GB/T 22319.9-2018 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
GB/T 33885-2017 Приборы неразрушающего контроля. Общие требования к отбору проб, регулярному контролю и типовому контролю.

Standard Association of Australia （SAA）, Обнаружение кристаллической формы

AS 1733:1976 Методы определения размера зерна в металлах

国家药品监督管理局, Обнаружение кристаллической формы

YY/T 1592-2018 Карта положительного определения группы АВО и группы крови RhD (метод колоночной агглютинации)

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Обнаружение кристаллической формы

ECA EIA/ECA-364-18B-2007 ТП-18Б ПРОЦЕДУРА ВИЗУАЛЬНОГО И РАЗМЕРНОГО КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ РАЗЪЕМОВ И РОЗЕТОК

IEC - International Electrotechnical Commission, Обнаружение кристаллической формы

PAS 62276-2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройств на поверхностных акустических волнах - характеристики и метод измерения (редакция 1.0)

United States Navy, Обнаружение кристаллической формы

NAVY MIL-C-81925 VALID NOTICE 1-1988 УПРАВЛЕНИЕ, ТЕСТОВЫЙ ЖГУТ, C-9154/APM
NAVY MIL-C-81925-1973 УПРАВЛЕНИЕ, ТЕСТОВЫЙ ЖГУТ, C-9154/APM

Professional Standard - Petroleum, Обнаружение кристаллической формы

SY/T 0329-2004 Метод обнаружения фундамента большого нефтяного резервуара

Professional Standard - Aerospace, Обнаружение кристаллической формы

QJ 3190-2004 Требования к протоколу крупномасштабных испытаний

NL-NEN, Обнаружение кристаллической формы

NEN-EN 414-1993 Безопасность техники. Правила составления и представления норм безопасности
NEN-EN 409-1994 Деревянные конструкции. Методы испытаний. Определение момента текучести крепежа дюбельного типа. Гвозди

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Обнаружение кристаллической формы

ASHRAE AT-01-14-1-2001 Обнаружение и диагностика неисправностей на основе моделей для градирен
ASHRAE 3725-1993 Приближенная численная модель роста кристаллов льда в падающей пленке для хранения холодной тепловой энергии
ASHRAE AT-96-6-3-1996 Применение моделей черного ящика к системам HVAC для обнаружения неисправностей

PT-IPQ, Обнаружение кристаллической формы

NP EN 12370-2001 Методы испытаний природного камня. Определение устойчивости к кристаллизации солей.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Обнаружение кристаллической формы

JEDEC JESD24-4-1990 Измерение теплового импеданса биполярных транзисторов (метод напряжения база-эмиттер «дельта») Дополнение к JEDEC JESD 24

U.S. Air Force, Обнаружение кристаллической формы

AIR FORCE MIL-T-83944 NOTICE 3-1995 ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКТ УПРАВЛЯЕМОЙ РАКЕТЫ А/Э 24Т-82
AIR FORCE MIL-T-83944 REINST NOTICE 2-1993 ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКТ УПРАВЛЯЕМОЙ РАКЕТЫ А/Э 24Т-82
AIR FORCE MIL-T-83944 (1)-1971 ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКТ УПРАВЛЯЕМОЙ РАКЕТЫ А/Э 24Т-82
AIR FORCE MIL-T-83944-1970 ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКТ УПРАВЛЯЕМОЙ РАКЕТЫ А/Э 24Т-82